一個(gè)的電阻測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供及時(shí)的技術(shù)支持。當(dāng)用戶在使用設(shè)備時(shí)遇到問(wèn)題時(shí),他們應(yīng)該能夠及時(shí)聯(lián)系到供應(yīng)商的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)。供應(yīng)商的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)?wèi)?yīng)該由經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師組成,能夠快速診斷和解決問(wèn)題。他們可以通過(guò)電話、電子郵件或在線聊天等方式與用戶進(jìn)行溝通,幫助用戶解決問(wèn)題。還可以提供遠(yuǎn)程技術(shù)支持服務(wù)。通過(guò)遠(yuǎn)程技術(shù)支持,供應(yīng)商的工程師可以通過(guò)互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程連接到用戶的設(shè)備,進(jìn)行故障診斷和修復(fù)。這種方式不僅可以節(jié)省用戶的時(shí)間和成本,還可以提高故障排除的效率。當(dāng)用戶遇到問(wèn)題時(shí),他們只需要聯(lián)系供應(yīng)商的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì),工程師就可以遠(yuǎn)程連接到設(shè)備并進(jìn)行故障排查。從而使絕緣體處于離子導(dǎo)電狀態(tài)。顯然,這將使絕緣體的絕緣...
電阻測(cè)試種類繁多,包括靜態(tài)電阻測(cè)試、動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試、溫度電阻測(cè)試等。靜態(tài)電阻測(cè)試是常見(jiàn)的電阻測(cè)試方法之一。它通過(guò)將待測(cè)電阻與一個(gè)已知電阻串聯(lián),然后通過(guò)測(cè)量電路中的電壓和電流來(lái)計(jì)算待測(cè)電阻的阻值。這種測(cè)試方法簡(jiǎn)單易行,適用于大多數(shù)電阻測(cè)試場(chǎng)景。在進(jìn)行靜態(tài)電阻測(cè)試時(shí),需要注意測(cè)試電路的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性,以確保測(cè)試結(jié)果的可靠性。動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試是一種更為精確的電阻測(cè)試方法。它通過(guò)在待測(cè)電阻上施加一個(gè)交變電壓或交變電流,然后測(cè)量電路中的相位差和幅度來(lái)計(jì)算待測(cè)電阻的阻值。與靜態(tài)電阻測(cè)試相比,動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試可以消除電路中的噪聲和干擾,提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試常用于對(duì)高精度電阻的測(cè)試,例如精密儀器和測(cè)量設(shè)備...
一個(gè)的電阻測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供及時(shí)的技術(shù)支持。當(dāng)用戶在使用設(shè)備時(shí)遇到問(wèn)題時(shí),他們應(yīng)該能夠及時(shí)聯(lián)系到供應(yīng)商的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)。供應(yīng)商的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)?wèi)?yīng)該由經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師組成,能夠快速診斷和解決問(wèn)題。他們可以通過(guò)電話、電子郵件或在線聊天等方式與用戶進(jìn)行溝通,幫助用戶解決問(wèn)題。還可以提供遠(yuǎn)程技術(shù)支持服務(wù)。通過(guò)遠(yuǎn)程技術(shù)支持,供應(yīng)商的工程師可以通過(guò)互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程連接到用戶的設(shè)備,進(jìn)行故障診斷和修復(fù)。這種方式不僅可以節(jié)省用戶的時(shí)間和成本,還可以提高故障排除的效率。當(dāng)用戶遇到問(wèn)題時(shí),他們只需要聯(lián)系供應(yīng)商的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì),工程師就可以遠(yuǎn)程連接到設(shè)備并進(jìn)行故障排查。用戶需要根據(jù)待測(cè)電阻的范圍選擇合適的智能電阻。湖南直銷...
在進(jìn)行離子遷移絕緣電阻測(cè)試時(shí),需要注意以下幾點(diǎn)。首先,要選擇合適的測(cè)試設(shè)備和方法,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。其次,要根據(jù)實(shí)際情況確定測(cè)試的參數(shù)和條件,如濕度、溫度、電壓等。要及時(shí)記錄和分析測(cè)試結(jié)果,發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修復(fù)或更換。離子遷移絕緣電阻測(cè)試是一種重要的電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)方法。它通過(guò)測(cè)量離子遷移速率和絕緣電阻值,來(lái)評(píng)估材料的質(zhì)量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測(cè)試廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制過(guò)程中,可以幫助檢測(cè)材料的離子遷移問(wèn)題和絕緣電阻異常,從而確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑,封裝樹(shù)脂微間距、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評(píng)估。江蘇智...
