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X射線衍射儀（XRD）是材料無損表征的有力工具。運(yùn)用衍射原理，可實(shí)現(xiàn)粉末、塊體、薄膜等樣品的測(cè)試分析，可以精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，也就是說可以精確的進(jìn)行物相分析，定性、定量分析及殘余應(yīng)力的分析。X射線衍射分析方法可實(shí)現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強(qiáng)度,衍射峰線形等信息可以進(jìn)行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點(diǎn)陣常數(shù)的精密測(cè)定，晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計(jì)算和宏觀殘余應(yīng)力測(cè)定及結(jié)晶度計(jì)算等。衍射儀購買需要多少錢？歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！淮安衍射儀哪個(gè)品牌好X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構(gòu)成很相似,主要部件包括4部分。 （1）高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線, ...

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識(shí)X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測(cè)定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測(cè)定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測(cè)定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測(cè)。衍射（diffraction）又稱為繞射，波遇到障礙物或小孔后通過散射繼續(xù)傳播的現(xiàn)象。安徽奧林巴斯Terra便攜...

X射線衍射儀的用途是什么？當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)。產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力。納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑。X射線衍射儀使用注意事項(xiàng)：固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5...

便攜式X射線衍射儀的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)都有哪些呢？ 1、便攜式：儀器采用防水防塵箱體一體機(jī)設(shè)計(jì)，無任何機(jī)械運(yùn)動(dòng)部件，輕便小巧，便于攜帶，可用于實(shí)驗(yàn)室/現(xiàn)場(chǎng)科研。 2、集成性：XRD和XRF技術(shù)集成。在每次檢測(cè)中，可以同時(shí)采集XRD和XRF的X射線光子數(shù)據(jù)，提供材料成分、物相和結(jié)構(gòu)信息，方便檢測(cè)結(jié)果的添加。 3、簡(jiǎn)單性：儀器一鍵操作，無需校正，自動(dòng)檢測(cè)，無需額外注意高壓系統(tǒng)和水循環(huán)冷卻系統(tǒng)（不需要額外的高壓和水循環(huán)冷卻系統(tǒng)）。 4、按全性：專業(yè)多重防護(hù)輻射處理，測(cè)量過程中儀器全位無輻射泄漏。 5、數(shù)據(jù)傳輸：便攜式X射線衍射儀通過USB、藍(lán)牙、WiFi與筆記本電腦連接，對(duì)屏幕儀器進(jìn)行實(shí)時(shí)控制和分析。 6、環(huán)...

X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射，對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長(zhǎng)的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時(shí)，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強(qiáng)，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。衍射X射線滿足布拉格方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長(zhǎng)；θ是衍射角；d是結(jié)晶面間隔；n是整數(shù)。波長(zhǎng)λ可用已知的X射線衍射角測(cè)定，進(jìn)而求得面間隔，即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。將求出的衍射X射線強(qiáng)度和面間隔與已知的表對(duì)照，即可確定試樣結(jié)晶的物質(zhì)結(jié)構(gòu)，此即定性分析。從衍射X射線強(qiáng)度的比較，可進(jìn)行定量分析。上海澤權(quán)衍射儀安...

x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測(cè)量由此引起的電子動(dòng)能的分布早在本世紀(jì)初就有報(bào)道，但當(dāng)時(shí)可達(dá)到的分辯率還不足以觀測(cè)到光電子能譜上的實(shí)際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個(gè)瑞典研究小組觀測(cè)到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別。粉末衍射可解決...

X射線熒光光譜儀的原理是什么？X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也普遍。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分...

分析電子衍射與x射線衍射有何異同： 相同點(diǎn)是兩者都是可以把晶體看做一個(gè)三維的光柵，對(duì)不同位置的原子散射的波進(jìn)行疊加求和，反映的晶格的對(duì)稱性信息；不同點(diǎn)是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢(shì)場(chǎng)的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強(qiáng)烈一些，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動(dòng)力學(xué)效應(yīng)（多次散射），x射線是與核外電子發(fā)生作用，與核外的電子分布情況相關(guān)。實(shí)用角度的答案，在確定晶體對(duì)稱性上，通常是用x射線來定的，因?yàn)閯?dòng)力學(xué)效應(yīng)很弱，不會(huì)出現(xiàn)本來消光的斑點(diǎn)位置因?yàn)槎啻紊⑸涞脑蛴殖霈F(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個(gè)原因是x射線的制樣更加容易。衍射儀的規(guī)格介紹。歡迎來電咨詢上海澤...

X射線衍射儀技術(shù)(XRD)是通過對(duì)樣品進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的一種儀器，是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法，X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例；很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度；新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo)；產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面...

