由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒 有要求進行眼圖測試，但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質(zhì)量的方法，所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質(zhì)量。而對于DDR4的信號來說，由于時間和幅度的余量更小，必須考慮隨機抖動和隨機噪聲帶來的誤碼率的影響，而不是做簡單的建立/保  持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中，就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加  生成眼圖，并根據(jù)誤碼率要求進行隨機成分的外推，然后與要求的小信號張開窗口(類似  模板)進行比較。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料： JEDEC     STANDARD    DDR4     SDRAM,JESD79-4)。DDR4 一致性測試平臺插件。云南解決方案DDR一致性測試

RDIMM(RegisteredDIMM,寄存器式雙列直插內(nèi)存)有額外的RCD(寄存器時鐘驅(qū)動器，用來緩存來自內(nèi)存控制器的地址/命令/控制信號等)用于改善信號質(zhì)量，但額外寄存器的引入使得其延時和功耗較大。LRDIMM(LoadReducedDIMM,減載式雙列直插內(nèi)存)有額外的MB(內(nèi)存緩沖，緩沖來自內(nèi)存控制器的地址/命令/控制等),在技術(shù)實現(xiàn)上并未使用復(fù)雜寄存器，只是通過簡單緩沖降低內(nèi)存總線負載。RDIMM和LRDIMM通常應(yīng)用在高性能、大容量的計算系統(tǒng)中。

綜上可見，DDR內(nèi)存的發(fā)展趨勢是速率更高、封裝更密、工作電壓更低、信號調(diào)理技術(shù) 更復(fù)雜，這些都對設(shè)計和測試提出了更高的要求。為了從仿真、測試到功能測試階段保證DDR信號的波形質(zhì)量和時序裕量，需要更復(fù)雜、更的仿真、測試和分析工具。

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為了針對復(fù)雜信號進行更有效的讀/寫信號分離，現(xiàn)代的示波器還提供了很多高級的信號 分離功能，在DDR測試中常用的有圖形區(qū)域觸發(fā)的方法和基于建立/保持時間的觸發(fā)方法。

圖形區(qū)域觸發(fā)是指可以用屏幕上的特定區(qū)域(Zone)定義信號觸發(fā)條件。用 區(qū)域觸發(fā)功能對DDR的讀/寫信號分離的 一 個例子。用鎖存信號DQS信號觸發(fā)可以看到 兩種明顯不同的DQS波形， 一 種是讀時序的DQS波形，另 一 種是寫信號的DQS波形。打 開區(qū)域觸發(fā)功能后，通過在屏幕上的不同區(qū)域畫不同的方框，就可以把感興趣區(qū)域的DQS 波形保留下來，與之對應(yīng)的數(shù)據(jù)線DQ上的波形也就保留下來了。

為了進行更簡單的讀寫分離，Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能，可以通過區(qū)域（Zone）定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開。

根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時間不同，Agilent獨有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個信號必須通過的區(qū)域的方式方便地分離出讀、寫數(shù)據(jù)，并進一步進行眼圖的測試。

信號的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號的眼圖分離出來。

除了形成眼圖外，我們還可以利用示波器的模板測量功能對眼圖進行定量分析，

用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個模板對讀、寫信號進行模板測試，如 果模板測試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 DDR、DDR2、DDR3、DDR4都有什么區(qū)別？

DDR地址、命令總線的一致性測試

DDR的地址、命令總線的信號完整性測試主要測試其波形和時序參數(shù)。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測試的信號品質(zhì)主要包括：Vmax （最大電壓值）；Vmin （小電壓值）；Overshoot （過沖）和Undershoot （下沖）的持續(xù)時間的大值；Slew Rate （斜率）；Ringback （回溝）等。還需要測試相對于時鐘邊沿的Setup Time （建立時間）和Hold Time （保持時間）。建立時間和保持時間的定義如圖7.134所示，其中加為建立時間，如為 保持時間，針對DDR400,加和如為0.7ns。

什么是DDR DDR2 DDR3 DDR4 DDR5;云南解決方案DDR一致性測試

快速 DDR4協(xié)議解碼功能.云南解決方案DDR一致性測試

D D R 5 的 接 收 端 容 限 評 估 需 要 通 過 接 收 容 限 的 一 致 性 測 試 來 進 行 ， 主 要 測 試 的 項 目 有 D Q 信 號 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 信 號 的 電 壓 靈 敏 度 、 D Q S 的 抖 動 容 限 、 D Q 與 D Q S 的 時 序 容 限、DQ的壓力眼測試、DQ的均衡器特性等。

在DDR5的接收端容限測試中，也需要通過御用的測試夾具對被測件進行測試以及測試前的校準。展示了一套DDR5的DIMM條的測試夾具，包括了CTC2夾具(ChannelTestCard)和DIMM板(DIMMTestCard)等。CTC2夾具上有微控制器和RCD芯片等，可以通過SMBus/I2C總線配置電路板的RCD輸出CA信號以及讓被測件進入環(huán)回模式。測試夾具還提供了CK/CA/DQS/DQ/LBD/LBS等信號的引出。 云南解決方案DDR一致性測試

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