X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction,XRD)。通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中普遍應(yīng)用。那大家對(duì)于X射線衍射(XRD)相關(guān)術(shù)語(yǔ)又了解多少呢?粉末衍射儀是目前研究粉末的X射線衍射常用而又方便的設(shè)備。它的光路系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用聚焦光束型的衍射幾何,一般使用普通的閃爍檢測(cè)器或正比計(jì)數(shù)管檢測(cè)器以電子學(xué)方法進(jìn)行衍射強(qiáng)度的測(cè)量;衍射角的測(cè)量則通過(guò)一臺(tái)精密的機(jī)械測(cè)角儀來(lái)實(shí)現(xiàn)。野外作業(yè),環(huán)境的惡劣程度對(duì)衍射儀有了更高的要求。上海奧林巴斯...
多晶體衍射儀計(jì)數(shù)測(cè)量方法分為連續(xù)掃描和步進(jìn)(階梯)掃描兩種。1.連續(xù)掃描法:連續(xù)掃描方式掃描速度快、工作效率高,一般用于對(duì)樣品的全掃描測(cè)量(如物相定性分析)。步進(jìn)掃描法:步進(jìn)掃描測(cè)量精度高并受步進(jìn)寬度與步進(jìn)時(shí)間的影響,適用于做各種定量分析工作。測(cè)量參數(shù)包括狹縫光欄寬度、掃描速度、時(shí)間常數(shù)等。單晶體的研究方法分析的對(duì)象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中院子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射,對(duì)衍射先進(jìn)行分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律——即解出晶體結(jié)構(gòu)。單晶射線衍射儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器。鹽城衍射儀代理公司衍射又稱(chēng)為繞射,波遇到障礙物或小孔后通過(guò)...
X射線衍射的方法有很多。 按使用的樣品可分為:?jiǎn)尉Хê投嗑Х勰┓ǎ?按記錄檢測(cè)方法可分有:照相法和衍射譜儀(計(jì)算器)法。 基本的X射線衍射方法有三種:平板照相法、旋晶法和多晶粉末法。 1、平板照相法(平面底片法) 2、園筒底片法(又叫回轉(zhuǎn)照相法或旋晶法) (1)、回轉(zhuǎn)照相法 (2)、魏森堡(Weissenberg)照相法 (3)、多晶粉末德拜-謝樂(lè)照相法 (4)、多晶粉末衍射儀法 (5)、其它X射線衍射儀 a、計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制的四圓單晶衍射儀 b、轉(zhuǎn)靶X射線衍射儀 c、面探測(cè)器X射線衍射儀 d、同步輻射衍射分析。x射線粉末衍射可以計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀工藝流程便...
衍射又稱(chēng)為繞射,光線照射到物體邊沿后通過(guò)散射繼續(xù)在空間發(fā)射的現(xiàn)象。如果采用單色平行光,則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果。相干波在空間某處相遇后,因位相不同,相互之間產(chǎn)生干涉作用,引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的條件,一是相干波(點(diǎn)光源發(fā)出的波),二是光柵。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋,表示著衍射方向(角度)和強(qiáng)度。根據(jù)衍射花紋可以反過(guò)來(lái)推測(cè)光源和光珊的情況。 為了使光能產(chǎn)生明顯的偏向,必須使“光柵間隔”具有與光的波長(zhǎng)相同的數(shù)量級(jí)。用于可見(jiàn)光譜的光柵每毫米要刻有約500到500條線 。x射線衍射儀包含x射線粉末衍射儀!浙江奧林巴斯XRD報(bào)價(jià)多少錢(qián)工業(yè)X射線衍射儀是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主...
