由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前，在峰位、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。使用D8D，您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料，直截了當?shù)孬@取不斷變化的儲能材料和晶體結構和相位信息。物相定量分析XRD衍射儀維保服務

D8 DISCOVER特點：微焦源IμS

配備了MONTEL光學器件的IμS微焦源可提供小X射線束，非常適合小范圍或小樣品的研究。

1.毫米大小的光束：高亮度和很低背景

2.綠色環(huán)保設計：低功耗、無耗水、使用壽命延長

3.MONTEL光學器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度

4.與布魯克大量組件、光學器件和探測器完全兼容。

5.提供各種技術前列的全集成X射線源，用于產生X射線。

6.工業(yè)級金屬陶瓷密封管，可實現(xiàn)線焦斑或點焦斑。

7.專業(yè)的TWIST-TUBE（旋轉光管）技術，可快速簡便地切換線焦斑和點焦斑。

8.微焦斑X射線源（IμS）可提高極小焦斑面積上的X射線通量，而功耗卻很低。

9.TURBOX射線源（TXS）旋轉陽極可為線焦斑、點焦斑和微焦斑等應用提供比較高X射線通量。

10.**性液態(tài)金屬靶METALJET技術，可提供無出其右的X射線光源亮度。

11.高效TurboX射線源（TXS-HE）可為點焦斑和線焦斑應用提供比較高X射線通量，適用于D8DISCOVERPlus。

12.這些X射線源結合指定使用X射線光學元件，可高效捕獲X射線，并將之轉化為針對您的應用而優(yōu)化的X射線束。 廣州授權代理商XRD衍射儀技術指導在DIFFRAC.LEPTOS中，對多層樣品進行XRR分析，測定其薄膜厚度、晶格失配和混合晶體濃度。

蒙脫石散及雜質的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結構的粘土礦物蒙脫石。根據(jù)中國藥典，蒙脫石散的鑒別和雜質含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應用場合，它都是您的推薦探測器：高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM 1976c）整個角度范圍內的準直保證。D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）

藥物：從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產，D8D為藥品的整個生命周期提供支持，其中包括結構測定、候選材料鑒別、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試。

地質學：D8D是地質構造研究的理想之選。借助μXRD，哪怕是對 小的包裹體進行定性相分析和結構測定也不在話下。

金屬：在常見的金屬樣品檢測技術中。殘余奧氏體、殘余應力和織構檢測不過是其中的一小部分，檢測目的在于確保 終產品復合 終用戶的需求。

薄膜計量：從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質量、薄膜厚度、成分外延排列和應變松弛的一系列技術。 在DIFFRAC.SAXS中，對EIGER2 R 500K通過2D模式手機的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進行粒度分析。

汽車和航空航天：配備了UMC樣品臺的D8D的一大優(yōu)勢就是可以對大型機械零件進行殘余應力和結構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。

半導體與微電子：從過程開發(fā)到質量控制，D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征。

制藥業(yè)篩選：新結構測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關鍵步驟，對此，D8D具有高通量篩選功能。

儲能/電池：使用D8D,您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料，直接了當?shù)墨@取不斷變化的儲能材料的晶體結構和相組方面的信息。 無論面對何種應用，DIFFRAC.DAVINCI都會指引用戶選擇較好的儀器配置。物相定量分析XRD衍射儀維保服務

UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力。物相定量分析XRD衍射儀維保服務

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規(guī)的XRD測試，X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米，這遠遠大于薄膜的厚度，導致薄膜的信號會受到襯底的影響（圖1）。另外，如果衍射簡單較高，那么X射線只能輻射到部分樣品，無法利用整個樣品的體積，衍射信號弱。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度，同時增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點說明：GID需要硬件配置；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜，不適合單晶外延膜。物相定量分析XRD衍射儀維保服務

束蘊儀器（上海）有限公司總部位于新橋鎮(zhèn)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602-1室，是一家儀器儀表，實驗室設備，機械設備及配件，機電設備及配件，電子產品，化工原料及產品（除危險化學品，監(jiān)控化學品，易制毒化學品），一般勞防用品，玻璃制品的批發(fā)、零售，從事儀表科技，機械科技，機電科技，電子科技領域內的技術開發(fā)，技術咨詢，技術轉讓，技術服務，儀表儀器的維修，零售，自有設備租賃，設計、制作各類廣告，電子商務（不得從事金融業(yè)務），從事貨物及技術的進出口業(yè)務的公司。束蘊儀器擁有一支經驗豐富、技術創(chuàng)新的專業(yè)研發(fā)團隊，以高度的專注和執(zhí)著為客戶提供布魯克顯微CT1272，布魯克XRD衍射儀D8，布魯克顯微CT2214，布魯克XRD衍射儀D2。束蘊儀器始終以本分踏實的精神和必勝的信念，影響并帶動團隊取得成功。束蘊儀器始終關注儀器儀表市場，以敏銳的市場洞察力，實現(xiàn)與客戶的成長共贏。