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定義CAF又稱導(dǎo)電性陽極絲，是指印刷電路板電極間由于吸濕作用，吸附水分后加入電場(chǎng)金屬離子沿玻纖紗從一金屬電極向另一金屬電極移動(dòng)時(shí)，分析出金屬與化合物的現(xiàn)象。CAF現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致絕緣層劣化。背景當(dāng)前，無論是多層板的層數(shù)還是通孔的孔徑，無論是布線寬度還是線距，都趨于細(xì)微化。由于絕緣距離的縮短以及電子設(shè)備便攜化的影響，導(dǎo)致電路板容易發(fā)生吸濕現(xiàn)象，進(jìn)而發(fā)生離子遷移。同時(shí)，當(dāng)電路板發(fā)生離子遷移后，短時(shí)間內(nèi)極易產(chǎn)生故障。待測(cè)PCB其正負(fù)兩極間絕緣距離之規(guī)格分別為：兩通孔銅壁間的距離為(26mil)孔銅壁到內(nèi)層**近銅導(dǎo)體的距離為()孔環(huán)到外層**近導(dǎo)體的距離為()。 從而使絕緣體處于離子導(dǎo)電狀態(tài)。顯...

CAF形成過程：1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布，然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成；2、樹脂與玻纖之間的附著力不足，或含浸時(shí)親膠性不良，兩者之間容易出現(xiàn)間隙；3、鉆孔等機(jī)械加工過程中，由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對(duì)樹脂的粘合力進(jìn)一步破壞；4、距離較近的兩孔若電勢(shì)不同，則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動(dòng)下逐漸向負(fù)極遷移。CAF產(chǎn)生的原因：1、原料問題1)樹脂身純度不良，如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳；2)玻纖束之表面有問題，如耦合性不佳，親膠性不良；3)樹脂之硬化劑不良，容易吸水；4)膠片含浸中行進(jìn)速度太快；常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽造成氣泡殘存。2、流程工藝問題1)孔粗－鉆孔太過粗糙，造...

為了提高PCB板的絕緣性能，可以采取一些措施。首先，要保持PCB板的清潔。在制造過程中，要注意防止污染物的進(jìn)入，例如在操作過程中要戴手套，避免手部污染。其次，要選擇合適的材料。一些材料具有較好的絕緣性能，可以在PCB板的制造中使用。此外，還可以采用一些特殊的工藝，例如涂覆絕緣層或使用特殊的涂料，來提高PCB板的絕緣性能。PCB離子遷移絕緣電阻測(cè)試是一項(xiàng)重要的測(cè)試方法，用于評(píng)估PCB板的絕緣性能。通過測(cè)量絕緣電阻，可以判斷PCB板的絕緣性能是否符合要求。為了提高PCB板的絕緣性能，可以采取一些措施，例如保持清潔、選擇合適的材料和采用特殊的工藝。通過這些措施，可以提高PCB板的絕緣性能，確保電子產(chǎn)...

1、電化學(xué)遷移(ECM)電化學(xué)遷移是在直流電壓的影響下發(fā)生的離子運(yùn)動(dòng)。在潮濕條件下,金屬離子會(huì)在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當(dāng)枝晶連接兩種導(dǎo)體時(shí),便造成了短路,而且枝晶會(huì)因電流驟增而發(fā)生熔斷。2、導(dǎo)電陽極絲(CAF)目前公認(rèn)的CAF成因是銅離子的電化學(xué)遷移隨著銅鹽的沉積。在高溫高濕條件下,PCB內(nèi)部的樹脂和玻纖之間的附力劣化,促成玻纖表面的硅烷偶聯(lián)劑產(chǎn)生水解,樹脂和玻纖分離并形成可供離子遷移的通道。PCB/PCBA絕緣失效失效機(jī)理絕緣電阻是表征PCB絕緣性能的一個(gè)簡單而且容易測(cè)量的指標(biāo)，絕緣失效是指絕緣電阻減小。一般,影響絕緣電阻的因素有溫度、濕度、電場(chǎng)強(qiáng)度以及樣品處理等。...