衍射又稱(chēng)為繞射,光線照射到物體邊沿后通過(guò)散射繼續(xù)在空間發(fā)射的現(xiàn)象。如果采用單色平行光,則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果。相干波在空間某處相遇后,因位相不同,相互之間產(chǎn)生干涉作用,引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的條件,一是相干波(點(diǎn)光源發(fā)出的波),二是光柵。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋,表示著衍射方向(角度)和強(qiáng)度。根據(jù)衍射花紋可以反過(guò)來(lái)推測(cè)光源和光珊的情況。 為了使光能產(chǎn)生明顯的偏向,必須使“光柵間隔”具有與光的波長(zhǎng)相同的數(shù)量級(jí)。用于可見(jiàn)光譜的光柵每毫米要刻有約500到500條線 。測(cè)角儀是粉末衍射儀上精密的機(jī)械部件,用來(lái)精確測(cè)量衍射角。寧波衍射儀怎么樣X(jué)射線衍射擴(kuò)展資料: 1、晶態(tài)物質(zhì)對(duì)...
描述X射線衍射條件,還可以用布拉格方程: 2dsinθ=nλ式中d為相鄰兩個(gè)晶面之間的距離;θ為入射線或反射線與晶面的交角;λ為X射線波長(zhǎng);n為正整數(shù)。布拉格方程與勞厄方程雖然表達(dá)方式不同,但其實(shí)質(zhì)是相同的。 當(dāng) X射線的波長(zhǎng)與入射線方向以及晶體方位確定以后,勞厄方程中的λ、、b、c、0、β0、γ0 都已確定,只有、β、γ是變量,它們必須滿足勞厄方程,但是,、β、γ3個(gè)變量不是單獨(dú)的,例如在直角坐標(biāo)中應(yīng)滿足: cos2+cos2β+cos2γ=1這就是說(shuō),3個(gè)變量、β、γ應(yīng)同時(shí)滿足4個(gè)方程,這在一般條件下是不可能的,因而得不到衍射圖。為了解決這個(gè)問(wèn)題,必須再增加一個(gè)變數(shù),有兩種辦法可供選擇:①...
x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時(shí),受到物體中原子的散射,每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波,這些波互相干涉,結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng),在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果,便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。對(duì)于晶體材料,當(dāng)待測(cè)晶體與入射束呈不同角度時(shí),那些滿足布拉格衍射的晶面就會(huì)被檢測(cè)出來(lái),體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰。對(duì)于非晶體材料。由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長(zhǎng)程有序,只是在幾個(gè)原子范圍內(nèi)存在著短程有序,故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用X射線衍射法對(duì)物質(zhì)進(jìn)行非破...
多晶體衍射儀計(jì)數(shù)測(cè)量方法分為連續(xù)掃描和步進(jìn)(階梯)掃描兩種。1.連續(xù)掃描法:連續(xù)掃描方式掃描速度快、工作效率高,一般用于對(duì)樣品的全掃描測(cè)量(如物相定性分析)。步進(jìn)掃描法:步進(jìn)掃描測(cè)量精度高并受步進(jìn)寬度與步進(jìn)時(shí)間的影響,適用于做各種定量分析工作。測(cè)量參數(shù)包括狹縫光欄寬度、掃描速度、時(shí)間常數(shù)等。單晶體的研究方法分析的對(duì)象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中院子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射,對(duì)衍射先進(jìn)行分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律——即解出晶體結(jié)構(gòu)。衍射儀的市場(chǎng)價(jià)格。歡迎來(lái)電咨詢(xún)上海澤權(quán)!浙江奧林巴斯XRD定制廠家X射線熒光光譜儀優(yōu)缺點(diǎn): 優(yōu)點(diǎn): a...
