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方旭:一個(gè)律師的理想信念-浙江銘生
筆記:如何追加轉(zhuǎn)讓股權(quán)的未出資股東為被執(zhí)行人
生命中無(wú)法缺失的父愛(ài)(婚姻家庭)
律師提示:如何應(yīng)對(duì)婚前財(cái)產(chǎn)約定
搞垮一個(gè)事務(wù)所的辦法有很多,辦好一個(gè)事務(wù)所的方法卻只有一個(gè)
顛覆認(rèn)知:語(yǔ)文數(shù)學(xué)總共考了96分的人生會(huì)怎樣?
寧波律師陳春香:爆款作品創(chuàng)作者如何提醒網(wǎng)絡(luò)言論的邊界意識(shí)
搖號(hào)成功選房后還可以后悔要求退還意向金嗎
誤以為“低成本、高回報(bào)”的假離婚,多少人誤入歧途
關(guān)于探針:探針實(shí)現(xiàn)同軸到共面波導(dǎo)轉(zhuǎn)換,探針需要保證一致性和兼容性,同時(shí)需要嚴(yán)格的控制其阻抗。板手動(dòng)探針臺(tái)在測(cè)試中非常受歡迎。它是精密和靈活性的獨(dú)特組合,可實(shí)現(xiàn)PCB的橫板或豎板的測(cè)量,并能擴(kuò)展成雙面PCB板測(cè)試系統(tǒng),也可以根據(jù)客戶(hù)的PCB板尺寸定制可調(diào)式夾具。...
晶圓探針測(cè)試臺(tái)是半導(dǎo)體工藝線(xiàn)上的中間測(cè)試設(shè)備,與測(cè)試儀連接后,能自動(dòng)完成對(duì)集成電路及各種晶體管芯電參數(shù)和功能的測(cè)試。隨著對(duì)高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低價(jià)格的電子產(chǎn)品的需求日益增長(zhǎng),這就要求在一個(gè)芯片中集成更多的功能并進(jìn)一步縮小尺寸,從而大片徑和高...
精細(xì)探測(cè)技術(shù)帶來(lái)新優(yōu)勢(shì):先進(jìn)應(yīng)力控制技術(shù)亦是必須的。為減少或消除造成良率下降之墊片損傷,在銅質(zhì)墊片加上鋁帽將能減少對(duì)易碎低K/高K介電的負(fù)面效應(yīng)。以先進(jìn)工藝驅(qū)動(dòng)在有效區(qū)域上墊片的測(cè)試,以低沖擊的探針卡,避免接觸所產(chǎn)生阻抗問(wèn)題。另一個(gè)可能損害到晶圓的來(lái)源是探針力...
“精確度”是探測(cè)儀器基本的指針,涵蓋定位、溫度及生產(chǎn)率等三個(gè)層面。首先,必須能穩(wěn)定、精確地探測(cè)到小型墊片,載臺(tái)系統(tǒng)亦須精確、能直接驅(qū)動(dòng)晶圓托盤(pán),并在晶圓移動(dòng)的過(guò)程中準(zhǔn)確地將晶圓和晶圓對(duì)位;其次,必須具備動(dòng)態(tài)監(jiān)控機(jī)制,確保所挾帶的空氣以監(jiān)控溫度、掌握可靠度和穩(wěn)定...
探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。探針臺(tái)分類(lèi):探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有:手動(dòng),半自動(dòng),全自動(dòng)。從功能上來(lái)區(qū)分有:溫控探針臺(tái),真空探...
探針臺(tái)的作用是什么?探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針?lè)胖迷诠杈希瑥亩梢耘c測(cè)試儀器/半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來(lái)測(cè)試芯片/半導(dǎo)體器件。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單,例如連續(xù)性或隔離檢查,也可以很復(fù)雜,包括微電路的完整功能測(cè)試??梢栽趯⒕A鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試...
針尖有鋁粉:測(cè)大電流時(shí),針尖上要引起多AL粉,使電流測(cè)不穩(wěn),所以需要經(jīng)常用灑精清洗探針并用氮?dú)獯蹈桑瑫r(shí)測(cè)試時(shí)邊測(cè)邊吹氮?dú)?,以減少針尖上的AL粉。針尖有墨跡:測(cè)試時(shí)打點(diǎn)器沒(méi)有調(diào)整好,尼龍絲碰到針尖上,針尖上沾上墨跡,然后針尖與壓點(diǎn)接觸時(shí),壓點(diǎn)窗口上墨跡沾污,使...
