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  • UV紫外線(xiàn)老化可靠性測(cè)試CNAS檢測(cè)報(bào)告
    UV紫外線(xiàn)老化可靠性測(cè)試CNAS檢測(cè)報(bào)告

    可靠性測(cè)試是什么 為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性試驗(yàn)。對(duì)于不同的產(chǎn)品,為了達(dá)到不同的目的,可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法??煽啃詼y(cè)試:也稱(chēng)產(chǎn)品的可靠性評(píng)估,產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過(guò)程中,不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響,而仍需要能夠正常工作,這就需要以試驗(yàn)設(shè)備對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證,這個(gè)驗(yàn)證基本分為研發(fā)試驗(yàn)、試產(chǎn)試驗(yàn)、量產(chǎn)抽檢三個(gè)部分??煽啃栽囼?yàn)包括:老化試驗(yàn)、溫濕度試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn)、機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)和跌落試驗(yàn)、防塵防水試驗(yàn)以及包裝壓力試驗(yàn)等多項(xiàng)環(huán)境可靠性試驗(yàn) 材料可靠性測(cè)試的**價(jià)值是在產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在...

  • 可靠性測(cè)試公司
    可靠性測(cè)試公司

    反復(fù)短路測(cè)試 在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路,模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮,反復(fù)多次短路,故障排除后,模塊應(yīng)該能自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行。 A、空載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從空載到短路,模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊反復(fù)從空載到短路不斷的工作,短路時(shí)間為1s,放開(kāi)時(shí)間為1s,持續(xù)時(shí)間為2小時(shí)。這以后,短路放開(kāi),判斷模塊是否能夠正常工作。 B、滿(mǎn)載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從滿(mǎn)載到短路,模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊從滿(mǎn)載到短路然后保持短路狀態(tài)2小時(shí)。然后短路放開(kāi),判斷模塊是否能夠正常工作。 C、短路開(kāi)...

  • 振動(dòng)沖擊可靠性測(cè)試上海檢測(cè)公司
    振動(dòng)沖擊可靠性測(cè)試上海檢測(cè)公司

    電源模塊測(cè)試中的可靠性測(cè)試方法 1反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試 測(cè)試方法:   A、輸入電壓為220V,電源模塊快帶較大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作;   B、輸入電壓為過(guò)壓點(diǎn)-5V,電源模塊帶較大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作;   C、輸入電壓為欠壓點(diǎn)-5V,電源模塊帶更大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作??煽啃栽囼?yàn)測(cè)試的目的...

  • 低氣壓可靠性測(cè)試
    低氣壓可靠性測(cè)試

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 11、傾跌與翻倒: 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995,IEC 60068-2-31:1982。 12、砂塵試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.37-2006,IEC 60068-2-68:1994 只做:方法La2:恒定氣壓。 13、鹽霧試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012,IEC 60068-2-52:1996; 人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽...

  • 跌落可靠性測(cè)試
    跌落可靠性測(cè)試

    MTBF驗(yàn)證實(shí)驗(yàn):MTBF是當(dāng)前各行業(yè)產(chǎn)品的重要可靠性指標(biāo),它標(biāo)識(shí)了產(chǎn)品的平均無(wú)故障工作時(shí)間。MTBF英文全稱(chēng)是“MeanTimeBetweenFailure”。是衡量一個(gè)產(chǎn)品(尤其是電器產(chǎn)品)的可靠性指標(biāo)。單位為“小時(shí)”。它反映了產(chǎn)品的時(shí)間質(zhì)量,是體現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)保持功能的一種能力。具體來(lái)說(shuō),是指相鄰兩次故障之間的平均工作時(shí)間,也稱(chēng)為平均故障間隔。概括地說(shuō),產(chǎn)品故障少的就是可靠性高,產(chǎn)品的故障總數(shù)與壽命單位總數(shù)之比叫“故障率”(Failurerate)。根據(jù)MTBF能計(jì)算產(chǎn)品的失效率(Failurerate)故障率(Failurerate):在單位時(shí)間內(nèi)(一般以年為單位),產(chǎn)...