根據(jù)布拉格公式說(shuō)明為什么低衍射角區(qū)的眼射線強(qiáng)度高于高角區(qū) 新回答 :這個(gè)問(wèn)題是不正確的,請(qǐng)注意,布拉格公式是衍射的幾何條件,是衍射的必要條件,不是充分條件!滿足其后,還必須滿足結(jié)構(gòu)因子不為0(越大當(dāng)然強(qiáng),其他條件一樣的話)才能衍射,才有強(qiáng)度!事實(shí)上還和重復(fù)因子等有關(guān),建議多看相關(guān)書(shū)籍。 影響粉末x射線衍射圖效果的因素有: ⑴粉末樣品自身顆粒的大小對(duì)x射線衍射分析測(cè)試結(jié)果有比較大的影響; ⑵樣品架裝填粉末樣品量不同對(duì)衍射結(jié)果有直接的影響; ⑶對(duì)于少量樣品或微量試樣采用橫式填樣法更加科學(xué)合理。高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng),得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度。紹興衍射儀批發(fā)市場(chǎng)閃爍檢測(cè)器是各種晶體X射線衍...
微觀應(yīng)力是指由于形變、相變、多相物質(zhì)的膨脹等因素引起的存在于材料內(nèi)各晶粒之間或晶粒之中的微區(qū)應(yīng)力。當(dāng)一束X射線入射到具有微觀應(yīng)力的樣品上時(shí),由于微觀區(qū)域應(yīng)力取向不同,各晶粒的晶面間距產(chǎn)生了不同的應(yīng)變,即在某些晶粒中晶面間距擴(kuò)張,而在另一些晶粒中晶面間距壓縮,結(jié)果使其衍射線并不像宏觀內(nèi)應(yīng)力所影響的那樣單一地向某一方向位移,而是在各方向上都平均地作了一些位移,總的效應(yīng)是導(dǎo)致衍射線漫散寬化。材料的微觀殘余應(yīng)力是引起衍射線線形寬化的主要原因,因此衍射線的半高寬即衍射線比較大強(qiáng)度一半處的寬度是描述微觀殘余應(yīng)力的基本參數(shù)。上海的衍射儀服務(wù)廠家。歡迎來(lái)電咨詢(xún)上海澤權(quán)!奧林巴斯XRD怎么樣X(jué)射線衍射儀是研究物...
X射線衍射中,Kα,Kβ具體代替什么?X射線管發(fā)生出來(lái)的不是純凈的單色光,包含多種波長(zhǎng)的射線,較主要的是K系射線。K系射線是指陰極電子碰撞陽(yáng)極,使陽(yáng)極電子產(chǎn)生K激發(fā),擊走K層電子后,L層或M層電子填充K層電子而產(chǎn)生的X射線。K系射線又可以細(xì)分為Kα(L層電子填充)和Kβ(M層電子填充)兩種波長(zhǎng)略有差異的兩種射線。而X射線衍射儀要求使用單色X射線。因此,需要在XRD測(cè)試時(shí)把后者除掉,傳統(tǒng)的方法是在光路上加入一個(gè)濾波片(如Ni)?,F(xiàn)在一般使用銅靶,在光路上增加一個(gè)石墨晶體單色器來(lái)去除Kβ射線。單色器可以去除衍射背底,也可以去除Kβ射線的干擾。Cu的特征譜線波長(zhǎng)為:Kα1(1.54056 ?),Kα...
進(jìn)口X射線衍射儀的基本原理:X射線與物質(zhì)作用時(shí),就其能量轉(zhuǎn)換而言,一般分為三部分,其中一部分被散射,一部分被吸收,一部分通過(guò)物質(zhì)繼續(xù)沿原來(lái)方向傳播。散射的X射線與入射X射線波長(zhǎng)相同時(shí)對(duì)晶體將產(chǎn)生衍射現(xiàn)象,即晶面間距產(chǎn)生的光程差等于波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)。將每種晶體物質(zhì)特有的衍射花樣與標(biāo)準(zhǔn)衍射花樣對(duì)比,利用三強(qiáng)峰原則,即可鑒定出樣品中存在的物相。X-射線的產(chǎn)生是由在X-射線管(真空度10-4Pa)中有30-60KV的加速電子流,沖擊金屬(如純Cu或Mo)靶面產(chǎn)生。常用的射線是MoKα射線,包括Kα1和Kα2兩種射線(強(qiáng)度2:1),波長(zhǎng)為71.073pm。作為便捷的分析測(cè)試儀器,X射線粉末衍射儀被普遍應(yīng)用...
