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高抗局部放電怎么抑制

來源: 發(fā)布時間:2024-10-19

基于TF-Map譜圖分析技術(shù)的局部放電診斷流程(如下圖7所示):監(jiān)測系統(tǒng)采樣現(xiàn)場的信號(局部放電、噪聲干擾等),并生成PRPD譜圖;將每一個局部放電脈沖按其特征映射到TF-Map譜圖中,具有關(guān)聯(lián)時間和頻率屬性的“同質(zhì)脈沖簇”可以比較容易地被分離,從而實現(xiàn)分類不同地局部放電類型和噪聲干擾。依照原PRPD譜圖,繪制每個“同質(zhì)脈沖簇”相對應(yīng)地每一類局部放電或噪聲干擾的Sub-PRPD譜圖。根據(jù)典型故障放電類型數(shù)據(jù)庫,對每一個“干凈”的Sub-PRPD譜圖進(jìn)行識別和診斷。杭州GIS局部放電在線監(jiān)測工作原理。高抗局部放電怎么抑制

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長期以來,進(jìn)行變壓器/電抗器OLTC的測試一直采用直流方法測試,所獲取的波形與OLTC制造商例行測試波形進(jìn)行比對,對OLTC現(xiàn)場測試起到了一定作用。由于OLTC制造商在車間例行測試是對裸開關(guān)進(jìn)行測試,現(xiàn)場是變壓器帶繞組進(jìn)行的測試,兩者差異很大。直流方法測試受測試技術(shù)方法和技術(shù)能力限制,現(xiàn)場OLTC測試有時會出現(xiàn)波形無法判讀等問題,各方面工程技術(shù)人員爭議很大,表現(xiàn)在以下幾個方面:2.2.1直流測試法*適用于繞組中性點處并有中性點抽出的OLTC測試,對繞組中性點以外其它位置(線端、中部等)處的OLTC及單相變壓器OLTC不能測試。2.2.2直流測試由于其測試原理、技術(shù)能力等原因,有時測試獲取的波形與制造商給出的波形差異較大,無法給出準(zhǔn)確分析結(jié)論,OLTC反復(fù)吊出檢查與測試,影響新設(shè)備、大修后設(shè)備投運(yùn)。為防止OLTC事故,甚至將無法判定OLTC是否存在缺陷的變壓器改做無載調(diào)壓變壓器運(yùn)行。2.2.3部分直流測試波形異常無法判定OLTC動作特性正常,以制造商質(zhì)量承諾投入運(yùn)行,不能保證OLTC的安全運(yùn)行。2.2.4變壓器設(shè)計上新技術(shù)采用,以及電抗式、真空斷路器式等的OLTC使用,直流測試方法無法完全滿足現(xiàn)場測試需要。2.3交流測試法的特點高壓開關(guān)柜局部放電產(chǎn)生的溫度GZPD-4D系列分布式局部放電監(jiān)測與評價系統(tǒng)功能特點。

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?支持脈沖波形、波形頻譜、PRPD圖譜、TF-Map、3-PARD、放電基本參數(shù)(放電幅值、相位、頻次等)實時顯示;?采用濾波電路、數(shù)字濾波器、TF-Map篩選、分組篩選四重抗干擾技術(shù);?系統(tǒng)采集軟件及分析軟件一體化設(shè)計,支持一鍵式安裝;?可調(diào)參數(shù)**小化,便于現(xiàn)場快速設(shè)置及采集,自動更新參數(shù)后采集及存儲數(shù)據(jù);?具備低通(LPF)、高通(HPF)及帶通(BPF)多種數(shù)字濾波器及帶寬選擇功能;?具備采集數(shù)據(jù)自動保存、信號回放、趨勢分析、歷史數(shù)據(jù)查詢等功能;?采用分布式組網(wǎng)技術(shù),支持32個數(shù)據(jù)采集點同步開展監(jiān)測(可根據(jù)需求擴(kuò)展),可完成15km的高壓電纜耐壓試驗時的局放監(jiān)測;?采用高可靠性、高安全性云服務(wù)器(ECS),支持高網(wǎng)絡(luò)包收發(fā)、海量數(shù)據(jù)存儲及多客戶端訪問,技術(shù)人員和**可隨時提供技術(shù)支持,分布式組網(wǎng)及IP、指令、數(shù)據(jù)傳輸

