對于DDR源同步操作，必然要求DQS選通信號與DQ數(shù)據(jù)信號有一定建立時(shí)間tDS和保持時(shí)間tDH要求，否則會導(dǎo)致接收鎖存信號錯誤，DDR4信號速率達(dá)到了，單一比特位寬為，時(shí)序裕度也變得越來越小，傳統(tǒng)的測量時(shí)序的方式在短時(shí)間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH差值，無法大概率體現(xiàn)由于ISI等確定性抖動帶來的對時(shí)序惡化的貢獻(xiàn)，也很難準(zhǔn)確反映隨機(jī)抖動Rj的影響。在DDR4的眼圖分析中就要考慮這些抖動因素，基于雙狄拉克模型分解抖動和噪聲的隨機(jī)性和確定性成分，外推出基于一定誤碼率下的眼圖張度。JEDEC協(xié)會在規(guī)范中明確了在DDR4中測試誤碼率為1e-16的眼圖輪廓，確保滿足在Vcent周圍Tdivw時(shí)間窗口和Vdivw幅度窗口范圍內(nèi)模板內(nèi)禁入的要求。 示波器觀測到的眼圖。廣東眼圖測試聯(lián)系人

克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室高速線纜系統(tǒng)用于對高達(dá)100Gb/s的高速數(shù)據(jù)線纜進(jìn)行全自動性能測試，支持QSFP/QSFP+/QSFP28SFP/SFP+MiniSASHDMI，USB3.0等系統(tǒng)基于AgilentE5071C的TDR功能，通過多端射頻開關(guān)矩陣自動切換測試通道，并采用了快速校準(zhǔn)、去嵌入、及并行數(shù)據(jù)處理等技術(shù)，實(shí)現(xiàn)高速數(shù)據(jù)線纜的高精度全自動頻域、時(shí)域及眼圖測試，測試頻率高達(dá)20GHz。矩陣開關(guān)測試系統(tǒng)可以匹配各種型號網(wǎng)絡(luò)分析儀，5G天線多端口矩陣測試系統(tǒng)。廣東數(shù)字信號眼圖測試代理品牌一種眼圖測試方法,裝置,電子設(shè)備系統(tǒng)測試。

 DDR眼圖測試1-3

在早期設(shè)計(jì)階段，如何完整評價(jià)DDR信號質(zhì)量和時(shí)序等參數(shù)呢，這里為大家介紹一個(gè)設(shè)計(jì)到驗(yàn)證的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具，在ADS仿真后，生成波形可以直接導(dǎo)入到運(yùn)行于電腦里的示波器離線分析軟件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性測試套件，這個(gè)軟件可以分析前面所說的JEDEC對DDR4信號要求的電氣和時(shí)序等參數(shù)，判斷是否符合規(guī)范要求，以測試報(bào)告形式呈現(xiàn)，這種方式可以在設(shè)計(jì)階段發(fā)現(xiàn)違規(guī)問題，及時(shí)改進(jìn)設(shè)計(jì)，縮短研發(fā)周期，降低硬件開發(fā)成本。另一方面，在硬件已經(jīng)打板回來，可以通過V系列等示波器測試信號，通過實(shí)際的信號檢查存在的問題，將仿真的結(jié)果和實(shí)際測試的結(jié)果做相關(guān)對比，進(jìn)一步迭代優(yōu)化仿真模型和測量方法，使仿真和測試結(jié)果逐漸逼近。

由于眼圖是用一張圖形就完整地表征了串行信號的比特位信息，所以成為了衡量信號質(zhì)量的重要工具，眼圖測量有時(shí)侯就叫“信號質(zhì)量測試”。此外，眼圖測量的結(jié)果是合格還是不合格，其判斷依據(jù)通常是相對于“模板（Mask）”而言的。模板規(guī)定了串行信號“1”電平的容限，“0”電平的容限，上升時(shí)間、下降時(shí)間的容限。所以眼圖測量有時(shí)侯又被稱為“模板測試（MaskTest）”。模板的形狀也各種各樣，通常的NRZ信號的模板如圖五和圖八藍(lán)色部分所示。在串行數(shù)據(jù)傳輸?shù)牟煌?jié)點(diǎn),眼圖的模板是不一樣的，所以在選擇模板時(shí)要注意具體的子模板類型。如果用發(fā)送端的模板來作為接收端眼圖模板，可能會一直碰模板。但象以太網(wǎng)信號、E1/T1的信號，不是NRZ碼形，其模板比較特別。當(dāng)有比特位碰到模板時(shí)，我們就認(rèn)為信號質(zhì)量不好，需要調(diào)試電路。有的產(chǎn)品要求100%不能碰模板，有的產(chǎn)品是允許碰模板的次數(shù)在一定的概率以內(nèi)。示波器中有測量參數(shù)可自動統(tǒng)計(jì)出碰到模板的次數(shù)。此外，根據(jù)“侵犯”模板的位置就能知道信號的哪方面有問題從而指導(dǎo)調(diào)試。如圖九表明信號的問題主要是下降沿太緩，圖十表明1電平和0電平有“塌陷”，可能是ISI問題導(dǎo)致的。眼圖測試 系統(tǒng)參數(shù)主要介紹？

