Type-C的接口是雙面的，也就是同一時刻只有TX1+/TX1一或者TX2+/TX2-引腳上會有USB3.1信號輸出，至于哪一面有信號輸出，取決于插入的方向。如圖3.18所示，默認情況下DFP設(shè)備在CC引腳上有上拉電阻Rp,UFP設(shè)備在CC引腳上有下拉電阻Ra,根據(jù)插入的電纜方向不同，只有CCl或者CC2會有連接，通過檢測CCl或者CC2上的電壓變化，DFP和UFP設(shè)備就能感知到對端的插入從而啟動協(xié)商過程。信號質(zhì)量的測試過程中，由于被測件連接的是測試夾具，并沒有真實地對端設(shè)備插入，這就需要人為在測試夾具上模擬電阻的上下拉來欺騙被測件輸出信號USB物理層測試是否需要特定的測試環(huán)境？山西USB物理層測試聯(lián)系人

USB2.0是一種通用串行總線接口標準，被廣泛應(yīng)用于計算機和外部設(shè)備之間的數(shù)據(jù)傳輸和供電。為了確保USB2.0設(shè)備的性能和功能正常，需要進行USB2.0測試。下面將介紹USB2.0測試的主要內(nèi)容和方法。傳輸速率測試：USB2.0的比較高傳輸速率為480Mbps，可以使用USB2.0測試儀連接計算機和USB設(shè)備，在不同數(shù)據(jù)傳輸場景下測試傳輸速率是否符合標準要求。可以通過記錄傳輸所需的時間并計算出傳輸速率來進行測試。信號完整性測試：USB2.0設(shè)備的信號完整性對數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性至關(guān)重要?？梢允褂肬SB2.0測試儀對數(shù)據(jù)線進行信號完整性測試，檢查信號的幅度、波形和噪音等參數(shù)，以確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃?。?nèi)蒙古機械USB物理層測試如何測試USB 3.0接口的超級速度線纜的性能？

另外，由于5Gbps或10Gbps的信號經(jīng)過長電纜和PCB傳輸以后有可能眼圖就無法張開了，所以在芯片接收端內(nèi)部會提供CTLE(連續(xù)時間線性均衡)功能以補償高頻損耗，因此測試時示波器的測試軟件也要能支持CTLE才能模擬出接收端對信號均衡以后的真實的結(jié)果。圖3.6是在USB3.2的規(guī)范中，分別對于Genl的5Gbps信號和Gen2的10Gbps信號CTLE的均衡器的定義。以下是USB3.x的信號測試方法相對于USB2.0的區(qū)別：(1)示波器的測試點在一致性電纜(compliancecable)和一致性電路板(complianceboard)之后。而以前的測試是在發(fā)送端的連接器處(如USB2.0)。(2)后處理需要使用CTLE均衡器，在均衡器后觀察和分析眼圖及其參數(shù)。(3)需要連續(xù)測量1M個UI(比特間隔)。(4)需要計算基于1.0×10-12誤碼率的DJ、RJ和TJ。

USB電纜/連接器測試和USB2.0相比，USB3.0及以上產(chǎn)品的信號帶寬高出很多，電纜、連接器和信號傳輸路徑驗證變得更加重要。圖3.39是規(guī)范中對支持10Gbps信號的Type-C電纜的插入損耗(InsertionLoss)和回波損耗(ReturnLoss)的要求。很多高速傳輸電纜的插損和反射是用頻域的S參數(shù)的形式描述的，頻域傳輸參數(shù)的測試標準是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)。另外，對于電纜來說還有一些時域參數(shù)，如差分阻抗和不對稱偏差(Skew)等也必須符合規(guī)范要求，這兩個參數(shù)通常是用TDR/TDT來測量。目前很多VNA已經(jīng)可以通過增加時域TDR選件(對頻域測試參數(shù)進行反FFT變換實現(xiàn))的方式實現(xiàn)TDR/TDT功能。另外，USBType-C電纜上要測試的線對數(shù)量很多，通過模塊化的設(shè)計，VNA可以在一個機箱里支持多達32個端口，因此所有差分電纜/連接器的測試項目都可以通過一臺多端口的VNA來完成。圖3.40是用多端口的VNA配合測試夾具進行Type-C的USB電纜測試的例子。如何測試USB 3.0接口的超速模式？

USB2.0信號完整性測試是一項關(guān)鍵的測試任務(wù)，用于評估USB2.0設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸過程中信號的質(zhì)量和穩(wěn)定性。以下是進行USB2.0信號完整性測試的一般步驟：準備測試環(huán)境：確保測試環(huán)境符合USB2.0標準要求，包括合適的計算機和USB2.0測試設(shè)備。連接USB2.0設(shè)備：將要測試的USB2.0設(shè)備連接到計算機上，并插入到USB2.0接口。選擇信號發(fā)生器：選擇合適的信號發(fā)生器，可以產(chǎn)生不同頻率和幅度的信號。設(shè)置信號參數(shù)：根據(jù)測試要求，設(shè)置所需的信號參數(shù)，包括信號頻率、幅度和波形等。連接信號發(fā)生器：將信號發(fā)生器的輸出端與待測USB2.0設(shè)備的對應(yīng)端口連接起來。測量信號質(zhì)量：使用示波器或信號分析儀等儀器，對從USB2.0設(shè)備接收到的信號進行測量。USB3.0眼圖測試方法 USB3.0物理層測試 USB3.0眼圖測試。山西USB物理層測試聯(lián)系人

USB物理層測試是否包括對引腳功能的測試？山西USB物理層測試聯(lián)系人

測試過程Tektronix示波器對于USB2.0這類接口的測試都有非常完善的測試解決方案，這些方案都是標準流程化的，只要進入到軟件測試界面即可按照流程圖一步一步的往下進行測試。下面是測試時的相關(guān)設(shè)置和注意事項：在測試前，首先要預(yù)熱、校準示波器（大約20分鐘）、線纜需要做de-skew。這一步非常的關(guān)鍵，特別是線纜做de-skew，因為很多時候線纜與線纜之間有一些偏差，如果不做de-skew就會導(dǎo)致在差分信號的正端和負端引入系統(tǒng)誤差。然后就開啟測試USB2.0軟件TDSUSB2TestApp，山西USB物理層測試聯(lián)系人