導(dǎo)電陽極絲測(cè)試（Conductiveanodicfilamenttest，簡稱CAF）是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別：1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅，而不是鉛或者錫；2.金屬絲是從陽極往陰極生長的；3.金屬絲是由金屬鹽組成，而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源，在陽極電化學(xué)生成，并沿著樹脂和玻璃增強(qiáng)纖維之間界面移動(dòng)。隨著時(shí)代發(fā)展和技術(shù)的革新，PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴(yán)重，究其原因，是因?yàn)楝F(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短，這樣就更加容易在兩個(gè)金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。智能...

離子遷移絕緣電阻測(cè)試廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制過程中。它可以用于檢測(cè)電子元器件、印刷電路板、電子設(shè)備外殼等材料的質(zhì)量。通過測(cè)試，可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)材料中的離子遷移問題和絕緣電阻異常，從而采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修復(fù)或更換，確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測(cè)試的方法主要包括濕度試驗(yàn)、電壓加速試驗(yàn)和絕緣電阻測(cè)量。濕度試驗(yàn)是將材料置于高濕度環(huán)境中，通過觀察離子遷移現(xiàn)象來評(píng)估材料的質(zhì)量。電壓加速試驗(yàn)是在高電壓條件下進(jìn)行離子遷移測(cè)試，以加速離子遷移速率，從而更快地評(píng)估材料的質(zhì)量。絕緣電阻測(cè)量是通過測(cè)量材料的絕緣電阻值來評(píng)估材料的絕緣性能。用戶需要根據(jù)待測(cè)電阻的范圍選擇合適的智能電阻。廣西SIR和C...

導(dǎo)電陽極絲測(cè)試（Conductiveanodicfilamenttest，簡稱CAF）是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別：1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅，而不是鉛或者錫；2.金屬絲是從陽極往陰極生長的；3.金屬絲是由金屬鹽組成，而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源，在陽極電化學(xué)生成，并沿著樹脂和玻璃增強(qiáng)纖維之間界面移動(dòng)。隨著時(shí)代發(fā)展和技術(shù)的革新，PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴(yán)重，究其原因，是因?yàn)楝F(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短，這樣就更加容易在兩個(gè)金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。監(jiān)測(cè)...

從監(jiān)控的方式看（除阻值監(jiān)控外）：ECM/SIR可以通過放大鏡進(jìn)行直觀的判斷；而CAF只能通過破壞性的切片進(jìn)行微觀條件下的分析；ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性，而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴度，故越來越多的產(chǎn)品被要求進(jìn)行ECM/SIR/CAF測(cè)試，如航空產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等，以確保產(chǎn)品在相對(duì)惡劣的使用條件下的壽命與可靠性；離子遷移既然是絕緣信賴度的***，因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管，因?yàn)檫@些正是離子遷移的重要元兇。例如：加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等...

10、在500小時(shí)的偏壓加載后，可以進(jìn)行額外的T/H/B條件。然而，**少要進(jìn)行500小時(shí)加載偏置電壓的測(cè)試，來作為CAF測(cè)試的結(jié)果之一。11、在確定為CAF失效之前，應(yīng)該確認(rèn)連接線兩端的電阻是不是要小于菊花鏈區(qū)域的電阻。做法是將菊花鏈附近連接測(cè)試線纜的線路切斷。所有的測(cè)試結(jié)束后，如果發(fā)現(xiàn)某塊測(cè)試板連接線兩端的電阻確實(shí)小于菊花鏈區(qū)域的電阻，那么這塊測(cè)試板就不能作為數(shù)據(jù)分析的依據(jù)。常規(guī)結(jié)果判定：1.96小時(shí)靜置后絕緣電阻R1≤107歐姆，即判定樣本失效；2.當(dāng)**終測(cè)試絕緣電阻R2<108歐姆，或者在測(cè)試過程中有3次記錄或以上出現(xiàn)R2<108歐姆即判定樣本失效。提供質(zhì)量的售后服務(wù)對(duì)于電阻測(cè)試設(shè)備...

