AOI的包含情況以及三種檢測方法

一、AOI系統(tǒng)一般包含：

1.照明系統(tǒng)

2.光學(xué)透鏡

3.CCD攝像系統(tǒng)

4.檢測工作臺(tái)

5.檢測程序

6.預(yù)存模板

7.圖像處理識(shí)別系統(tǒng)

8.數(shù)據(jù)記錄處理系統(tǒng)

二、三種檢測算法

1.DRC檢測

基本思想：DRC使用一套用戶設(shè)計(jì)的規(guī)則來檢測違反設(shè)計(jì)規(guī)則的二進(jìn)制數(shù)據(jù)，所有不符合規(guī)則的特征都認(rèn)為是缺陷。

規(guī)則包括：允許的較大較小線寬、較大較小焊盤尺寸、較小導(dǎo)體間距、所有線寬都必須以焊盤結(jié)束等。檢測缺陷：毛刺、鼠咬、線條、間距、焊盤尺寸違反等。

2.特征比較

基本思想：分別提取模板（CAM或者黃金模板）和待檢圖像中的鏈接性特征，然后比較結(jié)果，不同之處就是缺陷。檢測缺陷：開路，短路

3.粗檢測缺陷

基本思想：將模板圖像和待檢圖像進(jìn)行異或運(yùn)算，得到圖像之間的不同。檢測缺陷：大缺陷（丟失或多余的大焊盤） 視覺檢測自動(dòng)化設(shè)備主要測試項(xiàng)目尺寸檢驗(yàn)，缺陷檢測等。銷售AOI檢測設(shè)備設(shè)備

對于PCB行業(yè)而言，從工藝、成本和客戶需求幾個(gè)角度來看對于AOI設(shè)備的需求都呈現(xiàn)上升趨勢：

1、從技術(shù)工藝的角度看，PCB微型化導(dǎo)致人工目檢無法滿足要求，利用機(jī)器檢測是大趨勢；2、從生產(chǎn)成本的角度看，產(chǎn)品ASP不斷下降而人工成本卻不斷上升，優(yōu)化生產(chǎn)流程對成本進(jìn)行精細(xì)化控制是廠商在激烈競爭中生存的法門，引進(jìn)自動(dòng)化檢測設(shè)備是必要的選擇；3、從客戶需求的角度看，各種終端產(chǎn)品的復(fù)雜度不斷提升，對穩(wěn)定性要求也越來越高，AOI可以有效檢測翹腳、虛焊等缺陷，增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性，引入AOI設(shè)備是廠商爭取客戶訂單的重要砝碼。 銷售AOI檢測設(shè)備設(shè)備AOI檢測基本原理與設(shè)備構(gòu)成？

A0I的定義

      AOI英文全稱AutomatedOpticalInspection,即自動(dòng)光學(xué)檢測。是利用PCB板的線路銅面與環(huán)氧樹脂基材不同的反光效果，通過光學(xué)掃描出PCB板的圖像與標(biāo)準(zhǔn)板（CAM資料）比較，檢測出PCB線路圖形中的缺點(diǎn)。檢查出有缺陷的PCB，提高PCB板的質(zhì)量，減少報(bào)廢；檢查出有缺陷的PCB，以便可以分析產(chǎn)生缺陷的原因，改善制程

AOI技術(shù)原理與特點(diǎn)

●AOI的原理：通過光學(xué)掃描出PCB板的圖像與標(biāo)準(zhǔn)板（CAM資料）比較，檢測出PCB線路圖形中的缺點(diǎn)。

●AOI資料制作：利用工程給出文件解壓，優(yōu)化，制作AOI測試資料，AOI掃描時(shí)資料與實(shí)際板面圖形對比，圖形有差異時(shí)，就會(huì)報(bào)點(diǎn)，找出不良缺陷.

●AOI掃描：利用AOI資料，設(shè)定相關(guān)參數(shù)，對板面進(jìn)行對位掃描，掃描時(shí)實(shí)際板面數(shù)據(jù)會(huì)和AOI資料數(shù)據(jù)形成對比，找出不良缺陷

●VRS檢修：利用AOI掃描數(shù)據(jù)，調(diào)取AOI測試資料，設(shè)定VRS定位點(diǎn)，所有數(shù)據(jù)必須與AOI測試一致，進(jìn)行找點(diǎn)，VRS人員對報(bào)點(diǎn)處檢修，開路或缺口用水性筆劃2豎，短路及其它缺點(diǎn)則劃圈圈.

