2.2TDR/TDT介紹當(dāng)?shù)诙€(gè)端口與同一傳輸線的遠(yuǎn)端相連并且是接收機(jī)時(shí),我們稱其為時(shí)域傳輸,或TDT。圖7所示為這種結(jié)構(gòu)的示意圖。組合測量互連的TDR響應(yīng)和TDT響應(yīng)能對互連的阻抗曲線、信號(hào)的速度、信號(hào)的衰減、介電常數(shù)、疊層材料的損耗因數(shù)和互連的帶寬進(jìn)行精確表征。TDR/TDT測量結(jié)構(gòu)圖。TDR可設(shè)置用于TDR/TDT操作,其步驟是選擇TDR設(shè)置,選擇單端激勵(lì)模式,選擇更改被測件類型,然后選擇一個(gè)2-端口被測件。您可以將任何可用的通道指定給端口2或點(diǎn)擊自動(dòng)連接,一種是已經(jīng)遇到了信號(hào)完整性問題,一種是將要遇到信號(hào)完整性問題。DDR測試信號(hào)完整性測試產(chǎn)品介紹
二、連續(xù)時(shí)間系統(tǒng)的時(shí)域分析1.系統(tǒng)數(shù)學(xué)模型的建立構(gòu)件的方程式的基本依據(jù)是電網(wǎng)絡(luò)的兩個(gè)約束特性。其一是元件因素特性。即表徒電路元件模型關(guān)系。其二是網(wǎng)絡(luò)拓?fù)浼s束,也即由網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)決定的各電壓電流之間的約束關(guān)系。2.零輸入響應(yīng)與零狀態(tài)響應(yīng)零輸入響應(yīng)指的是沒有外加激勵(lì)信號(hào)的作用,只有起始狀態(tài)所產(chǎn)生的響應(yīng)。以表示.零狀態(tài)響應(yīng)指的是不考慮起始狀態(tài)為零的作用,由系統(tǒng)外加激勵(lì)信號(hào)所產(chǎn)生的響應(yīng)。以表示,由公式:r(t)=+=++B(t)=+B(t)可以推出以下結(jié)論:a.自由響應(yīng)和零輸入響應(yīng)都滿足齊次方程的解。零輸入響應(yīng)的由起始儲(chǔ)能情況決定,而自由響應(yīng)的要同時(shí)依從始起狀態(tài)和激勵(lì)信號(hào)。b.自由響應(yīng)由兩部分組成,其中一部分由起始狀態(tài)決定,另一部分由激勵(lì)信號(hào)決定,二者都與系統(tǒng)自身參數(shù)密切關(guān)聯(lián)。c.由系統(tǒng)起始狀態(tài)無儲(chǔ)能,即狀態(tài)為零,則零輸入響應(yīng)為零,但自由響應(yīng)可以不為零,由激勵(lì)信號(hào)與系統(tǒng)參數(shù)共同決定。d.零輸入響應(yīng)由時(shí)刻到時(shí)刻不跳變,此時(shí)此刻若發(fā)生跳變,可能出現(xiàn)在零狀態(tài)響應(yīng)分量之中設(shè)備信號(hào)完整性測試信號(hào)完整性測試信號(hào)完整性測試所需工具說明;
第二條傳輸線中沒有過孔,這條傳輸線是一條均勻微帶。SMA加載與排前條傳輸線相同。巧合的是,盡管這是一個(gè)單端測量,但這條被測的傳輸線外還有另一條平行的傳輸線與其物理相鄰,間距約等于線寬。但是,相鄰的傳輸線上也端接了50歐姆的電阻。是否有可能另外一條跡線的逼近在某種程度上導(dǎo)致了這個(gè)波谷?如果是這樣,另一條線的哪些特征影響了波谷頻率?要回答這個(gè)問題,方法之一是為兩條耦合線的物理結(jié)構(gòu)建立一個(gè)參數(shù)化的模型,驗(yàn)證模擬的插入損耗與測得的插入損耗匹配,然后調(diào)整方面的模型,探索設(shè)計(jì)空間。