高精度探針臺(tái):目前世界出貨量的型號(hào)吸收了很新的工藝科技例如OTS,QPU和TTG相關(guān)技術(shù),這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小型化的設(shè)計(jì)及多種測(cè)試條件提供保證。特性1:OTS-近的位置對(duì)正系統(tǒng)(光學(xué)目標(biāo)對(duì)準(zhǔn))OTS通過(guò)對(duì)照相機(jī)相對(duì)位置的測(cè)量來(lái)保證其位置的精度。這是非...
光學(xué)平臺(tái)普遍的運(yùn)用在精密實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域中,隨著線(xiàn)緊的設(shè)備和工藝發(fā)展,使納米量級(jí)的測(cè)量成為可能,這對(duì)應(yīng)用系統(tǒng)中不同元件相關(guān)配合精度和穩(wěn)定性提出了級(jí)高的要求,為了提高穩(wěn)定性,我們可以從以下幾個(gè)方面來(lái)著手。外界的振源來(lái)源很多,比如地面的自振,各種聲音等等。但是影響大的是各...
理想的剛性體是不存在的?,F(xiàn)實(shí)中的系統(tǒng)只能近似的認(rèn)為是剛性的,因此,其穩(wěn)定性就要受到多方面因素的影響。例如外界的振源,系統(tǒng)的重量,光學(xué)平臺(tái)的結(jié)構(gòu)等等。為了提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性,我們可以從以下的幾個(gè)方面來(lái)著手。外界的振源來(lái)源很多,比如地面的自振,各種聲音等等。但是影響...
使用脈沖錘對(duì)平臺(tái)或面包板的表面施加一個(gè)已測(cè)量的外力,并將一個(gè)傳感器貼合在平臺(tái)或面包板表面對(duì)合成振動(dòng)進(jìn)行測(cè)量。探測(cè)器發(fā)出的信號(hào)通過(guò)分析儀進(jìn)行讀取,并用于產(chǎn)生頻率響應(yīng)譜(即柔量曲線(xiàn))。在光學(xué)平臺(tái)的研發(fā)過(guò)程中,對(duì)平臺(tái)表面上很多點(diǎn)的柔量曲線(xiàn)進(jìn)行記錄;但是,平臺(tái)四個(gè)角上...
自動(dòng)化加工系統(tǒng)平臺(tái)和面包板的特殊之處是采用自動(dòng)軌道機(jī)械啞光表面加工,比老舊的平臺(tái)產(chǎn)品更加平滑、平整。這些平臺(tái)經(jīng)過(guò)改善的表面拋光處理后,表面平整度在1平方米(11平方英尺)內(nèi)可達(dá)±0.1毫米(±0.004英寸),為安裝部件提供了接觸表面,不需要使用磨具對(duì)頂面進(jìn)行...
光學(xué)平板采用好的鋁材制造。與鋼材相比,鋁材硬重比大,有一定的抗振性,溫度傳導(dǎo)性好,不良環(huán)境中溫度形變小,陽(yáng)極氧化后美觀,耐磨,但是鋁材的剛性較差,無(wú)法承載較大的重量。因此一般用于承載較小的系統(tǒng)種。而且不宜懸空支撐。隨著眾多研究機(jī)構(gòu)對(duì)光學(xué)平臺(tái)質(zhì)量要求的不斷提高和...
光學(xué)平臺(tái)主要的一個(gè)目標(biāo)是消除平臺(tái)上任意兩個(gè)以上部件之間的相對(duì)位移。光學(xué)平臺(tái)重要特性為其共振頻率。共振頻率和振幅是負(fù)相關(guān)的,因此共振頻率應(yīng)盡可能地增大,從而將振動(dòng)強(qiáng)度小化。平臺(tái)和面包板會(huì)在一個(gè)特定的頻率范圍內(nèi)發(fā)生振動(dòng)。為了改善性能,每種尺寸的平臺(tái)和面包板的阻尼效...
簡(jiǎn)單的光學(xué)平臺(tái)保養(yǎng)說(shuō)明書(shū):如果光學(xué)平臺(tái)環(huán)境溫度過(guò)高,溫差過(guò)大,出現(xiàn)玻璃收縮,也可以立即用油封然后用砂紙輕輕磨平不說(shuō)了,想要光學(xué)顯微鏡繼續(xù)吊打大家,首先要把離鏡頭越近的光學(xué)玻璃考慮在內(nèi),切勿安裝在鏡頭上,可以安裝在玻璃的側(cè)面,再做檢查。光學(xué)玻璃的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度不允許受...
