AOI為什么會(huì)逐漸取代人工目檢？

      現(xiàn)在的人工越來(lái)越貴，并且人員管理也越來(lái)越難，人工目檢還會(huì)出現(xiàn)漏檢或錯(cuò)檢，因此在線AOI逐漸取代人工目檢，達(dá)到節(jié)約成本、提高生產(chǎn)效率、降低誤判率、提高直通率等等，在現(xiàn)代的EMS加工廠中，大量的AOI逐漸取代人工目檢，效率也更快。

AOI檢測(cè)設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)

1、解決了微型封裝器件的結(jié)構(gòu)性檢查問(wèn)題，保證生產(chǎn)質(zhì)量；

2、提高了后端測(cè)試的直通率，降低維修成本；

3、隨著技術(shù)的發(fā)展，AOI測(cè)試程序快捷簡(jiǎn)便，降低了生產(chǎn)所需的大量測(cè)試成本；

AOI檢測(cè)設(shè)備的缺點(diǎn)

1.灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方，比較容易出現(xiàn)誤判，

2.被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn)，比較容易出現(xiàn)漏檢

      人工目檢+AOI自動(dòng)檢測(cè)結(jié)合是目前的主流方式，如果放置了AOI自動(dòng)檢測(cè)儀，人工目檢人員崗可以設(shè)置較少人員

      隨著電子精密化趨勢(shì)發(fā)展，越來(lái)越多的使用了屏蔽罩，因此有實(shí)力的加工廠還會(huì)在多功能機(jī)前加一個(gè)爐前AOI，用來(lái)專門(mén)檢測(cè)屏蔽罩下的元件貼裝品質(zhì)。 AOI檢測(cè)誤判的定義及存在原困、檢測(cè)誤判的定義及存在原困、檢測(cè)誤判的定義及存在原困，歡迎了解。廣東自動(dòng)化AOI檢測(cè)設(shè)備按需定制

3分鐘了解智能制造中的AOI檢測(cè)技術(shù)

      AOI檢測(cè)技術(shù)具有自動(dòng)化、非接觸、速度快、精度高、穩(wěn)定性高等優(yōu)點(diǎn)，能夠滿足現(xiàn)代工業(yè)高速、高分辨率的檢測(cè)要求，在手機(jī)、平板顯示、太陽(yáng)能、鋰電池等諸多行業(yè)應(yīng)用較廣。

智能制造中的AOI檢測(cè)技術(shù)

      AOI集成了圖像傳感技術(shù)、數(shù)據(jù)處理技術(shù)、運(yùn)動(dòng)控制技術(shù)，在產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中，可以執(zhí)行測(cè)量、檢測(cè)、識(shí)別和引導(dǎo)等一系列任務(wù)。簡(jiǎn)單地說(shuō)，AOI模擬和拓展了人類眼、腦、手的功能，利用光學(xué)成像方法模擬人眼的的視覺(jué)成像功能，用計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)代替人腦執(zhí)行數(shù)據(jù)處理，隨后把結(jié)果反饋給執(zhí)行或輸出模塊。

      以AOI檢測(cè)應(yīng)用較廣的PCB行業(yè)為例，中低端AOI檢測(cè)設(shè)備的誤判過(guò)篩率約為70%，即捕捉到的不良品中其實(shí)有70%的成品是合格的。擁有了訓(xùn)練成熟的AI技術(shù)加持后，AIAOI檢測(cè)系統(tǒng)不斷學(xué)習(xí)，能夠自行定義瑕疵范圍，進(jìn)一步有效判別未知的瑕疵圖像。AI視覺(jué)辨識(shí)技術(shù)能輔助AOI檢測(cè)能夠大幅提升檢測(cè)設(shè)備的辨識(shí)正確率，有效降低誤判過(guò)篩率，加速生產(chǎn)線速度。這就是智能制造。 中山全自動(dòng)AOI檢測(cè)設(shè)備如何根據(jù)AOI的功能選擇設(shè)備。

AOI的發(fā)展需求

集成電路（IC）當(dāng)然是現(xiàn)今人類工業(yè)制造出來(lái)結(jié)構(gòu)精細(xì)的人造物之一，而除了以IC為主的半導(dǎo)體制造業(yè)，AOI亦在其他領(lǐng)域有很重要的檢測(cè)需求。

①微型元件或結(jié)構(gòu)的形貌以及關(guān)鍵尺寸量測(cè)，典型應(yīng)用就是集成電路、芯片的制造、封裝等，既需要高精度又需要高效率的大量檢測(cè)

②精密零件與制程的精密加工與檢測(cè)，典型應(yīng)用就是針對(duì)工具機(jī)、航空航天器等高精度機(jī)械零件進(jìn)行相關(guān)的粗糙度、表面形狀等的量測(cè)，具有高精度、量測(cè)條件多變等特點(diǎn)。

③生物醫(yī)學(xué)檢測(cè)應(yīng)用，典型應(yīng)用就是各式光學(xué)顯微鏡，結(jié)合相關(guān)程序編程、AI即可輔助判斷相關(guān)的生物、醫(yī)學(xué)信息判斷。

④光學(xué)鏡頭或其他光學(xué)元件的像差檢測(cè)。?

