AOI檢測(cè)基本原理與設(shè)備構(gòu)成

      AOI檢測(cè)原理是采用攝像技術(shù)將被檢測(cè)物體的反射光強(qiáng)以定量化的灰階值輸出，通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)圖像的灰階值進(jìn)行比較，分析判定缺陷并進(jìn)行分類(lèi)的過(guò)程。與人工檢查做一個(gè)形象的比喻，AOI采用的普通LED或特殊光源相當(dāng)于人工檢查時(shí)的自然光，AOI采用的光學(xué)傳感器和光學(xué)透鏡相當(dāng)于人眼，AOI的圖像處理與分析系統(tǒng)就相當(dāng)于人腦，即“看”與“判”兩個(gè)環(huán)節(jié)。因此，AOI檢測(cè)的工作邏輯可以簡(jiǎn)單地分為圖像采集階段（光學(xué)掃描和數(shù)據(jù)收集），數(shù)據(jù)處理階段（數(shù)據(jù)分類(lèi)與轉(zhuǎn)換），圖像分析段（特征提取與模板比對(duì)）和缺陷報(bào)告階段四個(gè)階段（缺陷大小類(lèi)型分類(lèi)等）。    

      為了支持和實(shí)現(xiàn)AOI檢測(cè)的上述四個(gè)功能，AOI設(shè)備的硬件系統(tǒng)也就包括工作平臺(tái)，成像系統(tǒng)，圖像處理系統(tǒng)和電氣系統(tǒng)四個(gè)部分，是一個(gè)集成了機(jī)械，自動(dòng)化，光學(xué)和軟件等多學(xué)科的自動(dòng)化設(shè)備。 AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀及其工作原理AOI經(jīng)過(guò)十幾年的發(fā)展，技術(shù)水平仍處于高速發(fā)展階段。肇慶國(guó)內(nèi)AOI檢測(cè)設(shè)備價(jià)格行情

如何根據(jù)AOI的功能選擇設(shè)備

1、分辨率的挑選

AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀的分辨率應(yīng)以像元的尺度巨細(xì)作為判別的條件，也就是空間分辨率來(lái)衡量。像素的巨細(xì)不是判別AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀的檢出才能的標(biāo)準(zhǔn)，準(zhǔn)確地講，像素大是決議單位面積的像元尺度巨細(xì)的因素。假如單位面積不同，像素再高也沒(méi)有可比性。比方一臺(tái)AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀的FOV為12*16毫米，假如這臺(tái)AOI選用的是30萬(wàn)像素的相機(jī)，那么這臺(tái)AOI的分辨率只有25微米，它只能檢測(cè)0402以上封裝尺度的元件。但假如這臺(tái)AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀選用的是200萬(wàn)像素的相機(jī)，那么這臺(tái)AOI的分辨率就變?yōu)?0微米，就可以檢測(cè)01005以上封裝尺度的元件。

2、CAD的挑選

現(xiàn)在大多數(shù)AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀都有CAD數(shù)據(jù)導(dǎo)入功用，但這一功用的運(yùn)用，對(duì)器材較少的PCBA板的運(yùn)用功率不是很好，而對(duì)元器材較多的PCBA板的運(yùn)用則能起到事半功倍的效果。

3、特別功用的挑選

假如你要對(duì)多連板的PCBA進(jìn)行檢測(cè)，就一定要挑選有跳板功用的AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀，也就是有區(qū)域挑選功用的AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀。假如你將AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀用作質(zhì)量的進(jìn)程操控，那么，你在挑選AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀時(shí)，一定要挑選具有RPC功用的AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀，也就是具有實(shí)時(shí)工藝進(jìn)程操控的AOI主動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 惠州全自動(dòng)AOI檢測(cè)設(shè)備保養(yǎng)AOI的工作原理是什么呢？

系統(tǒng)集成之精密機(jī)械

      在AOI檢測(cè)系統(tǒng)中，被測(cè)物體的支撐方式、精密傳輸與定位裝置也必須精心設(shè)計(jì)，尤其是FPD、硅片、半導(dǎo)體、MEMS和一些光學(xué)組件等精密制造與組裝行業(yè)。在這些領(lǐng)域，制造過(guò)程需在超凈間進(jìn)行，要求AOI檢測(cè)系統(tǒng)有很高的自潔能力，不能給生產(chǎn)環(huán)境尤其是被測(cè)工件本身帶來(lái)二次污染，這會(huì)影響系統(tǒng)構(gòu)件的材料選型、氣動(dòng)及自動(dòng)化裝置選型、運(yùn)動(dòng)導(dǎo)軌的設(shè)計(jì)與器件選型等。因此，會(huì)需要采取氣浮支撐、定位與傳輸機(jī)構(gòu)以及利用FFU風(fēng)機(jī)過(guò)濾機(jī)組對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行環(huán)境凈化，并采取消靜電裝置，對(duì)工件進(jìn)行防靜電處理。

