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信號(hào)完整性測(cè)試USB測(cè)試調(diào)試

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-07-02

USB電纜/連接器測(cè)試和USB2.0相比,USB3.0及以上產(chǎn)品的信號(hào)帶寬高出很多,電纜、連接器和信號(hào)傳輸路徑驗(yàn)證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對(duì)支持10Gbps信號(hào)的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。

很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的,頻域傳輸參數(shù)的測(cè) 試標(biāo)準(zhǔn)是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外,對(duì)于電纜來(lái)說(shuō)還有一些時(shí)域參數(shù),如差分阻抗和 不對(duì)稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求,這兩個(gè)參數(shù)通常是用TDR/TDT來(lái)測(cè)量。目前 很多VNA已經(jīng)可以通過(guò)增加時(shí)域TDR選件(對(duì)頻域測(cè)試參數(shù)進(jìn)行反FFT變換實(shí)現(xiàn))的方 式實(shí)現(xiàn)TDR/TDT功能。另外,USB Type-C電纜上要測(cè)試的線對(duì)數(shù)量很多,通過(guò)模塊化的 設(shè)計(jì),VNA可以在一個(gè)機(jī)箱里支持多達(dá)32個(gè)端口,因此所有差分電纜/連接器的測(cè)試項(xiàng)目 都可以通過(guò)一 臺(tái)多端口的VNA來(lái)完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測(cè)試夾具進(jìn)行 Type-C 的USB 電纜測(cè)試的例子。 USB3.1和3.0有什么區(qū)別?信號(hào)完整性測(cè)試USB測(cè)試調(diào)試

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USB4.0 的 規(guī)范 是 2021 年 5 月份發(fā) 布 的 ”USB4 Specification Version 1.0 with Errata and ECN through Oct. 15, 2020”;測(cè) 試 規(guī) 范 是 2021 年 7 月 份 發(fā) 布的 ”USB4 Electrical Compliance Test Specification V1.02”。

因?yàn)?USB4.0 需要支持有源電纜和無(wú)源電纜兩種應(yīng)用場(chǎng)景,  針對(duì) 的測(cè)試點(diǎn)分別是 TP2 和TP3,  即通俗講的近端測(cè)試和遠(yuǎn)端測(cè)試。 在進(jìn)行遠(yuǎn)端測(cè)試時(shí),需要考慮無(wú)源電纜的影響。因?yàn)橐桓鶎?shí)體的 無(wú)源電纜很難完整的表征所有惡劣的場(chǎng)景,  包括插入損耗、回 波損耗、串?dāng)_等,為了保證測(cè)試的一致性和可重復(fù)性,發(fā)動(dòng)端測(cè) 試都是用軟件的算法,  利用示波器嵌入 S 參數(shù) / 傳遞函數(shù)的方式, 實(shí)現(xiàn)參考鏈路的模擬。同時(shí),  為了保證測(cè)試精度,  USB4.0 要求示 波器在進(jìn)行信號(hào)捕獲前,需要通過(guò)去嵌 (De-embedded) 的方式去除 測(cè)試電纜的影響。 湖南USB測(cè)試安裝usb3.0規(guī)范中對(duì)接收端均衡器的定義?

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測(cè)試過(guò)程Tektronix示波器對(duì)于USB2.0這類接口的測(cè)試都有非常完善的測(cè)試解決方案,這些方案都是標(biāo)準(zhǔn)流程化的,只要進(jìn)入到軟件測(cè)試界面即可按照流程圖一步一步的往下進(jìn)行測(cè)試。下面是測(cè)試時(shí)的相關(guān)設(shè)置和注意事項(xiàng):在測(cè)試前,首先要預(yù)熱、校準(zhǔn)示波器(大約20分鐘)、線纜需要做de-skew。這一步非常的關(guān)鍵,特別是線纜做de-skew,因?yàn)楹芏鄷r(shí)候線纜與線纜之間有一些偏差,如果不做de-skew就會(huì)導(dǎo)致在差分信號(hào)的正端和負(fù)端引入系統(tǒng)誤差。然后就開(kāi)啟測(cè)試USB2.0軟件TDSUSB2TestApp,


USB2.0技術(shù)已被的市場(chǎng)接受,它將資料處理速率提升了40倍。資料處理量的增加為許多新型產(chǎn)品打開(kāi)新天地,包括全動(dòng)態(tài)視訊至輔助性的、只有錢包大小的硬盤機(jī)。但是,隨著資料速率的急速升高,也出現(xiàn)了新的測(cè)試和量測(cè)方面的挑戰(zhàn)。

