光譜共焦技術(shù)的非接觸測(cè)量Irix?是一系列基于彩色共焦技術(shù)的非接觸式傳感器，能夠測(cè)量對(duì)白光透明的任何材料上的距離和厚度。Irix?可同時(shí)測(cè)量5層材料。該控制器可與一大系列具有不同測(cè)量范圍、機(jī)械尺寸和計(jì)量規(guī)范的光學(xué)探針結(jié)合使用，以滿足多樣化的應(yīng)用需求?？刂破饔袃煞N型號(hào)可供選擇：帶7英寸集成顯示屏，或帶有用于文件柜.display或采用盲板形式，機(jī)柜采用帶DIN導(dǎo)軌連接。Irix控制器系列由不同型號(hào)（1個(gè)和2個(gè)同步通道）組成，結(jié)合各種各樣的光學(xué)元件（Marposs和STIL），可提供優(yōu)良的計(jì)量性能（高達(dá)納米）。Irix以比較高的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)制造，是一種堅(jiān)固可靠的產(chǎn)品，適合在工業(yè)環(huán)境中使用。彩色共焦技術(shù)允許測(cè)量任何能夠反射白光的材料（例如：金屬、玻璃、塑料、漆膜、液體）。非接觸式測(cè)量適用于所有需要在不接觸目標(biāo)的情況下進(jìn)行測(cè)量的情況一個(gè)光學(xué)探針可同時(shí)測(cè)量多達(dá)五個(gè)透明層高測(cè)量精度可互換傳感器；Irix可保存多達(dá)32張地圖，以便使用比較合適的探頭。集成7“顯示器不受熱噪聲和電噪聲影響的無(wú)源光學(xué)探頭SDK和協(xié)議命令的可用性，便于集成到任何系統(tǒng)中縮小測(cè)量點(diǎn)動(dòng)態(tài)采集用編碼器同步測(cè)量（空間同步）粗糙度測(cè)量光譜共焦傳感器，就選馬波斯測(cè)量科技，用戶的信賴之選，歡迎您的來(lái)電哦！遼寧3D 視覺(jué)測(cè)量傳感器解決方案

光軸的彩色編碼意味著光學(xué)系統(tǒng)具有軸向色差：每個(gè)波長(zhǎng)聚焦在沿該軸的不同點(diǎn)上?，F(xiàn)在假設(shè)一個(gè)樣本存在于色譜編碼范圍內(nèi)，這樣波長(zhǎng)λ0就會(huì)聚焦在它的表面上。當(dāng)反射（或后向散射）光束到達(dá)***平面時(shí)，波長(zhǎng)的光線會(huì)聚焦在***上，以便它們可以穿過(guò)***并到達(dá)光譜儀的敏感區(qū)域。其他波長(zhǎng)成像為大點(diǎn)，因此它們被***阻擋。該光譜儀通過(guò)識(shí)別波長(zhǎng)λ0來(lái)“解讀”樣品位置。光譜儀信號(hào)與已收集光的光譜再分配相對(duì)應(yīng)。它呈現(xiàn)一個(gè)光譜峰值。當(dāng)物體在測(cè)量范圍內(nèi)位移時(shí)，光譜儀上的光譜峰值隨之發(fā)生變化。江蘇光譜共焦視覺(jué)檢測(cè)傳感器測(cè)量速度光譜共焦傳感器，就選馬波斯測(cè)量科技，讓您滿意，歡迎您的來(lái)電哦！

多個(gè)產(chǎn)品同時(shí)測(cè)量減少成本測(cè)量對(duì)象可任意擺放，多個(gè)產(chǎn)品可同時(shí)測(cè)量，**節(jié)省測(cè)量時(shí)間，減少用工成本！低畸變圖像無(wú)變形即便在鏡頭邊緣部位測(cè)量，圖像畸變也很小，無(wú)需擔(dān)心測(cè)量對(duì)象所放位置。缺陷過(guò)濾測(cè)量位置包含有毛邊或缺陷時(shí)系統(tǒng)能自動(dòng)識(shí)別，排除異常點(diǎn)提高測(cè)量的準(zhǔn)確度。數(shù)據(jù)追溯管理更簡(jiǎn)單測(cè)量結(jié)果自動(dòng)保存，可按測(cè)量日期、產(chǎn)品名稱、產(chǎn)品料號(hào)等信息搜索，數(shù)據(jù)追溯管理簡(jiǎn)單優(yōu)勢(shì)：測(cè)量更準(zhǔn)確采用雙倍率雙側(cè)遠(yuǎn)心光學(xué)鏡頭，具有較高的遠(yuǎn)心度，即使有段差情況下也能高精度正確的測(cè)量。倍率涵蓋0.16X大視野/0.7X高精度。