系統(tǒng)集成之?dāng)?shù)據(jù)處理

      高速圖像數(shù)據(jù)處理也是AOI檢測(cè)系統(tǒng)的重要部分之一。由于AOI檢測(cè)是通過(guò)圖像傳感方式獲取被測(cè)信息的，尤其是高速在線(xiàn)檢測(cè)，圖像數(shù)據(jù)有時(shí)是海量的，為滿(mǎn)足生產(chǎn)節(jié)拍需求，必須采用高速數(shù)據(jù)處理技術(shù)。會(huì)采用共享內(nèi)存、分布式內(nèi)存多進(jìn)程處理、分布式計(jì)算機(jī)集群等方式，把巨大的圖像分時(shí)、分塊分割成小塊數(shù)據(jù)流，分散到集群系統(tǒng)各節(jié)點(diǎn)處理。對(duì)于耗時(shí)復(fù)雜的算法，有時(shí)只靠計(jì)算機(jī)CPU很難滿(mǎn)足時(shí)間要求，還需配備如DSP、GPU和FPGA等硬件處理模塊，協(xié)同實(shí)現(xiàn)快速?gòu)?fù)雜的計(jì)算難題。

AOI檢測(cè)系統(tǒng)的軟件組成

      結(jié)合光學(xué)感測(cè)系統(tǒng)采集到的圖像數(shù)據(jù)，AOI檢測(cè)系統(tǒng)的軟件主要包括算法、影像處理軟件和通訊軟件。同樣AOI系統(tǒng)判斷一個(gè)組件是否是合格，也會(huì)設(shè)定一個(gè)規(guī)則，滿(mǎn)足規(guī)則的就合格，不滿(mǎn)足規(guī)則就是不良品。這個(gè)規(guī)則標(biāo)準(zhǔn)建模的方法即是算法，算法是整個(gè)軟件系統(tǒng)的重中之重，也是AOI檢測(cè)廠(chǎng)商的重要競(jìng)爭(zhēng)力。

      AI成為AOI檢測(cè)技術(shù)進(jìn)一步發(fā)展的關(guān)鍵因素。

      以AOI檢測(cè)應(yīng)用范圍廣的PCB行業(yè)為例，中低端AOI檢測(cè)設(shè)備的誤判過(guò)篩率約為70%，即捕捉到的不良品中其實(shí)有70%的成品是合格的。因此目前PCB廠(chǎng)商多采取人工二次篩選，將實(shí)際合格的PCB板再度送回產(chǎn)線(xiàn)，預(yù)估一臺(tái)AOI檢測(cè)機(jī)常需配置4名人員進(jìn)行二次檢查。

      伴隨AI技術(shù)的迅速發(fā)展，也給AOI檢測(cè)行業(yè)帶來(lái)了技術(shù)革新的契機(jī)。傳統(tǒng)AOI檢測(cè)與AI AOI辨識(shí)的差異，在于是否可針對(duì)未知瑕疵進(jìn)行判定，傳統(tǒng)AOI檢測(cè)設(shè)備只能以設(shè)定好的參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)為基準(zhǔn)進(jìn)行判斷，也就是邏輯性的思考，需要先定義瑕疵的樣本，再透過(guò)樣本進(jìn)行檢測(cè)。但導(dǎo)入訓(xùn)練成熟的AI技術(shù)后，AI AOI檢測(cè)系統(tǒng)能夠自行定義瑕疵范圍，進(jìn)一步有效判別未知的瑕疵圖像，且這個(gè)學(xué)習(xí)的過(guò)程是在不斷重復(fù)進(jìn)行積累的。 在SMT中，AOI主要應(yīng)用于焊膏印刷檢測(cè)、元件檢驗(yàn)、焊后組件檢測(cè)。