從監(jiān)控的方式看(除阻值監(jiān)控外):ECM/SIR可以通過(guò)放大鏡進(jìn)行直觀的判斷;而CAF只能通過(guò)破壞性的切片進(jìn)行微觀條件下的分析;ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性,而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴度,故越來(lái)越多的產(chǎn)品被要求進(jìn)行ECM/SIR/CAF測(cè)試,如航空產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等,以確保產(chǎn)品在相對(duì)惡劣的使用條件下的壽命與可靠性;離子遷移既然是絕緣信賴度的***,因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管,因?yàn)檫@些正是離子遷移的重要元兇。例如:加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等...
為了提高PCB板的絕緣性能,可以采取一些措施。首先,要保持PCB板的清潔。在制造過(guò)程中,要注意防止污染物的進(jìn)入,例如在操作過(guò)程中要戴手套,避免手部污染。其次,要選擇合適的材料。一些材料具有較好的絕緣性能,可以在PCB板的制造中使用。此外,還可以采用一些特殊的工藝,例如涂覆絕緣層或使用特殊的涂料,來(lái)提高PCB板的絕緣性能。PCB離子遷移絕緣電阻測(cè)試是一項(xiàng)重要的測(cè)試方法,用于評(píng)估PCB板的絕緣性能。通過(guò)測(cè)量絕緣電阻,可以判斷PCB板的絕緣性能是否符合要求。為了提高PCB板的絕緣性能,可以采取一些措施,例如保持清潔、選擇合適的材料和采用特殊的工藝。通過(guò)這些措施,可以提高PCB板的絕緣性能,確保電子產(chǎn)...
智能電阻具有更高的精度和穩(wěn)定性。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試儀器往往受到環(huán)境因素的影響,導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的不準(zhǔn)確。而智能電阻通過(guò)內(nèi)置的智能芯片和傳感器,可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)環(huán)境溫度、濕度等因素,并自動(dòng)進(jìn)行校準(zhǔn),從而提高測(cè)試的精度和穩(wěn)定性。這將提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,滿足市場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品的需求。智能電阻具有更高的自動(dòng)化程度。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試需要人工操作,耗時(shí)耗力且容易出錯(cuò)。而智能電阻可以通過(guò)與測(cè)試設(shè)備的連接,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。只需設(shè)置測(cè)試參數(shù),智能電阻就能自動(dòng)完成測(cè)試,并將測(cè)試結(jié)果傳輸給設(shè)備或計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析。這不僅提高了測(cè)試的效率,還減少了人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性。通過(guò)表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接...
1、保持測(cè)試樣品無(wú)污染,做好標(biāo)記,用無(wú)污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開(kāi)路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測(cè)試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測(cè)結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測(cè)試樣品表面,有可能會(huì)造成表面樹(shù)枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹(shù)枝狀晶體的生長(zhǎng)。這樣的情況必須被...
定義CAF又稱導(dǎo)電性陽(yáng)極絲,是指印刷電路板電極間由于吸濕作用,吸附水分后加入電場(chǎng)金屬離子沿玻纖紗從一金屬電極向另一金屬電極移動(dòng)時(shí),分析出金屬與化合物的現(xiàn)象。CAF現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致絕緣層劣化。背景當(dāng)前,無(wú)論是多層板的層數(shù)還是通孔的孔徑,無(wú)論是布線寬度還是線距,都趨于細(xì)微化。由于絕緣距離的縮短以及電子設(shè)備便攜化的影響,導(dǎo)致電路板容易發(fā)生吸濕現(xiàn)象,進(jìn)而發(fā)生離子遷移。同時(shí),當(dāng)電路板發(fā)生離子遷移后,短時(shí)間內(nèi)極易產(chǎn)生故障。待測(cè)PCB其正負(fù)兩極間絕緣距離之規(guī)格分別為:兩通孔銅壁間的距離為(26mil)孔銅壁到內(nèi)層**近銅導(dǎo)體的距離為()孔環(huán)到外層**近導(dǎo)體的距離為()。 通過(guò)表面絕緣電阻(SIR)測(cè)試數(shù)...