測(cè)角儀是X射線衍射儀的中心部件,主要由光闌、發(fā)散狹縫、接收狹縫、防散射狹縫、樣品座及閃爍探測(cè)器等組成。衍射儀中常用的探測(cè)器是閃爍計(jì)數(shù)器,它是利用X射線能在某些固體物質(zhì)(磷光體)中產(chǎn)生的波長(zhǎng)在可見(jiàn)光范圍內(nèi)的熒光,這種熒光再轉(zhuǎn)換為能夠測(cè)量的電流。由于輸出的電流和計(jì)數(shù)器吸收的X光子能量成正比,因此可以用來(lái)測(cè)量衍射線的強(qiáng)度。衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)掃描操作完成后,衍射原始數(shù)據(jù)自動(dòng)存入計(jì)算機(jī)硬盤(pán)中供數(shù)據(jù)分析處理。數(shù)據(jù)分析處理包括平滑點(diǎn)的選擇、背底扣除、自動(dòng)尋峰、d值計(jì)算、衍射峰強(qiáng)度計(jì)算等。X射線衍射分析相同數(shù)量級(jí),故由不同原子散射的X射線相互干涉。溫州衍射儀什么品牌比較好X射線衍射儀是利用X射...
X射線衍射法,對(duì)樣品測(cè)試收費(fèi)要遠(yuǎn)高于紅外光譜的。如果你是單純想測(cè)量薄膜的精確厚度,可以用紅外光譜法(IR),精確度可達(dá)cm^(-1)量級(jí)。在紅外光譜范圍內(nèi),1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內(nèi)外層表面的反射光達(dá)到一定相位差時(shí)會(huì)引起干涉,通過(guò)薄膜兩個(gè)表面對(duì)紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋。干涉條紋有三四十個(gè)波峰-波谷之多,分布在一定的波長(zhǎng)范圍內(nèi);根據(jù)測(cè)定結(jié)果,利用公式計(jì)算出薄膜的厚度。該方法操作簡(jiǎn)便,測(cè)定速度快,應(yīng)用于實(shí)際樣品的無(wú)損測(cè)定,結(jié)果滿意。 作為便捷的分析測(cè)試儀器,X射線粉末衍射儀被普遍應(yīng)用于材料生產(chǎn)研究、礦物、藥物等各...
衍射又稱(chēng)為繞射,波遇到障礙物或小孔后通過(guò)散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。衍射現(xiàn)象是波的特有現(xiàn)象,一切波都會(huì)發(fā)生衍射現(xiàn)象。 如果采用單色平行光,則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果。相干波在空間某處相遇后,因位相不同,相互之間產(chǎn)生干涉作用,引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋,表示著衍射方向(角度)和強(qiáng)度。x射線照射晶體,電子受迫振動(dòng)產(chǎn)生相干散射;同一原子內(nèi)各電子散射波相互干涉形成原子散射波.由于晶體內(nèi)各原子呈周期排列,因而各原子散射波問(wèn)也存在固定的位相關(guān)系而產(chǎn)生干涉作用,在某些方向上發(fā)生相長(zhǎng)干涉,即形成了衍射波.由此可知,衍射的本質(zhì)是晶體中各原子相干散射波疊加(合成)的結(jié)果.衍射和干涉其物...
X射線衍射儀技術(shù)(XRD)是通過(guò)對(duì)樣品進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的一種儀器,是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法,X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,需區(qū)分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結(jié)晶相的比例;很多材料的性能由結(jié)晶程度決定,可使用XRD結(jié)晶度分析,確定材料的結(jié)晶程度;新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù),為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo);產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象,可能涉及微觀應(yīng)力方面...