 SMT加工中AOI設(shè)備的用途

   自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)是一種利用光學(xué)捕捉PCB圖像的方法，以查看組件是否丟失，是否在正確的位置，以識(shí)別缺陷，并確保制造過(guò)程的質(zhì)量。它可以檢查所有尺寸的組件，如01005,0201，和0402s和包，如BGAs, CSPs, LGAs, PoPs，和QFNs。

   AOI的引入開(kāi)啟了實(shí)時(shí)巡檢功能。隨著高速、大批量生產(chǎn)線(xiàn)的出現(xiàn)，一個(gè)不正確的機(jī)器設(shè)置、在PCB上放置錯(cuò)誤的部件或?qū)R問(wèn)題都可能導(dǎo)致大量的制造缺陷和隨后在短時(shí)間內(nèi)的返工。當(dāng)初的AOI機(jī)器能夠進(jìn)行二維測(cè)量，如檢查板的特征和組件的特征，以確定X和Y坐標(biāo)和測(cè)量。3D系統(tǒng)在2D上進(jìn)行了擴(kuò)展，將高度維度添加到方程中，從而提供X、Y和Z坐標(biāo)和測(cè)量。

    注意:有些AOI系統(tǒng)實(shí)際上并不“測(cè)量”組件的高度。

    AOI在制造過(guò)程早期發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，并在板被移到下一個(gè)制造步驟之前保證工藝質(zhì)量。AOI通過(guò)向生產(chǎn)線(xiàn)反饋并提供歷史數(shù)據(jù)和生產(chǎn)統(tǒng)計(jì)來(lái)幫助提高產(chǎn)量。確保質(zhì)量在整個(gè)過(guò)程中得到控制，節(jié)省了時(shí)間和金錢(qián)，因?yàn)椴牧侠速M(fèi)、修理和返工、增加的制造勞動(dòng)力、時(shí)間和費(fèi)用，更不用說(shuō)所有設(shè)備故障的成本。 利用圖像的明暗關(guān)系形成目標(biāo)物的外形輪廓，比較該外形輪廓與標(biāo)準(zhǔn)輪廓的相像程度?；葜萑詣?dòng)AOI檢測(cè)設(shè)備保養(yǎng)

AOI主要特點(diǎn)有哪些呢？肇慶國(guó)內(nèi)AOI檢測(cè)設(shè)備價(jià)格行情

AOI為自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，采用攝像技術(shù)將被檢測(cè)物體的反射光強(qiáng)以定量化的灰階值輸出，通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)圖像特征對(duì)比后，分析判定NG或OK。

而隨著集成電路的迅猛發(fā)展，以及各種特殊電子元器件的不斷推陳出新，從而促使PCB技術(shù)日新月異。如今PCB產(chǎn)品也向著高密度、超薄型、細(xì)間距、小元件的方向發(fā)展，這樣導(dǎo)致線(xiàn)路板上元器件組裝密度要求更高，PCB板上的線(xiàn)寬、間距、焊盤(pán)越來(lái)越細(xì)，因?yàn)閭鹘y(tǒng)的人工檢測(cè)已無(wú)法再適用于如今的制造技術(shù)中。

現(xiàn)今AOI視覺(jué)檢測(cè)的迅猛發(fā)展，并逐步替代傳統(tǒng)的人工檢測(cè)。它有效地檢測(cè)出貼裝質(zhì)量、焊點(diǎn)質(zhì)量等。通過(guò)使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過(guò)程中早期發(fā)現(xiàn)缺陷并避免將不良品送到終的裝配工序，將減少修理成本并避免報(bào)廢不可修理的電路板。

AOI檢測(cè)的主要特點(diǎn)：

1.高效率檢測(cè)，不受PCB貼裝密度影響；

2.針對(duì)不同的檢測(cè)項(xiàng)目，結(jié)合光學(xué)成像處理技術(shù)，分別有不同的檢測(cè)方法；

3.簡(jiǎn)單人性化的操作界面，無(wú)需專(zhuān)業(yè)人員也可操作；

4.顯示實(shí)際錯(cuò)誤圖像，方便操機(jī)人員進(jìn)行終的目視核對(duì)；

5.能統(tǒng)計(jì)NG數(shù)據(jù)以及分析導(dǎo)致不良的原因，實(shí)時(shí)向操機(jī)反饋工藝信息。
肇慶國(guó)內(nèi)AOI檢測(cè)設(shè)備價(jià)格行情

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