當(dāng)數(shù)字信號(hào)疊加形成眼圖以后，為了方便地區(qū)分信號(hào)在不同位置出現(xiàn)的概率大小，更多的時(shí)候會(huì)用彩色余暉的模式進(jìn)行信號(hào)的觀察。彩色余暉就是把信號(hào)在屏幕上不同位置出現(xiàn)的概率大小用相應(yīng)的顏色表示出來(lái)，這樣可以直觀地看出信號(hào)噪聲、抖動(dòng)等的分布情況。

對(duì)于眼圖的概念，有以下幾點(diǎn)比較重要：

（1）眼圖的波形的疊加：眼圖的測(cè)量方法不是對(duì)單一波形或特定比特位置的波形參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，而是把盡可能多的波形或比特疊加在一起，這樣可以看到信號(hào)的統(tǒng)計(jì)分布情況。只有差的信號(hào)都滿足我們對(duì)于信號(hào)的基本要求，才說(shuō)明信號(hào)質(zhì)量是可以接受的。 USB2.0接口眼圖測(cè)試設(shè)備步驟？廣東DDR測(cè)試眼圖測(cè)試DDR測(cè)試

示波器作為時(shí)域或數(shù)字電路信號(hào)測(cè)量與測(cè)試重要的儀器設(shè)備，本質(zhì)上是作為相對(duì)被測(cè)信號(hào)或系統(tǒng)的接收機(jī)在工作，因此其根本的價(jià)值在于真實(shí)還原或復(fù)現(xiàn)被測(cè)信號(hào)。在早年的并行總線電路系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和測(cè)試中主要扮演簡(jiǎn)單的信號(hào)檢測(cè)和調(diào)試的角色，而在的高速數(shù)字電路系統(tǒng)的研發(fā)和測(cè)試中扮演越來(lái)越重要的地位，已經(jīng)從簡(jiǎn)單的信號(hào)檢測(cè)與調(diào)試用途轉(zhuǎn)化為高速數(shù)字信號(hào)的處理和分析平臺(tái)，包括眼圖及抖動(dòng)分析和調(diào)試，均衡和去嵌處理等，以及終量產(chǎn)前的一致性(Compliance)測(cè)試即檢驗(yàn)產(chǎn)品是否符合出貨標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)然示波器還有另一重要使用場(chǎng)景在高速數(shù)據(jù)采集場(chǎng)合。為什么眼圖測(cè)量已經(jīng)成為高速串行數(shù)據(jù)測(cè)試的重要的項(xiàng)目？波形參數(shù)測(cè)試是數(shù)字信號(hào)質(zhì)量評(píng)估常用的測(cè)量方法，但是隨著數(shù)字信號(hào)速率的提高，靠幅度、上升時(shí)間等的波形參數(shù)的測(cè)量方法越來(lái)越不適用了。因此我們必須采用別的方法對(duì)于信號(hào)的質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估，對(duì)于高速數(shù)字信號(hào)來(lái)說(shuō)常用的就是眼圖的測(cè)量方法。所謂眼圖，實(shí)際上就是高速數(shù)字信號(hào)不同位置的數(shù)據(jù)比特按照時(shí)鐘的間隔疊加在一起自然形成的一個(gè)統(tǒng)計(jì)分布圖。廣東DDR測(cè)試眼圖測(cè)試DDR測(cè)試一種眼圖測(cè)試方法和眼圖測(cè)試系統(tǒng)？

DDR眼圖測(cè)試1-4

DDR4 做測(cè)試時(shí)，由于 BGA 信號(hào)難以探測(cè)，是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer，將 BGA 下方的信號(hào)引到 Interposer ，方便探頭焊接，為了減少 Interposer 對(duì)信號(hào)帶來(lái)影響，在 interposer 內(nèi)專門有埋阻設(shè)計(jì)，減少由于分支和走線帶來(lái)的阻抗不連續(xù)和對(duì)信號(hào)的負(fù)載效應(yīng)；但為了精確測(cè)量，我們需要對(duì) BGA Interposer 帶來(lái)的誤差進(jìn)行修正。可以通過(guò) InfiniiSim 或在 DDR4 一致性測(cè)試軟件N6462A 內(nèi)進(jìn)行去嵌，在軟件內(nèi)使用多端口拓?fù)淠Ｐ停d入 Interposer 的S 參數(shù)，生成從探頭測(cè)試點(diǎn)到 BGA 焊球位置的去嵌傳遞函數(shù)，在示波器中測(cè)得去嵌后的波形，下圖可以看到去嵌后信號(hào)眼圖的改善。