衍射又稱(chēng)為繞射,光線照射到物體邊沿后通過(guò)散射繼續(xù)在空間發(fā)射的現(xiàn)象。如果采用單色平行光,則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果。相干波在空間某處相遇后,因位相不同,相互之間產(chǎn)生干涉作用,引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的條件,一是相干波,二是光柵。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋,表示著衍射方向和強(qiáng)度。根據(jù)衍射花紋可以反過(guò)來(lái)推測(cè)光源和光珊的情況。 為了使光能產(chǎn)生明顯的偏向,必須使“光柵間隔”具有與光的波長(zhǎng)相同的數(shù)量級(jí)。用于可見(jiàn)光譜的光柵每毫米要刻有約100到500條線 。X射線衍射儀的基本構(gòu)造介紹:物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法,但是XRD是目前研究晶體結(jié)構(gòu)(如...
根據(jù)布拉格公式說(shuō)明為什么低衍射角區(qū)的眼射線強(qiáng)度高于高角區(qū)新回答 ,這個(gè)問(wèn)題是不正確的,請(qǐng)注意,布拉格公式是衍射的幾何條件,是衍射的必要條件,不是充分條件!滿足其后,還必須滿足結(jié)構(gòu)因子不為0(越大當(dāng)然強(qiáng),其他條件一樣的話)才能衍射,才有強(qiáng)度!事實(shí)上還和重復(fù)因子等有關(guān),建議多看相關(guān)書(shū)籍。 影響粉末x射線衍射圖效果的因素有: ⑴粉末樣品自身顆粒的大小對(duì)x射線衍射分析測(cè)試結(jié)果有比較大的影響; ⑵樣品架裝填粉末樣品量不同對(duì)衍射結(jié)果有直接的影響; ⑶對(duì)于少量樣品或微量試樣采用橫式填樣法更加科學(xué)合理。由于大量粒子散射波的疊加,互相干涉而產(chǎn)生大強(qiáng)度的光束稱(chēng)為X射線的衍射線滿足衍射條件。上海奧林巴斯XRD費(fèi)...
X射線衍射儀工作原理是什么? x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時(shí),受到物體中原子的散射,每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波,這些波互相干涉,結(jié)果就產(chǎn)生衍射。對(duì)于晶體材料,當(dāng)待測(cè)晶體與入射束呈不同角度時(shí),那些滿足布拉格衍射的晶面就會(huì)被檢測(cè)出來(lái),體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰。對(duì)于非晶體材料,由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長(zhǎng)程有序,只是在幾個(gè)原子范圍內(nèi)存在著短程有序,故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析。普遍應(yīng)...
x射線的波長(zhǎng)和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時(shí),受到物體中原子的散射,每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波,這些波互相干涉,結(jié)果就產(chǎn)生衍射。對(duì)于晶體材料,當(dāng)待測(cè)晶體與入射束呈不同角度時(shí),那些滿足布拉格衍射的晶面就會(huì)被檢測(cè)出來(lái),體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰。對(duì)于非晶體材料,由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長(zhǎng)程有序,只是在幾個(gè)原子范圍內(nèi)存在著短程有序,故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理,精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析。普遍應(yīng)用于冶金,科研,教學(xué),材料生產(chǎn)...
衍射又稱(chēng)為繞射,光線照射到物體邊沿后通過(guò)散射繼續(xù)在空間發(fā)射的現(xiàn)象。如果采用單色平行光,則衍射后將產(chǎn)生干涉結(jié)果。相干波在空間某處相遇后,因位相不同,相互之間產(chǎn)生干涉作用,引起相互加強(qiáng)或減弱的物理現(xiàn)象。 衍射的條件,一是相干波,二是光柵。 衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋,表示著衍射方向和強(qiáng)度。根據(jù)衍射花紋可以反過(guò)來(lái)推測(cè)光源和光珊的情況。 為了使光能產(chǎn)生明顯的偏向,必須使“光柵間隔”具有與光的波長(zhǎng)相同的數(shù)量級(jí)。用于可見(jiàn)光譜的光柵每毫米要刻有約100到500條線 。衍射又稱(chēng)為繞射,波遇到障礙物或小孔后通過(guò)散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。淮北衍射儀代理哪家專(zhuān)業(yè)衍射儀中XRD采用單色X射線為衍射源,一般可以穿透固...
