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一、SPI的分類:
從檢測(cè)原理上來(lái)分SPI主要分為兩個(gè)大類,線激光掃描式與面結(jié)構(gòu)光柵PMP技術(shù)。
1)激光掃描式的SPI通過(guò)三角量測(cè)的原理計(jì)算出錫膏的高度。此技術(shù)因?yàn)樵肀容^簡(jiǎn)單,技術(shù)比較成熟,但是因?yàn)槠浔旧淼募夹g(shù)局限性如激光的掃描寬度偏長(zhǎng),單次取樣,雜訊干擾等,所以比較多的運(yùn)用在對(duì)精度與重復(fù)性要求不高的錫厚測(cè)試儀,桌上型SPI等。
2)結(jié)構(gòu)光柵型SPIPMP,又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術(shù)是一種基于正弦條紋投影和位相測(cè)量的光學(xué)三維面形測(cè)量技術(shù)。通過(guò)獲取全場(chǎng)條紋的空間信息與一個(gè)條紋周期內(nèi)相移條紋的時(shí)序信息,來(lái)完成物體三維信息的重建。由于其具有全場(chǎng)性、速度快、高精度、自動(dòng)化程度高等特點(diǎn),這種技術(shù)已在工業(yè)檢測(cè)、機(jī)器視覺、逆向工程等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。目前大部分的在線SPI設(shè)備都已經(jīng)升級(jí)到此種技術(shù)。
但是它采用的離散相移技術(shù)要求有精確的正弦結(jié)構(gòu)光柵與精確的相移,在實(shí)際系統(tǒng)中不可避免地存在著光柵圖像的非正弦化,相移誤差與隨機(jī)誤差,它將導(dǎo)致計(jì)算位相和重建面形的誤差。雖然已經(jīng)出現(xiàn)了不少算法能降低線性相移誤差,但要解決相移過(guò)程中的隨機(jī)相移誤差問(wèn)題,還存在一定的困難。 AOI在SMT各工序在SMT中的應(yīng)用。深圳國(guó)內(nèi)SPI檢測(cè)設(shè)備按需定制
對(duì)于PCB行業(yè)而言,從工藝、成本和客戶需求幾個(gè)角度來(lái)看對(duì)于SPI設(shè)備的需求都呈現(xiàn)上升趨勢(shì):
1、從技術(shù)工藝的角度看,PCB微型化導(dǎo)致人工目檢無(wú)法滿足要求,利用機(jī)器檢測(cè)是大趨勢(shì);
2、從生產(chǎn)成本的角度看,產(chǎn)品ASP不斷下降而人工成本卻不斷上升,優(yōu)化生產(chǎn)流程對(duì)成本進(jìn)行精細(xì)化控制是廠商在激烈競(jìng)爭(zhēng)中生存的法門,引進(jìn)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備是必要的選擇;
3、從客戶需求的角度看,各種終端產(chǎn)品的復(fù)雜度不斷提升,對(duì)穩(wěn)定性要求也越來(lái)越高,SPI可以有效檢測(cè)翹腳、虛焊等缺陷,增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性,引入SPI設(shè)備是廠商爭(zhēng)取客戶訂單的重要砝碼。 佛山精密SPI檢測(cè)設(shè)備服務(wù)PCBA工藝常見檢測(cè)設(shè)備ICT檢測(cè)。
眾所周知,在SMT所有工序中,錫膏印刷工藝所產(chǎn)生的錫膏印刷不良,直接導(dǎo)致了約74%的電路板組裝不良,還與13%的電路板組裝不良有間接關(guān)系。錫膏印刷工藝的好壞,很大程度上決定了SMT工藝的品質(zhì).
另外,對(duì)于PLCC、GBA等焊點(diǎn)隱葳在本體下的元件,以及屏敝蓋下元件,使用爐后AOI不能檢測(cè),需要使用X-RAY才能有效檢測(cè);而對(duì)于細(xì)小的0201、01005等元件焊接后更是難以維修,所以需要在錫膏印刷環(huán)節(jié)就使用檢測(cè)設(shè)備對(duì)錫膏印刷的質(zhì)量進(jìn)行實(shí)時(shí)的檢測(cè)和控制。更進(jìn)一步地說(shuō),在錫膏印刷環(huán)節(jié)發(fā)現(xiàn)不良,能有限節(jié)約生產(chǎn)費(fèi)用、提高生產(chǎn)效率。一旦在印刷后的PCB上發(fā)現(xiàn)不良,操作員可以立即進(jìn)行返修。產(chǎn)品不會(huì)在繼續(xù)流入后續(xù)工序,不再浪費(fèi)貼片機(jī)和回流焊爐的生產(chǎn)效率,更避免了爐后修理的費(fèi)用。
目前大部分的SMT工廠都已經(jīng)開始導(dǎo)入在線SPI設(shè)備,但是在實(shí)際使用過(guò)程中,效果也因各廠對(duì)其重視程度而大不一樣
沒有重視SPC系統(tǒng)分析出來(lái)的結(jié)果
目前在線的SPI都有完善的SPC功能,通過(guò)SPC分析能發(fā)現(xiàn)大部分印刷上出現(xiàn)的問(wèn)題。提前發(fā)現(xiàn)一些可能導(dǎo)致印刷不良的因素。但是目前真正執(zhí)行的情況應(yīng)該說(shuō)還不是很盡人如意。分析主要原因可能一是SPC功能操作相對(duì)比較復(fù)雜,并且需要操作人員有一定的SPC知識(shí)。二是SPC系統(tǒng)分析出來(lái)的結(jié)果智能化程度不夠,所以沒有得到足夠的重視。這也是SPI廠商今后著重發(fā)展的一個(gè)方向。 SPI驗(yàn)證目的有哪些呢?
