PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似,都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號引出接入示波器進(jìn)行發(fā)送信號質(zhì)量測試,并通過誤碼儀的配合進(jìn)行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別,下面將從發(fā)送端和接收端測試方面分別進(jìn)行描述。
PCIe5.0發(fā)送端信號質(zhì)量及LinkEQ測試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號邊沿更陡。對于PCIe5.0芯片的信號測試,協(xié)會建議的測試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對于主板和插卡來說,由于測試點(diǎn)是在連接器的金手指處,信號經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會變緩一些,所以信號質(zhì)量測試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是,在接收端容限測試中,由于需要用示波器對誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn),所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會用到50GHz。 如果被測件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析?測量PCI-E測試保養(yǎng)
當(dāng)被測件進(jìn)入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號后,被測件應(yīng)該會把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過TX端發(fā)送出去送回誤碼儀,誤碼儀通過比較誤碼來判斷數(shù)據(jù)是否被 正確接收,測試通過的標(biāo)準(zhǔn)是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進(jìn) 行PCIe4.0的插卡接收的實(shí)際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時鐘恢復(fù)電路、預(yù)加重模塊、 參考時鐘倍頻、信號均衡電路等,非常適合速率高、要求復(fù)雜的場合。在接收端容限測試中, 可調(diào)ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適,可能需要非常長的時 間進(jìn)行Stress Eye的計算和鏈路調(diào)整,甚至無法完成校準(zhǔn)和測試。 一般建議事先用VNA 標(biāo)定和選擇好鏈路,這樣校準(zhǔn)過程會快很多,測試結(jié)果也會更加準(zhǔn)確。所以,在PCIe4.0的 測試中,無論是發(fā)送端測試還是接收端測試,都比較好有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配合進(jìn)行ISI通道 選擇。江西PCI-E測試聯(lián)系人PCI-E 3.0測試發(fā)送端變化;
·TransactionProtocolTesting(傳輸協(xié)議測試):用于檢查設(shè)備傳輸層的協(xié)議行為?!latformBIOSTesting(平臺BIOS測試):用于檢查主板BIOS識別和配置PCIe外設(shè)的能力。對于PCIe4.0來說,針對之前發(fā)現(xiàn)的問題以及新增的特性,替換或增加了以下測試項目·InteroperabilityTesting(互操作性測試):用于檢查主板和插卡是否能夠訓(xùn)練成雙方都支持的比較高速率和比較大位寬(Re-timer要和插卡一起測試)?!aneMargining(鏈路裕量測試):用于檢查接收端的鏈路裕量掃描功能。其中,針對電氣特性測試,又有專門的物理層測試規(guī)范,用于規(guī)定具體的測試項目和測試方法。表4.2是針對PCIe4.0的主板或插卡需要進(jìn)行的物理層測試項目,其中灰色背景的測試項目都涉及鏈路協(xié)商功能。
這個軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶完 成設(shè)置、連接和測試過程,除了可以自動進(jìn)行示波器測量參數(shù)設(shè)置以及生成報告外,還提供 了Swing、Common Mode等更多測試項目,提高了測試的效率和覆蓋率。自動測試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法,從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動測試軟件的設(shè)置界面。
主板和插卡的測試項目針對的是系統(tǒng)設(shè)備廠商,需要使用PCI-SIG的測試夾具測 試,遵循的是CEM的規(guī)范。而對于設(shè)計PCIe芯片的廠商來說,其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范,并且需要自己設(shè)計針對芯片的測試板。16是一個典型的PCIe 芯片的測試板,測試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測信號引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測試儀器。扇出通道的典型長度小于6英寸,對于16Gbps信號的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測試中可以對扇出通道的影響進(jìn)行評估或者去嵌入,測試板上還應(yīng) 設(shè)計和扇出通道疊層設(shè)計、布線方式盡量一致的復(fù)制通道(Replica Channel),復(fù)制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計成同軸連接方式,這樣可以通過對復(fù)制通道直接進(jìn)行測試 推測扇出通道的特性。 PCI-E3.0設(shè)計還可以使用和PCI-E2.0一樣的PCB板材和連接器嗎?
如前所述,在PCle4.0的主板和插卡測試中,PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測 試夾具進(jìn)行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測試通道,而對端接收芯片封裝對信號的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進(jìn)行模擬的。測試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測試軟件把這個S參數(shù)文件的影響加到被測波形上。
PCIe4.0信號質(zhì)量分析可以采用兩種方法: 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動分析,另一種是使用示波器廠商提供的軟件進(jìn)行自動測試。 PCI-E轉(zhuǎn)USB或UFS接口的控制芯片和測試板的制作方法;中國澳門PCI-E測試銷售
PCI-E測試信號完整性測試解決方案;測量PCI-E測試保養(yǎng)
公司專業(yè)從事實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀,協(xié)議分析儀,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的研究與開發(fā),設(shè)計制造及生產(chǎn)經(jīng)營為一體的實(shí)體企業(yè),嚴(yán)格執(zhí)行國家質(zhì)量體系認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)。 本公司具備可靠研發(fā)隊伍,生產(chǎn)實(shí)驗(yàn)室配套,誤碼儀,協(xié)議分析儀,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等系列產(chǎn)品。儀器儀表目前國內(nèi)很多高階產(chǎn)品仍主要依賴于進(jìn)口,就進(jìn)來的新品來看,國外產(chǎn)品多為高精尖產(chǎn)品,國內(nèi)雖然也有新技術(shù)和新產(chǎn)品的出現(xiàn),但是主要仍出現(xiàn)在溫濕度等低端產(chǎn)品。所以替代進(jìn)口空間大,前景廣闊。其次,我國的新型工業(yè)化進(jìn)程,帶動了各個工業(yè)領(lǐng)域?qū)ψ詣踊男枨?,從而也帶來了儀器儀表產(chǎn)業(yè)的繁榮。我國對于各大行業(yè)落實(shí)節(jié)能減排指標(biāo)、關(guān)停落后產(chǎn)能等一系列強(qiáng)制性措施都在一定程度上擴(kuò)大了儀器儀表行業(yè)的市場規(guī)模。經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展推動了我國儀器儀表市場的持續(xù)增長,很多第三方檢測機(jī)構(gòu)都面臨著實(shí)驗(yàn)室擴(kuò)增、新建實(shí)驗(yàn)室和老舊儀器淘汰問題。通過靈活應(yīng)對現(xiàn)金流的問題,做到平衡資金和發(fā)展以取得更高的企業(yè)競爭優(yōu)勢。測量PCI-E測試保養(yǎng)
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