PCIe5.0物理層技術(shù)PCI-SIG組織于2019年發(fā)布了針對PCIe5.0芯片設(shè)計的Base規(guī)范，針對板卡設(shè)計的CEM規(guī)范也在2021年制定完成，同時支持PCIe5.0的服務(wù)器產(chǎn)品也在2021年開始上市發(fā)布。對于PCIe5.0測試來說，其鏈路的拓?fù)淠Ｐ团cPCIe4.0類似，但數(shù)據(jù)速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB、連接器的損耗更大，整個鏈路的損耗達(dá)到 - 36dB@16GHz,其中系統(tǒng)板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預(yù)算的模型。為什么PCI-E3.0的夾具和PCI-E2.0的不一樣？山西PCI-E測試項目

這么多的組合是不可能完全通過人工設(shè)置和調(diào)整  的，必須有一定的機(jī)制能夠根據(jù)實際鏈路的損耗、串?dāng)_、反射差異以及溫度和環(huán)境變化進(jìn)行  自動的參數(shù)設(shè)置和調(diào)整，這就是鏈路均衡的動態(tài)協(xié)商。動態(tài)的鏈路協(xié)商在PCIe3.0規(guī)范中  就有定義，但早期的芯片并沒有普遍采用；在PCIe4.0規(guī)范中，這個要求是強(qiáng)制的，而且很  多測試項目直接與鏈路協(xié)商功能相關(guān)，如果支持不好則無法通過一致性測試。圖4.7是  PCIe的鏈路狀態(tài)機(jī)，從設(shè)備上電開始，需要經(jīng)過一系列過程才能進(jìn)入L0的正常工作狀態(tài)。 其中在Configuration階段會進(jìn)行簡單的速率和位寬協(xié)商，而在Recovery階段則會進(jìn)行更  加復(fù)雜的發(fā)送端預(yù)加重和接收端均衡的調(diào)整和協(xié)商。山西PCI-E測試項目PCI-E硬件測試方法有那些辦法；

PCIe4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試發(fā)射機(jī)質(zhì)量是保證鏈路能夠可靠工作的先決條件，對于PCIe的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試來說，主要是用寬帶示波器捕獲其發(fā)出的信號并驗證其信號質(zhì)量滿足規(guī)范要求。按照目前規(guī)范中的要求，PCIe3.0的一致性測試需要至少12.5GHz帶寬的示波器；而對于PCIe4.0來說，由于數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,所以測試需要的示波器帶寬應(yīng)為25GHz或以上。如果要進(jìn)行主板的測試，測試規(guī)范推薦Dual-Port(雙口)的測試方式，即把被測的數(shù)據(jù)通道和參考時鐘同時接入示波器，這樣在進(jìn)行抖動分析時就可以把一部分參考時鐘中的抖動抵消掉，對于參考時鐘Jitter的要求可以放松一些。

SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供，會對信號進(jìn)行時鐘恢復(fù)、均衡以及眼圖、抖 動的分析。由于PCIe4.0的接收機(jī)支持多個不同幅度的CTLE均衡，而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整，所以SigTest軟件會遍歷所有的CTLE值并進(jìn)行DFE的優(yōu)化，并 根據(jù)眼高、眼寬的結(jié)果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號質(zhì)量測試 結(jié)果。SigTest需要用戶手動設(shè)置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進(jìn)行后分析，測試效率 比較低，而且對于不熟練的測試人員還可能由于設(shè)置疏忽造成測試結(jié)果的不一致，測試項目 也主要限于信號質(zhì)量與Preset相關(guān)的項目。為了提高PCIe測試的效率和測試項目覆蓋 率，有些示波器廠商提供了相應(yīng)的自動化測試軟件。PCI-E 3.0測試接收端的變化；

P5 、8Gbps   P6 、8Gbps   P7 、8Gbps   P8 、8GbpsP9 、8Gbps   P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps   P2 、16Gbps   P3 、16Gbps   P4 、16Gbps   P5 、16Gbps   P6 、16GbpsP7 、16Gbps   P8 、16Gbps   P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點是，由于在8Gbps和16Gbps下都有11種  Preset值，測試過程中應(yīng)明確當(dāng)前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、Preset0等) 。由于手動通過夾具的Toggle按鍵進(jìn)行切換操作非常煩瑣，特別是一些Preset相關(guān)的測試項目中需要頻繁切換，為了提高效率，也可以通過夾具上的 SMP跳線把Toggle信號設(shè)置成使用外部信號，這樣就可以通過函數(shù)發(fā)生器或者有些示波 器自身輸出的Toggle信號來自動控制被測件切換。PCI-E4.0的標(biāo)準(zhǔn)什么時候推出？有什么變化？山西PCI-E測試項目

pcie物理層面檢測,pcie時序測試；山西PCI-E測試項目

隨著數(shù)據(jù)速率的提高，芯片中的預(yù)加重和均衡功能也越來越復(fù)雜。比如在PCle 的1代和2代中使用了簡單的去加重(De-emphasis)技術(shù)，即信號的發(fā)射端(TX)在發(fā)送信 號時對跳變比特(信號中的高頻成分)加大幅度發(fā)送，這樣可以部分補償傳輸線路對高 頻成分的衰減，從而得到比較好的眼圖。在1代中采用了-3.5dB的去加重，2代中采用了 -3.5dB和-6dB的去加重。對于3代和4代技術(shù)來說，由于信號速率更高，需要采用更加 復(fù)雜的去加重技術(shù)，因此除了跳變比特比非跳變比特幅度增大發(fā)送以外，在跳變比特的前 1個比特也要增大幅度發(fā)送，這個增大的幅度通常叫作Preshoot。為了應(yīng)對復(fù)雜的鏈路環(huán)境，山西PCI-E測試項目