試驗(yàn)通道數(shù)1-256通道試驗(yàn)時(shí)間0---9999小時(shí)(可以任意設(shè)定)低阻測(cè)試測(cè)試范圍1mΩ---103Ω測(cè)量精度±(1%RD+10μΩ)**小分辨率1μΩ測(cè)試電流0.05-3.00(A)測(cè)試速度≦0.5秒/通道測(cè)試時(shí)分組16通道/組,各組所有參數(shù)可以**設(shè)置高、低溫區(qū)限值可分別任意設(shè)置電阻測(cè)試模式定時(shí)觸發(fā)、溫度觸發(fā)測(cè)試數(shù)據(jù)輸出圖表,EXCEL,TXT等格式,溫度和阻值曲線可重疊顯示。超限報(bào)警可設(shè)定配件測(cè)試電纜PTFE耐高溫電纜溫度監(jiān)測(cè)0-4通道溫度監(jiān)測(cè)選件溫度范圍:-70℃~+200℃,精度±1℃*本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試操作軟件,Windows操作系統(tǒng)、MS-office軟...
PCB離子遷移絕緣電阻測(cè)試是一項(xiàng)重要的測(cè)試方法,用于評(píng)估PCB板的絕緣性能。在電子產(chǎn)品制造過(guò)程中,PCB板的絕緣性能是至關(guān)重要的,它直接影響著產(chǎn)品的可靠性和安全性。因此,進(jìn)行PCB離子遷移絕緣電阻測(cè)試是必不可少的。PCB離子遷移是指在電場(chǎng)作用下,PCB板表面的離子會(huì)遷移到其他位置,導(dǎo)致電路短路或絕緣性能下降。這種現(xiàn)象主要是由于PCB板表面的污染物引起的,例如油污、灰塵、水分等。當(dāng)這些污染物存在時(shí),它們會(huì)在電場(chǎng)的作用下形成離子,進(jìn)而遷移到其他位置,導(dǎo)致電路短路或絕緣性能下降。在所用的電子化學(xué)品中,容易被忽視的是焊劑。江西國(guó)內(nèi)電阻測(cè)試系統(tǒng)電阻測(cè)試CAF形成過(guò)程:1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻...
在進(jìn)行離子遷移絕緣電阻測(cè)試時(shí),需要注意以下幾點(diǎn)。首先,要選擇合適的測(cè)試設(shè)備和方法,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。其次,要根據(jù)實(shí)際情況確定測(cè)試的參數(shù)和條件,如濕度、溫度、電壓等。要及時(shí)記錄和分析測(cè)試結(jié)果,發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修復(fù)或更換。離子遷移絕緣電阻測(cè)試是一種重要的電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)方法。它通過(guò)測(cè)量離子遷移速率和絕緣電阻值,來(lái)評(píng)估材料的質(zhì)量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測(cè)試廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制過(guò)程中,可以幫助檢測(cè)材料的離子遷移問(wèn)題和絕緣電阻異常,從而確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。防止發(fā)生離子遷移故障的一個(gè)重要措施當(dāng)然是要保持使用環(huán)境的干燥。廣西電阻測(cè)試售后服務(wù)電阻測(cè)試為了評(píng)估PCB...
離子遷移絕緣電阻測(cè)試廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制過(guò)程中。它可以用于檢測(cè)電子元器件、印刷電路板、電子設(shè)備外殼等材料的質(zhì)量。通過(guò)測(cè)試,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)材料中的離子遷移問(wèn)題和絕緣電阻異常,從而采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修復(fù)或更換,確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測(cè)試的方法主要包括濕度試驗(yàn)、電壓加速試驗(yàn)和絕緣電阻測(cè)量。濕度試驗(yàn)是將材料置于高濕度環(huán)境中,通過(guò)觀察離子遷移現(xiàn)象來(lái)評(píng)估材料的質(zhì)量。電壓加速試驗(yàn)是在高電壓條件下進(jìn)行離子遷移測(cè)試,以加速離子遷移速率,從而更快地評(píng)估材料的質(zhì)量。絕緣電阻測(cè)量是通過(guò)測(cè)量材料的絕緣電阻值來(lái)評(píng)估材料的絕緣性能。智能電阻具有高精度的特點(diǎn)。江蘇pcb板電阻測(cè)試電阻測(cè)試4、在...
