JEDEC組織發(fā)布的主要的DDR相關(guān)規(guī)范，對發(fā)布時間、工作頻率、數(shù)據(jù) 位寬、工作電壓、參考電壓、內(nèi)存容量、預取長度、端接、接收機均衡等參數(shù)做了從DDR1 到 DDR5的電氣特性詳細對比?？梢钥闯鯠DR在向著更低電壓、更高性能、更大容量方向演 進，同時也在逐漸采用更先進的工藝和更復雜的技術(shù)來實現(xiàn)這些目標。以DDR5為例，相 對于之前的技術(shù)做了一系列的技術(shù)改進，比如在接收機內(nèi)部有均衡器補償高頻損耗和碼間 干擾影響、支持CA/CS訓練優(yōu)化信號時序、支持總線反轉(zhuǎn)和鏡像引腳優(yōu)化布線、支持片上 ECC/CRC提高數(shù)據(jù)訪問可靠性、支持Loopback(環(huán)回)便于IC調(diào)測等。DDR、DDR2、DDR3、DDR4都有什么區(qū)別？安徽DDR一致性測試調(diào)試

工業(yè)規(guī)范標準，Specification:如果所設計的功能模塊要實現(xiàn)某種工業(yè)標準接口或者協(xié)議，那一定要找到相關(guān)的工業(yè)規(guī)范標準，讀懂規(guī)范之后，才能開始設計。

因此，為實現(xiàn)本設計實例中的DDR模塊，需要技術(shù)資料和文檔。

由于我們要設計DDR存諸模塊，那么在所有的資料當中，應該較早了解DDR規(guī)范。通過對DDR規(guī)范文件JEDEC79R]的閱讀，我們了解到，設計一個DDR接口，需要滿足規(guī)范中規(guī)定的DC，AC特性及信號時序特征。下面我們從設計規(guī)范要求和器件本身特性兩個方面來解讀，如何在設計中滿足設計要求。 校準DDR一致性測試信號完整性測試DDR4 和 LPDDR4 一致性測試應用軟件提供了多種可以簡化設計驗證的關(guān)鍵功能。

DDR5的接收端容限測試

前面我們在介紹USB3 . 0、PCIe等高速串行總線的測試時提到過很多高速的串行總線 由于接收端放置有均衡器，因此需要進行接收容限的測試以驗證接收均衡器和CDR在惡劣 信 號 下 的 表 現(xiàn) 。 對 于 D D R 來 說 ， D D R 4 及 之 前 的 總 線 接 收 端 還 相 對 比 較 簡 單 ， 只 是 做 一 些 匹配、時延、閾值的調(diào)整。但到了DDR5時代(圖5 . 19),由于信號速率更高，因此接收端也 開 始 采 用 很 多 高 速 串 行 總 線 中 使 用 的 可 變 增 益 調(diào) 整 以 及 均 衡 器 技 術(shù) ， 這 也 使 得 D D R 5 測 試 中必須關(guān)注接收均衡器的影響，這是之前的DDR測試中不曾涉及的。

由于讀/寫時序不一樣造成的另一個問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒 有要求進行眼圖測試，但是很多時候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號質(zhì)量的方法，所以 許多用戶希望通過眼圖來評估信號質(zhì)量。而對于DDR4的信號來說，由于時間和幅度的余量更小，必須考慮隨機抖動和隨機噪聲帶來的誤碼率的影響，而不是做簡單的建立/保  持時間的測量。因此在DDR4的測試要求中，就需要像很多高速串行總線一樣對信號疊加  生成眼圖，并根據(jù)誤碼率要求進行隨機成分的外推，然后與要求的小信號張開窗口(類似  模板)進行比較。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料： JEDEC     STANDARD    DDR4     SDRAM,JESD79-4)。DDR4 和 LPDDR4 合規(guī)性測試軟件。

(2)根據(jù)讀/寫信號的幅度不同進行分離。如果PCB走線長度比較 長，在不同位置測試時可能讀/寫信號的幅度不太一樣，可以基于幅度進行觸發(fā)分離。但是 這種方法對于走線長度不長或者讀/寫信號幅度差別不大的場合不太適用。

(3)根據(jù)RAS、CAS、CS、WE等控制信號進行分離。這種方法使用控制信號的讀/寫  來判決當前的讀寫指令，是可靠的方法。但是由于要同時連接多個控制信號以及Clk、 DQS、DQ等信號，要求示波器的通道數(shù)多于4個，只有帶數(shù)字通道的混合信號示波器才能  滿足要求，而且數(shù)字通道的采樣率也要比較高。圖5.11是用帶高速數(shù)字通道的示波器觸發(fā)  并采集到的DDR信號波形。 DDR4 和 LPDDR4 發(fā)射機一致性測試應用軟件的技術(shù)指標。遼寧DDR一致性測試安裝

DDR4協(xié)議/功能調(diào)試和分析參考解決方案。安徽DDR一致性測試調(diào)試

大部分的DRAM都是在一個同步時鐘的控制下進行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時鐘采樣方式的不同，又分為SDR   SDRAM(Single Data Rate SDRAM)和DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM) 。SDR  SDRAM只在時鐘的上升或者下降沿進行數(shù)據(jù)采樣，而DDR SDRAM在時鐘的上升和下降 沿都會進行數(shù)據(jù)采樣。采用DDR方式的好處是時鐘和數(shù)據(jù)信號的跳變速率是一樣的，因 此晶體管的工作速度以及PCB的損耗對于時鐘和數(shù)據(jù)信號是一樣的。安徽DDR一致性測試調(diào)試