SPI為什么會逐漸取代人工目檢？

現(xiàn)在的人工越來越貴，并且人員管理也越來越難，人工目檢還會出現(xiàn)漏檢或錯檢，因此在線SPI逐漸取代人工目檢，達到節(jié)約成本、提高生產(chǎn)效率、降低誤判率、提高直通率等等，在現(xiàn)代的EMS加工廠中，大量的SPI逐漸取代人工目檢，效率也更快。

SPI檢測設備的優(yōu)點

1、解決了微型封裝器件的結(jié)構性檢查問題，保證生產(chǎn)質(zhì)量；

2、提高了后端測試的直通率，降低維修成本；

3、隨著技術的發(fā)展，SPI測試程序快捷簡便，降低了生產(chǎn)所需的大量測試成本；

SPI檢測設備的缺點

1.灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方，比較容易出現(xiàn)誤判，

2.被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點，比較容易出現(xiàn)漏檢人工目檢+SPI自動檢測結(jié)合是目前的主流方式，如果放置了SPI自動檢測儀，人工目檢人員崗可以設置較少人員隨著電子精密化趨勢發(fā)展，越來越多的使用了屏蔽罩，因此有實力的加工廠還會在多功能機前加一個爐前AOI，用來專門檢測屏蔽罩下的元件貼裝品質(zhì)。 spi檢測設備在貼片打樣中的應用。江門在線式SPI檢測設備技術參數(shù)

3分鐘了解智能制造中的AOI檢測技術

      AOI檢測技術具有自動化、非接觸、速度快、精度高、穩(wěn)定性高等優(yōu)點，能夠滿足現(xiàn)代工業(yè)高速、高分辨率的檢測要求，在手機、平板顯示、太陽能、鋰電池等諸多行業(yè)應用較廣。

      智能制造中的AOI檢測技術AOI集成了圖像傳感技術、數(shù)據(jù)處理技術、運動控制技術，在產(chǎn)品生產(chǎn)過程中，可以執(zhí)行測量、檢測、識別和引導等一系列任務。簡單地說，AOI模擬和拓展了人類眼、腦、手的功能，利用光學成像方法模擬人眼的的視覺成像功能，用計算機處理系統(tǒng)代替人腦執(zhí)行數(shù)據(jù)處理，隨后把結(jié)果反饋給執(zhí)行或輸出模塊。

      以AOI檢測應用較廣的PCB行業(yè)為例，中低端AOI檢測設備的誤判過篩率約為70%，即捕捉到的不良品中其實有70%的成品是合格的。擁有了訓練成熟的AI技術加持后，AIAOI檢測系統(tǒng)不斷學習，能夠自行定義瑕疵范圍，進一步有效判別未知的瑕疵圖像。AI視覺辨識技術能輔助AOI檢測能夠大幅提升檢測設備的辨識正確率，有效降低誤判過篩率，加速生產(chǎn)線速度。這就是智能制造。 惠州自動化SPI檢測設備維保AOI在SMT各工序的應用在SMT中，AOI主要應用于焊膏印刷檢測、元件檢驗、焊后組件檢測。

8種常見SMT產(chǎn)線檢測技術（3）

7.ICT在線測試儀

ICT在線測試儀，ICT，In-Circuit Test，是通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試手段。使用專門的針床與已焊接好的線路板上的元器件焊點接觸，并用數(shù)百毫伏電壓和10毫安以內(nèi)電流進行分立隔離測試，從而精確地測了所裝電阻、電感、電容、二極管、可控硅、場效應管、集成塊等通用和特殊元器件的漏裝、錯裝、參數(shù)值偏差、焊點連焊、線路板開短路等故障。

8.FCT功能測試(Functional Tester)

功能測試（ FCT：Functional Circuit Test）指的是對測試電路板的提供模擬的運行環(huán)境，使電路板工作于設計狀態(tài)，從而獲取輸出，進行驗證電路板的功能狀態(tài)的測試方法。簡單說就是將組裝好的某電子設備上的專門使用線路板連接到該設備的適當電路上，然后加電壓，如果設備正常工作就表明線路板合格。