離子遷移的兩大階段離子遷移發(fā)生的主因是樹(shù)脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時(shí)親膠性不良,兩者之間一旦出現(xiàn)間隙(Gap)后,又在偏壓驅(qū)動(dòng)之下,使得銅鹽獲得可移動(dòng)的路徑后,于是CAF就進(jìn)一步形成了。離子遷移的發(fā)生可分為兩階段:STEPl是高溫高濕的影響下,使得樹(shù)脂與玻纖之間的附著力出現(xiàn)劣化,并促成玻纖表面硅烷處理層產(chǎn)生水解,進(jìn)而形成了對(duì)銅金屬腐蝕的環(huán)境。STEP2則已出現(xiàn)了銅腐蝕的水解反應(yīng),并形成了銅鹽的沉積物,已到達(dá)不可逆反應(yīng),其反應(yīng)式如下:焊錫青、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評(píng)估。廣東供應(yīng)電阻測(cè)試報(bào)價(jià)電阻測(cè)試智能電阻具有更高的精度和穩(wěn)定性。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試儀器往往受到環(huán)境因素的影...
溫度電阻測(cè)試是一種特殊的電阻測(cè)試方法,用于測(cè)量電阻在不同溫度下的變化。電阻在溫度變化時(shí)會(huì)發(fā)生變化,這是由于電阻材料的溫度系數(shù)導(dǎo)致的。溫度電阻測(cè)試可以通過(guò)在待測(cè)電阻上施加一個(gè)恒定的電流或電壓,然后測(cè)量電路中的溫度來(lái)計(jì)算電阻的溫度系數(shù)。溫度電阻測(cè)試廣泛應(yīng)用于溫度傳感器和溫度控制系統(tǒng)中,以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。還有一些其他的電阻測(cè)試方法,例如噪聲電阻測(cè)試、頻率電阻測(cè)試等。噪聲電阻測(cè)試用于測(cè)量電阻中的噪聲水平,以評(píng)估電路的性能和穩(wěn)定性。頻率電阻測(cè)試用于測(cè)量電阻在不同頻率下的變化,以評(píng)估電路的頻率響應(yīng)特性。這些電阻測(cè)試方法在特定的應(yīng)用場(chǎng)景中具有重要的意義,可以幫助工程師優(yōu)化電路設(shè)計(jì)和改進(jìn)產(chǎn)品性能。智...
多功能電阻測(cè)試設(shè)備是一種集成了多種測(cè)試功能的設(shè)備,可以同時(shí)進(jìn)行多種電阻測(cè)試。它可以測(cè)量電阻的值、溫度系數(shù)、電壓系數(shù)等多個(gè)參數(shù),同時(shí)還可以進(jìn)行電阻的快速測(cè)試、自動(dòng)測(cè)試等。這種設(shè)備的出現(xiàn),提高了電阻測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性,為電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制提供了有力的支持。多功能電阻測(cè)試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景廣闊。隨著電子產(chǎn)品的不斷更新?lián)Q代,對(duì)電阻測(cè)試設(shè)備的要求也越來(lái)越高。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試設(shè)備只能進(jìn)行簡(jiǎn)單的電阻測(cè)量,無(wú)法滿足復(fù)雜電子產(chǎn)品的測(cè)試需求。而多功能電阻測(cè)試設(shè)備可以滿足不同電子產(chǎn)品的測(cè)試要求,包括手機(jī)、電腦、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域。因此,多功能電阻測(cè)試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景非常廣闊。智能電阻能夠提供更加便捷...
1、保持測(cè)試樣品無(wú)污染,做好標(biāo)記,用無(wú)污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開(kāi)路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測(cè)試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測(cè)結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測(cè)試樣品表面,有可能會(huì)造成表面樹(shù)枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹(shù)枝狀晶體的生長(zhǎng)。這樣的情況必須被...