    理論分析得到如下幾條結(jié)論，在實(shí)際應(yīng)用中要以此為參考，從眼圖中對(duì)系統(tǒng)性能作一論述：（1）比較好抽樣時(shí)刻應(yīng)在“眼睛”張開(kāi)比較大的時(shí)刻。（2）對(duì)定時(shí)誤差的靈敏度可由眼圖斜邊的斜率決定。斜率越大，對(duì)定時(shí)誤差就越靈敏。（3）在抽樣時(shí)刻上，眼圖上下兩分支陰影區(qū)的垂直高度，表示比較大信號(hào)畸變。（4）眼圖**的橫軸位置應(yīng)對(duì)應(yīng)判決門限電平。（5）在抽樣時(shí)刻，上下兩分支離門限**近的一根線跡至門限的距離表示各相應(yīng)電平的噪聲容限，噪聲瞬時(shí)值超過(guò)它就可能發(fā)生錯(cuò)誤判決。（6）對(duì)于利用信號(hào)過(guò)零點(diǎn)取平均來(lái)得到定時(shí)信息的接收系統(tǒng)，眼圖傾斜分支與橫軸相交的區(qū)域的大小表示零點(diǎn)位置的變動(dòng)范圍，這個(gè)變動(dòng)范圍的大小對(duì)提取定時(shí)信息有重要的影響。 對(duì)符號(hào)波形序列所顯示的眼圖性能參數(shù)進(jìn)行度量的過(guò)程。

 DDR眼圖測(cè)試1-3

在早期設(shè)計(jì)階段，如何完整評(píng)價(jià)DDR信號(hào)質(zhì)量和時(shí)序等參數(shù)呢，這里為大家介紹一個(gè)設(shè)計(jì)到驗(yàn)證的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具，在ADS仿真后，生成波形可以直接導(dǎo)入到運(yùn)行于電腦里的示波器離線分析軟件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性測(cè)試套件，這個(gè)軟件可以分析前面所說(shuō)的JEDEC對(duì)DDR4信號(hào)要求的電氣和時(shí)序等參數(shù)，判斷是否符合規(guī)范要求，以測(cè)試報(bào)告形式呈現(xiàn)，這種方式可以在設(shè)計(jì)階段發(fā)現(xiàn)違規(guī)問(wèn)題，及時(shí)改進(jìn)設(shè)計(jì)，縮短研發(fā)周期，降低硬件開(kāi)發(fā)成本。另一方面，在硬件已經(jīng)打板回來(lái)，可以通過(guò)V系列等示波器測(cè)試信號(hào)，通過(guò)實(shí)際的信號(hào)檢查存在的問(wèn)題，將仿真的結(jié)果和實(shí)際測(cè)試的結(jié)果做相關(guān)對(duì)比，進(jìn)一步迭代優(yōu)化仿真模型和測(cè)量方法，使仿真和測(cè)試結(jié)果逐漸逼近。 眼圖測(cè)試分析系統(tǒng)參數(shù)？廣東DDR測(cè)試眼圖測(cè)試DDR測(cè)試

眼圖測(cè)試系統(tǒng)儀器儀表？廣東DDR測(cè)試眼圖測(cè)試DDR測(cè)試

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

Keysight(是德科技)、Agilent（安捷倫）、羅德與施瓦茨（R&S）、Tektronix、等海外有名品牌儀器儀表，其中包括：綜合測(cè)試儀、頻譜分析儀、綜合測(cè)試儀、噪聲源、網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號(hào)發(fā)生器、示波器、音頻分析儀等品質(zhì)電子儀器的銷售、租賃、維修、保養(yǎng)、校準(zhǔn)、等項(xiàng)目，是綜合技術(shù)服務(wù)型公司。克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室矩陣開(kāi)關(guān)，信號(hào)完整性測(cè)試、多端口矩陣測(cè)試、HDMI測(cè)試、USB測(cè)試、DDR測(cè)試等方面測(cè)試服務(wù)。 廣東DDR測(cè)試眼圖測(cè)試DDR測(cè)試