局部放電(PD)是電力設(shè)備絕緣老化過程中的重要表征之一,它與絕緣材料的老化有著密切的聯(lián)系。隨著設(shè)備的運(yùn)行和時間的推移,絕緣材料會因為熱應(yīng)力、電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力、環(huán)境因素(如溫度、濕度、化學(xué)腐蝕等)以及紫外線照射等原因發(fā)生老化。絕緣老化會導(dǎo)致材料性能下降,局部電場分布不均,從而增加局部放電的發(fā)生概率和強(qiáng)度。

局部放電與絕緣老化的關(guān)系研究通常包括以下方面:局部放電特性的長期跟蹤監(jiān)測,以了解其隨時間的變化趨勢。局部放電信號的定量分析,包括放電脈沖的數(shù)量、形狀、幅度和能量等參數(shù)。絕緣老化機(jī)理的實驗研究,通過加速老化試驗來模擬和研究絕緣材料的劣化過程。絕緣老化模型的建立,利用統(tǒng)計分析和數(shù)據(jù)挖掘技術(shù)來預(yù)測絕緣材料的老化壽命和局部放電行為。預(yù)防性維護(hù)策略的制定,基于局部放電監(jiān)測和絕緣老化評估結(jié)果來優(yōu)化設(shè)備的維護(hù)和更換計劃。 GZPD-4D系列分布式局部放電監(jiān)測與評價系統(tǒng)校準(zhǔn)報告。

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局部放電的增加通常意味著絕緣材料的劣化,可能是由以下幾種機(jī)制引起的:電樹放電:絕緣材料中的微小缺陷(如氣泡、裂紋或雜質(zhì))在電場作用下形成電樹。電樹的生長會改變絕緣材料的電場分布,導(dǎo)致局部放電活動加劇。介質(zhì)斷裂:長期的電應(yīng)力作用可能導(dǎo)致絕緣材料中的化學(xué)鍵斷裂,形成導(dǎo)電通路,從而引起局部放電。表面老化:絕緣表面由于環(huán)境因素(如氧化、水解)的影響,可能會形成導(dǎo)電層或污染物,這些都可能成為局部放電的源頭。內(nèi)部缺陷發(fā)展:絕緣材料內(nèi)部的微裂紋或空洞在電場作用下可能擴(kuò)展,形成放電通道。局部放電控制的重要性是什么?低壓局部放電故障種類

局部放電是在絕緣系統(tǒng)不連續(xù)時引起的。高抗局部放電怎么抑制

三、遵循標(biāo)準(zhǔn)(但不限于下列標(biāo)準(zhǔn))2.1GB/T7354高電壓試驗技術(shù)局部放電測量;2.2DL/T417電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場測量導(dǎo)則;2.3DL/T846.4高電壓測試設(shè)備通用技術(shù)條件第4部分:脈沖電流法局部放電測量儀;2.4DL/T846.10高電壓測試設(shè)備通用技術(shù)條件第10部分:暫態(tài)地電壓局部放電檢測儀;2.5DL/T846.11高電壓測試設(shè)備通用技術(shù)條件第11部分:特高頻局部放電檢測儀;2.6DL/T1250氣體絕緣金屬封閉開關(guān)設(shè)備帶電超聲局部放電檢測應(yīng)用導(dǎo)則;2.7DL/T1416超聲波法局部放電測試儀通用技術(shù)條件;2.8DL/T1630氣體絕緣金屬封閉開關(guān)設(shè)備局部放電特高頻檢測技術(shù)規(guī)范;2.9Q/GDW11059.1超聲波法局部放電帶電檢測技術(shù)現(xiàn)場應(yīng)用導(dǎo)則高抗局部放電怎么抑制