對(duì)于PCIe來(lái)說(shuō)，由于長(zhǎng)鏈路時(shí)的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量，在PCIe3.0時(shí)代，有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來(lái)掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量，但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡(jiǎn)單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描，即通過(guò)調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值，如果被測(cè)件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口，如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析？山西校準(zhǔn)PCI-E測(cè)試

(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過(guò)程會(huì)先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時(shí)鐘模式，還提供了收發(fā)端采用參考時(shí)鐘模式的支持。通過(guò)各種信號(hào)處理技術(shù)的結(jié)合，PCIe組織總算實(shí)現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插  件的基礎(chǔ)上，每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時(shí)收/發(fā)芯片會(huì)變  得更加復(fù)雜，系統(tǒng)設(shè)計(jì)的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性， 就成為設(shè)計(jì)和測(cè)試人員面臨的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。設(shè)備PCI-E測(cè)試推薦貨源PCI-e體系的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu);

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測(cè)試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測(cè)試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測(cè)試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測(cè)試夾具、1塊可 變ISI的測(cè)試夾具。在測(cè)試中，CBB4用于插卡的TX測(cè)試以及主板RX測(cè)試中的校準(zhǔn)； CLB4用于主板TX的測(cè)試以及插卡RX測(cè)試中的校準(zhǔn)；可變ISI的測(cè)試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無(wú)論是哪種測(cè)試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測(cè)試夾具的原因是在PCIe4.0 的測(cè)試規(guī)范中，要求通過(guò)硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實(shí)際主板或插卡上 PCB走線、過(guò)孔以及連接器造成的損耗。

是用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行鏈路標(biāo)定的典型連接，具體的標(biāo)定步驟非常多，在PCIe4.0 Phy Test Specification文檔里有詳細(xì)描述，這里不做展開。

在硬件連接完成、測(cè)試碼型切換正確后，就可以對(duì)信號(hào)進(jìn)行捕獲和信號(hào)質(zhì)量分析。正式 的信號(hào)質(zhì)量分析之前還需要注意的是：為了把傳輸通道對(duì)信號(hào)的惡化以及均衡器對(duì)信號(hào)的 改善效果都考慮進(jìn)去，PCIe3.0及之后標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試中對(duì)其發(fā)送端眼圖、抖動(dòng)等測(cè)試的參考點(diǎn) 從發(fā)送端轉(zhuǎn)移到了接收端。也就是說(shuō)，測(cè)試中需要把傳輸通道對(duì)信號(hào)的惡化的影響以及均 衡器對(duì)信號(hào)的改善影響都考慮進(jìn)去。 PCIE3.0和PCIE4.0應(yīng)該如何選擇？

規(guī)范中規(guī)定了共11種不同的Preshoot和De-emphasis的組合，每種組合叫作一個(gè) Preset,實(shí)際應(yīng)用中Tx和Rx端可以在Link Training階段根據(jù)接收端收到的信號(hào)質(zhì)量協(xié)商 出一個(gè)比較好的Preset值。比如P4沒(méi)有任何預(yù)加重，P7強(qiáng)的預(yù)加重。圖4.3是 PCIe3.0和4.0標(biāo)準(zhǔn)中采用的預(yù)加重技術(shù)和11種Preset的組合(參考資料：PCI Express@ Base Specification4 .0) 。對(duì)于8Gbps、16Gbps 以及32Gbps信號(hào)來(lái)說(shuō)，采用的預(yù)加重技術(shù)完 全一樣，都是3階的預(yù)加重和11種Preset選擇。為什么PCI-E3.0的夾具和PCI-E2.0的不一樣？中國(guó)香港PCI-E測(cè)試銷售電話

PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？山西校準(zhǔn)PCI-E測(cè)試

由于每對(duì)數(shù)據(jù)線和參考時(shí)鐘都是差分的，所以主  板的測(cè)試需要同時(shí)占用4個(gè)示波器通道，也就是在進(jìn)行PCIe4.0的主板測(cè)試時(shí)示波器能夠  4個(gè)通道同時(shí)工作且達(dá)到25GHz帶寬。而對(duì)于插卡的測(cè)試來(lái)說(shuō)，只需要把差分的數(shù)據(jù)通道  引入示波器進(jìn)行測(cè)試就可以了，示波器能夠2個(gè)通道同時(shí)工作并達(dá)到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機(jī)信號(hào)質(zhì)量測(cè)試環(huán)境。無(wú)論是對(duì)于發(fā)射機(jī)測(cè)試，還是對(duì)于后面要介紹到的接收機(jī)容限測(cè)試來(lái)說(shuō)，在PCIe4.0 的TX端和RX端的測(cè)試中，都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對(duì)，每相鄰線對(duì) 間的插損相差0.5dB左右。由于測(cè)試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可能會(huì)不一致， 所以需要通過(guò)配合合適的ISI線對(duì)，使得ISI板上的Trace線加上測(cè)試電纜、測(cè)試夾具、轉(zhuǎn)接  頭等模擬出來(lái)的整個(gè)測(cè)試鏈路的插損滿足測(cè)試要求。比如，對(duì)于插卡的測(cè)試來(lái)說(shuō)，對(duì)應(yīng)的主  板上的比較大鏈路損耗為20dB,所以ISI板上模擬的走線加上測(cè)試夾具、連接器、轉(zhuǎn)接頭、測(cè)  試電纜等的損耗應(yīng)該為15dB(另外5dB的主板上芯片的封裝損耗通過(guò)分析軟件進(jìn)行模擬)。 為了滿足這個(gè)要求，比較好的方法是使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)事先進(jìn)行鏈路標(biāo)定。山西校準(zhǔn)PCI-E測(cè)試

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