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多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試檢查

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-03-12

SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供,會(huì)對(duì)信號(hào)進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù)、均衡以及眼圖、抖 動(dòng)的分析。由于PCIe4.0的接收機(jī)支持多個(gè)不同幅度的CTLE均衡,而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整,所以SigTest軟件會(huì)遍歷所有的CTLE值并進(jìn)行DFE的優(yōu)化,并 根據(jù)眼高、眼寬的結(jié)果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 結(jié)果。SigTest需要用戶(hù)手動(dòng)設(shè)置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進(jìn)行后分析,測(cè)試效率 比較低,而且對(duì)于不熟練的測(cè)試人員還可能由于設(shè)置疏忽造成測(cè)試結(jié)果的不一致,測(cè)試項(xiàng)目 也主要限于信號(hào)質(zhì)量與Preset相關(guān)的項(xiàng)目。為了提高PCIe測(cè)試的效率和測(cè)試項(xiàng)目覆蓋 率,有些示波器廠商提供了相應(yīng)的自動(dòng)化測(cè)試軟件。走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎?多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試檢查

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對(duì)于PCIe來(lái)說(shuō),由于長(zhǎng)鏈路時(shí)的損耗很大,因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量,在PCIe3.0時(shí)代,有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來(lái)掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量,但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求,正式名稱(chēng)是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡(jiǎn)單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描,即通過(guò)調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值,北京PCI-E測(cè)試HDMI測(cè)試PCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測(cè)試;

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其中,電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為,這些要求合在一起稱(chēng)為Base規(guī)范,用于指導(dǎo)芯片設(shè)計(jì);基于Base規(guī)范,PCI-SIG還會(huì) 再定義對(duì)于板卡設(shè)計(jì)的要求,比如板卡的機(jī)械尺寸、電氣性能要求,這些要求合在一起稱(chēng)為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范,用以指導(dǎo)服務(wù)器、計(jì)算機(jī)和插卡等系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的開(kāi) 發(fā)。除了針對(duì)金手指連接類(lèi)型的板卡,針對(duì)一些新型的連接方式,如M.2、U.2等,也有一 些類(lèi)似的CEM規(guī)范發(fā)布。

CTLE均衡器可以比較好地補(bǔ)償傳輸通道的線性損耗,但是對(duì)于一些非線性因素(比如 由于阻抗不匹配造成的信號(hào)反射)的補(bǔ)償還需要借助于DFE的均衡器,而且隨著信號(hào)速率的提升,接收端的眼圖裕量越來(lái)越小,采用的DFE技術(shù)也相應(yīng)要更加復(fù)雜。在PCle3.0的 規(guī)范中,針對(duì)8Gbps的信號(hào),定義了1階的DFE配合CTLE完成信號(hào)的均衡;而在PCle4.0 的規(guī)范中,針對(duì)16Gbps的信號(hào),定義了更復(fù)雜的2階DFE配合CTLE進(jìn)行信號(hào)的均衡。 圖 4 .5 分別是規(guī)范中針對(duì)8Gbps和16Gbps信號(hào)接收端定義的DFE均衡器(參考資料: PCI   Express@   Base   Specification   4.0)。網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試PCIe gen4和gen5,sdd21怎么去除夾具的值?

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克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng),以成為高數(shù)信號(hào)傳輸測(cè)試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)??藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測(cè)試領(lǐng)域10年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件,使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅(jiān)持以專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員,嚴(yán)格按照行業(yè)測(cè)試規(guī)范,配備高性能的權(quán)能測(cè)試設(shè)備,提供給客戶(hù)更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專(zhuān)業(yè)服務(wù)??藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室提供具深度的專(zhuān)業(yè)知識(shí)及一系列認(rèn)證測(cè)試、預(yù)認(rèn)證測(cè)試及錯(cuò)誤排除信號(hào)完整性測(cè)試、多端口矩陣測(cè)試、HDMI測(cè)試、USB測(cè)試,PCI-E測(cè)試等方面測(cè)試服務(wù)。PCI-E測(cè)試和協(xié)議調(diào)試;多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試檢查

PCI-E硬件測(cè)試方法有那些辦法;多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試檢查

在物理層方面,PCIe總線采用多對(duì)高速串行的差分信號(hào)進(jìn)行雙向高速傳輸,每對(duì)差分  線上的信號(hào)速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的  16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電  纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求,其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如  果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率,理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外,2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù),單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo)  準(zhǔn)規(guī)范也在討論過(guò)程中。列出了PCIe每一代技術(shù)發(fā)展在物理層方面的主要變化。多端口矩陣測(cè)試PCI-E測(cè)試檢查

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