PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的  特點進(jìn)行了重新設(shè)計，上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓?fù)涠寂c早期的PCI類似，典型  的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) 、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴(kuò)展出來的，根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部，成為CPU重要的外部擴(kuò)展總線。PCIe  總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容。一種PCIE通道帶寬的測試方法;山西PCI-E測試市場價

其中，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導(dǎo)芯片設(shè)計；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會 再定義對于板卡設(shè)計的要求，比如板卡的機械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導(dǎo)服務(wù)器、計算機和插卡等系統(tǒng)設(shè)計人員的開 發(fā)。除了針對金手指連接類型的板卡，針對一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。廣東PCI-E測試眼圖測試為什么PCI-E3.0開始重視接收端的容限測試？

要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要調(diào)整很多參數(shù)，比如輸出信號的幅度、預(yù)加重、 差模噪聲、隨機抖動、周期抖動等，以滿足眼高、眼寬和抖動的要求。而且各個調(diào)整參數(shù)之間 也會相互制約，比如調(diào)整信號的幅度時除了會影響眼高也會影響到眼寬，因此各個參數(shù)的調(diào) 整需要反復(fù)進(jìn)行以得到 一個比較好化的組合。校準(zhǔn)中會調(diào)用PCI-SIG的SigTest軟件對信號 進(jìn)行通道模型嵌入和均衡，并計算的眼高和眼寬。如果沒有達(dá)到要求，會在誤碼儀中進(jìn) 一步調(diào)整注入的隨機抖動和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達(dá)到參數(shù)要求。

校準(zhǔn)完成后，在進(jìn)行正式測試前，很重要的一點就是要能夠設(shè)置被測件進(jìn)入環(huán)回模式。 雖然調(diào)試時也可能會借助芯片廠商提供的工具設(shè)置環(huán)回，但標(biāo)準(zhǔn)的測試方法還是要基于鏈  路協(xié)商和通信進(jìn)行被測件環(huán)回模式的設(shè)置。傳統(tǒng)的誤碼儀不具有對于PCle協(xié)議理解的功  能，只能盲發(fā)訓(xùn)練序列，這樣的缺點是由于沒有經(jīng)過正常的鏈路協(xié)商，可能會無法把被測件  設(shè)置成正確的狀態(tài)。現(xiàn)在一些新型的誤碼儀平臺已經(jīng)集成了PCIe的鏈路協(xié)商功能，能夠  真正和被測件進(jìn)行訓(xùn)練序列的溝通，除了可以有效地把被測件設(shè)置成正確的環(huán)回狀態(tài)，還可  以和對端被測設(shè)備進(jìn)行預(yù)加重和均衡的鏈路溝通。PCI-E 3.0數(shù)據(jù)速率的變化；

是用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行鏈路標(biāo)定的典型連接，具體的標(biāo)定步驟非常多，在PCIe4.0 Phy Test Specification文檔里有詳細(xì)描述，這里不做展開。

在硬件連接完成、測試碼型切換正確后，就可以對信號進(jìn)行捕獲和信號質(zhì)量分析。正式 的信號質(zhì)量分析之前還需要注意的是：為了把傳輸通道對信號的惡化以及均衡器對信號的 改善效果都考慮進(jìn)去，PCIe3.0及之后標(biāo)準(zhǔn)的測試中對其發(fā)送端眼圖、抖動等測試的參考點 從發(fā)送端轉(zhuǎn)移到了接收端。也就是說，測試中需要把傳輸通道對信號的惡化的影響以及均 衡器對信號的改善影響都考慮進(jìn)去。 PCI-e硬件科普:PCI-e到底是什么?山西PCI-E測試市場價

為什么沒有PCIE轉(zhuǎn)DP或hdmi？山西PCI-E測試市場價

由于每對數(shù)據(jù)線和參考時鐘都是差分的，所以主  板的測試需要同時占用4個示波器通道，也就是在進(jìn)行PCIe4.0的主板測試時示波器能夠  4個通道同時工作且達(dá)到25GHz帶寬。而對于插卡的測試來說，只需要把差分的數(shù)據(jù)通道  引入示波器進(jìn)行測試就可以了，示波器能夠2個通道同時工作并達(dá)到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機信號質(zhì)量測試環(huán)境。無論是對于發(fā)射機測試，還是對于后面要介紹到的接收機容限測試來說，在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中，都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對，每相鄰線對 間的插損相差0.5dB左右。由于測試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可能會不一致， 所以需要通過配合合適的ISI線對，使得ISI板上的Trace線加上測試電纜、測試夾具、轉(zhuǎn)接  頭等模擬出來的整個測試鏈路的插損滿足測試要求。比如，對于插卡的測試來說，對應(yīng)的主  板上的比較大鏈路損耗為20dB,所以ISI板上模擬的走線加上測試夾具、連接器、轉(zhuǎn)接頭、測  試電纜等的損耗應(yīng)該為15dB(另外5dB的主板上芯片的封裝損耗通過分析軟件進(jìn)行模擬)。 為了滿足這個要求，比較好的方法是使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)事先進(jìn)行鏈路標(biāo)定。山西PCI-E測試市場價