用顯微鏡對(duì)圖像進(jìn)行高度放大的成像系統(tǒng),顯微鏡和照像物鏡共同決定了相紙上每點(diǎn)的圖像。如果,在曝光過(guò)程中光學(xué)系統(tǒng)的每一部分(照明系統(tǒng)、樣品、顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)、成像光學(xué)系統(tǒng)和相紙平面)都精確地一同移動(dòng),不存在相對(duì)位移,成像也會(huì)很清晰。如果樣品相對(duì)物鏡產(chǎn)生了運(yùn)動(dòng),則像就...
光學(xué)隔振平臺(tái)普遍運(yùn)用于各個(gè)領(lǐng)域中,應(yīng)用對(duì)系統(tǒng)中不同元件相關(guān)配合精度和穩(wěn)定性提出了極高的要求,那么光學(xué)隔振平臺(tái)有哪些特點(diǎn)來(lái)滿(mǎn)足使用需求呢?1、優(yōu)異的隔振性能:內(nèi)置精密空氣彈簧隔振系統(tǒng),具備出色的固有頻率,對(duì)多個(gè)方向的振動(dòng)特別是垂直方向有著良好衰減效果,避免外界振...
針對(duì)不同的硅光芯片結(jié)構(gòu),我們提出并且實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了兩款新型耦合器以提高硅光芯片的耦合效率。一款基于非均勻光柵的垂直耦合器,在實(shí)驗(yàn)中,我們得到了超過(guò)60%的光纖-波導(dǎo)耦合效率。此外,我們還開(kāi)發(fā)了一款用以實(shí)現(xiàn)硅條形波導(dǎo)和狹縫波導(dǎo)之間高效耦合的新型耦合器應(yīng)用的系統(tǒng)主要是...
硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試時(shí)說(shuō)到功率飄忽不定,耦合直通率低一直是影響產(chǎn)能的重要的因素,功率飄通常與耦合板的位置有關(guān),因此在耦合時(shí)一定要固定好相應(yīng)的位置,不可隨便移動(dòng),此外部分機(jī)型需要使用專(zhuān)屬版本,又或者說(shuō)耦合RF線(xiàn)材損壞也會(huì)對(duì)功率的穩(wěn)定造成比較大的影響。若以上原...
半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中的探測(cè),可略分為三大類(lèi):1.參數(shù)探測(cè):提供制造期間的裝置特性測(cè)量;2.晶圓探測(cè):當(dāng)制造完成要進(jìn)行封裝前,在一系列的晶圓上(wafersort)測(cè)試裝置功能;3.以探針臺(tái)為基礎(chǔ)的晶圓處理探測(cè)(FinalTest):在出貨給顧客前,對(duì)封裝完成的裝置...
晶圓測(cè)試基本的一點(diǎn)就是:晶圓測(cè)試必須能夠辨別芯片的好壞,并使合格芯片繼續(xù)進(jìn)入下面的封裝工藝。為了確保芯片功能和成品率的有效測(cè)試,封裝廠商和設(shè)備制造者需要不斷探索,進(jìn)而找到高精度、高效率和低成本的測(cè)試方法,并運(yùn)用新的組裝工藝要求對(duì)晶圓片進(jìn)行探測(cè),這些要求將引起設(shè)...
平面電機(jī)的定子及動(dòng)子是完全暴露在空氣中,所以潮濕的環(huán)境及長(zhǎng)時(shí)期保養(yǎng)不當(dāng)將很容易使定子發(fā)生銹蝕現(xiàn)象,另外重物的碰撞及堅(jiān)銳器物的劃傷都將對(duì)定子造成損傷,而影響平面電機(jī)的步進(jìn)精度及使用壽命,對(duì)于已生銹的定子可以用天然油石輕輕地向一個(gè)方向打磨定子的表面,然后用脫脂棉球...
“精確度”是探測(cè)儀器基本的指針,涵蓋定位、溫度及生產(chǎn)率等三個(gè)層面。首先,必須能穩(wěn)定、精確地探測(cè)到小型墊片,載臺(tái)系統(tǒng)亦須精確、能直接驅(qū)動(dòng)晶圓托盤(pán),并在晶圓移動(dòng)的過(guò)程中準(zhǔn)確地將晶圓和晶圓對(duì)位;其次,必須具備動(dòng)態(tài)監(jiān)控機(jī)制,確保所挾帶的空氣以監(jiān)控溫度、掌握可靠度和穩(wěn)定...