絕緣電阻測(cè)量:-偏置電壓:100V+2V-測(cè)量電壓為100v時(shí)無極化變化-**小時(shí)間斜坡到100V=2秒-測(cè)量時(shí)間=60秒-被測(cè)樣品應(yīng)與其他樣品電隔離限流電阻:**小1mohm與PCB串聯(lián)在線測(cè)試程序：1）PCB干燥后立即進(jìn)行絕緣電阻測(cè)量;2）將樣品放入環(huán)境測(cè)試箱，并連接到在線測(cè)量設(shè)備。在試驗(yàn)結(jié)束前，不能取出樣品，也不能打開試驗(yàn)箱。（***組數(shù)據(jù)）3）施加溫度至85℃(持續(xù)時(shí)間3小時(shí))，然后施加濕度至85%的相對(duì)濕度(持續(xù)時(shí)間另一個(gè)3小時(shí))，沒有偏置電壓（第二組數(shù)據(jù)）。在85℃，85%濕度下放置96小時(shí)后，測(cè)量絕緣電阻為IR初始值（第三組數(shù)據(jù)）4）開始輸出偏置電壓100V-標(biāo)記為0小時(shí)，開始試...

Sir電阻測(cè)試是一種非接觸式的電阻測(cè)試方法，這種測(cè)試方法不需要直接接觸電路，因此可以避免對(duì)電路的損壞。同時(shí)，Sir電阻測(cè)試還具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn)，可以快速準(zhǔn)確地測(cè)量電路中的電阻值。它可以用來測(cè)量電路中的電阻值。這種測(cè)試方法具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn)，可以快速準(zhǔn)確地測(cè)量電路中的電阻值。同時(shí)，它還可以用來檢測(cè)電路中的其他問題，如短路和斷路。因此，掌握Sir電阻測(cè)試方法對(duì)于電子工程師來說非常重要。無論是在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境還是在工業(yè)生產(chǎn)中，Sir電阻測(cè)試都可以發(fā)揮重要作用，提高工作效率。離子在單位強(qiáng)度(V/m)電場(chǎng)作用下的移動(dòng)速度稱之為離子遷移率，它是分辨被測(cè)離子直徑大小的一個(gè)重要參數(shù)。浙江國內(nèi)電阻測(cè)試銷...

離子遷移（ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從材料方面：樹脂與玻纖紗束之間結(jié)合力不足；解決方案：優(yōu)化CCL制作參數(shù)；選擇抗分層的材料;填充空洞或樹脂奶油層不足；解決方案：優(yōu)化CCL制作參數(shù)；選擇抗分層的材料;樹脂吸溫性差；解決方案：膠片與基板中的硬化劑由Dicy改為PN以減少吸水；樹脂與玻纖清潔度差（含離子成份）；解決方案：使用Anti-CAF的材料；銅箔銅芽較長，易造成離子遷移；解決方案：選用Lowprofilecopperfoil；多大CAF測(cè)試——電路板離子遷移測(cè)試的有效方法！浙江供應(yīng)電阻測(cè)試廠家供應(yīng)電阻測(cè)試耐CAF評(píng)估樣品制作影響因素&建議：因CAF產(chǎn)生的條件是處于有金屬鹽類...

