大部分的DRAM都是在一個(gè)同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同，又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時(shí)鐘的上升或者下降沿進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時(shí)鐘的上升和下降 沿都會進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時(shí)鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的。DDR5 接收機(jī)一致性和表征測試應(yīng)用軟件。江蘇DDR一致性測試維修價(jià)格

自動化一致性測試

因?yàn)镈DR3總線測試信號多，測試參數(shù)多，測試工作量非常大，所以如果不使用自動化 的方案，則按Jedec規(guī)范完全測完要求的參數(shù)可能需要7?14天。提供了全自動的DDR測試 軟件，包括：支持DDR2/LPDDR2的N5413B軟件；支持DDR3/LPDDR3的U7231B軟件； 支持DDR4的N6462A軟件。DDR測試軟件的使用非常簡便，用戶只需要 按順序選擇好測試速率、測試項(xiàng)目并根據(jù)提示進(jìn)行參數(shù)設(shè)置和連接，然后運(yùn)行測試軟件即可。 DDR4測試軟件使用界面的例子。 江蘇DDR一致性測試維修價(jià)格DDR4協(xié)議/功能調(diào)試和分析參考解決方案。

我們看到，在用通用方法進(jìn)行的眼圖測試中，由于信號的讀寫和三態(tài)都混在一起，因此很難對信號質(zhì)量進(jìn)行評估。要進(jìn)行信號的評估，第1步是要把讀寫信號分離出來。傳統(tǒng)上有幾種方法用來進(jìn)行讀寫信號的分離，但都存在一定的缺陷?？梢岳米x寫Preamble的寬度不同用脈沖寬度觸發(fā)，但由于JEDEC只規(guī)定了WritePreamble寬度的下限，因此不同芯片間Preamble的寬度可能是不同的，而且如果Read/Write的Preamble的寬度一樣，則不能進(jìn)行分離。也可以利用讀寫信號的幅度不同進(jìn)行分離，如圖7-138中間 的圖片所示，但是如果讀寫信號幅度差別不大，則也不適用6還可以根據(jù)RAS、CAS、CS、 WE等控制信號來分離讀寫，但這種方法要求通道數(shù)多于4個(gè)，只 有帶數(shù)字通道的MSO示波器才能滿足要求，比如Agilent的MS09000A系列或者 MSOX90000A系列，對于用戶示波器的要求比較高。

為了針對復(fù)雜信號進(jìn)行更有效的讀/寫信號分離，現(xiàn)代的示波器還提供了很多高級的信號 分離功能，在DDR測試中常用的有圖形區(qū)域觸發(fā)的方法和基于建立/保持時(shí)間的觸發(fā)方法。

圖形區(qū)域觸發(fā)是指可以用屏幕上的特定區(qū)域(Zone)定義信號觸發(fā)條件。用 區(qū)域觸發(fā)功能對DDR的讀/寫信號分離的 一 個(gè)例子。用鎖存信號DQS信號觸發(fā)可以看到 兩種明顯不同的DQS波形， 一 種是讀時(shí)序的DQS波形，另 一 種是寫信號的DQS波形。打 開區(qū)域觸發(fā)功能后，通過在屏幕上的不同區(qū)域畫不同的方框，就可以把感興趣區(qū)域的DQS 波形保留下來，與之對應(yīng)的數(shù)據(jù)線DQ上的波形也就保留下來了。 完整的 DDR4調(diào)試、分析和一致性測試.

DDR5的接收端容限測試

前面我們在介紹USB3 . 0、PCIe等高速串行總線的測試時(shí)提到過很多高速的串行總線 由于接收端放置有均衡器，因此需要進(jìn)行接收容限的測試以驗(yàn)證接收均衡器和CDR在惡劣 信 號 下 的 表 現(xiàn) 。 對 于 D D R 來 說 ， D D R 4 及 之 前 的 總 線 接 收 端 還 相 對 比 較 簡 單 ， 只 是 做 一 些 匹配、時(shí)延、閾值的調(diào)整。但到了DDR5時(shí)代(圖5 . 19),由于信號速率更高，因此接收端也 開 始 采 用 很 多 高 速 串 行 總 線 中 使 用 的 可 變 增 益 調(diào) 整 以 及 均 衡 器 技 術(shù) ， 這 也 使 得 D D R 5 測 試 中必須關(guān)注接收均衡器的影響，這是之前的DDR測試中不曾涉及的。 DDR3和 DDR4設(shè)計(jì)分成幾個(gè)方面：仿真、有源信號驗(yàn)證和功能測試。用于電氣物理層、協(xié)議層和功能測試解決方案。廣西DDR一致性測試安裝

DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調(diào)試和驗(yàn)證的總線解碼器。江蘇DDR一致性測試維修價(jià)格

(2)根據(jù)讀/寫信號的幅度不同進(jìn)行分離。如果PCB走線長度比較 長，在不同位置測試時(shí)可能讀/寫信號的幅度不太一樣，可以基于幅度進(jìn)行觸發(fā)分離。但是 這種方法對于走線長度不長或者讀/寫信號幅度差別不大的場合不太適用。

(3)根據(jù)RAS、CAS、CS、WE等控制信號進(jìn)行分離。這種方法使用控制信號的讀/寫  來判決當(dāng)前的讀寫指令，是可靠的方法。但是由于要同時(shí)連接多個(gè)控制信號以及Clk、 DQS、DQ等信號，要求示波器的通道數(shù)多于4個(gè)，只有帶數(shù)字通道的混合信號示波器才能  滿足要求，而且數(shù)字通道的采樣率也要比較高。圖5.11是用帶高速數(shù)字通道的示波器觸發(fā)  并采集到的DDR信號波形。 江蘇DDR一致性測試維修價(jià)格

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