克勞德高速數(shù)字信號測試實(shí)驗(yàn)室眼圖測試測量方法編輯 播報(bào)眼圖測試是高速串行信號物理層測試的一個(gè)重要項(xiàng)目。眼圖是由多個(gè)比特的波形疊加后的圖形，從眼圖中可以看到:數(shù)字信號1電平、0電平，信號是否存在過沖、振鈴，抖動是否很大，眼圖的信噪比，上升/下降時(shí)間是否對稱(占空比)。眼圖反映了大數(shù)據(jù)量時(shí)的信號質(zhì)量，可以直觀地描述高速數(shù)字信號的質(zhì)量與性能。傳統(tǒng)眼圖測量方法用中文來理解是8個(gè)字:“同步觸發(fā)+疊加顯示”，現(xiàn)代眼圖測量方法用中文來理解也是8個(gè)字:“同步切割+疊加顯示”。兩種方法的差別就4個(gè)字:觸發(fā)、切割，傳統(tǒng)的是用觸發(fā)的方法，現(xiàn)代的是用切割的方法。“同步”是準(zhǔn)確測量眼圖的關(guān)鍵，傳統(tǒng)方法和現(xiàn)代方法同步的方法是不一樣的。“疊加顯示”就是用模擬余輝的方法不斷累積顯示。傳統(tǒng)的眼圖方法就是同步觸發(fā)一次，然后疊加一次。每觸發(fā)一次，眼圖上增加了一個(gè)UI，每個(gè)UI的數(shù)據(jù)是相對于觸發(fā)點(diǎn)排列的，每觸發(fā)一次眼圖上只增加了一個(gè)比特位。  USB2.0接口眼圖測試設(shè)備步驟？貴州眼圖測試聯(lián)系方式

眼圖測試系統(tǒng)儀器儀表？廣東眼圖測試聯(lián)系人

新的眼圖生成方法解決了觸發(fā)抖動問題，處理UI多，因此速度也快。2.1.2.1.數(shù)據(jù)邊沿的提取數(shù)據(jù)邊沿的提取獲取捕獲數(shù)據(jù)的最大值為Max，最小值為Min，設(shè)置Threshold=0.5*(Max+Min)，當(dāng)采樣點(diǎn)電壓值穿過Threshold時(shí)，記錄下時(shí)間為Edgetime_initial[i]，這將是后面進(jìn)行理想時(shí)鐘恢復(fù)的依據(jù)。在進(jìn)行數(shù)據(jù)邊沿的提取時(shí)，需要注意的是，由于采樣率有限制當(dāng)碼元速率較高時(shí)，單個(gè)碼元對應(yīng)的采樣點(diǎn)個(gè)數(shù)較少會使得求出的Edgetime_initial值誤差較大，這時(shí)候就需要在Threshold附近進(jìn)行插值。數(shù)據(jù)邊沿的提取與邊沿觸發(fā)的原理較為相似，對于Threshold附近噪聲干擾的處理方法可以參照觸發(fā)的實(shí)現(xiàn)方式。觸發(fā)粘滯比較處理如下圖所示，將比較器輸出高低電平比較信號，經(jīng)過運(yùn)算處理為1個(gè)比較信號。粘滯比較器的總的規(guī)則是信號大于高電平比較為高，小于低電平比較為低，否則保持不變。

2.1.2.2.時(shí)鐘恢復(fù)時(shí)鐘恢復(fù)是眼圖抖動生成的關(guān)鍵。下圖為一個(gè)簡單的時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)CDR（ClockDataRecovery）電路示意圖。時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)電路主要完成兩個(gè)工作，一個(gè)是時(shí)鐘恢復(fù)，一個(gè)是數(shù)據(jù)重定時(shí)，也就是數(shù)據(jù)恢復(fù)。 廣東眼圖測試聯(lián)系人

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