AOI檢測系統(tǒng)的軟件組成

      結(jié)合光學(xué)感測系統(tǒng)采集到的圖像數(shù)據(jù)，AOI檢測系統(tǒng)的軟件主要包括算法、影像處理軟件和通訊軟件。同樣AOI系統(tǒng)判斷一個(gè)組件是否是合格，也會(huì)設(shè)定一個(gè)規(guī)則，滿足規(guī)則的就合格，不滿足規(guī)則就是不良品。這個(gè)規(guī)則標(biāo)準(zhǔn)建模的方法即是算法，算法是整個(gè)軟件系統(tǒng)的重中之重，也是AOI檢測廠商的重要競爭力。

      AI成為AOI檢測技術(shù)進(jìn)一步發(fā)展的關(guān)鍵因素。

      以AOI檢測應(yīng)用范圍廣的PCB行業(yè)為例，中低端AOI檢測設(shè)備的誤判過篩率約為70%，即捕捉到的不良品中其實(shí)有70%的成品是合格的。因此目前PCB廠商多采取人工二次篩選，將實(shí)際合格的PCB板再度送回產(chǎn)線，預(yù)估一臺(tái)AOI檢測機(jī)常需配置4名人員進(jìn)行二次檢查。

      伴隨AI技術(shù)的迅速發(fā)展，也給AOI檢測行業(yè)帶來了技術(shù)革新的契機(jī)。傳統(tǒng)AOI檢測與AI AOI辨識(shí)的差異，在于是否可針對未知瑕疵進(jìn)行判定，傳統(tǒng)AOI檢測設(shè)備只能以設(shè)定好的參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)為基準(zhǔn)進(jìn)行判斷，也就是邏輯性的思考，需要先定義瑕疵的樣本，再透過樣本進(jìn)行檢測。但導(dǎo)入訓(xùn)練成熟的AI技術(shù)后，AI AOI檢測系統(tǒng)能夠自行定義瑕疵范圍，進(jìn)一步有效判別未知的瑕疵圖像，且這個(gè)學(xué)習(xí)的過程是在不斷重復(fù)進(jìn)行積累的。 如何根據(jù)AOI的功能選擇設(shè)備。

光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)

      指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測物體反射的光線，光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷，轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集，傳輸形成電壓模擬信號(hào)

      二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同，依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值，灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測物體的目的

      光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種，因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝，并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器，電極所產(chǎn)生的電場推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。

      而CMOS采用了無機(jī)半導(dǎo)體加工工藝，每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路，每個(gè)像素都可以被定位，無需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì)，而且其對圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多，價(jià)格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低。但其非常明顯的缺點(diǎn)，作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會(huì)有問題，為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū)，域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片
AOI檢測設(shè)備誤判的定義是什么呢？東莞AOI檢測設(shè)備廠家價(jià)格

AOI工作流程進(jìn)料→AOI檢驗(yàn)→VRS確認(rèn)→熒光幕監(jiān)視修補(bǔ)→出貨為什么需要AOI？銷售AOI檢測設(shè)備設(shè)備

SMT整線設(shè)備中AOI的作用

      隨著PCB產(chǎn)品向著超薄型、小組件、高密度、細(xì)間距方向快速發(fā)展。線路板上元器件組裝密度提高，PCB線寬、間距、焊盤越來越細(xì)小，已到微米級，人工目檢的方式已滿足不了，目前還有多數(shù)工廠還在采用人工目視的檢測方式，但是隨著電子產(chǎn)品小型化及低能耗化的市場需求越來越旺盛，電子元器件向小型化發(fā)展步伐也越來越快。

      此外，人容易疲勞和受情緒影響，相對于人工目檢而言，機(jī)器視覺設(shè)備具有更高的穩(wěn)定性，可重復(fù)性和更高的精細(xì)度。

減少員工培訓(xùn)費(fèi)用：訓(xùn)練一個(gè)熟練的員工的速度已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)落后于員工流失的速度。

缺陷預(yù)警：即在前工序防止缺陷。我們在錫膏印刷、爐前、爐后位置都可以使用AOI產(chǎn)品及時(shí)截出壞機(jī)，通過現(xiàn)場人員的有效管控。

減少PCBA的維修成本：通過在不同品質(zhì)工位應(yīng)用AOI，得到制程變化對品質(zhì)影響的實(shí)時(shí)反饋資料。 銷售AOI檢測設(shè)備設(shè)備

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