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衍射出現(xiàn)在滿足布拉格條件的角度上，這可以理解。但是，X射線衍射是因為X射線與原子發(fā)生彈性碰撞，原子向四面八方散射頻率相同的X射線，書上講的衍射方向都是與入射方向夾角為2西塔，難道就不可能在其他方向上（即入射角和反射角不相等）恰好滿足布拉格條件嗎？ 恰好滿足布拉格條件的就是2θ方向。在其他方向（即入射角和反射角不相等）上的也有，但都被許許多多散射光之間相互抵消、成為光強很弱甚至為0的圖案、成為觀測區(qū)域內(nèi)的背景。X射線衍射儀晶體取向分析，如晶體取向、解理面及慣析面的 測定。江蘇奧林巴斯Terra便攜式XRD分析儀生產(chǎn)廠家哪家好當(dāng)x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點陣晶格間距為d的晶面上時,在...

“x射線衍射儀"可分為"x射線粉末衍射儀"和"x射線單晶衍射儀器".由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難。所以目前x射線粉末衍射技術(shù)是主流的x射線衍射分析技術(shù)。單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu)。粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu)。但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析。 x射線粉末衍射可以 1，判斷物質(zhì)是否為晶體。 2，判斷是何種晶體物質(zhì)。 3，判斷物質(zhì)的晶型。 4，計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力。 5，定量計算混合物質(zhì)的比例。 6，計算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)。 7，和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途。奧林巴斯儀器使用透射幾何技術(shù)不是基于測角儀的傳統(tǒng)XRD儀器所使用的反射幾何技術(shù)。杭州衍射儀什么品牌比...

X射線衍射擴展資料： 1、晶態(tài)物質(zhì)對X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時光束沒有被發(fā)散但方向被改變了而其波長保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象。絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線衍射。 2、晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。 3、因此，通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析。X-...

X射線衍射的方法有很多。 按使用的樣品可分為：單晶法和多晶粉末法； 按記錄檢測方法可分有：照相法和衍射譜儀（計算器）法。 基本的X射線衍射方法有三種：平板照相法、旋晶法和多晶粉末法。 1、平板照相法（平面底片法） 2、園筒底片法（又叫回轉(zhuǎn)照相法或旋晶法） （1）、回轉(zhuǎn)照相法 （2）、魏森堡（Weissenberg）照相法 （3）、多晶粉末德拜-謝樂照相法 （4）、多晶粉末衍射儀法 （5）、其它X射線衍射儀 a、計算機自動控制的四圓單晶衍射儀 b、轉(zhuǎn)靶X射線衍射儀 c、面探測器X射線衍射儀 d、同步輻射衍射分析。“X射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶體衍射儀"。浙江奧林巴斯Te...

X射線粉末衍射儀, 針對于測試樣品為粉末; X射線衍射儀 , 包括粉末衍射、單晶衍射、高溫衍射儀等等 ! X射線衍射儀包含X射線粉末衍射儀! 由于物質(zhì)要形成比較大的單晶顆粒很困難.所以目前X射線粉末衍射技術(shù)是主流的X射線衍射分析技術(shù).單晶衍射可以分析出物質(zhì)分子內(nèi)部的原子的空間結(jié)構(gòu).粉末衍射也可以分析出空間結(jié)構(gòu).但是大分子（比如蛋白質(zhì)等）等復(fù)雜的很難分析.X射線粉末衍射可以:1,判斷物質(zhì)是否為晶體.2,判斷是何種晶體物質(zhì).3,判斷物質(zhì)的晶型.4,計算物質(zhì)結(jié)構(gòu)的應(yīng)力.5,定量計算混合物質(zhì)的比例.6,計算物質(zhì)晶體結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù).7,和其他專業(yè)相結(jié)合會有更普遍的用途。XRD分析儀方便的樣本制備。蕪湖衍射儀銷...

