有其特殊含義的，也是DDR體系結(jié)構(gòu)的具體體現(xiàn)。而遺憾的是，在筆者接觸過的很多高速電路設(shè)計(jì)人員中，很多人還不能夠說清楚這兩個圖的含義。在數(shù)據(jù)寫入(Write)時序圖中，所有信號都是DDR控制器輸出的，而DQS和DQ信號相差90°相位，因此DDR芯片才能夠在DQS信號的控制下，對DQ和DM信號進(jìn)行雙沿采樣:而在數(shù)據(jù)讀出(Read)時序圖中，所有信號是DDR芯片輸出的，并且DQ和DQS信號是同步的，都是和時鐘沿對齊的!這時候?yàn)榱艘獙?shí)現(xiàn)對DQ信號的雙沿采樣，DDR控制器就需要自己去調(diào)整DQS和DQ信號之間的相位延時!!!這也就是DDR系統(tǒng)中比較難以實(shí)現(xiàn)的地方。DDR規(guī)范這樣做的原因很簡單，是要把邏輯設(shè)計(jì)的復(fù)雜性留在控制器一端，從而使得外設(shè)(DDR存儲心片)的設(shè)計(jì)變得簡單而廉價。因此，對于DDR系統(tǒng)設(shè)計(jì)而言，信號完整性仿真和分析的大部分工作，實(shí)質(zhì)上就是要保證這兩個時序圖的正確性。DDR3內(nèi)存的一致性測試是否需要長時間運(yùn)行？陜西DDR3測試眼圖測試

多數(shù)電子產(chǎn)品，從智能手機(jī)、PC到服務(wù)器，都用著某種形式的RAM存儲設(shè)備。由于相 對較低的每比特的成本提供了速度和存儲很好的結(jié)合，SDRAM作為大多數(shù)基于計(jì)算機(jī)產(chǎn)品 的主流存儲器技術(shù)被廣泛應(yīng)用于各種高速系統(tǒng)設(shè)計(jì)中。

DDR是雙倍數(shù)率的SDRAM內(nèi)存接口，其規(guī)范于2000年由JEDEC （電子工程設(shè)計(jì)發(fā)展 聯(lián)合協(xié)會）發(fā)布。隨著時鐘速率和數(shù)據(jù)傳輸速率不斷增加帶來的性能提升，電子工程師在確 保系統(tǒng)性能指標(biāo)，或確保系統(tǒng)內(nèi)部存儲器及其控制設(shè)備的互操作性方面的挑戰(zhàn)越來越大。存 儲器子系統(tǒng)的信號完整性早已成為電子工程師重點(diǎn)考慮的棘手問題。 測量DDR3測試維修價格是否可以在運(yùn)行操作系統(tǒng)時執(zhí)行DDR3一致性測試？

DDR4： DDR4釆用POD12接口，I/O 口工作電壓為1.2V；時鐘信號頻率為800?1600MHz； 數(shù)據(jù)信號速率為1600?3200Mbps；數(shù)據(jù)命令和控制信號速率為800?1600Mbps。DDR4的時 鐘、地址、命令和控制信號使用Fly-by拓?fù)渥呔€；數(shù)據(jù)和選通信號依舊使用點(diǎn)對點(diǎn)或樹形拓 撲，并支持動態(tài)ODT功能；也支持Write Leveling功能。

綜上所述，DDR1和DDR2的數(shù)據(jù)和地址等信號都釆用對稱的樹形拓?fù)?；DDR3和DDR4的數(shù)據(jù)信號也延用點(diǎn)對點(diǎn)或樹形拓?fù)?。升級到DDR2后，為了改進(jìn)信號質(zhì)量，在芯片內(nèi)為所有數(shù)據(jù)和選通信號設(shè)計(jì)了片上終端電阻ODT(OnDieTermination)，并為優(yōu)化時序提供了差分的選通信號。DDR3速率更快，時序裕量更小，選通信號只釆用差分信號。

使用了一個 DDR 的設(shè)計(jì)實(shí)例，來講解如何規(guī)劃并設(shè)計(jì)一個 DDR 存儲系統(tǒng)，包括從系統(tǒng)性能分析，資料準(zhǔn)備和整理，仿真模型的驗(yàn)證和使用，布局布線約束規(guī)則的生成和復(fù)用，一直到的 PCB 布線完成，一整套設(shè)計(jì)方法和流程。其目的是幫助讀者掌握 DDR 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)思路和方法。隨著技術(shù)的發(fā)展，DDR 技術(shù)本身也有了很大的改變，DDR 和 DDR2 基本上已經(jīng)被市場淘汰，而 DDR3 是目前存儲系統(tǒng)的主流技術(shù)。

