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MIPI測試PCI-E測試

來源: 發(fā)布時間:2023-07-22

液晶屏接口類型有LVDS接口、MIPIDSIDSI接口(下文只討論液晶屏LVDS接口,不討論其它應(yīng)用的LVDS接口,因此說到LVDS接口時無特殊說明都是指液晶屏LVDS接口),它們的主要信號成分都是5組差分對,其中1組時鐘CLK,4組DATA(MIPIDSI接口中稱之為lane),它們到底有什么區(qū)別,能直接互聯(lián)么?在網(wǎng)上搜索“MIPIDSI接口與LVDS接口區(qū)別”找到的答案基本上是描述MIPIDSI接口是什么,LVDS接口是什么,沒有直接回答該問題。深入了解這些資料后,有了一些眉目,整理如下。首先,兩種接口里面的差分信號是不能直接互聯(lián)的,準確來說是互聯(lián)后無法使用,MIPIDSI轉(zhuǎn)LVDS比較簡單,有現(xiàn)成的芯片,例如ICN6201、ZA7783;LVDS轉(zhuǎn)MIPIDSI比較復(fù)雜暫時沒看到通用芯片,基本上是特制模塊,而且原理也比較復(fù)雜。其次,它們的主要區(qū)別總結(jié)為兩點:1、LVDS接口只用于傳輸視頻數(shù)據(jù),MIPIDSI不僅能夠傳輸視頻數(shù)據(jù),還能傳輸控制指令;2、LVDS接口主要是將RGBTTL信號按照SPWG/JEIDA格式轉(zhuǎn)換成LVDS信號進行傳輸,MIPIDSI接口則按照特定的握手順序和指令規(guī)則傳輸屏幕控制所需的視頻數(shù)據(jù)和控制數(shù)據(jù)。MIPI接口是個什么樣的總線?MIPI測試PCI-E測試

MIPI測試PCI-E測試,MIPI測試

MIPI顯示器工作組DickLawrence在一份聲明中稱,“這一標準給從簡單的低端設(shè)備、到高復(fù)雜性的智能電話、再到更大型手持平臺的移動系統(tǒng)帶給重大好處。移動產(chǎn)業(yè)一直期待著統(tǒng)一到一種開放標準上,而SDI提供了驅(qū)動這一轉(zhuǎn)變的強制性技術(shù)。

串行接口一般采用差分結(jié)構(gòu),利用幾百mV的差分信號,在收發(fā)端之間傳送數(shù)據(jù)。串行比并行相比:更節(jié)省PCB板的布線面積,增強空間利用率;差分信號增強了自身的EMI抗干擾能力,同時減少了對其他信號的干擾;低的電壓擺幅可以做到更高的速度,更小的功耗. 廣西設(shè)備MIPI測試數(shù)據(jù)線的HS信號質(zhì)量測試;

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MIPI眼圖測試

MIPI眼圖測試是一種用于評估MIPI傳輸速率和誤差性能的測試方法之一。這種測試方法基于MIPI接口產(chǎn)生的信號波形的“眼圖”特征進行分析和評估。眼圖是由信號周期內(nèi)多個時刻的采樣點形成的可視化圖形,可以描述信號的噪聲、抖動和失真情況。在MIPI眼圖測試中,測試設(shè)備會通過MIPI數(shù)據(jù)通道發(fā)送一系列固定數(shù)據(jù)模式,并以不同的數(shù)據(jù)速率和時鐘頻率進行測試。然后,利用示波器觀察和記錄信號的眼圖特征,根據(jù)MIPI聯(lián)盟制定的標準和規(guī)范進行判斷和評估,以確定是否符合MIPI規(guī)范。通過MIPI眼圖測試,可以檢查MIPI接口的傳輸速率、誤碼率以及噪聲等性能指標,幫助廠商確保其MIPI產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。

電路結(jié)構(gòu)

