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青海機(jī)械MIPI測試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-02-19

通道管理層:包括時(shí)鐘切換模塊和數(shù)據(jù)融合電路,時(shí)鐘切換模塊主要為數(shù)據(jù)處理邏輯提供時(shí)鐘信號,高速接收時(shí)提供主機(jī)發(fā)送過來并進(jìn)行四分頻后的時(shí)鐘,低功耗傳輸時(shí)提供數(shù)據(jù)通道0總線異或而來的同步時(shí)鐘,TA傳輸時(shí)則提供本地時(shí)鐘作為電路的同步時(shí)鐘。數(shù)據(jù)融合模塊則將物理傳輸層輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行融合,并進(jìn)行多級緩存,以備協(xié)議層進(jìn)行數(shù)據(jù)的ECC、CRC檢測及數(shù)據(jù)解碼操作。

協(xié)議層:對數(shù)據(jù)進(jìn)行ECC和CRC檢測,并進(jìn)行數(shù)據(jù)包的解碼,輸出相應(yīng)的控制信號,若檢測到MIPI協(xié)議所規(guī)定的底層協(xié)議錯(cuò)誤,則標(biāo)志相應(yīng)的錯(cuò)誤標(biāo)志,在TA傳輸則進(jìn)行數(shù)據(jù)包的編碼發(fā)送到物理傳輸層。

應(yīng)用層:根據(jù)協(xié)議層數(shù)據(jù)包解碼結(jié)果,若是高速的圖像數(shù)據(jù),則將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成DPI格式輸出,若是低功耗數(shù)據(jù)或命令,則將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成DBI格式輸出。 MIP測試I接口到底是什么?青海機(jī)械MIPI測試

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一般來說,比較器的失調(diào)電壓主要是由于輸入管不完全對稱引起的。當(dāng)比較器存在輸入失調(diào)時(shí),流經(jīng)DPAIR2模塊中輸人對管的電流會不一致,從而造成流入NLOAD2模塊的電流大小也不一致。此時(shí)通過改變控制字,使itrimm電流與iconst電流大小不同,在NLOAD2模塊中通過電流鏡補(bǔ)償輸入對管引起的電流差異,使得vpp和vpn端口剩下的電流一致,從而實(shí)現(xiàn)offset補(bǔ)償。校準(zhǔn)時(shí),將比較器差分輸入端連接到地,通過對五位控制字從00000到11111掃描,再從11111到00000掃描,觀察比較器的輸出,從而得到合適的控制字,實(shí)現(xiàn)offset校準(zhǔn)。經(jīng)仿真表明,該電路可實(shí)現(xiàn)+/-30mV的失調(diào)電壓校準(zhǔn)。青海機(jī)械MIPI測試MIPI接口傳視頻速率;

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MIPI-DSI接口電路構(gòu)架

MIPI-DSI從機(jī)接口電路主要包括4個(gè)模塊:物理傳輸層模塊、通道管理層模塊、協(xié)議層模塊以及應(yīng)用層模塊。

物理傳輸層:接收時(shí)鐘通道、數(shù)據(jù)通道0和數(shù)據(jù)通道1的高擺幅低功耗序列信號,并進(jìn)行序列檢測,當(dāng)檢測到高速接收請求時(shí),時(shí)鐘通道接收高速率低擺幅的差分DDR時(shí)鐘信號,并進(jìn)行四分頻為數(shù)據(jù)處理邏輯提供并行數(shù)據(jù)傳輸時(shí)鐘,數(shù)據(jù)通道接收高速率低擺幅的差分?jǐn)?shù)據(jù)信號,并進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換輸出8位的并行數(shù)據(jù)到通道管理層,數(shù)據(jù)通道0在檢測進(jìn)入Escape模式時(shí),則接收高擺幅低速率的數(shù)據(jù)和命令,并進(jìn)行串并轉(zhuǎn)換輸出到通道管理層;在檢測到TA(turnaround)請求時(shí),則將從機(jī)的數(shù)據(jù)或命令進(jìn)行串行化,以數(shù)據(jù)通道0發(fā)送給主機(jī)。

