ATOS對(duì)于因?yàn)槌叽缣蠡蛐螤顝?fù)雜而無法一次量測(cè)的工件，可以進(jìn)行分區(qū)掃描，在工件或工件的周圍貼上定位點(diǎn)標(biāo)簽，然后藉由定位點(diǎn)的輔助，計(jì)算機(jī)會(huì)自動(dòng)地將多個(gè)單筆掃描數(shù)據(jù)整合在同一坐標(biāo)系統(tǒng)，利用此原理對(duì)于大型及復(fù)雜的工件可以進(jìn)行精確且完整的掃描。 應(yīng)用領(lǐng)域 ATOS Copact scan可以應(yīng)用于3D質(zhì)量分析或逆向工程?？焖俚臏y(cè)量特性適合于任何需要快速取得物體數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的領(lǐng)域?？梢栽跈z測(cè)中心、現(xiàn)場(chǎng)和研發(fā)中心之問方便地移動(dòng)。 軟件計(jì)算出來的高質(zhì)量多邊型網(wǎng)格數(shù)據(jù)可以用來加工或直刻，也可以直接跟CAD作比對(duì)，輸出質(zhì)量檢驗(yàn)報(bào)告。 用于描述曲面尺寸準(zhǔn)確度的主要指標(biāo)為輪廓度誤差。泰州正規(guī)輪廓度檢測(cè)詢問報(bào)價(jià)

掃描 檢測(cè)應(yīng)用趨勢(shì) ? 完整掃描, 全尺寸檢測(cè) ? 色彩誤差圖一目了然 ? 容易與客戶或跨部門溝通 ? 3D Viewer 任意角度翻轉(zhuǎn)檢視3D 的檢測(cè)結(jié)果 ? 掃描與報(bào)表制作容易, 縮短檢測(cè)時(shí)間 ? 與CAD全曲面比對(duì)誤差色彩圖 ? 3D曲面及尺寸管制 ? 翹曲變形 ? 凸陷及縮痕 ? 縮水 ? 直觀, 清楚且容易了解 ? 問題區(qū)域可立刻得到判斷 ? 更快的作出改善決定 ? 任意位置作2D檢測(cè)剖面 ? 點(diǎn)資料剖與CAD剖面比對(duì) ? 剖面位置在模型顯示 ? 針狀圖 ? 誤差標(biāo)記點(diǎn) ? 公差帶顯示 ? 由CAD自動(dòng)獲得公差帶蘇州正規(guī)輪廓度檢測(cè)誠信企業(yè)平面度不帶基準(zhǔn)，面輪廓度會(huì)會(huì)帶基準(zhǔn)。

接觸測(cè)量法以三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x為典型**。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度高，對(duì)環(huán)境（如：溫度、濕度、防振等）要求也高。由于測(cè)量時(shí)測(cè)頭在工件上要逐點(diǎn)測(cè)量，所以測(cè)量速度較慢。另外還要求被測(cè)零件的材質(zhì)不能太軟、不能輕易被刮花且不易變形。零件太大，需要工裝夾具或者超過測(cè)量線程等諸多限制。 非接觸測(cè)量法以影像測(cè)量?jī)x為典型**。該測(cè)量方法一次獲取物體表面的數(shù)據(jù)（點(diǎn)坐標(biāo)）多，測(cè)量范圍大，對(duì)被測(cè)量物體的材質(zhì)沒有要求，特別適合于易刮花且易變形的覆蓋件類零件的測(cè)量。測(cè)量范圍彈性從幾mm到幾米的零件都方便測(cè)量，每筆采集點(diǎn)的數(shù)量根據(jù)測(cè)量頭的決定從幾百萬點(diǎn)到幾千萬點(diǎn)，采集速度快等優(yōu)勢(shì)。 ATOS藍(lán)光掃描設(shè)備，德國純進(jìn)口藍(lán)光掃描設(shè)備，單幅掃描采集點(diǎn)數(shù)據(jù)800萬點(diǎn)，外出攜帶方便，可以任意到現(xiàn)場(chǎng)掃描。快速解決客戶輪廓檢測(cè)，逆向工程很好的工具

