傳統(tǒng)的面輪廓度測(cè)量誤差的測(cè)量方法包括仿形裝置測(cè)量、截面輪廓樣板測(cè)量、光學(xué)跟蹤輪廓測(cè)量?jī)x測(cè)量以及三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)量等。**種測(cè)量方法要求做出理論輪廓樣板后才能測(cè)量。由于理論輪廓樣板制作非常困難，因此該測(cè)量方法適合于一種零件大批量生產(chǎn)過(guò)程中的檢驗(yàn)。而采用藍(lán)光三維掃描，只需要零件的CAD數(shù)學(xué)模型（零件的三維設(shè)計(jì)圖形），因此該測(cè)量方法可應(yīng)用于任何場(chǎng)合且測(cè)量數(shù)據(jù)可靠。 目前，用來(lái)采集物體表面三維坐標(biāo)的測(cè)量設(shè)備和方法多種多樣，其原理也各不相同。根據(jù)測(cè)量測(cè)頭是否和零件表面接觸可分為接觸式和非接觸式昆山哪里可以做輪廓度檢測(cè)？上海進(jìn)口輪廓度檢測(cè)上門(mén)服務(wù)

ATOS Compact Scan 是新一類(lèi)緊致型三維光學(xué)掃描檢測(cè)儀。其構(gòu)造靈巧、簡(jiǎn)潔，應(yīng)用適應(yīng)性強(qiáng)。ATOS Compact Scan 使三維光學(xué)測(cè)量技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域得到進(jìn)一步擴(kuò)展，用于三維測(cè)量、分析各式零件、模型等。 先進(jìn)的硬體配套功能更好強(qiáng)大的掃描及檢測(cè)軟件，加上統(tǒng)一的軟硬體培訓(xùn)課程，以及全球化技術(shù)支援網(wǎng)絡(luò)，GOM 公司為使用者提供極具價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)力的一站式光學(xué)測(cè)量解決方案。 ATOS Compact Scan 的特點(diǎn)： 藍(lán)光技術(shù) 掃描及探針測(cè)量 測(cè)量體積可大可小 構(gòu)造緊致，使用便捷 可擕式測(cè)量 完整配套的測(cè)量系統(tǒng) 藍(lán)光技術(shù) 與外界光線條件無(wú)關(guān)的掃描 快速掃描大型零部件 基于 ATOS Triple Scan 的先進(jìn)技術(shù) 低維護(hù)成本 ***的測(cè)量資料安徽質(zhì)量輪廓度檢測(cè)上門(mén)服務(wù)所謂"輪廓度"，是指被測(cè)實(shí)際輪廓相對(duì)于理想輪廓的變動(dòng)情況。

接觸測(cè)量法以三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x為典型**。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度高，對(duì)環(huán)境（如：溫度、濕度、防振等）要求也高。由于測(cè)量時(shí)測(cè)頭在工件上要逐點(diǎn)測(cè)量，所以測(cè)量速度較慢。另外還要求被測(cè)零件的材質(zhì)不能太軟、不能輕易被刮花且不易變形。零件太大，需要工裝夾具或者超過(guò)測(cè)量線程等諸多限制。 非接觸測(cè)量法以影像測(cè)量?jī)x為典型**。該測(cè)量方法一次獲取物體表面的數(shù)據(jù)（點(diǎn)坐標(biāo)）多，測(cè)量范圍大，對(duì)被測(cè)量物體的材質(zhì)沒(méi)有要求，特別適合于易刮花且易變形的覆蓋件類(lèi)零件的測(cè)量。測(cè)量范圍彈性從幾mm到幾米的零件都方便測(cè)量，每筆采集點(diǎn)的數(shù)量根據(jù)測(cè)量頭的決定從幾百萬(wàn)點(diǎn)到幾千萬(wàn)點(diǎn)，采集速度快等優(yōu)勢(shì)。 ATOS藍(lán)光掃描設(shè)備，德國(guó)純進(jìn)口藍(lán)光掃描設(shè)備，單幅掃描采集點(diǎn)數(shù)據(jù)800萬(wàn)點(diǎn)，外出攜帶方便，可以任意到現(xiàn)場(chǎng)掃描。快速解決客戶(hù)輪廓檢測(cè)，逆向工程很好的工具

