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上海PCI-E測(cè)試安裝

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-03-07

PCIe4.0的物理層技術(shù)PCIe標(biāo)準(zhǔn)自從推出以來,1代和2代標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)在PC和Server上使用10多年時(shí)間,正在逐漸退出市場(chǎng)。出于支持更高總線數(shù)據(jù)吞吐率的目的,PCI-SIG組織分別在2010年和2017年制定了PCIe3.0和PCIe4.0規(guī)范,數(shù)據(jù)速率分別達(dá)到8Gbps和16Gbps。目前,PCIe3.0和PCle4.0已經(jīng)在Server及PC上使用,PCIe5.0也在商用過程中。每一代PCIe規(guī)范更新的目的,都是要盡可能在原有PCB板材和接插件的基礎(chǔ)上提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率,同時(shí)保持和原有速率的兼容。別看這是一個(gè)簡(jiǎn)單的目的,但實(shí)現(xiàn)起來并不容易。網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試PCIe gen4和gen5,sdd21怎么去除夾具的值?上海PCI-E測(cè)試安裝

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PCIe5.0物理層技術(shù)PCI-SIG組織于2019年發(fā)布了針對(duì)PCIe5.0芯片設(shè)計(jì)的Base規(guī)范,針對(duì)板卡設(shè)計(jì)的CEM規(guī)范也在2021年制定完成,同時(shí)支持PCIe5.0的服務(wù)器產(chǎn)品也在2021年開始上市發(fā)布。對(duì)于PCIe5.0測(cè)試來說,其鏈路的拓?fù)淠P团cPCIe4.0類似,但數(shù)據(jù)速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB、連接器的損耗更大,整個(gè)鏈路的損耗達(dá)到 - 36dB@16GHz,其中系統(tǒng)板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預(yù)算的模型。通信PCI-E測(cè)試規(guī)格尺寸PCIE 5.0,速率翻倍vs性能優(yōu)化;

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在之前的PCIe規(guī)范中,都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測(cè)試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測(cè)件提供參考時(shí)鐘,并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。而在PCIe4.0的規(guī)范中,新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式,這種情況下被測(cè)芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘,但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好,測(cè)試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出,采用類似于主板測(cè)試中的Dual-port測(cè) 試方法。如果被測(cè)芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出,則意味著被測(cè)件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式,需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。

如前所述,在PCle4.0的主板和插卡測(cè)試中,PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測(cè) 試夾具進(jìn)行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測(cè)試通道,而對(duì)端接收芯片封裝對(duì)信號(hào)的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進(jìn)行模擬的。測(cè)試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測(cè)試軟件把這個(gè)S參數(shù)文件的影響加到被測(cè)波形上。

PCIe4.0信號(hào)質(zhì)量分析可以采用兩種方法: 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動(dòng)分析,另一種是使用示波器廠商提供的軟件進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。 PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么?

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(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會(huì)先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時(shí)鐘模式,還提供了收發(fā)端采用參考時(shí)鐘模式的支持。通過各種信號(hào)處理技術(shù)的結(jié)合,PCIe組織總算實(shí)現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插  件的基礎(chǔ)上,每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時(shí)收/發(fā)芯片會(huì)變  得更加復(fù)雜,系統(tǒng)設(shè)計(jì)的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性, 就成為設(shè)計(jì)和測(cè)試人員面臨的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。PCI-E 3.0數(shù)據(jù)速率的變化;設(shè)備PCI-E測(cè)試維修價(jià)格

PCI-E 3.0及信號(hào)完整性測(cè)試方法;上海PCI-E測(cè)試安裝

這個(gè)軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶完 成設(shè)置、連接和測(cè)試過程,除了可以自動(dòng)進(jìn)行示波器測(cè)量參數(shù)設(shè)置以及生成報(bào)告外,還提供 了Swing、Common Mode等更多測(cè)試項(xiàng)目,提高了測(cè)試的效率和覆蓋率。自動(dòng)測(cè)試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法,從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動(dòng)測(cè)試軟件的設(shè)置界面。

主板和插卡的測(cè)試項(xiàng)目針對(duì)的是系統(tǒng)設(shè)備廠商,需要使用PCI-SIG的測(cè)試夾具測(cè) 試,遵循的是CEM的規(guī)范。而對(duì)于設(shè)計(jì)PCIe芯片的廠商來說,其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范,并且需要自己設(shè)計(jì)針對(duì)芯片的測(cè)試板。16是一個(gè)典型的PCIe 芯片的測(cè)試板,測(cè)試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測(cè)信號(hào)引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測(cè)試儀器。扇出通道的典型長(zhǎng)度小于6英寸,對(duì)于16Gbps信號(hào)的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測(cè)試中可以對(duì)扇出通道的影響進(jìn)行評(píng)估或者去嵌入,測(cè)試板上還應(yīng) 設(shè)計(jì)和扇出通道疊層設(shè)計(jì)、布線方式盡量一致的復(fù)制通道(Replica Channel),復(fù)制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計(jì)成同軸連接方式,這樣可以通過對(duì)復(fù)制通道直接進(jìn)行測(cè)試 推測(cè)扇出通道的特性。 上海PCI-E測(cè)試安裝

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