  • 低氣壓可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
    低氣壓可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司振動(dòng)測(cè)試: 系統(tǒng)整機(jī)振動(dòng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) GBT2423.56 隨機(jī)振動(dòng)&包裝振動(dòng) 1.Test PSD1: 0.002G2/Hz, 1Grms for HDD 2.Test PSD2: 0.008G2/Hz, 2Grms for SSD 3.Test PSD3: 0.0147G2/Hz, 2.16Grms for package 4.Test Frequency: 5-500Hz 5.Test Axis: X, Y and Z axis 6.Test Time: 1Hr per axis GBT2423.10 正弦振動(dòng) 1.Test Acceleration: 2G 2.T...

  • 手表可靠性測(cè)試方案
    手表可靠性測(cè)試方案

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 5、振動(dòng)試驗(yàn): 振動(dòng)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動(dòng) 混合模式 只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006。只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng)(正弦)只做:頻率2Hz~3000Hz,位移≤51mm, 載荷≤3000kg。 6、溫度變化試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方...

  • 上海硬件可靠性測(cè)試
    上海硬件可靠性測(cè)試

    電源模塊測(cè)試中的可靠性測(cè)試方法 1反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試 測(cè)試方法:   A、輸入電壓為220V,電源模塊快帶較大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作;   B、輸入電壓為過(guò)壓點(diǎn)-5V,電源模塊帶較大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作;   C、輸入電壓為欠壓點(diǎn)-5V,電源模塊帶更大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作??煽啃栽囼?yàn)的目的是什...

  • 老化可靠性測(cè)試報(bào)告
    老化可靠性測(cè)試報(bào)告

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司是從事工業(yè)與消費(fèi)產(chǎn)品測(cè)試,檢驗(yàn)與驗(yàn)證并具有第三方公正地位的專(zhuān)業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)室已取得中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書(shū)(CNAS ),國(guó)家計(jì)量資質(zhì)認(rèn)定證書(shū)(CMA )和國(guó)際運(yùn)輸安全協(xié)會(huì)認(rèn)證(ISTA ),實(shí)驗(yàn)室依照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025:2005《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》管理和運(yùn)行,具備向社會(huì)出具公正性檢測(cè)報(bào)告的資格。 可靠性試驗(yàn),是指通過(guò)試驗(yàn)測(cè)定和驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性。為了測(cè)定、驗(yàn)證或提高產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性試驗(yàn),它是產(chǎn)品可靠性工作的一個(gè)重要環(huán)節(jié) 在研制階段使產(chǎn)品達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)。為了使產(chǎn)品能達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo),在研制階段需要對(duì)樣...

  • 電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試試驗(yàn)
    電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試試驗(yàn)

    電源模塊測(cè)試中的可靠性測(cè)試方法 1反復(fù)開(kāi)關(guān)機(jī)測(cè)試 測(cè)試方法:   A、輸入電壓為220V,電源模塊快帶較大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作;   B、輸入電壓為過(guò)壓點(diǎn)-5V,電源模塊帶較大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作;   C、輸入電壓為欠壓點(diǎn)-5V,電源模塊帶更大負(fù)載,用接觸器控制電壓輸入,合15s,斷開(kāi)5s(或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬),連續(xù)運(yùn)行2小時(shí),電源模塊應(yīng)能正常工作??煽啃詼y(cè)試有什么意義...

  • 電機(jī)可靠性測(cè)試
    電機(jī)可靠性測(cè)試

    振動(dòng)測(cè)試 GB/T 2423.56 IEC 60068-2-64 ASTM D4728 … 沖擊測(cè)試 GB/T2423.5 IEC60068-2-27 EIA-364-27 … 碰撞測(cè)試 IEC 60068-2-27 GB/T 2423.6 GB/T 4857.20 跌落測(cè)試 GB/T 2423.8 ISO 2248 GB/T 4857.5 RCA紙帶摩擦測(cè)試 ASTM F 2357 酒精,橡皮,鉛筆摩擦測(cè)試 GB/T 6739 ASTM D 3363 接觸電阻測(cè)試 EIA-364-23 EIA-364-06 MIL-...

