AOI的發(fā)展需求

集成電路（IC）當(dāng)然是現(xiàn)今人類(lèi)工業(yè)制造出來(lái)結(jié)構(gòu)精細(xì)的人造物之一，而除了以IC為主的半導(dǎo)體制造業(yè)，AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測(cè)需求。

①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測(cè)，典型應(yīng)用就是集成電路、芯片的制造、封裝等，既需要高精度又需要高效率的大量檢測(cè)

②精密零件與制程的精密加工與檢測(cè)，典型應(yīng)用就是針對(duì)工具機(jī)、航空航天器等高精度機(jī)械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測(cè)，具有高精度、量測(cè)條件多變等特點(diǎn)。

③生物醫(yī)學(xué)檢測(cè)應(yīng)用，典型應(yīng)用就是各式光學(xué)顯微鏡，結(jié)合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學(xué)信息判斷。

④光學(xué)鏡頭或其他光學(xué)元件的像差檢測(cè)。? AOI設(shè)備的原理有哪些呢？深圳高速AOI檢測(cè)設(shè)備值得推薦

AOI工作的原理對(duì)比

1.統(tǒng)計(jì)建模方式：圖像對(duì)比（ImageMatching）的處理方式。通過(guò)對(duì)OK模板與實(shí)際圖像的對(duì)比，求出差異的程度，來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。這種方式對(duì)使用人員要求低，但適應(yīng)性，檢測(cè)能力方面有諸多問(wèn)題。早期，由于開(kāi)發(fā)簡(jiǎn)單，我國(guó)有不少AOI制造商，加以改善（模板有多幅OJ圖像疊加而成），美其名曰：“統(tǒng)計(jì)建?！?。

2.邏輯算法方式：通過(guò)算法對(duì)圖像的特征點(diǎn)的抽取，來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。這種方式對(duì)使用人員要求有一定的經(jīng)驗(yàn)?；谒惴ǖ臋z測(cè)方法經(jīng)過(guò)很多年的發(fā)展，已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定，并且在實(shí)際運(yùn)用中取得了很好的效果。被行業(yè)前列的AOI制造商采用。

數(shù)據(jù)管理的對(duì)比

1.統(tǒng)計(jì)建模方式：在同一基板的相同元件無(wú)法統(tǒng)一的庫(kù)做管理。在基板A中制作的數(shù)據(jù)無(wú)法在基板B中調(diào)用。制作新基板監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)總是需要用一定數(shù)量的基板來(lái)建立模板數(shù)據(jù)。

2.邏輯算法方式：以元件庫(kù)方式作管理，元件庫(kù)與元件材料號(hào)相對(duì)于。相同元件，無(wú)論在同一基板中，或不同基板中都可以用同一元件庫(kù)來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)制作元件材料號(hào)相同的基板數(shù)據(jù)時(shí)，只需要簡(jiǎn)單的鏈接元件庫(kù)即可以（通常只需要10-20分鐘）。 AOI檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)AOI的工作原理是什么呢？

對(duì)于PCB行業(yè)而言，從工藝、成本和客戶(hù)需求幾個(gè)角度來(lái)看對(duì)于AOI設(shè)備的需求都呈現(xiàn)上升趨勢(shì)：

1、從技術(shù)工藝的角度看，PCB微型化導(dǎo)致人工目檢無(wú)法滿(mǎn)足要求，利用機(jī)器檢測(cè)是大趨勢(shì)；2、從生產(chǎn)成本的角度看，產(chǎn)品ASP不斷下降而人工成本卻不斷上升，優(yōu)化生產(chǎn)流程對(duì)成本進(jìn)行精細(xì)化控制是廠商在激烈競(jìng)爭(zhēng)中生存的法門(mén)，引進(jìn)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備是必要的選擇；3、從客戶(hù)需求的角度看，各種終端產(chǎn)品的復(fù)雜度不斷提升，對(duì)穩(wěn)定性要求也越來(lái)越高，AOI可以有效檢測(cè)翹腳、虛焊等缺陷，增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性，引入AOI設(shè)備是廠商爭(zhēng)取客戶(hù)訂單的重要砝碼。