智能電阻具有更高的可追溯性。在電子行業(yè)中,產(chǎn)品的質(zhì)量追溯是非常重要的。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試往往無(wú)法提供完整的測(cè)試記錄和數(shù)據(jù),難以進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量的追溯。而智能電阻通過(guò)內(nèi)置的存儲(chǔ)器和通信模塊,可以實(shí)時(shí)記錄測(cè)試數(shù)據(jù),并將數(shù)據(jù)上傳到云端進(jìn)行存儲(chǔ)和管理。這樣,不僅可以方便地查看和分析測(cè)試數(shù)據(jù),還可以追溯產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題,及時(shí)采取措施進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。智能電阻有望推動(dòng)電子行業(yè)的智能化發(fā)展。隨著物聯(lián)網(wǎng)和人工智能技術(shù)的不斷進(jìn)步,智能電阻可以與其他智能設(shè)備進(jìn)行連接和交互,實(shí)現(xiàn)更高級(jí)的功能。例如,智能電阻可以與智能手機(jī)或智能家居設(shè)備連接,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制和監(jiān)測(cè)。這將為電子行業(yè)帶來(lái)更多的商機(jī)和發(fā)展空間。智能電阻具有更加豐富的功能和...
廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量電流的設(shè)定:使用低阻SIR系統(tǒng)測(cè)樣品導(dǎo)通性時(shí)可以設(shè)置測(cè)量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測(cè)樣品電阻時(shí)測(cè)量電流是不用設(shè)置,需設(shè)置測(cè)量電壓,因?yàn)閮x器恒壓工作測(cè)量漏電流,用歐姆定理計(jì)算電阻值。電阻值的測(cè)定時(shí)間可設(shè)定范圍是:CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測(cè)定時(shí)間范圍1-600分鐘可設(shè)置,單次取值電阻測(cè)定電壓穩(wěn)定時(shí)間范圍1-600秒可設(shè)置,完成多次取值電阻測(cè)定時(shí)間1-9999小時(shí)可設(shè)置。電阻測(cè)試范圍1x104 -1 x1014 Ω,電阻測(cè)量精度:1x104 -1x1010Ω≤±2%, 1x1010 -1x1011Ω≤±5%1x1011 ...
CAF形成過(guò)程:1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,然后涂環(huán)氧樹(shù)脂半固化后制成;2、樹(shù)脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時(shí)親膠性不良,兩者之間容易出現(xiàn)間隙;3、鉆孔等機(jī)械加工過(guò)程中,由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對(duì)樹(shù)脂的粘合力進(jìn)一步破壞;4、距離較近的兩孔若電勢(shì)不同,則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動(dòng)下逐漸向負(fù)極遷移。CAF產(chǎn)生的原因:1、原料問(wèn)題1)樹(shù)脂身純度不良,如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳;2)玻纖束之表面有問(wèn)題,如耦合性不佳,親膠性不良;3)樹(shù)脂之硬化劑不良,容易吸水;4)膠片含浸中行進(jìn)速度太快;常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽造成氣泡殘存。2、流程工藝問(wèn)題1)孔粗-鉆孔太過(guò)粗糙,造...
在電子產(chǎn)品的制造和維修過(guò)程中,電阻測(cè)試配件起著至關(guān)重要的作用。電阻測(cè)試配件通過(guò)測(cè)量電路中的電阻值來(lái)判斷電路的工作狀態(tài)。電阻是電子元器件中基本的一種,它的作用是限制電流的流動(dòng),控制電路的工作狀態(tài)。電阻的大小決定了電流的大小,從而影響整個(gè)電路的性能。因此,電阻測(cè)試配件的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測(cè)試儀器。它通常由多個(gè)電阻組成,通過(guò)選擇不同的電阻值來(lái)模擬不同的電路條件。電阻箱廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品的調(diào)試和測(cè)試過(guò)程中,可以幫助工程師快速定位和解決電路中的問(wèn)題。焊錫青、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評(píng)估。表面絕緣SIR電阻測(cè)試系統(tǒng)電阻測(cè)試4、...
