DDR時鐘總線的一致性測試

DDR總線參考時鐘或時鐘總線的測試變得越來越復雜，主要測試內(nèi)容可以分為兩方面：波形參數(shù)和抖動。波形參數(shù)主要包括：Overshoot（過沖）；Undershoot（下沖）；SlewRate（斜率）；RiseTime（上升時間）和FallTime（下降時間）；高低時間；DutyCycle（占空比失真）等，測試較簡單，在此不再贅述。抖動測試則越來越復雜，以前一般只是測試Cycle-CycleJitter（周期到周期抖動），但是當速率超過533MT/S的DDR2&3時，測試內(nèi)容相當多，不可忽略。表7-15是DDR2667的規(guī)范參數(shù)。對這些抖動參數(shù)的測試需要用軟件實現(xiàn)，比如Agilent的N5413ADDR2時鐘表征工具。測試建議用系統(tǒng)帶寬4GHz以上的差分探頭和示波器，測試點在DIMM上靠近DRAM芯片的位置，被測系統(tǒng)建議運行MemoryTest類的總線加壓軟件。 DDR2 和 LPDDR2 一致性測試軟件。河南DDR一致性測試維保

DDR總線一致性測試

工業(yè)標準總線一致性測量概述

高速數(shù)字系統(tǒng)使用了各種工業(yè)標準總線，對這些工業(yè)標準總線進行規(guī)范一致性測量是確 保系統(tǒng)工作穩(wěn)定和可靠的關鍵點之一?！耙恢滦浴笔菍τ⑽膯卧~“Compliance”的中文解釋， 美國把按工業(yè)標準規(guī)范進行的電氣參數(shù)測量叫作一致性測量。

測試這些工業(yè)標準總線，完整和可靠的測試方案是非常重要的。完整的測試方案不僅保證測試準確度，還可以大量節(jié)省測試時間，提高工作效率。

工業(yè)標準總線完整的測試方案一般包括幾部分：測試夾具；探頭和附件；自動測試軟件;測試儀器。 河南DDR一致性測試維保DDR眼圖測試及分析DDR穩(wěn)定性測試\DDR2一致性測試；

相關器件的應用手冊，ApplicationNote:在這個文檔中，廠家一般會提出一些設計建議，甚至參考設計，有時該文檔也會作為器件手冊的一部分出現(xiàn)在器件手冊文檔中。但是在資料的搜集和準備中，要注意這些信息是否齊備。

參考設計，ReferenceDesiqn:對于比較復雜的器件，廠商一般會提供一些參考設計，以幫助使用者盡快實現(xiàn)解決方案。有些廠商甚至會直接提供原理圖，用戶可以根據(jù)自己的需求進行更改。

IBIS 文件:這個對高速設計而言是必需的，獲得的方法前面已經(jīng)講過。

大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時鐘采樣方式的不同，又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的。DDR5 接收機一致性和表征測試應用軟件。

DDR規(guī)范沒有定義模板，這給用眼圖方式分析信號時判斷信號是否滿足規(guī)范要求帶來挑戰(zhàn)。有基于JEDEC規(guī)范定義的，ds、，dh、-H(ac)min和rIL(ac)max參數(shù),得出的DDR2533寫眼圖的模板，中間的區(qū)域就是模板，中間的線是DQS的有效邊沿即有效的上升沿或下降沿。嚴格按規(guī)范來說的話，中間的模板應該定義為橫著的梯形，因為保持時間是相對于DC參數(shù)的，不過用長方形可以定義一個更嚴格的參數(shù)要求。

DDR總線一致性測試對示波器帶寬的要求

因為Jedec規(guī)范沒有給岀DDR具體的快的上升、下降時間，通過預估的方式可以得岀 快的邊沿時間，但是往往比實際要快，是基于實際PCB板材的情況得出的結果，有 了這個結果可計算出需要的示波器帶寬。 DDR 設計和測試解決方案；湖北DDR一致性測試故障

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DDR地址、命令總線的一致性測試

DDR的地址、命令總線的信號完整性測試主要測試其波形和時序參數(shù)。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測試的信號品質(zhì)主要包括：Vmax （最大電壓值）；Vmin （小電壓值）；Overshoot （過沖）和Undershoot （下沖）的持續(xù)時間的大值；Slew Rate （斜率）；Ringback （回溝）等。還需要測試相對于時鐘邊沿的Setup Time （建立時間）和Hold Time （保持時間）。建立時間和保持時間的定義如圖7.134所示，其中加為建立時間，如為 保持時間，針對DDR400,加和如為0.7ns。

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