并且，隨著設(shè)計(jì)水平的提高和 DDR 技術(shù)的普及，大多數(shù)工程師都已經(jīng)對如何設(shè)計(jì)一個 DDR 系統(tǒng)不再陌生，基本上按照通用的 DDR 設(shè)計(jì)規(guī)范或者參考案例，在系統(tǒng)不是很復(fù)雜的情況下，都能夠一次成功設(shè)計(jì)出可以「運(yùn)行」的 DDR 系統(tǒng)，DDR 系統(tǒng)的布線不再是障礙。但是，隨著 DDR3 通信速率的大幅度提升，又給 DDR3 的設(shè)計(jì)者帶來了另外一個難題，那就是系統(tǒng)時序不穩(wěn)定。因此，基于這樣的現(xiàn)狀，在本書的這個章節(jié)中，著重介紹 DDR 系統(tǒng)體系的發(fā)展變化，以及 DDR3 系統(tǒng)的仿真技術(shù)，也就是說，在布線不再是 DDR3 系統(tǒng)設(shè)計(jì)難題的情況下，如何通過布線后仿真，驗(yàn)證并保證 DDR3 系統(tǒng)的穩(wěn)定性是更加值得關(guān)注的問題。 DDR3一致性測試是否包括高負(fù)載或長時間運(yùn)行測試？

單擊Impedance Plot (expanded),展開顯示所有網(wǎng)絡(luò)走線的阻抗彩圖。雙擊彩圖 上的任何線段，對應(yīng)的走線會以之前定義的顏色在Layout窗口中高亮顯示。

單擊Impedance Table,可以詳細(xì)查看各個網(wǎng)絡(luò)每根走線詳細(xì)的阻抗相關(guān)信息，內(nèi) 容包括走線名稱、走線長度百分比、走線阻抗、走線長度、走線距離發(fā)送端器件的距離、走 線延時，

單擊Impedance Overlay in Layout,可以直接在Layout視圖中查看走線的阻抗。在 Layer Selection窗口中單擊層名稱，可以切換到不同層查看走線阻抗視圖。 如果DDR3一致性測試失敗，是否需要更換整組內(nèi)存模塊？重慶DDR3測試TX/RX

DDR3一致性測試是否適用于非服務(wù)器計(jì)算機(jī)？陜西DDR3測試眼圖測試

容量與組織：DDR規(guī)范還涵蓋了內(nèi)存模塊的容量和組織方式。DDR內(nèi)存模塊的容量可以根據(jù)規(guī)范支持不同的大小，如1GB、2GB、4GB等。DDR內(nèi)存模塊通常以多個內(nèi)存芯片排列組成，其中每個內(nèi)存芯片被稱為一個芯粒（die），多個芯?？梢越M成密集的內(nèi)存模塊。電氣特性：DDR規(guī)范還定義了內(nèi)存模塊的電氣特性，包括供電電壓、電流消耗、輸入輸出電平等。這些電氣特性對于確保DDR內(nèi)存模塊的正常工作和兼容性至關(guān)重要。兼容性：DDR規(guī)范還考慮了兼容性問題，確保DDR內(nèi)存模塊能夠與兼容DDR接口的主板和控制器正常配合。例如，保留向后兼容性，允許支持DDR接口的控制器工作在較低速度的DDR模式下。陜西DDR3測試眼圖測試

深圳市力恩科技有限公司屬于儀器儀表的高新企業(yè)，技術(shù)力量雄厚。是一家有限責(zé)任公司企業(yè)，隨著市場的發(fā)展和生產(chǎn)的需求，與多家企業(yè)合作研究，在原有產(chǎn)品的基礎(chǔ)上經(jīng)過不斷改進(jìn)，追求新型，在強(qiáng)化內(nèi)部管理，完善結(jié)構(gòu)調(diào)整的同時，良好的質(zhì)量、合理的價格、完善的服務(wù)，在業(yè)界受到寬泛好評。公司擁有專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，具有實(shí)驗(yàn)室配套，誤碼儀/示波器，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，協(xié)議分析儀等多項(xiàng)業(yè)務(wù)。力恩科技將以真誠的服務(wù)、創(chuàng)新的理念、***的產(chǎn)品，為彼此贏得全新的未來！