便攜式X射線衍射儀是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)獲得X射線信號(hào)的特征,并通過(guò)處理得到衍射圖樣。利用光譜信息不只可以實(shí)現(xiàn)常規(guī)顯微鏡的位相測(cè)定,還可以觀察晶體中是否存在缺陷(位錯(cuò))和晶格缺陷。衍射儀具有檢測(cè)速度快、操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn),普遍應(yīng)用于粉體、單晶、多晶等大塊材料的測(cè)量。所有系統(tǒng),從X射線源到光學(xué)元件、測(cè)角儀、樣品臺(tái)和探測(cè)器,都可以自動(dòng)調(diào)節(jié)。當(dāng)自動(dòng)調(diào)整開(kāi)始時(shí),儀器將自動(dòng)調(diào)整高度、角度、CBO光學(xué)系統(tǒng)、入射單色儀、狹縫高度、樣品表面位置和探測(cè)器角度至良好狀態(tài)。上海澤權(quán)的衍射儀質(zhì)量可靠嗎?歡迎來(lái)電咨詢(xún)上海澤權(quán)!宿遷衍射儀代理哪家好便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的科學(xué)儀器...
便攜式X射線衍射儀是一種用于土木建筑工程領(lǐng)域的物理性能測(cè)試儀器。便攜性:儀器小型化,無(wú)需專(zhuān)業(yè)的實(shí)驗(yàn)室,無(wú)需水循環(huán)冷卻系統(tǒng);快速檢測(cè):全譜顯示而非步進(jìn)掃描,普通樣品3分鐘內(nèi)即可完成分析。特征X射線及其衍射X射線是一種波長(zhǎng)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線,它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng),稱(chēng)為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長(zhǎng)為0.154056nm。X射線衍射儀的英文名稱(chēng)是X-rayPowderdiffractometer簡(jiǎn)寫(xiě)為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀,英文名稱(chēng)為X-raypolycrystal...
x射線光電子能譜分析:x射線光電子能譜法(x-ray photoelectron spectrom-----xps)在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測(cè)量由此引起的電子動(dòng)能的分布早在本世紀(jì)初就有報(bào)道,但當(dāng)時(shí)可達(dá)到的分辯率還不足以觀測(cè)到光電子能譜上的實(shí)際光峰。直到1958年,一個(gè)瑞典研究小組觀測(cè)到光峰現(xiàn)象,并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來(lái)研究元素的種類(lèi)及其化學(xué)狀態(tài),故而取名“化學(xué)分析光電子能譜(eletron spectroscopy for chemical analysis-esca)。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別。X射線粉末衍射儀, 針對(duì)于測(cè)試樣品為粉末...
微觀應(yīng)力是指由于形變、相變、多相物質(zhì)的膨脹等因素引起的存在于材料內(nèi)各晶粒之間或晶粒之中的微區(qū)應(yīng)力。當(dāng)一束X射線入射到具有微觀應(yīng)力的樣品上時(shí),由于微觀區(qū)域應(yīng)力取向不同,各晶粒的晶面間距產(chǎn)生了不同的應(yīng)變,即在某些晶粒中晶面間距擴(kuò)張,而在另一些晶粒中晶面間距壓縮,結(jié)果使其衍射線并不像宏觀內(nèi)應(yīng)力所影響的那樣單一地向某一方向位移,而是在各方向上都平均地作了一些位移,總的效應(yīng)是導(dǎo)致衍射線漫散寬化。材料的微觀殘余應(yīng)力是引起衍射線線形寬化的主要原因,因此衍射線的半高寬即衍射線比較大強(qiáng)度一半處的寬度是描述微觀殘余應(yīng)力的基本參數(shù)。X射線衍射儀可以讓用戶(hù)迅速及時(shí)且充滿自信地做出決策。江蘇奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD...