AOI光學(xué)檢測(cè)與X-RAY無(wú)損檢測(cè)兩者之間的區(qū)別

      事實(shí)上，SMT當(dāng)中的AOI和X-RAY這兩者之間的功能是完全不一樣的，大家一定不要將其混為一談，盡管它們的基本原理都是通過(guò)光的反射來(lái)對(duì)元件的貼裝是否正確、位置是否良好以及有無(wú)漏貼等現(xiàn)象進(jìn)行檢查。

AOI的原理以及優(yōu)勢(shì)

      AOI實(shí)際上是較近幾年在市場(chǎng)上才出現(xiàn)的新型檢測(cè)設(shè)備，它的全稱為“自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)”，它是基于光學(xué)的原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)過(guò)程當(dāng)中所遇到的一些常見(jiàn)的缺陷進(jìn)行檢測(cè)的一種設(shè)備，比如它在用于SMT貼片當(dāng)中，對(duì)檢測(cè)元件的焊接之前的貼裝不良進(jìn)行檢測(cè)，包括電子元件的缺件、反向、偏位等進(jìn)行檢測(cè)，還可以對(duì)電子元器件經(jīng)回焊爐之后的焊接不良、缺件等進(jìn)行檢測(cè)。

X-RAY的原理以及行業(yè)優(yōu)勢(shì)

      而作為時(shí)下市面上主流的檢測(cè)設(shè)備X-RAY實(shí)際上指的就是X光，它的原理是在不損壞被檢測(cè)物體的前提之下，通過(guò)X光來(lái)對(duì)那些非金屬物質(zhì)特性的物質(zhì)進(jìn)行穿透，比如對(duì)BGA元件的焊接是否良好以及有沒(méi)有短路現(xiàn)象的檢測(cè)；如果說(shuō)的更加直白一些，那就是AOI檢測(cè)的是產(chǎn)品的平面，而X-RAY檢測(cè)的則是產(chǎn)品的內(nèi)部，比如鋰電池、IC芯片等產(chǎn)品有無(wú)短路、空焊、漏焊等缺陷。

AOI檢測(cè)圖像對(duì)比實(shí)現(xiàn)原理目前比較流行的圖像對(duì)比方式有哪三種？

AOI工作的原理對(duì)比

1.統(tǒng)計(jì)建模方式：圖像對(duì)比（ImageMatching）的處理方式。通過(guò)對(duì)OK模板與實(shí)際圖像的對(duì)比，求出差異的程度，來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。這種方式對(duì)使用人員要求低，但適應(yīng)性，檢測(cè)能力方面有諸多問(wèn)題。早期，由于開(kāi)發(fā)簡(jiǎn)單，我國(guó)有不少AOI制造商，加以改善（模板有多幅OJ圖像疊加而成），美其名曰：“統(tǒng)計(jì)建?！?。

2.邏輯算法方式：通過(guò)算法對(duì)圖像的特征點(diǎn)的抽取，來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。這種方式對(duì)使用人員要求有一定的經(jīng)驗(yàn)?；谒惴ǖ臋z測(cè)方法經(jīng)過(guò)很多年的發(fā)展，已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定，并且在實(shí)際運(yùn)用中取得了很好的效果。被行業(yè)前列的AOI制造商采用。

數(shù)據(jù)管理的對(duì)比

1.統(tǒng)計(jì)建模方式：在同一基板的相同元件無(wú)法統(tǒng)一的庫(kù)做管理。在基板A中制作的數(shù)據(jù)無(wú)法在基板B中調(diào)用。制作新基板監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)總是需要用一定數(shù)量的基板來(lái)建立模板數(shù)據(jù)。

2.邏輯算法方式：以元件庫(kù)方式作管理，元件庫(kù)與元件材料號(hào)相對(duì)于。相同元件，無(wú)論在同一基板中，或不同基板中都可以用同一元件庫(kù)來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)制作元件材料號(hào)相同的基板數(shù)據(jù)時(shí)，只需要簡(jiǎn)單的鏈接元件庫(kù)即可以（通常只需要10-20分鐘）。 AOI工作原理自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)的光源分類？汕頭精密AOI檢測(cè)設(shè)備生產(chǎn)廠家

AOI在SMT貼片加工中的使用優(yōu)點(diǎn)。廣東自動(dòng)化AOI檢測(cè)設(shè)備按需定制

AOI檢測(cè)圖像對(duì)比實(shí)現(xiàn)原理

目前比較流行的圖像對(duì)比方式有三種。

第一種：模板匹配（或母版比對(duì)）方式。這種方式預(yù)先采集一塊標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品（無(wú)缺陷）的圖像并確定為參考圖像，后續(xù)所有檢測(cè)時(shí)所采集的圖像，都需要與這個(gè)參考圖像做比較。

第二種：模式匹配方式。在這種方式中，AOI系統(tǒng)中會(huì)存儲(chǔ)無(wú)缺陷以及多種有缺陷的PCB組件圖像信息，所有檢測(cè)時(shí)所采集的圖像與這些組件信息做匹配，然后判斷是否合格。

第三種：統(tǒng)計(jì)模式匹配。這種方式利用統(tǒng)計(jì)學(xué)方式，結(jié)合模式匹配，通過(guò)與已經(jīng)存儲(chǔ)的PCB組件圖像信息做匹配，同時(shí)也會(huì)智能分析所有產(chǎn)品組件信息。如果比較結(jié)果小于標(biāo)準(zhǔn)閥值，則該圖像通過(guò)檢測(cè)；否則系統(tǒng)會(huì)判定該圖像為不合格，并將此部件轉(zhuǎn)移到其他區(qū)域，供后續(xù)維修或再檢測(cè)。 廣東自動(dòng)化AOI檢測(cè)設(shè)備按需定制

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