資料速率增加40倍后雖然帶來(lái)了許多好處,但也給USB2.0兼容性裝置供應(yīng)商帶來(lái)了各種新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。特別是在訊號(hào)品質(zhì)問(wèn)題方面,如電路板的布局、抖動(dòng)、上升和下降時(shí)間、電磁場(chǎng)干擾、噪聲,和接地噪聲等,都已成為需待解決的設(shè)計(jì)問(wèn)題。保持訊號(hào)質(zhì)量是保證USB2.0裝置合乎規(guī)格,并獲得USB2.0「認(rèn)證」標(biāo)志的關(guān)鍵之一。訊號(hào)質(zhì)量測(cè)試包括:?眼圖測(cè)試?信號(hào)速率?數(shù)據(jù)包結(jié)束寬度?交叉電壓范圍(適用于低速和全速)?JK抖動(dòng)?KJ抖動(dòng)?連續(xù)抖動(dòng)?單調(diào)測(cè)試(適用于高速)?漲落時(shí)間 USB3.0的發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測(cè)試?

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另外,由于5Gbps或10Gbps的信號(hào)經(jīng)過(guò)長(zhǎng)電纜和PCB傳輸以后有可能眼圖就無(wú)法張開(kāi)了,所以在芯片接收端內(nèi)部會(huì)提供CTLE(連續(xù)時(shí)間線性均衡)功能以補(bǔ)償高頻損耗,因此測(cè)試時(shí)示波器的測(cè)試軟件也要能支持CTLE才能模擬出接收端對(duì)信號(hào)均衡以后的真實(shí)的結(jié)果。圖3.6是在USB3.2的規(guī)范中,分別對(duì)于Genl的5Gbps信號(hào)和Gen2的10Gbps信號(hào)CTLE的均衡器的定義。

以下是USB3.x的信號(hào)測(cè)試方法相對(duì)于USB2.0的區(qū)別:

(1)示波器的測(cè)試點(diǎn)在一致性電纜(compliancecable)和一致性電路板(complianceboard)之后。而以前的測(cè)試是在發(fā)送端的連接器處(如USB2.0)。

(2)后處理需要使用CTLE均衡器,在均衡器后觀察和分析眼圖及其參數(shù)。

(3)需要連續(xù)測(cè)量1M個(gè)UI(比特間隔)。

(4)需要計(jì)算基于1.0×10-12誤碼率的DJ、RJ和TJ。 usb3.0的接收容限測(cè)試?信號(hào)完整性測(cè)試USB測(cè)試調(diào)試

USB3.0連接器的阻抗測(cè)試;信號(hào)完整性測(cè)試USB測(cè)試調(diào)試

對(duì)于捕獲到的數(shù)據(jù)波形的分析,可以使用USB協(xié)會(huì)提供的Sigtest軟件或者示波 器廠商的自動(dòng)測(cè)試軟件。Sigtest是USB協(xié)會(huì)提供的進(jìn)行USB3.0等總線分析的官方分析 軟件,但是需要用戶手動(dòng)捕獲碼型、切換碼型、進(jìn)行示波器觸發(fā)設(shè)置等,操作比較煩瑣,且設(shè) 置不對(duì)可能影響捕獲的波形或分析的結(jié)果。

由于USB3.x的測(cè)試涉及被測(cè)件類型、速率、均衡器、測(cè)試腳本調(diào)用、傳輸通道設(shè)置等非 常多的因素,而且不同的測(cè)試項(xiàng)目需要在不同的測(cè)試碼型下進(jìn)行,設(shè)置不當(dāng)可能測(cè)試結(jié)果完 全不對(duì),所以 一般建議使用用的自動(dòng)測(cè)試軟件配合示波器進(jìn)行測(cè)試。圖3 . 7是在示波器 中安裝的USB3 . x自動(dòng)測(cè)試軟件的設(shè)置界面。通常用戶只需根據(jù)設(shè)置向?qū)нx擇相應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目,然后按照向?qū)нB接DUT并把DUT設(shè)置成正確的模式即可自動(dòng)運(yùn)行測(cè)試,軟件會(huì)自 動(dòng)捕獲波形并測(cè)試生成html格式的測(cè)試報(bào)告。測(cè)試軟件中還會(huì)自動(dòng)調(diào)用設(shè)置好的通道模 型和均衡器,以及內(nèi)置的USB協(xié)會(huì)發(fā)布的SigTest腳本,從而簡(jiǎn)化了手動(dòng)操作,并可以 保證測(cè)試算法完全符合USB協(xié)會(huì)對(duì)信號(hào)分析的要求。 信號(hào)完整性測(cè)試USB測(cè)試調(diào)試

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