  • 上海振動(dòng)沖擊可靠性測(cè)試
    上海振動(dòng)沖擊可靠性測(cè)試

    反復(fù)短路測(cè)試 在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路,模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮,反復(fù)多次短路,故障排除后,模塊應(yīng)該能自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行。 A、空載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從空載到短路,模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊反復(fù)從空載到短路不斷的工作,短路時(shí)間為1s,放開(kāi)時(shí)間為1s,持續(xù)時(shí)間為2小時(shí)。這以后,短路放開(kāi),判斷模塊是否能夠正常工作。 B、滿(mǎn)載到短路:在輸入電壓全范圍內(nèi),將模塊從滿(mǎn)載到短路,模塊應(yīng)能正常實(shí)現(xiàn)輸出限流或回縮,短路排除后,模塊應(yīng)能恢復(fù)正常工作。讓模塊從滿(mǎn)載到短路然后保持短路狀態(tài)2小時(shí)。然后短路放開(kāi),判斷模塊是否能夠正常工作。 C、短路開(kāi)...

  • 低氣壓可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室
    低氣壓可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

    上海天梯檢測(cè),輸入低壓點(diǎn)循環(huán)測(cè)試 一次電源模塊的輸入欠壓點(diǎn)保護(hù)的設(shè)置回差,往往發(fā)生以下情況:輸入電壓較低,接近一次電源模塊欠壓點(diǎn)關(guān)斷,帶載時(shí)欠壓,斷后,由于電源內(nèi)阻原因,負(fù)載卸掉后電壓將上升,可能造成一次電源模塊處于在低壓時(shí)反復(fù)開(kāi)發(fā)的狀態(tài)。 電源模塊帶滿(mǎn)載運(yùn)行,輸入電壓從(輸入欠壓點(diǎn)-3V)到(輸入欠壓點(diǎn)+3V)緩慢變化,時(shí)間設(shè)置為5~8分鐘,反復(fù)循環(huán)運(yùn)行,電源模塊應(yīng)能正常穩(wěn)定工作,連續(xù)運(yùn)行較少0.5小時(shí),電源模塊性能無(wú)明顯變化。第三方可靠性測(cè)試公司,歡迎咨詢(xún)上海天梯!低氣壓可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?要包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度快速變化試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、恒定...

  • 上??煽啃詼y(cè)試國(guó)家認(rèn)可機(jī)構(gòu)
    上海可靠性測(cè)試國(guó)家認(rèn)可機(jī)構(gòu)

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司是從事工業(yè)與消費(fèi)產(chǎn)品測(cè)試,檢驗(yàn)與驗(yàn)證并具有第三方公正地位的專(zhuān)業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)室已取得中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書(shū)(CNAS ),國(guó)家計(jì)量資質(zhì)認(rèn)定證書(shū)(CMA )和國(guó)際運(yùn)輸安全協(xié)會(huì)認(rèn)證(ISTA ),實(shí)驗(yàn)室依照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025:2005《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》管理和運(yùn)行,具備向社會(huì)出具公正性檢測(cè)報(bào)告的資格。 可靠性試驗(yàn),是指通過(guò)試驗(yàn)測(cè)定和驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性。為了測(cè)定、驗(yàn)證或提高產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性試驗(yàn),它是產(chǎn)品可靠性工作的一個(gè)重要環(huán)節(jié) 在研制階段使產(chǎn)品達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo)。為了使產(chǎn)品能達(dá)到預(yù)定的可靠性指標(biāo),在研制階段需要對(duì)樣...

  • 上海產(chǎn)品可靠性測(cè)試檢測(cè)單位
    上海產(chǎn)品可靠性測(cè)試檢測(cè)單位

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 1、低溫試驗(yàn): 低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫GB/T 2423.1-2008,只做:溫度≥-70℃。 2、高溫試驗(yàn): 高溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 只做:溫度≤300℃。 3、恒定濕熱試驗(yàn): 濕熱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T 2423.50-2012,IEC 60068-2-67:1995。只做:溫度(10~95)℃,濕度:(20~98)%RH 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ca...