所謂輪廓度是指被測(cè)實(shí)際輪廓相對(duì)于理想輪廓的變動(dòng)情況。這一概念用于描述曲面或曲線形狀的準(zhǔn)確度。輪廓度包括面輪廓度與線輪廓度，對(duì)典型的輪廓度常用測(cè)量方法的進(jìn)行剖析。常規(guī)的測(cè)量靠檢具和三坐標(biāo)碰觸的方式來(lái)測(cè)量輪廓是否合格，不是很直觀找到問(wèn)題。對(duì)于現(xiàn)在客戶(hù)對(duì)產(chǎn)品外觀要求越來(lái)越高形式下，外形輪廓極其重要。檢驗(yàn)輪廓是否合格，比較好解決方法是使用藍(lán)光掃描得到整個(gè)外形特征與理論設(shè)計(jì)圖檔進(jìn)行比對(duì)?？梢缘玫秸麄€(gè)面輪廓度和線輪廓度具體的偏差值，以及偏差位置在什么區(qū)域。一目了然方便后續(xù)模具修改，提高產(chǎn)品質(zhì)量，提升開(kāi)發(fā)進(jìn)度起到很好的幫助，為客戶(hù)降本。平面度就是一個(gè)面上報(bào)有點(diǎn)在理論高度上的最大值和最小值點(diǎn)的總和。

掃描 檢測(cè)應(yīng)用趨勢(shì) ? 完整掃描, 全尺寸檢測(cè) ? 色彩誤差圖一目了然 ? 容易與客戶(hù)或跨部門(mén)溝通 ? 3D Viewer 任意角度翻轉(zhuǎn)檢視3D 的檢測(cè)結(jié)果 ? 掃描與報(bào)表制作容易, 縮短檢測(cè)時(shí)間 ? 與CAD全曲面比對(duì)誤差色彩圖 ? 3D曲面及尺寸管制 ? 翹曲變形 ? 凸陷及縮痕 ? 縮水 ? 直觀, 清楚且容易了解 ? 問(wèn)題區(qū)域可立刻得到判斷 ? 更快的作出改善決定 ? 任意位置作2D檢測(cè)剖面 ? 點(diǎn)資料剖與CAD剖面比對(duì) ? 剖面位置在模型顯示 ? 針狀圖 ? 誤差標(biāo)記點(diǎn) ? 公差帶顯示 ? 由CAD自動(dòng)獲得公差帶就平面而言，面輪廓度和平面度也是有質(zhì)的區(qū)別。上海進(jìn)口輪廓度檢測(cè)上門(mén)服務(wù)

用于描述曲面尺寸準(zhǔn)確度的主要指標(biāo)為輪廓度誤差。上海進(jìn)口輪廓度檢測(cè)上門(mén)服務(wù)

光學(xué)測(cè)量技術(shù)和全場(chǎng)型面測(cè)量系統(tǒng)已成為幾乎所有行業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)工具。在當(dāng)今現(xiàn)代化產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程鏈中，通過(guò) GOM 測(cè)量系統(tǒng)獲得的測(cè)量數(shù)據(jù)是質(zhì)量控制環(huán)節(jié)不可或缺的工具。 改善檢測(cè)進(jìn)程 生產(chǎn)商和供應(yīng)商使用統(tǒng)一的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn) 縮短分析評(píng)估和檢測(cè)時(shí)間 結(jié)果可靠，且可追溯 完整統(tǒng)一的質(zhì)量控制 GOM 公司提供的測(cè)量解決方案可確保滿(mǎn)足上述需求。GOM 公司擁有超過(guò)20年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，可為您提供包括精確的三維測(cè)量系統(tǒng)、具備進(jìn)程安全性的軟件等在內(nèi)的專(zhuān)業(yè)一體化服務(wù)。上海進(jìn)口輪廓度檢測(cè)上門(mén)服務(wù)

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