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一個小晶體衍射X射線，其衍射方向是與晶體的周期性（d）有關(guān)的。一個衍射總可找到一個晶面族HKL，使它與入射線在此面族上符合反射關(guān)系，就以此面族的符號HKL作為此衍射之指數(shù)。對于x射線衍射，當(dāng)光程差等于波長的整數(shù)倍時，晶面的散射線將加強，此時滿足的條件為2dsinθ=nλ---布拉格方程，其中，d為晶面間距，θ為入射線，反射線與反射晶面之間的夾角，λ為波長，n為反射級數(shù)，布拉格方程是x射線在晶體產(chǎn)生衍射時的必要條件而非充分條件。有些情況下晶體雖然滿足布拉格方程，但不一定出現(xiàn)衍射，即所謂系統(tǒng)消光。衍射儀，即X射線衍射儀。麗水衍射儀價格表X射線衍射分析可以獲得哪些實驗數(shù)據(jù)? 通常做的是粉末衍射，可以...

X射線衍射分析是利用晶體形成的X射線衍射，對物質(zhì)進行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。衍射X射線滿足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射線的波長；θ是衍射角；d是結(jié)晶面間隔；n是整數(shù)。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結(jié)晶內(nèi)原子或離子的規(guī)則排列狀態(tài)。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已知的表對照，即可確定試樣結(jié)晶的物質(zhì)結(jié)構(gòu)，此即定性分析。從衍射X射線強度的比較，可進行定量...

衍射儀，即X射線衍射儀；特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線，它具有靶中元素相對應(yīng)的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應(yīng)的X射線波長為0.154056 nm。 x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國物理學(xué)家...

X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發(fā)生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。物質(zhì)或由其構(gòu)成的材料的性能是與晶體的結(jié)構(gòu)密切相關(guān)的，如金剛石和石墨都是由純的碳構(gòu)成的，由于它們的晶體結(jié)構(gòu)不同就有著截然不同的性質(zhì)。粉末衍射儀要求樣品試片具有一個十分平整的平面，而且對平面中的晶粒的取向常常要求是完全無序的，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時又要求制作定向的試片）。晶體可以作...

x射線有哪些特點？各種衍射方法有何不同 1、穿透作用。X射線因其波長短，能量大，照在物質(zhì)上時，只一部分被物質(zhì)所吸收，大部分經(jīng)由原子間隙而透過，表現(xiàn)出很強的穿透能力。X射線穿透物質(zhì)的能力與X射線光子的能量有關(guān)，X射線的波長越短，光子的能量越大，穿透力越強。X射線的穿透力也與物質(zhì)密度有關(guān)，利用差別吸收這種性質(zhì)可以把密度不同的物質(zhì)區(qū)分開來。 2、電離作用。物質(zhì)受X射線照射時，可使核外電子脫離原子軌道產(chǎn)生電離。利用電離電荷的多少可測定X射線的照射量，根據(jù)這個原理制成了X射線測量儀器。在電離作用下，氣體能夠?qū)щ?；某些物質(zhì)可以發(fā)生化學(xué)反應(yīng)；在有機體內(nèi)可以誘發(fā)各種生物效應(yīng)。 3、熒光作用。X射線波長很短不可...

單晶射線衍射儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器， 額定功率:50kv 40mA。CCD探測器：62mm 4K CCD芯片，Mo 光源增益>170電子/X光子； X-射線發(fā)生器：功率3kW，Mo靶陶瓷X射線光管； 三軸（ω,2θ,φ）測角儀:φ360o旋轉(zhuǎn)≤0.02o步長，角度重現(xiàn)性±0.0001o； Kryo-Flex低溫系統(tǒng)。 該儀器主要用于單晶樣品晶胞參數(shù)，單晶結(jié)構(gòu)測定 ，包括孿晶的有機、無機化合物分子的準確三維立體結(jié)構(gòu)，并通過先進的結(jié)構(gòu)解析軟件給出包括鍵長、鍵角、構(gòu)型、構(gòu)象乃至成鍵電子密度等分子參數(shù)及分子在晶格中的排列狀況。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶...

衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計的，是常規(guī)分析與特殊目的測量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。 硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的有效結(jié)合，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要 高精度的衍射角度測量系統(tǒng)，獲取更準確的測量結(jié)果 高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測量精度 各種功能附件滿足不同測試目的需要 程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計，操作簡便、儀器外型更美觀 X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測試儀器： 未知樣品中一種和多種物相鑒定 混合樣品中已知相定量分析 晶體結(jié)構(gòu)解析（Rietveld結(jié)構(gòu)分析） 非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化（高溫、低溫條件下） 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙...

晶體的X射線衍射圖像實質(zhì)上是晶體微觀結(jié)構(gòu)的一種精細復(fù)雜的變換，每種晶體的結(jié)構(gòu)與其X射線衍射圖之間都有著一一對應(yīng)的關(guān)系，其特征X射線衍射圖譜不會因為它種物質(zhì)混聚在一起而產(chǎn)生變化，這就是X射線衍射物相分析方法的依據(jù)。 制備各種標準單相物質(zhì)的衍射花樣并使之規(guī)范化，將待分析物質(zhì)的衍射花樣與之對照，從而確定物質(zhì)的組成相，就成為物相定性分析的基本方法。 鑒定出各個相后，根據(jù)各相花樣的強度正比于改組分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可對各種組分進行定量分析。目前常用衍射儀法得到衍射圖譜，用“粉末衍射標準聯(lián)合會（JCPDS）”負責(zé)編輯出版的“粉末衍射卡片（PDF卡片）”進行物相分析。X射線衍射儀開門時應(yīng)先...

X射線衍射法，對樣品測試收費要遠高于紅外光譜的。如果你是單純想測量薄膜的精確厚度，可以用紅外光譜法（IR),精確度可達cm^(-1)量級。在紅外光譜范圍內(nèi)，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內(nèi)外層表面的反射光達到一定相位差時會引起干涉，通過薄膜兩個表面對紅外線的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋。干涉條紋有三四十個波峰-波谷之多，分布在一定的波長范圍內(nèi)；根據(jù)測定結(jié)果，利用公式計算出薄膜的厚度。該方法操作簡便,測定速度快,應(yīng)用于實際樣品的無損測定,結(jié)果滿意。 X射線衍射分析儀所使用的SwiftMin軟件簡潔直觀。嘉興衍射儀代理價格晶體X射...

X射線衍射分析的應(yīng)用實例： 1、金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個平面，面積不小于10X10毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。 2、對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常。因此要求測試時合 理選擇響應(yīng)的方向平面。 3、對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求樣品不能簡單粗磨，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。 4、粉末樣品要求磨成320目的粒度，約40微米。粒度粗大衍射強度低，峰形不好，分辨率低。要了解樣品的物理化學(xué)性質(zhì)，如是否易燃，易潮解，易腐蝕、有毒、易揮發(fā)。 5、粉末樣品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。奧林巴斯...

x射線光電子能譜分析： x射線光電子能譜法（x-ray photoelectron spectrom-----xps）在表面分析領(lǐng)域中是一種嶄新的方法。雖然用x射線照射固體材料并測量由此引起的電子動能的分布早在本世紀初就有報道，但當(dāng)時可達到的分辯率還不足以觀測到光電子能譜上的實際光峰。直到1958年，以siegbahn為首的一個瑞典研究小組觀測到光峰現(xiàn)象，并發(fā)現(xiàn)此方法可以用來研究元素的種類及其化學(xué)狀態(tài)，故而取名“化學(xué)分析光電子能譜（eletron spectroscopy for chemical analysis-esca）。目前xps和esca已公認為是同義詞而不再加以區(qū)別。x射線粉末衍射...