在高速模式下,主機端的差分發(fā)送模塊以差分信號驅(qū)動互連線,高速通道上呈現(xiàn)兩種狀態(tài),differentia-0differential-1,從屬端的高速接收單元將低擺幅的差分數(shù)據(jù)通過高速比較器轉(zhuǎn)換成邏輯電平。在串行轉(zhuǎn)并行模塊中,高速時鐘對數(shù)據(jù)進行雙沿采樣,將高速串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成兩路并行數(shù)據(jù),交給后續(xù)數(shù)字電路處理。高速接收單元的總體電路結(jié)構(gòu)。

輸入終端電阻由于輸入數(shù)據(jù)信號頻率高,需要進行阻抗匹配,因此在比較器的差分輸入端dp/dn之間跨接了100歐姆終端電阻,由開關(guān)進行控制,當系統(tǒng)要進行高速數(shù)據(jù)傳輸時,就將該終端電阻使能。由于電阻值隨工藝角、溫度筆變化比較大,因此在終端電陽RO(50歐姆)的其礎(chǔ)上增加了一個電陽,分別由三位控制信號控制,可通過改變控制字改變電阻大小,使終端電阻值在各工藝角及溫度下均能滿足協(xié)議要求。比較器終端電阻電路結(jié)松。 mipi測試,MIPI信號完整性測試,眼圖測試,時鐘抖動測試;

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克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室

MIPID-PHY信號質(zhì)量測試

MIPID-PHY的信號質(zhì)量的測試方法主要參考MIPI協(xié)會發(fā)布的CTS(D-PHYPhysicalLayerConformanceTestSuite)。要進行MIPI信號質(zhì)量的測試,首先要選擇合適帶寬的示波器。按照MIPI協(xié)會的要求,測試MIPID-PHY的信號質(zhì)量需要至少4GHz帶寬的示波器。為了提高更好測試的效率,測試中推薦采用4支探頭分別連接clk+/clk-和data+data一信號進行測試,對于有多條Lane的情況可以每條數(shù)據(jù)Lane分別測試。 MIPI應(yīng)用的物理層標準是D-PHY;廣西設(shè)備MIPI測試

MIPI-DSI接口電路構(gòu)架;MIPI測試PCI-E測試

MIPI是一個比較新的標準,其規(guī)范也在不斷修改和改進,目前比較成熟的接口應(yīng)用有DSI(顯示接口)和CSI(攝像頭接口)。CSI/DSI分別是指其承載的是針對Camera或Display應(yīng)用,都有復(fù)雜的協(xié)議結(jié)構(gòu)。以DSI為例,其協(xié)議層結(jié)構(gòu)如下:

CSI/DSI的物理層(PhyLayer)由專門的WorkGroup負責(zé)制定,其目前的標準是D-PHY。D-PHY采用1對源同步的差分時鐘和1~4對差分數(shù)據(jù)線來進行數(shù)據(jù)傳輸。數(shù)據(jù)傳輸采用DDR方式,即在時鐘的上下邊沿都有數(shù)據(jù)傳輸。

D-PHY的物理層支持HS(HighSpeed)和LP(LowPower)兩種工作模式。HS模式下采用低壓差分信號,功耗較大,但是可以傳輸很高的數(shù)據(jù)速率(數(shù)據(jù)速率為80M~1Gbps);LP模式下采用單端信號,數(shù)據(jù)速率很低(<10Mbps),但是相應(yīng)的功耗也很低。兩種模式的結(jié)合保證了MIPI總線在需要傳輸大量數(shù)據(jù)(如圖像)時可以高速傳輸,而在不需要大數(shù)據(jù)量傳輸時又能夠減少功耗。

CSI接口

CSI-2是一個單或雙向差分串行界面,包含時鐘和數(shù)據(jù)信號。CSI-2的層次結(jié)構(gòu):CSI-2由應(yīng)用層、協(xié)議層、物理層組成。

協(xié)議層包含三層:

像素/字節(jié)打包/解包層,

LLP(LowLevelProtocol)層, MIPI測試PCI-E測試

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