硅光芯片耦合測(cè)試系統(tǒng)硅光陣列微調(diào)設(shè)備,微調(diào)設(shè)備包括有垂直設(shè)置的第1角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)與第二角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu),微調(diào)設(shè)備可帶動(dòng)設(shè)置于微調(diào)設(shè)備上的硅光陣列在垂直的兩個(gè)方向?qū)崿F(xiàn)角度微調(diào)。本發(fā)明還提供一種光子芯片測(cè)試系統(tǒng)硅光陣列耦合設(shè)備,包括有微調(diào)設(shè)備以及與微調(diào)設(shè)備固定連接的位移...
基于設(shè)計(jì)版圖對(duì)硅光芯片進(jìn)行光耦合測(cè)試的方法及系統(tǒng)進(jìn)行介紹,該方法包括:讀取并解析設(shè)計(jì)版圖,得到用于構(gòu)建芯片圖形的坐標(biāo)簇?cái)?shù)據(jù),驅(qū)動(dòng)左側(cè)光纖對(duì)準(zhǔn)第1測(cè)試點(diǎn),獲取與第1測(cè)試點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)圖形的第1選中信息,驅(qū)動(dòng)右側(cè)光纖對(duì)準(zhǔn)第二測(cè)試點(diǎn),獲取與第二測(cè)試點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)...
自動(dòng)化加工系統(tǒng)平臺(tái)和面包板的特殊之處是采用自動(dòng)軌道機(jī)械啞光表面加工,比老舊的平臺(tái)產(chǎn)品更加平滑、平整。這些平臺(tái)經(jīng)過(guò)改善的表面拋光處理后,表面平整度在1平方米(11平方英尺)內(nèi)可達(dá)±0.1毫米(±0.004英寸),為安裝部件提供了接觸表面,不需要使用磨具對(duì)頂面進(jìn)行...
光學(xué)平臺(tái)從功能上分為固定式和可調(diào)式;被動(dòng)或主動(dòng)式。光學(xué)平臺(tái)普遍應(yīng)用于光學(xué)、電子、精密機(jī)械制造、冶金、航天、航空、航海、精密化工和無(wú)損檢測(cè)等領(lǐng)域,以及其他機(jī)械行業(yè)的精密試驗(yàn)儀器、設(shè)備振動(dòng)隔離的關(guān)鍵裝置中。主要構(gòu)成標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)平臺(tái)基本組件包括:1、頂板;2、底板;3、...
大理石檢測(cè)平臺(tái)在使用過(guò)程中,不要和量具、刀具如銼刀、榔頭、車(chē)刀和鉆頭號(hào)堆積在一起,免碰傷大理石檢測(cè)平臺(tái)。也不要隨意放在機(jī)床上,免因機(jī)床振動(dòng)而使大理石檢測(cè)平臺(tái)掉下來(lái)?yè)p壞。尤其是游標(biāo)卡尺等,應(yīng)平放在盒子里,免使尺身變形。大理石檢測(cè)平臺(tái)是檢測(cè)量具,肯定不能作為別的量...
在使用光學(xué)實(shí)驗(yàn)平臺(tái)時(shí),所有光學(xué)玻璃器件應(yīng)保持清潔,避免各種污染,所有光學(xué)玻璃器件應(yīng)保持清潔,避免各種污染,保持清潔使用時(shí)注意防塵防震;不要對(duì)著儀器說(shuō)話(huà)、防塵、使用時(shí)注意防塵、防震;不要對(duì)著儀器說(shuō)話(huà)、咳嗽等;測(cè)童時(shí)動(dòng)作要輕緩,盡里使身體部位離開(kāi)實(shí)測(cè)里時(shí)動(dòng)作要輕驗(yàn)...
平臺(tái)阻尼需要進(jìn)行各種測(cè)試,對(duì)其厚度/面積的比值進(jìn)行優(yōu)化。更大面積的平臺(tái)(邊長(zhǎng)至少為10英尺或3米)具有厚度為12.2英寸(310毫米)的標(biāo)準(zhǔn)厚度,這樣可以提高穩(wěn)定性。對(duì)于更小面積的平臺(tái),厚度可以是8.3英寸(210毫米)或12.2英寸(310毫米),也可定制更...