我們現(xiàn)在看一個(gè)具體示例:圖3中,兩款示波器都已設(shè)置為800mV全屏顯示。8位ADC示波器的分辨率是3.125mV,即,800mV除以28(256個(gè)量化電平)。10位ADC示波器的分辨率是0.781mV,即,800mV除以210(1024個(gè)量化電平)。計(jì)算出來的分辨率又被稱作小量化電平,在正常采集模式下,是示波器能識(shí)別的信號(hào)小變化范圍。示波器通常支持高分辨率采集模式,在該模式下,要得到正確的信號(hào),示波器的模擬前端要能夠防混疊,且采樣率遠(yuǎn)大于實(shí)際需要的采樣率。也有的廠家采用過采樣技術(shù)配合DSP濾波器來提高示波器的垂直分辨率,然后給出一個(gè)指標(biāo),說高分辨率模式下,其位數(shù)是多少。以In?niiumS系列示波器為例,其ADC固有分辨率是10位,高分辨率模式下是12位。高分辨率模式要求ADC實(shí)際支持的采樣率遠(yuǎn)高于被測信號(hào)測量所需的硬件帶寬。提升分辨率,可以選擇更高位數(shù)的ADC,同時(shí)示波器的垂直刻度選擇范圍要更寬。克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室信號(hào)完整性使用示波器進(jìn)行波形測試;
信號(hào)完整性分析系列-第1部分:端口TDR/TDT如前文-單端口TDR所述,TDR生成與互連交互的激勵(lì)源。我們能通過一個(gè)端口測量互連上一個(gè)連接的響應(yīng)。這限制了我們只關(guān)注反射回源頭的信號(hào)。通過這類測量,我們能獲得阻抗曲線和互連屬性信息,并能提取具有離散不連續(xù)的均勻傳輸線的參數(shù)值。在TDR上添加第二個(gè)端口后,我們就能極大地?cái)U(kuò)展測量類型以及能提取的互連信息。額外的端口可用來執(zhí)行三種重要的新測量:發(fā)射的信號(hào)、耦合噪聲和差分對的差分信號(hào)或共模信號(hào)響應(yīng)。采用這些技術(shù)實(shí)現(xiàn)的重要應(yīng)用及其實(shí)例,都在本章中進(jìn)行了描述??藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)的測試,主要目的是對其進(jìn)行信號(hào)完整性分析;上海信號(hào)完整性測試價(jià)格多少
克勞德實(shí)驗(yàn)室信號(hào)完整性測試系統(tǒng)平臺(tái);DDR測試信號(hào)完整性測試產(chǎn)品介紹
一般討論的信號(hào)完整性基本上以研究數(shù)字電路為基礎(chǔ),研究數(shù)字電路的模擬特性。主要包含兩個(gè)方面:信號(hào)的幅度(電壓)和信號(hào)時(shí)序。
與信號(hào)完整性噪聲問題有關(guān)的四類噪聲源:1、單一網(wǎng)絡(luò)的信號(hào)質(zhì)量2、多網(wǎng)絡(luò)間的串?dāng)_3、電源與地分配中的軌道塌陷4、來自整個(gè)系統(tǒng)的電磁干擾和輻射
當(dāng)電路中信號(hào)能以要求的時(shí)序、持續(xù)時(shí)間和電壓幅度到達(dá)接收芯片管腳時(shí),該電路就有很好的信號(hào)完整性。當(dāng)信號(hào)不能正常響應(yīng)或者信號(hào)質(zhì)量不能使系統(tǒng)長期穩(wěn)定工作時(shí),就出現(xiàn)了信號(hào)完整性問題。信號(hào)完整性主要表現(xiàn)在延遲、反射、串?dāng)_、時(shí)序、振蕩等幾個(gè)方面。一般認(rèn)為,當(dāng)系統(tǒng)工作在50MHz時(shí),就會(huì)產(chǎn)生信號(hào)完整性問題,而隨著系統(tǒng)和器件頻率的不斷攀升,信號(hào)完整性的問題也就愈發(fā)突出。元器件和PCB板的參數(shù)、元器件在PCB板上的布局、高速信號(hào)的布線等這些問題都會(huì)引起信號(hào)完整性問題,導(dǎo)致系統(tǒng)工作不穩(wěn)定,甚至完全不能正常工作。 DDR測試信號(hào)完整性測試產(chǎn)品介紹
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