傳統(tǒng)的面輪廓度測(cè)量誤差的測(cè)量方法包括仿形裝置測(cè)量、截面輪廓樣板測(cè)量、光學(xué)跟蹤輪廓測(cè)量?jī)x測(cè)量以及三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)量等。**種測(cè)量方法要求做出理論輪廓樣板后才能測(cè)量。由于理論輪廓樣板制作非常困難，因此該測(cè)量方法適合于一種零件大批量生產(chǎn)過程中的檢驗(yàn)。而采用藍(lán)光三維掃描，只需要零件的CAD數(shù)學(xué)模型（零件的三維設(shè)計(jì)圖形），因此該測(cè)量方法可應(yīng)用于任何場(chǎng)合且測(cè)量數(shù)據(jù)可靠。 目前，用來采集物體表面三維坐標(biāo)的測(cè)量設(shè)備和方法多種多樣，其原理也各不相同。根據(jù)測(cè)量測(cè)頭是否和零件表面接觸可分為接觸式和非接觸式昆山哪里可以做輪廓度檢測(cè)？

ATOS Compact Scan 是新一類緊致型三維光學(xué)掃描檢測(cè)儀。其構(gòu)造靈巧、簡(jiǎn)潔，應(yīng)用適應(yīng)性強(qiáng)。ATOS Compact Scan 使三維光學(xué)測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域得到進(jìn)一步擴(kuò)展，用于三維測(cè)量、分析各式零件、模型等。 先進(jìn)的硬體配套功能更好強(qiáng)大的掃描及檢測(cè)軟件，加上統(tǒng)一的軟硬體培訓(xùn)課程，以及全球化技術(shù)支援網(wǎng)絡(luò)，GOM 公司為使用者提供極具價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)力的一站式光學(xué)測(cè)量解決方案。 ATOS Compact Scan 的特點(diǎn)： 藍(lán)光技術(shù) 掃描及探針測(cè)量 測(cè)量體積可大可小 構(gòu)造緊致，使用便捷 可擕式測(cè)量 完整配套的測(cè)量系統(tǒng) 藍(lán)光技術(shù) 與外界光線條件無關(guān)的掃描 快速掃描大型零部件 基于 ATOS Triple Scan 的先進(jìn)技術(shù) 低維護(hù)成本 ***的測(cè)量資料平面度就是一個(gè)面上報(bào)有點(diǎn)在理論高度上的最大值和最小值點(diǎn)的總和。進(jìn)口輪廓度檢測(cè)量大從優(yōu)

就平面而言，面輪廓度和平面度也是有質(zhì)的區(qū)別。泰州正規(guī)輪廓度檢測(cè)詢問報(bào)價(jià)

光學(xué)測(cè)量技術(shù)和全場(chǎng)型面測(cè)量系統(tǒng)已成為幾乎所有行業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)工具。在當(dāng)今現(xiàn)代化產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)過程鏈中，通過 GOM 測(cè)量系統(tǒng)獲得的測(cè)量數(shù)據(jù)是質(zhì)量控制環(huán)節(jié)不可或缺的工具。 改善檢測(cè)進(jìn)程 生產(chǎn)商和供應(yīng)商使用統(tǒng)一的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn) 縮短分析評(píng)估和檢測(cè)時(shí)間 結(jié)果可靠，且可追溯 完整統(tǒng)一的質(zhì)量控制 GOM 公司提供的測(cè)量解決方案可確保滿足上述需求。GOM 公司擁有超過20年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供包括精確的三維測(cè)量系統(tǒng)、具備進(jìn)程安全性的軟件等在內(nèi)的專業(yè)一體化服務(wù)。泰州正規(guī)輪廓度檢測(cè)詢問報(bào)價(jià)

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