DDR地址、命令總線的一致性測試

DDR的地址、命令總線的信號完整性測試主要測試其波形和時序參數(shù)。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測試的信號品質(zhì)主要包括：Vmax （最大電壓值）；Vmin （小電壓值）；Overshoot （過沖）和Undershoot （下沖）的持續(xù)時間的大值；Slew Rate （斜率）；Ringback （回溝）等。還需要測試相對于時鐘邊沿的Setup Time （建立時間）和Hold Time （保持時間）。建立時間和保持時間的定義如圖7.134所示，其中加為建立時間，如為 保持時間，針對DDR400,加和如為0.7ns。

DDR4 和 LPDDR4 一致性測試軟件。重慶設備DDR一致性測試

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室

DDR SDRAM即我們通常所說的DDR內(nèi)存，DDR內(nèi)存的發(fā)展已經(jīng)經(jīng)歷了五代，目前 DDR4已經(jīng)成為市場的主流，DDR5也開始進入市場。對于DDR總線來說，我們通常說的 速率是指其數(shù)據(jù)線上信號的快跳變速率。比如3200MT/s,對應的工作時鐘速率是 1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數(shù)據(jù)線上比較高傳輸速率，由于在DDR總線 上會有讀寫間的狀態(tài)轉(zhuǎn)換時間、高阻態(tài)時間、總線刷新時間等，因此其實際的總線傳輸速率 達不到這個理想值。 測量DDR一致性測試價格優(yōu)惠82496 DDR信號質(zhì)量的測試方法、測試裝置與測試設備與流程；

對于嵌入式應用的DDR的協(xié)議測試， 一般是DDR顆粒直接焊接在PCB板上，測試可 以選擇針對邏輯分析儀設計的BGA探頭。也可以設計時事先在板上留測試點，把被測信 號引到一些按一定規(guī)則排列的焊盤上，再通過相應探頭的排針頂在焊盤上進行測試。

協(xié)議測試也可以和信號質(zhì)量測試、電源測試結合起來，以定位由于信號質(zhì)量或電源問題 造成的數(shù)據(jù)錯誤。圖5.23是一個LPDDR4的調(diào)試環(huán)境，測試中用邏輯分析儀觀察總線上 的數(shù)據(jù)，同時用示波器檢測電源上的紋波和瞬態(tài)變化，通過把總線解碼的數(shù)據(jù)和電源瞬態(tài)變 化波形做時間上的相關和同步觸發(fā)，可以定位由于電源變化造成的總線讀/寫錯誤問題。

DDR時鐘總線的一致性測試

DDR總線參考時鐘或時鐘總線的測試變得越來越復雜，主要測試內(nèi)容可以分為兩方面：波形參數(shù)和抖動。波形參數(shù)主要包括：Overshoot（過沖）；Undershoot（下沖）；SlewRate（斜率）；RiseTime（上升時間）和FallTime（下降時間）；高低時間；DutyCycle（占空比失真）等，測試較簡單，在此不再贅述。抖動測試則越來越復雜，以前一般只是測試Cycle-CycleJitter（周期到周期抖動），但是當速率超過533MT/S的DDR2&3時，測試內(nèi)容相當多，不可忽略。表7-15是DDR2667的規(guī)范參數(shù)。對這些抖動參數(shù)的測試需要用軟件實現(xiàn)，比如Agilent的N5413ADDR2時鐘表征工具。測試建議用系統(tǒng)帶寬4GHz以上的差分探頭和示波器，測試點在DIMM上靠近DRAM芯片的位置，被測系統(tǒng)建議運行MemoryTest類的總線加壓軟件。 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 調(diào)試和驗證的總線解碼器。

測試軟件運行后，示波器會自動設置時基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進行測量并匯總成一 個測試報告，測試報告中列出了測試的項目、是否通過、spec的要求、實測值、margin等。 自動測試軟件進行DDR4眼圖睜開度測量的一個例子。信號質(zhì)量的測試還可以  輔 助 用 戶 進 行 內(nèi) 存 參 數(shù) 的 配 置 ， 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能，用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻，并分析對信號質(zhì) 量的影響。

除了一致性測試以外，DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個關鍵參數(shù)測試 失敗后，可以針對這個參數(shù)進行Debug。此時，測試軟件會捕獲、存儲一段時間的波形并進 行參數(shù)統(tǒng)計，根據(jù)統(tǒng)計結果可以查找到參數(shù)違規(guī)時對應的波形位置， DDR地址、命令總線的一致性測試。湖南DDR一致性測試聯(lián)系人

4代DDR之間有什么區(qū)別？重慶設備DDR一致性測試

(2)根據(jù)讀/寫信號的幅度不同進行分離。如果PCB走線長度比較 長，在不同位置測試時可能讀/寫信號的幅度不太一樣，可以基于幅度進行觸發(fā)分離。但是 這種方法對于走線長度不長或者讀/寫信號幅度差別不大的場合不太適用。

(3)根據(jù)RAS、CAS、CS、WE等控制信號進行分離。這種方法使用控制信號的讀/寫  來判決當前的讀寫指令，是可靠的方法。但是由于要同時連接多個控制信號以及Clk、 DQS、DQ等信號，要求示波器的通道數(shù)多于4個，只有帶數(shù)字通道的混合信號示波器才能  滿足要求，而且數(shù)字通道的采樣率也要比較高。圖5.11是用帶高速數(shù)字通道的示波器觸發(fā)  并采集到的DDR信號波形。 重慶設備DDR一致性測試

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