被檢測(cè)出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰。對(duì)于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長(zhǎng)程有序，只是在幾個(gè)原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。普遍應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。衍射儀的應(yīng)用范圍十分廣闊。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！連云港衍射儀X射線衍射儀技術(shù)（XRD）注意事項(xiàng)： （1）固體樣...

X射線衍射儀（X-raydiffraction，XRD）是一種通過對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料成分、內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射儀主要由四大部分組成：X射線發(fā)生器、測(cè)角儀、X射線強(qiáng)度測(cè)量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)。X射線發(fā)生器為高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線，改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng)，調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。主要分密閉式和可拆卸式，多方面使用的是密閉式，由陰極燈絲、陽極、聚焦罩等組成。X射線衍射儀可幫助客戶迅速準(zhǔn)確獲得分析結(jié)果。南通衍射儀大概多少錢衍射儀中特征X射線是一種波長(zhǎng)很短（20～0.06nm）的...

射線衍射分析（X-ray diffraction，簡(jiǎn)稱XRD），是利用晶體形成的X射線衍射，對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長(zhǎng)的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時(shí)，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強(qiáng)，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點(diǎn)陣表示。而一個(gè)三維點(diǎn)陣可簡(jiǎn)單地用一個(gè)由八個(gè)相鄰點(diǎn)構(gòu)成的平行六面體（稱晶胞）在三維方向重復(fù)得到。一個(gè)晶胞形狀由它的三個(gè)邊（a,b,c）及它們間的夾角（...

X射線單晶體衍儀器要求： 基本要求 要按式⑷來求解晶體結(jié)構(gòu)，就要有盡可能多的衍射的FHKL，而且其值要準(zhǔn)確，這樣所得的ρ（x,y,z）分辨率就高，求得的結(jié)構(gòu)就準(zhǔn)確。一粒小晶體衍射的X射線是射向整個(gè)空間的。具有大的HKL，也即大θ或小d值的衍射的強(qiáng)度一般比較低，不易測(cè)得。如何在三維空間測(cè)得盡可能多的，盡可能準(zhǔn)確的衍射線強(qiáng)度成為對(duì)X射線單晶體衍射儀的基本要求。 實(shí)驗(yàn)儀器 若將一束單色X射線射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內(nèi)的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數(shù)的晶面能符合布拉格公式而發(fā)生衍射。如何才能使各晶面族都發(fā)生衍射呢？常用的方法就是轉(zhuǎn)動(dòng)晶體。轉(zhuǎn)動(dòng)中各晶面族時(shí)刻改變著與入射線的交角，會(huì)...

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線，晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測(cè)定衍射角位置可以進(jìn)行化合物的定性分析，測(cè)定譜線的積分強(qiáng)度可以進(jìn)行定量分析，而測(cè)定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測(cè)。X射線衍射儀技術(shù)（XRD）注意事項(xiàng)： （1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。 （2）對(duì)于片狀、...

XRD即X射線衍射,通常應(yīng)用于晶體結(jié)構(gòu)的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時(shí)在晶體中產(chǎn)生周期性變化的電磁場(chǎng)。引起原子中的電子和原子核振動(dòng),因原子核的質(zhì)量很大振動(dòng)忽略不計(jì)。振動(dòng)著的電子是次生X射線的波源,其波長(zhǎng)、周相與入射光相同。基于晶體結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個(gè)電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相互加強(qiáng)的方向稱衍射方向,產(chǎn)生衍射線。 X射線對(duì)于晶體的衍射強(qiáng)度是由晶體晶胞中原子的元素種類、數(shù)目及其排列方式?jīng)Q定的。 X射線衍射儀是利用X射線衍射法對(duì)物質(zhì)進(jìn)行非破壞性分析的儀器,由X射線發(fā)生器、測(cè)角儀、X射線強(qiáng)度測(cè)量系統(tǒng)以及衍射儀控制與衍射數(shù)據(jù)采集、處理系統(tǒng)四大部分組成。上海澤權(quán)...

X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對(duì)象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射，由對(duì)衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。物質(zhì)或由其構(gòu)成的材料的性能是與晶體的結(jié)構(gòu)密切相關(guān)的，如金剛石和石墨都是由純的碳構(gòu)成的，由于它們的晶體結(jié)構(gòu)不同就有著截然不同的性質(zhì)。粉末衍射儀要求樣品試片具有一個(gè)十分平整的平面，而且對(duì)平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時(shí)又要求制作定向的試片）。上海澤權(quán)的...