系統(tǒng)集成之精密機(jī)械

      在AOI檢測(cè)系統(tǒng)中，被測(cè)物體的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設(shè)計(jì)，尤其是FPD、硅片、半導(dǎo)體、MEMS和一些光學(xué)組件等精密制造與組裝行業(yè)。在這些領(lǐng)域，制造過(guò)程需在超凈間進(jìn)行，要求AOI檢測(cè)系統(tǒng)有很高的自潔能力，不能給生產(chǎn)環(huán)境尤其是被測(cè)工件本身帶來(lái)二次污染，這會(huì)影響系統(tǒng)構(gòu)件的材料選型、氣動(dòng)及自動(dòng)化裝置選型、運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的設(shè)計(jì)與器件選型等。因此，會(huì)需要采取氣浮支撐、定位與傳輸機(jī)構(gòu)以及利用FFU風(fēng)機(jī)過(guò)濾機(jī)組對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行環(huán)境凈化，并采取消靜電裝置，對(duì)工件進(jìn)行防靜電處理。

系統(tǒng)集成之?dāng)?shù)據(jù)處理

      高速圖像數(shù)據(jù)處理也是AOI檢測(cè)系統(tǒng)的重要部分之一。由于AOI檢測(cè)是通過(guò)圖像傳感方式獲取被測(cè)信息的，尤其是高速在線(xiàn)檢測(cè)，圖像數(shù)據(jù)有時(shí)是海量的，為滿(mǎn)足生產(chǎn)節(jié)拍需求，必須采用高速數(shù)據(jù)處理技術(shù)。會(huì)采用共享內(nèi)存、分布式內(nèi)存多進(jìn)程處理、分布式計(jì)算機(jī)集群等方式，把巨大的圖像分時(shí)、分塊分割成小塊數(shù)據(jù)流，分散到集群系統(tǒng)各節(jié)點(diǎn)處理。對(duì)于耗時(shí)復(fù)雜的算法，有時(shí)只靠計(jì)算機(jī)CPU很難滿(mǎn)足時(shí)間要求，還需配備如DSP、GPU和FPGA等硬件處理模塊，協(xié)同實(shí)現(xiàn)快速?gòu)?fù)雜的計(jì)算難題。

    AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀及其工作原理？

AOI 圖像采集階段

      AOI的圖像采集系統(tǒng)主要包括光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)，照明系統(tǒng)和控制系統(tǒng)三個(gè)部分。光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”，原理是光電二極管接受到被檢測(cè)物體反射的光線(xiàn)，光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷，轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集，傳輸形成電壓模擬信號(hào)。二極管吸收光線(xiàn)強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同，依次輸出模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值，灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱，實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測(cè)物體的目的。

      光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種。因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同，CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝，并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器，電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)?*模數(shù)轉(zhuǎn)換器。這樣的結(jié)構(gòu)與設(shè)計(jì)難集成很多的感光單元，制造成本高且功耗大；而CMOS采用無(wú)機(jī)半導(dǎo)體加工工藝，每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路，每個(gè)像素都可以被定位，而無(wú)需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì)，對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過(guò)度曝光產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低，價(jià)格和功耗比CCD光電轉(zhuǎn)化器也低，但其缺點(diǎn)半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多 視覺(jué)檢測(cè)自動(dòng)化設(shè)備主要測(cè)試項(xiàng)目尺寸檢驗(yàn)，缺陷檢測(cè)等。湛江AOI檢測(cè)設(shè)備值得推薦

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AOI檢測(cè)圖像對(duì)比實(shí)現(xiàn)原理

目前比較流行的圖像對(duì)比方式有三種。

第一種：模板匹配（或母版比對(duì)）方式。這種方式預(yù)先采集一塊標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品（無(wú)缺陷）的圖像并確定為參考圖像，后續(xù)所有檢測(cè)時(shí)所采集的圖像，都需要與這個(gè)參考圖像做比較。

第二種：模式匹配方式。在這種方式中，AOI系統(tǒng)中會(huì)存儲(chǔ)無(wú)缺陷以及多種有缺陷的PCB組件圖像信息，所有檢測(cè)時(shí)所采集的圖像與這些組件信息做匹配，然后判斷是否合格。

第三種：統(tǒng)計(jì)模式匹配。這種方式利用統(tǒng)計(jì)學(xué)方式，結(jié)合模式匹配，通過(guò)與已經(jīng)存儲(chǔ)的PCB組件圖像信息做匹配，同時(shí)也會(huì)智能分析所有產(chǎn)品組件信息。如果比較結(jié)果小于標(biāo)準(zhǔn)閥值，則該圖像通過(guò)檢測(cè)；否則系統(tǒng)會(huì)判定該圖像為不合格，并將此部件轉(zhuǎn)移到其他區(qū)域，供后續(xù)維修或再檢測(cè)。 深圳高速AOI檢測(cè)設(shè)備值得推薦

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