PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的  特點進行了重新設(shè)計，上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓撲都與早期的PCI類似，典型  的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) 、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴展出來的，根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部，成為CPU重要的外部擴展總線。PCIe  總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容。3090Ti 始發(fā)支持 PCIe5.0 顯卡供電接口怎么樣？自動化PCI-E測試聯(lián)系方式

校準完成后，在進行正式測試前，很重要的一點就是要能夠設(shè)置被測件進入環(huán)回模式。 雖然調(diào)試時也可能會借助芯片廠商提供的工具設(shè)置環(huán)回，但標準的測試方法還是要基于鏈  路協(xié)商和通信進行被測件環(huán)回模式的設(shè)置。傳統(tǒng)的誤碼儀不具有對于PCle協(xié)議理解的功  能，只能盲發(fā)訓(xùn)練序列，這樣的缺點是由于沒有經(jīng)過正常的鏈路協(xié)商，可能會無法把被測件  設(shè)置成正確的狀態(tài)?，F(xiàn)在一些新型的誤碼儀平臺已經(jīng)集成了PCIe的鏈路協(xié)商功能，能夠  真正和被測件進行訓(xùn)練序列的溝通，除了可以有效地把被測件設(shè)置成正確的環(huán)回狀態(tài)，還可  以和對端被測設(shè)備進行預(yù)加重和均衡的鏈路溝通。浙江PCI-E測試參考價格PCIE3.0和PCIE4.0應(yīng)該如何選擇？

當(dāng)鏈路速率不斷提升時，給接收端留的信號裕量會越來越小。比如PCIe4.0的規(guī)范中 定義，信號經(jīng)過物理鏈路傳輸?shù)竭_接收端，并經(jīng)均衡器調(diào)整以后的小眼高允許15mV,  小眼寬允許18.75ps,而PCIe5.0規(guī)范中允許的接收端小眼寬更是不到10ps。在這么小  的鏈路裕量下，必須仔細調(diào)整預(yù)加重和均衡器的設(shè)置才能得到比較好的誤碼率結(jié)果。但是，預(yù)  加重和均衡器的組合也越來越多。比如PCIe4.0中發(fā)送端有11種Preset(預(yù)加重的預(yù)設(shè)模  式),而接收端的均衡器允許CTLE在-6～ - 12dB范圍內(nèi)以1dB的分辨率調(diào)整，并且允許  2階DFE分別在±30mV和±20mV范圍內(nèi)調(diào)整。綜合考慮以上因素，實際情況下的預(yù)加  重和均衡器參數(shù)的組合可以達幾千種。

簡單總結(jié)一下，PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術(shù)上的相同點和不同點有：(1)PCIe4.0的數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率；(2)都采用128b/130b數(shù)據(jù)編碼方式；(3)發(fā)送端都采用3階預(yù)加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡；(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強制要求(7)PCIe4.0的鏈路長度縮減到12英寸，多1個連接器，更長鏈路需要Retimer;(8)為了支持應(yīng)對鏈路損耗以及不同鏈路的情況，新開發(fā)的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都需要支持動態(tài)鏈路協(xié)商功能；PCI-E的信號測試中否一定要使用一致性測試碼型？

PCIe4.0標準在時鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下，主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差，同時由于有一部分數(shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消，所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些PCI-E硬件測試方法有那些辦法；測量PCI-E測試產(chǎn)品介紹

PCIE 5.0，速率翻倍vs性能優(yōu)化；自動化PCI-E測試聯(lián)系方式

隨著數(shù)據(jù)速率的提高，芯片中的預(yù)加重和均衡功能也越來越復(fù)雜。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡單的去加重(De-emphasis)技術(shù)，即信號的發(fā)射端(TX)在發(fā)送信 號時對跳變比特(信號中的高頻成分)加大幅度發(fā)送，這樣可以部分補償傳輸線路對高 頻成分的衰減，從而得到比較好的眼圖。在1代中采用了-3.5dB的去加重，2代中采用了 -3.5dB和-6dB的去加重。對于3代和4代技術(shù)來說，由于信號速率更高，需要采用更加 復(fù)雜的去加重技術(shù)，因此除了跳變比特比非跳變比特幅度增大發(fā)送以外，在跳變比特的前 1個比特也要增大幅度發(fā)送，這個增大的幅度通常叫作Preshoot。為了應(yīng)對復(fù)雜的鏈路環(huán)境，自動化PCI-E測試聯(lián)系方式

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