分析電子衍射與x射線衍射有何異同: 相同點(diǎn)是兩者都是可以把晶體看做一個(gè)三維的光柵,對(duì)不同位置的原子散射的波進(jìn)行疊加求和,反映的晶格的對(duì)稱(chēng)性信息;不同點(diǎn)是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢(shì)場(chǎng)的散射,電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強(qiáng)烈一些,往往不止發(fā)生一次散射,即要考慮動(dòng)力學(xué)效應(yīng),x射線是與核外電子發(fā)生作用,與核外的電子分布情況相關(guān)。實(shí)用角度的答案,在確定晶體對(duì)稱(chēng)性上,通常是用x射線來(lái)定的,因?yàn)閯?dòng)力學(xué)效應(yīng)很弱,不會(huì)出現(xiàn)本來(lái)消光的斑點(diǎn)位置因?yàn)槎啻紊⑸涞脑蛴殖霈F(xiàn)亮斑的情況,因此便于分析,另外很重要的一個(gè)原因是x射線的制樣更加容易。粉末衍射可解決的任何問(wèn)題或可求得的任何結(jié)構(gòu)參數(shù)一...
X射線衍射儀(X-raydiffraction,XRD)是一種通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料成分、內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射儀主要由四大部分組成:X射線發(fā)生器、測(cè)角儀、X射線強(qiáng)度測(cè)量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)。X射線發(fā)生器為高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。主要分密閉式和可拆卸式,多方面使用的是密閉式,由陰極燈絲、陽(yáng)極、聚焦罩等組成。衍射儀的市場(chǎng)價(jià)格。歡迎來(lái)電咨詢(xún)上海澤權(quán)!奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀大概多少錢(qián)X射線衍射儀特征X射線及其衍射X射...
x射線光電子能譜分析:x射線光電子能譜法(x-ray photoelectron spectrom-----xps)在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測(cè)量由此引起的電子動(dòng)能的分布早在本世紀(jì)初就有報(bào)道,但當(dāng)時(shí)可達(dá)到的分辯率還不足以觀測(cè)到光電子能譜上的實(shí)際光峰。直到1958年,一個(gè)瑞典研究小組觀測(cè)到光峰現(xiàn)象,并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來(lái)研究元素的種類(lèi)及其化學(xué)狀態(tài),故而取名“化學(xué)分析光電子能譜(eletron spectroscopy for chemical analysis-esca)。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別。工業(yè)X射線衍射儀是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)...
X射線熒光光譜儀優(yōu)缺點(diǎn):優(yōu)點(diǎn): a) 分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為明顯。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。d) X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。e) 分析精密度高。f) 制樣簡(jiǎn)單...
多晶X射線衍射儀,也稱(chēng)粉末衍射儀,通常用于測(cè)量粉末、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等。主要由四個(gè)部分構(gòu)成:X射線發(fā)生器(產(chǎn)生X射線的裝置);測(cè)角儀(測(cè)量角度2θ的裝置);X射線探測(cè)器(測(cè)量X射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)裝置);X射線系統(tǒng)控制裝置(數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和各種電氣系統(tǒng)、保護(hù)系統(tǒng)等).測(cè)角儀(包括狹縫系統(tǒng))、探測(cè)器等都是X射線衍射儀中非常關(guān)鍵的組成部分,不過(guò)原理較為枯燥,而實(shí)際處理數(shù)據(jù)時(shí)基本不會(huì)用到。這里暫時(shí)省略,如果大家確實(shí)對(duì)XRD原理有興趣可以留言,我們可以在下一期補(bǔ)上。衍射儀除了基本功能外,可快速配置各種附件,具有很強(qiáng)的分析能力。無(wú)錫衍射儀供應(yīng)商X射線同無(wú)線電波、可見(jiàn)光、紫外線等一樣,本質(zhì)上都屬于電磁...