  • 高低溫可靠性測(cè)試CNAS檢測(cè)報(bào)告
    高低溫可靠性測(cè)試CNAS檢測(cè)報(bào)告

    為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作,國(guó)標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目,上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司為客戶(hù)提供以下可靠性測(cè)試服務(wù): 高低溫循環(huán)測(cè)試 恒溫恒濕測(cè)試 交變濕熱測(cè)試 低溫存儲(chǔ)測(cè)試 高溫存儲(chǔ)測(cè)試 高低溫沖擊測(cè)試 鹽霧測(cè)試(Salt Spray Test) 開(kāi)關(guān)電測(cè)試(Switch electrical test) 膠帶附著力測(cè)試(The tape adhesion test) 振動(dòng)測(cè)試隨機(jī)/正弦(Vibration test) 包裝箱自由跌落測(cè)試(Drop test) 元器件推拉力測(cè)試(Push And Pull) 蒸氣老化測(cè)試(Steam Aging test) 元器件可...

  • 高低溫可靠性測(cè)試上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司
    高低溫可靠性測(cè)試上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?要包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度快速變化試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、恒定溫濕度試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、防水防塵試驗(yàn)、紫外老化試驗(yàn)和氙燈老化試驗(yàn)等。是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的適應(yīng)能力,是評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性的重要試驗(yàn)方法之一。 溫度快速變化試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模嚎焖贉刈兪且?guī)定了溫度變化速率的溫度變化,常常模擬晝夜溫差大的地區(qū)環(huán)境,也可用于壽命試驗(yàn),用以考核元器件或產(chǎn)品的外觀(guān)、機(jī)械性能及電氣性能。 試驗(yàn)設(shè)備:快速溫變?cè)囼?yàn)箱環(huán)境可靠性測(cè)試項(xiàng)目和環(huán)境可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)!高低溫可靠性測(cè)試上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司振動(dòng)測(cè)試: 系統(tǒng)整機(jī)振動(dòng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) GBT24...

  • 高低溫可靠性測(cè)試
    高低溫可靠性測(cè)試

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?要包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度快速變化試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、恒定溫濕度試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、防水防塵試驗(yàn)、紫外老化試驗(yàn)和氙燈老化試驗(yàn)等。是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的適應(yīng)能力,是評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性的重要試驗(yàn)方法之一。 低溫試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模河脕?lái)考核試驗(yàn)樣品在低溫條件下貯存或使用的適應(yīng)性。常用于產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)等。 試驗(yàn)設(shè)備:高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱。 試驗(yàn)條件:一般選定一恒定的溫度和試驗(yàn)時(shí)間。 推薦常用的溫度有:- 65℃,-55℃,-40℃,-25℃,-10℃,-5℃,+5℃等; 推薦常用的試驗(yàn)時(shí)間有:2h,16h,72h,96...

  • 上海機(jī)械沖擊可靠性測(cè)試
    上海機(jī)械沖擊可靠性測(cè)試

    振動(dòng)測(cè)試 GB/T 2423.56 IEC 60068-2-64 ASTM D4728 … 沖擊測(cè)試 GB/T2423.5 IEC60068-2-27 EIA-364-27 … 碰撞測(cè)試 IEC 60068-2-27 GB/T 2423.6 GB/T 4857.20 跌落測(cè)試 GB/T 2423.8 ISO 2248 GB/T 4857.5 RCA紙帶摩擦測(cè)試 ASTM F 2357 酒精,橡皮,鉛筆摩擦測(cè)試 GB/T 6739 ASTM D 3363 接觸電阻測(cè)試 EIA-364-23 EIA-364-06 MIL-...