x射線有哪些特點(diǎn)？各種衍射方法有何不同 1、穿透作用。X射線因其波長(zhǎng)短，能量大，照在物質(zhì)上時(shí)，只一部分被物質(zhì)所吸收，大部分經(jīng)由原子間隙而透過，表現(xiàn)出很強(qiáng)的穿透能力。X射線穿透物質(zhì)的能力與X射線光子的能量有關(guān)，X射線的波長(zhǎng)越短，光子的能量越大，穿透力越強(qiáng)。X射線的穿透力也與物質(zhì)密度有關(guān)，利用差別吸收這種性質(zhì)可以把密度不同的物質(zhì)區(qū)分開來。 2、電離作用。物質(zhì)受X射線照射時(shí)，可使核外電子脫離原子軌道產(chǎn)生電離。利用電離電荷的多少可測(cè)定X射線的照射量，根據(jù)這個(gè)原理制成了X射線測(cè)量?jī)x器。在電離作用下，氣體能夠?qū)щ姡荒承┪镔|(zhì)可以發(fā)生化學(xué)反應(yīng)；在有機(jī)體內(nèi)可以誘發(fā)各種生物效應(yīng)。 3、熒光作用。X射線波長(zhǎng)很短不可...

衍射儀中探測(cè)器的用途接收樣品衍射線(光子)信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡?瞬時(shí)脈沖)信號(hào)。計(jì)數(shù)器的種類分為：正比計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器、蓋革計(jì)數(shù)器。要求定量關(guān)系較為準(zhǔn)確的情況下習(xí)慣使用正比計(jì)數(shù)器，蓋革計(jì)數(shù)器的使用已逐漸減少。除此以外，還有鋰漂移硅計(jì)數(shù)器、位能正比計(jì)數(shù)器等。衍射儀中電路的主要功能：保證計(jì)數(shù)器能有比較好狀態(tài)的輸出脈沖，把技術(shù)電脈沖變?yōu)槟軌蛑庇^讀取或記錄的數(shù)值。與測(cè)量工作者關(guān)系密切的技術(shù)測(cè)量裝置：定標(biāo)器和技術(shù)率器。通常做的是粉末衍射，可以得到樣品在不同角度的衍射強(qiáng)度。浙江奧林巴斯XRD哪家好輻射波長(zhǎng)對(duì)衍射峰強(qiáng)的關(guān)系是：衍射峰強(qiáng)主要取決于晶體結(jié)構(gòu)，但是樣品的質(zhì)量吸收系數(shù)（MAC）與入射線的波長(zhǎng)有關(guān)，因此同一...

X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì)產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識(shí)X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測(cè)定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測(cè)定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測(cè)定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測(cè)?！癤射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶體衍射儀"。安徽奧林巴斯BTX小型臺(tái)式XRD公司有哪些x...

“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器".由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難。所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù)。單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu)。粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu)。但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析。 x射線粉末衍射可以 1，判斷物質(zhì)是否為晶體。 2，判斷是何種晶體物質(zhì)。 3，判斷物質(zhì)的晶型。 4，計(jì)算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。 5，定量計(jì)算混合物質(zhì)的比例。 6，計(jì)算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。 7，和其他專業(yè)相結(jié)合會(huì)有更普遍的用途。衍射的結(jié)果是產(chǎn)生明暗相間的衍射花紋，反映著衍射方向（角度）和強(qiáng)度。鹽城衍射儀代理商X射線衍射相分析（...

x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測(cè)量由此引起的電子動(dòng)能的分布早在本世紀(jì)初就有報(bào)道，但當(dāng)時(shí)可達(dá)到的分辯率還不足以觀測(cè)到光電子能譜上的實(shí)際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個(gè)瑞典研究小組觀測(cè)到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認(rèn)為是同義詞而不再加以區(qū)別。衍射儀的特點(diǎn)分...

多晶體衍射儀計(jì)數(shù)測(cè)量方法分為連續(xù)掃描和步進(jìn)（階梯）掃描兩種。1.連續(xù)掃描法：連續(xù)掃描方式掃描速度快、工作效率高，一般用于對(duì)樣品的全掃描測(cè)量（如物相定性分析）。步進(jìn)掃描法：步進(jìn)掃描測(cè)量精度高并受步進(jìn)寬度與步進(jìn)時(shí)間的影響，適用于做各種定量分析工作。測(cè)量參數(shù)包括狹縫光欄寬度、掃描速度、時(shí)間常數(shù)等。單晶體的研究方法分析的對(duì)象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中院子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射，對(duì)衍射先進(jìn)行分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律——即解出晶體結(jié)構(gòu)。衍射儀的市場(chǎng)價(jià)格。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！合肥衍射儀生產(chǎn)廠家有哪些x射線衍射圖譜： 橫坐標(biāo)：角度（度），...