從監(jiān)控的方式看:都是通過(guò)監(jiān)控其絕緣阻值變化作為**重要的判斷指標(biāo);故很多汽車行業(yè)或?qū)嶒?yàn)室已習(xí)慣上把ECM/SIR從廣義上定義為CAF的一種(線與線之間的表面CAF)。ECM/SIR與CAF的聯(lián)系與差異差異點(diǎn):從產(chǎn)生的原因看:ECM/SIR是在PCB的表面產(chǎn)生金屬離子的遷移;而CAF是發(fā)生在PCB的內(nèi)部出現(xiàn)銅離子沿著玻纖發(fā)生緩慢遷移,進(jìn)而出現(xiàn)漏電;從產(chǎn)生的現(xiàn)象看:ECM/SIR會(huì)在導(dǎo)體間出現(xiàn)枝丫狀(Dendrite)物質(zhì);而CAF則是出現(xiàn)在孔~孔、線~線、層~層、孔~線間,出現(xiàn)陽(yáng)極金屬絲;測(cè)試配置靈活:每塊模塊可設(shè)置不同的測(cè)試電壓,可同時(shí)完成多工況測(cè)試。東莞SIR絕緣電阻測(cè)試哪家好電阻測(cè)試離子遷...
在電子產(chǎn)品的制造和維修過(guò)程中,電阻測(cè)試配件起著至關(guān)重要的作用。電阻測(cè)試配件通過(guò)測(cè)量電路中的電阻值來(lái)判斷電路的工作狀態(tài)。電阻是電子元器件中基本的一種,它的作用是限制電流的流動(dòng),控制電路的工作狀態(tài)。電阻的大小決定了電流的大小,從而影響整個(gè)電路的性能。因此,電阻測(cè)試配件的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測(cè)試儀器。它通常由多個(gè)電阻組成,通過(guò)選擇不同的電阻值來(lái)模擬不同的電路條件。電阻箱廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品的調(diào)試和測(cè)試過(guò)程中,可以幫助工程師快速定位和解決電路中的問(wèn)題。選擇智能電阻時(shí),用戶需要考慮精度和穩(wěn)定性。廣東SIR和CAF電阻測(cè)試性價(jià)比電阻測(cè)試電阻測(cè)試是一種常...
智能電阻具有更高的精度和穩(wěn)定性。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試儀器往往受到環(huán)境因素的影響,導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的不準(zhǔn)確。而智能電阻通過(guò)內(nèi)置的智能芯片和傳感器,可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)環(huán)境溫度、濕度等因素,并自動(dòng)進(jìn)行校準(zhǔn),從而提高測(cè)試的精度和穩(wěn)定性。這將提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性,滿足市場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品的需求。智能電阻具有更高的自動(dòng)化程度。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試需要人工操作,耗時(shí)耗力且容易出錯(cuò)。而智能電阻可以通過(guò)與測(cè)試設(shè)備的連接,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。只需設(shè)置測(cè)試參數(shù),智能電阻就能自動(dòng)完成測(cè)試,并將測(cè)試結(jié)果傳輸給設(shè)備或計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析。這不僅提高了測(cè)試的效率,還減少了人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性。電阻測(cè)試設(shè)備操作手冊(cè)應(yīng)包含基本信息、使用方...
導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試(Conductiveanodicfilamenttest,簡(jiǎn)稱CAF)是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹(shù)狀生長(zhǎng)的區(qū)別:1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅,而不是鉛或者錫;2.金屬絲是從陽(yáng)極往陰極生長(zhǎng)的;3.金屬絲是由金屬鹽組成,而不是中性的金屬原子組成。焊盤(pán)中的銅金屬是金屬離子的主要來(lái)源,在陽(yáng)極電化學(xué)生成,并沿著樹(shù)脂和玻璃增強(qiáng)纖維之間界面移動(dòng)。隨著時(shí)代發(fā)展和技術(shù)的革新,PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來(lái)越嚴(yán)重,究其原因,是因?yàn)楝F(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來(lái)越多,這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來(lái)越短,這樣就更加容易在兩個(gè)金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。智能...
離子遷移(ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從材料方面:樹(shù)脂與玻纖紗束之間結(jié)合力不足;解決方案:優(yōu)化CCL制作參數(shù);選擇抗分層的材料;填充空洞或樹(shù)脂奶油層不足;解決方案:優(yōu)化CCL制作參數(shù);選擇抗分層的材料;樹(shù)脂吸溫性差;解決方案:膠片與基板中的硬化劑由Dicy改為PN以減少吸水;樹(shù)脂與玻纖清潔度差(含離子成份);解決方案:使用Anti-CAF的材料;銅箔銅芽較長(zhǎng),易造成離子遷移;解決方案:選用Lowprofilecopperfoil;多大焊錫青、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評(píng)估。pcb板電阻測(cè)試分析電阻測(cè)試智能電阻則是一種集成了智能化功能的電阻器件,能夠提供更加便...
