為了進(jìn)行更簡單的讀寫分離,Agilent的Infiniium系列示波器提供了一種叫作InfiniiScan 的功能,可以通過區(qū)域(Zone)定義的方式把讀寫數(shù)據(jù)可靠分開。
根據(jù)讀寫數(shù)據(jù)的建立保持時(shí)間不同,Agilent獨(dú)有的InfiniiScan功能可以通過在屏幕上畫 出幾個(gè)信號(hào)必須通過的區(qū)域的方式方便地分離出讀、寫數(shù)據(jù),并進(jìn)一步進(jìn)行眼圖的測試。
信號(hào)的眼圖。用同樣的方法可以把讀信號(hào)的眼圖分離出來。
除了形成眼圖外,我們還可以利用示波器的模板測量功能對(duì)眼圖進(jìn)行定量分析,
用戶可以根據(jù)JEDEC的要求自行定義一個(gè)模板對(duì)讀、寫信號(hào)進(jìn)行模板測試,如 果模板測試Fail,則還可以利用Agilent示波器提供的模板定位功能定位到引起Fail的波形段。 DDR 設(shè)計(jì)和測試解決方案;眼圖測試DDR一致性測試HDMI測試
我們看到,在用通用方法進(jìn)行的眼圖測試中,由于信號(hào)的讀寫和三態(tài)都混在一起,因此很難對(duì)信號(hào)質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估。要進(jìn)行信號(hào)的評(píng)估,第1步是要把讀寫信號(hào)分離出來。傳統(tǒng)上有幾種方法用來進(jìn)行讀寫信號(hào)的分離,但都存在一定的缺陷??梢岳米x寫Preamble的寬度不同用脈沖寬度觸發(fā),但由于JEDEC只規(guī)定了WritePreamble寬度的下限,因此不同芯片間Preamble的寬度可能是不同的,而且如果Read/Write的Preamble的寬度一樣,則不能進(jìn)行分離。也可以利用讀寫信號(hào)的幅度不同進(jìn)行分離,如圖7-138中間 的圖片所示,但是如果讀寫信號(hào)幅度差別不大,則也不適用6還可以根據(jù)RAS、CAS、CS、 WE等控制信號(hào)來分離讀寫,但這種方法要求通道數(shù)多于4個(gè),只 有帶數(shù)字通道的MSO示波器才能滿足要求,比如Agilent的MS09000A系列或者 MSOX90000A系列,對(duì)于用戶示波器的要求比較高。云南DDR一致性測試調(diào)試DDR4協(xié)議/功能調(diào)試和分析參考解決方案。
DDR地址、命令總線的一致性測試
DDR的地址、命令總線的信號(hào)完整性測試主要測試其波形和時(shí)序參數(shù)。地址總線An、 命令總線/RAS、/CAS、/WE、/CS需要測試的信號(hào)品質(zhì)主要包括:Vmax (最大電壓值);Vmin (小電壓值);Overshoot (過沖)和Undershoot (下沖)的持續(xù)時(shí)間的大值;Slew Rate (斜率);Ringback (回溝)等。還需要測試相對(duì)于時(shí)鐘邊沿的Setup Time (建立時(shí)間)和Hold Time (保持時(shí)間)。建立時(shí)間和保持時(shí)間的定義如圖7.134所示,其中加為建立時(shí)間,如為 保持時(shí)間,針對(duì)DDR400,加和如為0.7ns。
克勞德高速數(shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室
DDR SDRAM即我們通常所說的DDR內(nèi)存,DDR內(nèi)存的發(fā)展已經(jīng)經(jīng)歷了五代,目前 DDR4已經(jīng)成為市場的主流,DDR5也開始進(jìn)入市場。對(duì)于DDR總線來說,我們通常說的 速率是指其數(shù)據(jù)線上信號(hào)的快跳變速率。比如3200MT/s,對(duì)應(yīng)的工作時(shí)鐘速率是 1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數(shù)據(jù)線上比較高傳輸速率,由于在DDR總線 上會(huì)有讀寫間的狀態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí)間、高阻態(tài)時(shí)間、總線刷新時(shí)間等,因此其實(shí)際的總線傳輸速率 達(dá)不到這個(gè)理想值。 DDR讀寫眼圖分離的InfiniiScan方法?
測試軟件運(yùn)行后,示波器會(huì)自動(dòng)設(shè)置時(shí)基、垂直增益、觸發(fā)等參數(shù)進(jìn)行測量并匯總成一 個(gè)測試報(bào)告,測試報(bào)告中列出了測試的項(xiàng)目、是否通過、spec的要求、實(shí)測值、margin等。 自動(dòng)測試軟件進(jìn)行DDR4眼圖睜開度測量的一個(gè)例子。信號(hào)質(zhì)量的測試還可以 輔 助 用 戶 進(jìn) 行 內(nèi) 存 參 數(shù) 的 配 置 , 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能,用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,并分析對(duì)信號(hào)質(zhì) 量的影響。
除了一致性測試以外,DDR測試軟件還可以支持調(diào)試功能。比如在某個(gè)關(guān)鍵參數(shù)測試 失敗后,可以針對(duì)這個(gè)參數(shù)進(jìn)行Debug。此時(shí),測試軟件會(huì)捕獲、存儲(chǔ)一段時(shí)間的波形并進(jìn) 行參數(shù)統(tǒng)計(jì),根據(jù)統(tǒng)計(jì)結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時(shí)對(duì)應(yīng)的波形位置, DDR2 3 4物理層一致性測試;云南DDR一致性測試調(diào)試
DDR1 電氣一致性測試應(yīng)用軟件。眼圖測試DDR一致性測試HDMI測試
由于讀/寫時(shí)序不一樣造成的另一個(gè)問題是眼圖的測量。在DDR3及之前的規(guī)范中沒 有要求進(jìn)行眼圖測試,但是很多時(shí)候眼圖測試是一種快速、直觀衡量信號(hào)質(zhì)量的方法,所以 許多用戶希望通過眼圖來評(píng)估信號(hào)質(zhì)量。而對(duì)于DDR4的信號(hào)來說,由于時(shí)間和幅度的余量更小,必須考慮隨機(jī)抖動(dòng)和隨機(jī)噪聲帶來的誤碼率的影響,而不是做簡單的建立/保 持時(shí)間的測量。因此在DDR4的測試要求中,就需要像很多高速串行總線一樣對(duì)信號(hào)疊加 生成眼圖,并根據(jù)誤碼率要求進(jìn)行隨機(jī)成分的外推,然后與要求的小信號(hào)張開窗口(類似 模板)進(jìn)行比較。圖5 . 8是DDR4規(guī)范中建議的眼圖張開窗口的測量方法(參考資料: JEDEC STANDARD DDR4 SDRAM,JESD79-4)。眼圖測試DDR一致性測試HDMI測試