(3)HS信號電平判決和建立/保持時(shí)間容限(GROUP3:HS-RXVOLTAGEANDSETUP/HOLDREQUIREMENTS):其中包含了被測件對于HS信號共模電壓、差分電壓、單端電壓、共模噪聲、建立/保持時(shí)間的容限測試等。(TestIDs:2.3.1,2.3.2,2.3.3,2.3.4,2.3.5,2.3.6,2.3.7.2.3.8)

(4)HS信號時(shí)序容限測試(GROUP4:HS-RXTIMERREQUIREMENTS):其中包含了對于HS和LP間狀態(tài)切換時(shí)的一系列時(shí)序參數(shù)的容限測試。(TestIDs;2.4.1,2.4.22.4.3,2.4.4,2.4.5,2.4.6,2.4.7,2.4.8,2.4.9,2.4.10,2.4.11)

D-PHY的接收端測試中,需要用到多通道的碼型發(fā)生以產(chǎn)生多通道的D-PHY的信號,碼型發(fā)生器需要在軟件的控制下改變HS/LP信號的電平、偏置、注入噪聲、改變時(shí)序關(guān)系等。圖13.13是以Agilent公司的81250并行誤碼儀平臺構(gòu)建的一套D-PHY信號的接收容限測試系統(tǒng)。 MIPI物理層一致性測試是一種用于檢測MIPI接口物理層性能是否符合規(guī)范的測試方法;

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關(guān)于MIPI測試一,

MIPI協(xié)議相關(guān)簡介

1,MIPI協(xié)議和聯(lián)盟MIPI協(xié)議,即移動產(chǎn)業(yè)處理器接口(MobileIndustryProcessorInterface簡稱MIPI)。MIPI是由諾基亞、ARM、意法半導(dǎo)體、德州儀器、英特爾、飛思卡爾等廠商聯(lián)盟發(fā)起的為移動應(yīng)用處理器制定的開放標(biāo)準(zhǔn)和一個(gè)規(guī)范。隨著客戶要求手機(jī)攝像頭像素越來越高同時(shí)要求高的傳輸速度傳統(tǒng)的并口傳輸越來越受到挑戰(zhàn)。提高并口傳輸?shù)妮敵鰰r(shí)鐘是一個(gè)辦法但會導(dǎo)致系統(tǒng)的EMC設(shè)計(jì)變得越來困難,增加傳輸線的位數(shù)是但是這又不符合小型化的趨勢。采用MIPI接口的模組相較于并口具有速度快、傳輸數(shù)據(jù)量大、功耗低、抗干擾好的優(yōu)點(diǎn)越來越受到客戶的青睞并在迅速增長。 MIPI規(guī)范為IIoT應(yīng)用程序提供了哪些好處;青海機(jī)械MIPI測試

MIPI CSI/DSI接口從物理層到協(xié)議層的整體測試方案;青海機(jī)械MIPI測試

在MIPI接口的高速接收單元中,高速比較器是部件。圖4是高速比較器的電路結(jié)構(gòu)。由于輸入數(shù)據(jù)是高
速低擺幅的信號(例如140mV),比較器的輸入失調(diào)電壓有可能會引起接收數(shù)據(jù)錯(cuò)誤,嚴(yán)重影響系統(tǒng)性能。
因此,該比較器增加了offset校準(zhǔn)功能,在每次進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸之前,對電路進(jìn)行一次校準(zhǔn),以減小輸入失調(diào)
電壓對系統(tǒng)性能的影響。
輸入失調(diào)電壓校準(zhǔn)是通過圖4中的CAL2模塊來實(shí)現(xiàn)。在這里,增加了iconst和itrimm兩路電流,其中ieonst
電流保持不變,itrimmm電流可通過五位控制信號進(jìn)行調(diào)節(jié),在默認(rèn)控制字10000時(shí),immm電流與iconst
大小相同,對應(yīng)的是沒有輸入失調(diào)的情況。

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