什么是光譜共焦干涉儀？非接觸式輪廓測(cè)量技術(shù)中的測(cè)量精度通常受到機(jī)械振動(dòng)和微掃描臺(tái)位置不準(zhǔn)確性的限制。為了從這些環(huán)境干擾中解放出來(lái)，開(kāi)發(fā)了一種新的對(duì)振動(dòng)不敏感的干涉測(cè)量方法。采用這種新型光譜共焦干涉儀系統(tǒng)，干涉儀顯微鏡的潛在亞納米級(jí)精度是極其有效的。原理：干涉測(cè)量法基于白光干涉圖（SAWLI）的光譜分析。是光譜共焦傳感器等光學(xué)檢測(cè)儀器儀表中必然涉及到的概念。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號(hào)，以便測(cè)量參比板和樣品之間的氣隙厚度。發(fā)達(dá)系統(tǒng)的**性在于將參考板固定在檢測(cè)目標(biāo)上。由于參考板和樣品固定在一起，機(jī)械振動(dòng)不會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。此外，該傳感器可用于測(cè)量太薄而不允許使用色彩共焦技術(shù)的透明薄膜。**小可測(cè)厚度為0.4μm。馬波斯測(cè)量科技是一家專業(yè)提供光譜共焦傳感器的公司，歡迎您的來(lái)電哦！

在半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用：LED芯片三維測(cè)量LED晶圓光學(xué)檢測(cè)BGA半導(dǎo)體封裝光伏晶圓表面形貌測(cè)量涂層厚度時(shí)與部件無(wú)任何接觸。激光和紅外傳感器可分析2至50厘米距離的涂層。這意味著可以在工業(yè)涂層環(huán)境中測(cè)量部件，即使它們位于移動(dòng)產(chǎn)線上、在高溫環(huán)境中，甚至易碎或潮濕環(huán)境中。由于激光束產(chǎn)生的熱量極少，因此測(cè)量過(guò)程中涂層和部件都不會(huì)被損壞或改變。因此，對(duì)于那些迄今已有的方法會(huì)破壞測(cè)試樣品的工業(yè)運(yùn)用，它也可以系統(tǒng)地測(cè)量每個(gè)部件。測(cè)量通常不到一秒鐘，具有高度重復(fù)性。這樣可以控制高達(dá)100％的涂層部件，嚴(yán)格遵循涂層工藝性能并實(shí)時(shí)反應(yīng)以保持比較好狀馬波斯測(cè)量科技致力于提供專業(yè)的光譜共焦傳感器，竭誠(chéng)為您。安徽Marposs 傳感器測(cè)量速度

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應(yīng)用范圍：光譜共聚焦傳感器既可用于工業(yè)環(huán)境中，也可用于生產(chǎn)過(guò)程中的在線檢測(cè)以及實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中的高精度儀器。他們主要涵蓋以下內(nèi)容：l微形貌（測(cè)量樣品的形狀和表面特征）l尺寸控制（測(cè)試制造產(chǎn)品的特定尺寸是否符合規(guī)格）l質(zhì)量控制(制造產(chǎn)品缺陷的識(shí)別和特征描述）l粗糙度測(cè)量（測(cè)量樣品表面的統(tǒng)計(jì)特征）l摩損度（表征機(jī)械或化學(xué)侵蝕）l厚度測(cè)量光譜共焦傳感器完全符合涉及3D真實(shí)表面紋理的測(cè)量和分析的ISO25178標(biāo)準(zhǔn)。此外，此標(biāo)準(zhǔn)第601章節(jié)致力于非接觸式表面測(cè)量，引用CCI作為***參考技術(shù)原理遼寧3D 視覺(jué)測(cè)量傳感器解決方案