  • 鹽霧腐蝕可靠性測(cè)試價(jià)格
    鹽霧腐蝕可靠性測(cè)試價(jià)格

    溫濕環(huán)境試驗(yàn)系列   序號(hào) 項(xiàng)目 試驗(yàn)范圍   1 高溫試驗(yàn) (1)高溫箱(小) 常溫~300℃  ?。?)1m3 常溫~100℃  ?。?)16 m3 常溫+10℃~80℃   (4)40 m3 常溫+10℃~80℃   2 低溫試驗(yàn) (1)0.2 m3 -40℃  ?。?) 1m3 -40℃  ?。?)16 m3 -40℃   (4)16 m3 -40℃--70℃   3 恒定濕熱 (1)0.2 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H  ?。?) 1m3 20℃~80℃ 20%~98%R.H  ?。?)16 m3 20℃~80℃ 30%~95%R.H  ?。?)40 m3 20℃~80...

  • 上海可靠性測(cè)試試驗(yàn)
    上??煽啃詼y(cè)試試驗(yàn)

    HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速壽命試驗(yàn))-HASS(Highly Accelerated Stress Screening,高加速應(yīng)力篩選)、這是一種能夠提高產(chǎn)品可靠性的測(cè)試手段,HALT/HASS 是由美國(guó)軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法,現(xiàn)已成為美國(guó)電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6 個(gè)月甚至1 年的新產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)縮短至一周,且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問(wèn)題幾乎與客戶(hù)應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題一致,故HALT/HASS 的試驗(yàn)方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過(guò)的驗(yàn)證。在美國(guó)之外,許多國(guó)際的3C 電子產(chǎn)品大廠(chǎng)也都使用相同或類(lèi)似的手法來(lái)...

  • 電子儀器可靠性測(cè)試服務(wù)
    電子儀器可靠性測(cè)試服務(wù)

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?可靠性已經(jīng)列為產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)加以考核和檢驗(yàn)。長(zhǎng)期以來(lái),人們只用產(chǎn)品的技術(shù)性能指標(biāo)作為衡量電子元器件質(zhì)量好壞的標(biāo)志,這只反映了產(chǎn)品質(zhì)量好壞的一個(gè)方面,還不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全貌。因?yàn)椋绻a(chǎn)品不可靠,即使其技術(shù)性能再好也得不到發(fā)揮。從某種意義上說(shuō),可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。 可靠性工程是一個(gè)綜合的學(xué)科,它的發(fā)展可以帶動(dòng)和促進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、制造、使用、材料、工藝、設(shè)備和管理的發(fā)展,把電子元器件和其它電子產(chǎn)品提高到一個(gè)新的水平。正因?yàn)檫@樣,可靠性已形成一個(gè)專(zhuān)門(mén)的學(xué)科,作為一個(gè)專(zhuān)門(mén)的技術(shù)進(jìn)行研究。環(huán)境可靠性測(cè)試包含了哪些呢?電子儀器可靠性測(cè)試服務(wù)上海天梯檢...

  • 三綜合可靠性測(cè)試項(xiàng)目
    三綜合可靠性測(cè)試項(xiàng)目

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?可靠性是與電子工業(yè)的發(fā)展密切相關(guān)的,其重要性可從電子產(chǎn)品發(fā)展的三個(gè)特點(diǎn)來(lái)加以說(shuō)明。 首先,電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度在不斷增加。人們較早使用的礦石收音機(jī)是非常簡(jiǎn)單的,隨之先后出現(xiàn)了各種類(lèi)型的收音機(jī)、錄音機(jī)、錄放相機(jī)、通訊機(jī)、雷達(dá)、制導(dǎo)系統(tǒng)、電子計(jì)算機(jī)以及宇航控制設(shè)備,復(fù)雜程度不斷地增長(zhǎng)。其次,電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。從實(shí)驗(yàn)室到野外,從熱帶到寒帶,從陸地到深海,從高空到宇宙空間,經(jīng)受著不同的環(huán)境條件,除溫度、濕度影響外,海水、鹽霧、沖擊、振動(dòng)、宇宙粒子、各種輻射等對(duì)電子元器件的影響,導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。 第三,電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從一代電子管產(chǎn)...