DLP結(jié)構光投影儀在3D SPI / AOI領域的應用

1.SPI分類

從檢測原理上來分SPI主要分為兩個大類，線激光掃描式與面結(jié)構光柵PMP技術。

1.1 激光掃描式的SPI

通過三角量測的原理計算出錫膏的高度。此技術因為原理比較簡單，技術比較成熟，但是因為其本身的技術局限性如激光的掃描寬度偏長，單次取樣，雜訊干擾等，所以比較多的運用在對精度與重復性要求不高的錫厚測試儀，桌上型SPI等。在此不做過多敘述。

1.2結(jié)構光柵型SPI

PMP又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術是一種基于正弦條紋投影和位相測量的光學三維面形測量技術。通過獲取全場條紋的空間信息與一個條紋周期內(nèi)相移條紋的時序信息，來完成物體三維信息的重建。由于其具有全場性、速度快、高精度、自動化程度高等特點，這種技術已在工業(yè)檢測、機器視覺、逆向工程等領域獲得廣泛應用。目前大部分的在線SPI設備都已經(jīng)升級到此種技術。

但是它采用的離散相移技術要求有精確的正弦結(jié)構光柵與精確的相移，在實際系統(tǒng)中不可避免地存在著光柵圖像的非正弦化，相移誤差與隨機誤差，它將導致計算位相和重建面形的誤差。雖然已經(jīng)出現(xiàn)了不少算法能降低線性相移誤差，但要解決相移過程中的隨機相移誤差問題，還存在一定的困難。 SMT中的檢測設備AOI和SPI區(qū)別主要區(qū)別是什么呢？

光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)

      指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測物體反射的光線，光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷，轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集，傳輸形成電壓模擬信號二極管吸收光線強度不同時生成的模擬電壓大小不同，依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值，灰階值反映了物體反射光的強弱，進而實現(xiàn)識別不同被檢測物體的目的光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種，

      因為制作工藝與設計不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導體加工工藝，并設置了垂直和水平移位寄存器，電極所產(chǎn)生的電場推動電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。而CMOS采用了無機半導體加工工藝，每像素設計了額外的電子電路，每個像素都可以被定位，無需CCD中那樣的電荷移位設計，而且其對圖像信息的讀取速度遠遠高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多，價格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低。但其非常明顯的缺點，作為半導體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會有問題，為每個像素電子電路提供所需的額外空間不會作為光敏區(qū)，域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片 在線SPI設備在實際應用中出現(xiàn)的一些問題有哪些呢？梅州在線式SPI檢測設備設備價錢

AOI的發(fā)展需求集成電路，歡迎來電咨詢。江門在線式SPI檢測設備技術參數(shù)

PCBA工藝常見檢測設備

ATE檢測：Automatic Test Equipment

      集成電路(IC)自動測試機，用于檢測集成電路功能之完整性，為集成電路生產(chǎn)制造之終流程，以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。在所有的電子元器件(Device)的制造工藝里面，存在著去偽存真的需要，這種需要實際上是一個試驗的過程。為了實現(xiàn)這種過程，就需要各種試驗設備，這類設備就是所謂的ATE(AutomaticTestEquipment)。

      這里所說的電子元器件DUT(DeviceUnderTest)，當然包括IC類別，此外，還包括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(FrontEnd)和后道工序(BackEnd)的各個環(huán)節(jié)，具體的取決于工藝(Process)設計的要求。在元器件的工藝流程中，根據(jù)工藝的需要，存在著各種需要測試的環(huán)節(jié)。目的是為了篩選殘次品，防止進入下一道的工序，減少下一道工序中的冗余的制造費用。這些環(huán)節(jié)需要通過各種物理參數(shù)來把握，這些參數(shù)可以是現(xiàn)實物理世界中的光，電，波，力學等各種參量，但是，目前大多數(shù)常見的是電子信號的居多。ATE設計工程師們要考慮的較多的，還是電子部分的參數(shù)比如，時間，相位，電壓電流，等等基本的物理參數(shù)。就是電子學所說的，信號處理。 江門在線式SPI檢測設備技術參數(shù)

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