X射線衍射照相法的原理是什么？ 照相法以光源發(fā)出的特征X射線照射多晶樣品，并用底片記錄衍射花樣。根據(jù)樣品與底片的相對(duì)位置，照相法可以分為德拜法、聚焦法其中德拜法應(yīng)用為普遍。 當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有 X射線衍射分析相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。這就是X射線衍射的基本原理。X射線粉末衍射技術(shù)是主流的X射線衍射分析技術(shù)。安徽奧林巴斯XRD批發(fā)廠家用x射線照射固體時(shí)，由于光電效應(yīng)，原子的某一能級(jí)的電子被擊出物體之外...

X射線衍射儀技術(shù)（XRD）注意事項(xiàng)： （1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。 （2）對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常，需提供測(cè)試方向。 （3）對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測(cè)量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。 （4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用，從...

X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射，對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長(zhǎng)的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時(shí)，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強(qiáng)，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。衍射X射線滿足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長(zhǎng)；θ是衍射角；d是結(jié)晶面間隔；n是整數(shù)。波長(zhǎng)λ可用已知的X射線衍射角測(cè)定，進(jìn)而求得面間隔，即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。將求出的衍射X射線強(qiáng)度和面間隔與已知的表對(duì)照，即可確定試樣結(jié)晶的物質(zhì)結(jié)構(gòu)，此即定性分析。從衍射X射線強(qiáng)度的比較，可進(jìn)行定量...

X射線衍射儀（XRD）是材料無損表征的有力工具。運(yùn)用衍射原理，可實(shí)現(xiàn)粉末、塊體、薄膜等樣品的測(cè)試分析，可以精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，也就是說可以精確的進(jìn)行物相分析，定性、定量分析及殘余應(yīng)力的分析。X射線衍射分析方法可實(shí)現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強(qiáng)度,衍射峰線形等信息可以進(jìn)行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點(diǎn)陣常數(shù)的精密測(cè)定，晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計(jì)算和宏觀殘余應(yīng)力測(cè)定及結(jié)晶度計(jì)算等。衍射儀服務(wù)哪家好？上海澤權(quán)告訴您。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！浙江奧林巴斯XRD定制廠家X射線源焦點(diǎn)與計(jì)數(shù)管窗口分別位于測(cè)角儀圓周上，樣品位于測(cè)角儀圓的正中心。在入射光路上有固定式梭拉狹縫和可調(diào)式...

被檢測(cè)出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰。對(duì)于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長(zhǎng)程有序，只是在幾個(gè)原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。普遍應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，普遍應(yīng)用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。x衍射定量分析中的樣品要求中，粒度325目是什么意思？浙江奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀哪家可以代理在研...

晶體取向的測(cè)定又稱為單晶定向,就是找出晶體樣品中晶體學(xué)取向與樣品外坐標(biāo)系的位向關(guān)系。雖然可以用光學(xué)方法等物理方法確定單晶取向,但X衍射法不僅可以精確地單晶定向,同時(shí)還能得到晶體內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的信息。一般用勞埃法單晶定向,其根據(jù)是底片上勞埃斑點(diǎn)轉(zhuǎn)換的極射赤面投影與樣品外坐標(biāo)軸的極射赤面投影之間的位置關(guān)系。透射勞埃法只適用于厚度小且吸收系數(shù)小的樣品,背射勞埃法就無需特別制備樣品,樣品厚度大小等也不受限制,因而多用此方法。晶體可以作為X射線的空間衍射光柵。奧林巴斯XRD公司哪家好便攜式XRD衍射儀是一種用于能源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的科學(xué)儀器X射線發(fā)生器，射線管功率：10W，X射線輻射劑量：儀器表面2cm處輻射...

X射線熒光光譜儀的原理是什么？ X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。 近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種普遍應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也普遍。 　　大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液...

衍射儀中探測(cè)器的用途接收樣品衍射線(光子)信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡?瞬時(shí)脈沖)信號(hào)。計(jì)數(shù)器的種類分為：正比計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器、蓋革計(jì)數(shù)器。要求定量關(guān)系較為準(zhǔn)確的情況下習(xí)慣使用正比計(jì)數(shù)器，蓋革計(jì)數(shù)器的使用已逐漸減少。除此以外，還有鋰漂移硅計(jì)數(shù)器、位能正比計(jì)數(shù)器等。衍射儀中電路的主要功能：保證計(jì)數(shù)器能有比較好狀態(tài)的輸出脈沖，把技術(shù)電脈沖變?yōu)槟軌蛑庇^讀取或記錄的數(shù)值。與測(cè)量工作者關(guān)系密切的技術(shù)測(cè)量裝置：定標(biāo)器和技術(shù)率器。上海的衍射儀服務(wù)廠家。歡迎來電咨詢上海澤權(quán)！安徽奧林巴斯XRD工藝流程X射線衍射儀技術(shù)。利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號(hào)特征，經(jīng)過處理得到衍射圖譜。分析其衍射圖譜，獲得材料的成...