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Thin film analyzer膜厚儀科研應(yīng)用

來源: 發(fā)布時間:2024-10-26

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厚度測量產(chǎn)品:我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應(yīng)用。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨。請瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助。單點厚度測量:一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng)。測量1nm到13mm的單層薄膜或多層薄膜堆。大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨。F20全世界銷量蕞hao的薄膜測量系統(tǒng)。有各種不同附件和波長覆蓋范圍。微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當(dāng)測量斑點只有1微米(μm)時,需要用公司自己的顯微鏡或者用岱美提供的整個系統(tǒng)。光學(xué)系數(shù)膜厚儀有哪些應(yīng)用監(jiān)測控制生產(chǎn)過程中移動薄膜厚度。高達(dá)100Hz的采樣率可以在多個測量位置得到。

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不管是參與對顯示器的基礎(chǔ)研究還是制造,Thetametrisis都能夠提供您所需要的...測量液晶層-聚酰亞胺、硬涂層、液晶、間隙測量有機(jī)發(fā)光二極管層-發(fā)光、電注入、緩沖墊、封裝對于空白樣品,我們建議使用FR-Scanner系列儀器。對于圖案片,Thetametrisis的FR-Scanner用于測量薄膜厚度已經(jīng)找到了顯示器應(yīng)用廣范使用。測量范例此案例中,我們成功地測量了藍(lán)寶石和硼硅玻璃基底上銦錫氧化物薄膜厚度,可以很容易地在380納米到1700納米內(nèi)同時測量透射率和反射率以確定厚度,折射率,消光系數(shù)。由于ITO薄膜在各種基底上不同尋常的的擴(kuò)散,這個擴(kuò)展的波長范圍是必要的。F20-UV測厚范圍:1nm - 40μm;波長:190-1100nm。光學(xué)系數(shù)膜厚儀有哪些應(yīng)用

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。Thin film analyzer膜厚儀科研應(yīng)用

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