5.AOI自動(dòng)光學(xué)檢查
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),利用光學(xué)和數(shù)字成像技術(shù),采用計(jì)算機(jī)和軟件技術(shù)分析圖像而進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)的一種新型技術(shù)。AOI設(shè)備一般可分為在線式和離線式兩大類。
AOI通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描PCB,采集圖像,測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較,經(jīng)過(guò)圖像處理,檢查出PCB上缺陷:缺件、錯(cuò)件、壞件、錫球、偏移、側(cè)立、立碑、反貼、極反、橋連、虛焊、無(wú)焊錫、 少焊錫、多焊錫、組件浮起、IC引腳浮起、IC引腳彎曲,并通過(guò)顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來(lái),供維修人員修整。
6.X射線檢測(cè)(簡(jiǎn)稱X-ray或AXI)
X-Ray檢測(cè)是利用X射線可穿透物質(zhì)并在物質(zhì)中有衰減的特性來(lái)發(fā)現(xiàn)缺陷,主要檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部缺陷,如BGA、CSP和FC中Chip的焊點(diǎn)檢測(cè)。
X射線檢測(cè)是利用X射線具備很強(qiáng)的穿透性,能穿透物體表面的性能,看透被檢焊點(diǎn)內(nèi)部,從而達(dá)到檢測(cè)和分析電子組件各種常見的焊點(diǎn)的焊接品質(zhì)。
X-Ray檢測(cè)能充分反映出焊點(diǎn)的焊接質(zhì)量,包括開路、短路、孔、洞、內(nèi)部氣泡以及錫量不足,并能做到定量分析。X-ray檢測(cè)較大特點(diǎn)是能對(duì)BGA封裝器件下面的焊點(diǎn)缺陷,如橋接、開路、焊球丟失、移位、釬料不足、空洞、焊球和焊點(diǎn)邊緣模糊等內(nèi)部進(jìn)行檢測(cè)。 SMT貼片焊接加工導(dǎo)入SMT智能首件檢測(cè)儀可以帶來(lái)的效益有哪些呢?佛山精密SPI檢測(cè)設(shè)備服務(wù)
SPI能查出在SMT加工過(guò)程中哪些不良。深圳國(guó)內(nèi)SPI檢測(cè)設(shè)備按需定制
SMT整線設(shè)備中AOI的作用
隨著PCB產(chǎn)品向著超薄型、小組件、高密度、細(xì)間距方向快速發(fā)展。線路板上元器件組裝密度提高,PCB線寬、間距、焊盤越來(lái)越細(xì)小,已到微米級(jí),人工目檢的方式已滿足不了,目前還有多數(shù)工廠還在采用人工目視的檢測(cè)方式,但是隨著電子產(chǎn)品小型化及低能耗化的市場(chǎng)需求越來(lái)越旺盛,電子元器件向小型化發(fā)展步伐也越來(lái)越快。此外,人容易疲勞和受情緒影響,相對(duì)于人工目檢而言,機(jī)器視覺設(shè)備具有更高的穩(wěn)定性,可重復(fù)性和更高的精細(xì)度。
減少員工培訓(xùn)費(fèi)用:訓(xùn)練一個(gè)熟練的員工的速度已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)落后于員工流失的速度。
缺陷預(yù)警:即在前工序防止缺陷。我們?cè)阱a膏印刷、爐前、爐后位置都可以使用AOI產(chǎn)品及時(shí)截出壞機(jī),通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)人員的有效管控。
減少PCBA的維修成本:通過(guò)在不同品質(zhì)工位應(yīng)用AOI,得到制程變化對(duì)品質(zhì)影響的實(shí)時(shí)反饋資料。 深圳國(guó)內(nèi)SPI檢測(cè)設(shè)備按需定制
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