  • 振動(dòng)沖擊可靠性測(cè)試CMA檢測(cè)報(bào)告
    振動(dòng)沖擊可靠性測(cè)試CMA檢測(cè)報(bào)告

    可靠性測(cè)試是什么 為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱(chēng)為可靠性試驗(yàn)。對(duì)于不同的產(chǎn)品,為了達(dá)到不同的目的,可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法??煽啃詼y(cè)試:也稱(chēng)產(chǎn)品的可靠性評(píng)估,產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過(guò)程中,不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響,而仍需要能夠正常工作,這就需要以試驗(yàn)設(shè)備對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證,這個(gè)驗(yàn)證基本分為研發(fā)試驗(yàn)、試產(chǎn)試驗(yàn)、量產(chǎn)抽檢三個(gè)部分??煽啃栽囼?yàn)包括:老化試驗(yàn)、溫濕度試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn)、機(jī)械振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)和跌落試驗(yàn)、防塵防水試驗(yàn)以及包裝壓力試驗(yàn)等多項(xiàng)環(huán)境可靠性試驗(yàn) 材料可靠性測(cè)試的**價(jià)值是在產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在...

  • 上海UV光照老化可靠性測(cè)試試驗(yàn)
    上海UV光照老化可靠性測(cè)試試驗(yàn)

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別: 所用環(huán)境應(yīng)力數(shù)量: 就環(huán)境試驗(yàn)來(lái)說(shuō),GJB 150中規(guī)定了19個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目,MIL-STD-810 D中規(guī)定了20個(gè)環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目,810F增加到24個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目,包括對(duì)產(chǎn)品較重要影的環(huán)境應(yīng)力,如:溫度,濕芭,鹽霧,振動(dòng)沖擊,壓力,太陽(yáng)輻射,砂塵,淋雨等。受試產(chǎn)品應(yīng)根據(jù)其未來(lái)的使用環(huán)境條件及受影響程度對(duì)試驗(yàn)項(xiàng)目進(jìn)行甄選,一般應(yīng)考察10個(gè)以上環(huán)境應(yīng)力。而可靠性試驗(yàn)由于要進(jìn)行綜合模擬,只將綜合環(huán)境應(yīng)力(溫度,濕度,振動(dòng))與電應(yīng)力結(jié)合進(jìn)行試驗(yàn)??梢?jiàn),可靠性試驗(yàn)所選用的環(huán)境應(yīng)力數(shù)量比環(huán)境試驗(yàn)少得多。什么是振動(dòng)可靠性測(cè)試?上海UV光照老化...

  • 上海芯片可靠性測(cè)試中心
    上海芯片可靠性測(cè)試中心

    高壓空載,低壓限流態(tài)運(yùn)行試驗(yàn) 測(cè)試說(shuō)明: 高壓空載運(yùn)行是測(cè)試模塊的損耗情況,尤其是帶軟開(kāi)關(guān)技術(shù)的模塊,在空載情況下,軟開(kāi)關(guān)變?yōu)橛查_(kāi)關(guān),模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿(mǎn)載運(yùn)行是測(cè)試模塊在較大輸入電流時(shí),模塊的損耗情況,通常狀態(tài)下,模塊在低壓輸入、滿(mǎn)載輸出時(shí),效率較低,此時(shí)模塊的發(fā)熱較為嚴(yán)重。 試驗(yàn)是模仿電子產(chǎn)品工作狀態(tài)進(jìn)行的,即焊點(diǎn)由于自身的電阻,當(dāng)有電流通過(guò)時(shí)會(huì)發(fā)熱,而不工作時(shí)焊點(diǎn)恢復(fù)到室溫,從高溫到室溫意味著焊點(diǎn)經(jīng)受高低溫的變化,在汽車(chē)電子中有些部位電子產(chǎn)品中焊點(diǎn)升溫會(huì)達(dá)剄800C以上。如果再加上環(huán)境溫度交替變化那么焊點(diǎn)升溫還會(huì)更高。故該試驗(yàn)方法實(shí)用性強(qiáng),但試驗(yàn)周期長(zhǎng)費(fèi)用高,試驗(yàn)前應(yīng)做好充分準(zhǔn)備。...