從監(jiān)控的方式看:都是通過(guò)監(jiān)控其絕緣阻值變化作為**重要的判斷指標(biāo);故很多汽車行業(yè)或?qū)嶒?yàn)室已習(xí)慣上把ECM/SIR從廣義上定義為CAF的一種(線與線之間的表面CAF)。ECM/SIR與CAF的聯(lián)系與差異差異點(diǎn):從產(chǎn)生的原因看:ECM/SIR是在PCB的表面產(chǎn)生金屬離子的遷移;而CAF是發(fā)生在PCB的內(nèi)部出現(xiàn)銅離子沿著玻纖發(fā)生緩慢遷移,進(jìn)而出現(xiàn)漏電;從產(chǎn)生的現(xiàn)象看:ECM/SIR會(huì)在導(dǎo)體間出現(xiàn)枝丫狀(Dendrite)物質(zhì);而CAF則是出現(xiàn)在孔~孔、線~線、層~層、孔~線間,出現(xiàn)陽(yáng)極金屬絲;用戶需要根據(jù)待測(cè)電阻的范圍選擇合適的智能電阻。湖北P(pán)CB絕緣電阻測(cè)試注意事項(xiàng)電阻測(cè)試5.1.硬件連接與操作步...
8、在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,建議每24到100個(gè)小時(shí)需要換用另外的電阻檢測(cè)器,確保測(cè)試電壓和偏置電壓的極性始終一致。在電阻測(cè)量過(guò)程中,為了保證測(cè)試的準(zhǔn)確性,如果觀察到周期性的電阻突降,也應(yīng)該被算作一次失效。因?yàn)殛?yáng)極導(dǎo)電絲是很細(xì)的,很容易被破壞掉。當(dāng)50%的部分已經(jīng)失效了,測(cè)試即可停止。當(dāng)CAF發(fā)生時(shí),電阻偏小,施加到CAF失效兩端的電壓會(huì)下降。當(dāng)測(cè)試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時(shí),顯得尤為明顯。所以在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,并不需要調(diào)整電壓。9、500個(gè)小時(shí)的偏置電壓后(一共596個(gè)小時(shí)),像之前一樣重新進(jìn)行絕緣電阻的測(cè)量。在所用的電子化學(xué)品中,容易被忽視的是焊劑。貴州離子遷移電阻測(cè)試價(jià)格電阻測(cè)試Sir電阻...
在電子產(chǎn)品的制造和維修過(guò)程中,電阻測(cè)試配件起著至關(guān)重要的作用。電阻測(cè)試配件通過(guò)測(cè)量電路中的電阻值來(lái)判斷電路的工作狀態(tài)。電阻是電子元器件中基本的一種,它的作用是限制電流的流動(dòng),控制電路的工作狀態(tài)。電阻的大小決定了電流的大小,從而影響整個(gè)電路的性能。因此,電阻測(cè)試配件的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性對(duì)于電子產(chǎn)品的制造和維修至關(guān)重要。電阻箱是一種可以調(diào)節(jié)電阻值的測(cè)試儀器。它通常由多個(gè)電阻組成,通過(guò)選擇不同的電阻值來(lái)模擬不同的電路條件。電阻箱廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品的調(diào)試和測(cè)試過(guò)程中,可以幫助工程師快速定位和解決電路中的問(wèn)題。電阻測(cè)試設(shè)備對(duì)使用技巧有較高要求。CAF電阻測(cè)試咨詢電阻測(cè)試Sir電阻測(cè)試是一種常用的電阻測(cè)試方法...
PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗,這種損耗很大時(shí),原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能,使電介質(zhì)溫度升高,絕緣老化,甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦,**終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo),電介質(zhì)即絕緣材料,是電氣設(shè)備、裝置中用來(lái)隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì),通過(guò)各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。電介質(zhì)長(zhǎng)期受到點(diǎn)場(chǎng)、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場(chǎng)的作用下,電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對(duì)介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來(lái)表征。智能電阻的應(yīng)用范圍更加廣,可以滿足不同行業(yè)和領(lǐng)域的需求。廣東PCB絕緣電阻測(cè)試電...