  • 溫度變化可靠性測(cè)試服務(wù)
    溫度變化可靠性測(cè)試服務(wù)

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司振動(dòng)測(cè)試: 振動(dòng)測(cè)試方法 首先: 先進(jìn)行隨機(jī)振動(dòng),將待測(cè)產(chǎn)品固定在振動(dòng)平臺(tái)上,在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下,要求產(chǎn)品保持滿(mǎn)負(fù)載運(yùn)行,在X,Y,Z三個(gè)軸向中心各運(yùn)行1H檢測(cè)異常現(xiàn)象發(fā)生。 第二步: 正弦振動(dòng),在非開(kāi)機(jī)狀態(tài)下尋找產(chǎn)品結(jié)構(gòu)的危險(xiǎn)頻率,在X,Y,Z三個(gè)軸向中心各運(yùn)行1H檢測(cè)異?,F(xiàn)象發(fā)生。在產(chǎn)品的研發(fā)階段,任何存在的隱藏問(wèn)題都要被剔除,而正弦振動(dòng)就是考量產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的一劑猛藥。正弦振動(dòng)可以輕易查找出產(chǎn)品存在共振現(xiàn)象時(shí)的共振點(diǎn),以此不但可以確定產(chǎn)品的危險(xiǎn)頻率,還可以論證產(chǎn)品的機(jī)械結(jié)構(gòu)完好性。 第三步: 為了覆蓋到常用的振動(dòng)環(huán)境,天梯也專(zhuān)門(mén)定義了包裝振動(dòng)的測(cè)試條件,采用帶包裝隨機(jī)振動(dòng)...

  • 落下可靠性測(cè)試試驗(yàn)
    落下可靠性測(cè)試試驗(yàn)

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?要包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、溫度快速變化試驗(yàn)、溫度沖擊試驗(yàn)、恒定溫濕度試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、防水防塵試驗(yàn)、紫外老化試驗(yàn)和氙燈老化試驗(yàn)等。是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的適應(yīng)能力,是評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性的重要試驗(yàn)方法之一。 (1)高溫試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模河脕?lái)考核試驗(yàn)樣品在高溫條件下貯存或使用的適應(yīng)性。應(yīng)用于比如像熱帶天氣或煉鋼廠(chǎng)等高溫環(huán)境下工作的儀器、設(shè)備等。 試驗(yàn)設(shè)備:高低溫(濕熱)試驗(yàn)箱。 試驗(yàn)條件:一般選定一恒定的溫度應(yīng)力和保持時(shí)間。 推薦常用溫度:200℃,175℃,155℃,125℃,100℃,85℃,70℃,55℃等; 推薦常用的試驗(yàn)時(shí)間有:2h...

  • 上海電子元件可靠性測(cè)試公司
    上海電子元件可靠性測(cè)試公司

    上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司較新檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 11、傾跌與翻倒: 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995,IEC 60068-2-31:1982。 12、砂塵試驗(yàn): 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L:沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.37-2006,IEC 60068-2-68:1994 只做:方法La2:恒定氣壓。 13、鹽霧試驗(yàn): 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012,IEC 60068-2-52:1996; 人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽...

  • 振動(dòng)可靠性測(cè)試試驗(yàn)
    振動(dòng)可靠性測(cè)試試驗(yàn)

    HALT 是一種通過(guò)讓被測(cè)物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限,以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng),高低溫,溫度循環(huán),電力開(kāi)關(guān)循環(huán),電壓邊際及頻率邊際測(cè)試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段,能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性的薄弱環(huán)節(jié)。包含以下內(nèi)容: a、逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品失效或出現(xiàn)故障; b、采取臨時(shí)措施,修正產(chǎn)品的失效或故障; c、繼續(xù)逐步施加應(yīng)力直到產(chǎn)品再次失效或出現(xiàn)故障,并再次加以修正; d、重復(fù)以上應(yīng)力-失效-修正的步驟; e、找出產(chǎn)品的基本操作界限和基本破壞界限。 HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段,以確保所有在HALT 中找到的改進(jìn)措施能夠得到實(shí)施。HASS 包含如下內(nèi)容: a...

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