一個(gè)的電阻測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商還可以提供定期的培訓(xùn)和維修服務(wù)。定期的培訓(xùn)可以幫助用戶了解設(shè)備的功能和使用技巧，提高他們的操作水平。維修服務(wù)可以幫助用戶解決設(shè)備的故障和維護(hù)問題，延長設(shè)備的使用壽命。供應(yīng)商可以在全國范圍內(nèi)設(shè)立維修中心，為用戶提供快速的維修服務(wù)。還可以通過建立在線社區(qū)或論壇來促進(jìn)用戶之間的交流和互助。用戶可以在社區(qū)中分享使用經(jīng)驗(yàn)、解決問題的方法等。供應(yīng)商的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)也可以在社區(qū)中回答用戶的問題，提供幫助和建議。這種方式不僅可以提高用戶的滿意度，還可以增加供應(yīng)商的品牌影響力。一個(gè)的電阻測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供詳細(xì)的產(chǎn)品說明和操作手冊(cè)。浙江pcb絕緣電阻測(cè)試銷售廠家電阻測(cè)試從監(jiān)控的方式看：都...

電阻測(cè)試是一種常見的電子測(cè)試方法，用于測(cè)量電路中的電阻值。在電子設(shè)備制造和維修過程中，電阻測(cè)試是非常重要的一環(huán)。然而，由于電阻測(cè)試設(shè)備的復(fù)雜性和使用技巧的要求，很多用戶在使用過程中會(huì)遇到各種問題。因此，提供質(zhì)量的售后服務(wù)對(duì)于電阻測(cè)試設(shè)備的供應(yīng)商來說至關(guān)重要。一個(gè)的電阻測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供詳細(xì)的產(chǎn)品說明和操作手冊(cè)。這些文檔應(yīng)該包含設(shè)備的基本信息、使用方法、故障排除指南等內(nèi)容。用戶可以通過閱讀這些文檔來了解設(shè)備的功能和使用方法，從而更好地使用設(shè)備。此外，供應(yīng)商還可以提供在線視頻教程，幫助用戶更直觀地了解設(shè)備的使用方法。智能電阻可以在更寬廣的領(lǐng)域中應(yīng)用，比如自動(dòng)化控制系統(tǒng)、電力系統(tǒng)和通信系統(tǒng)等。貴...

一個(gè)的電阻測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)該提供及時(shí)的技術(shù)支持。當(dāng)用戶在使用設(shè)備時(shí)遇到問題時(shí)，他們應(yīng)該能夠及時(shí)聯(lián)系到供應(yīng)商的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)。供應(yīng)商的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)?wèi)?yīng)該由經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師組成，能夠快速診斷和解決問題。他們可以通過電話、電子郵件或在線聊天等方式與用戶進(jìn)行溝通，幫助用戶解決問題。還可以提供遠(yuǎn)程技術(shù)支持服務(wù)。通過遠(yuǎn)程技術(shù)支持，供應(yīng)商的工程師可以通過互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程連接到用戶的設(shè)備，進(jìn)行故障診斷和修復(fù)。這種方式不僅可以節(jié)省用戶的時(shí)間和成本，還可以提高故障排除的效率。當(dāng)用戶遇到問題時(shí)，他們只需要聯(lián)系供應(yīng)商的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)，工程師就可以遠(yuǎn)程連接到設(shè)備并進(jìn)行故障排查。通過表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的...

一般我們使用這個(gè)方法來量測(cè)靜態(tài)的表面絕緣電阻(SIR)與動(dòng)態(tài)的離子遷移現(xiàn)象(ION MIGRATION)，另外，它也可以拿來作 CAF(Conductive Anodic ****ment，導(dǎo)電性細(xì)絲物，陽極性玻纖纖維之漏電現(xiàn)象)試驗(yàn)。 注：CAF主要在測(cè)試助焊劑對(duì)PCB板吸濕性及玻璃纖維表面分離的影響。 表面絕緣電阻(SIR)被***用來評(píng)估污染物對(duì)組裝件可靠度的影響。跟其他方法相比，SIR的優(yōu)點(diǎn)除了可偵測(cè)局部的污染外，也可以測(cè)得離子及非離子污染物對(duì)印刷電路板(PCB)可靠度的影響，其效果遠(yuǎn)比其他方法(如清潔度試驗(yàn)、鉻酸銀試驗(yàn)…等)來的有效及方便。 由于電路板布線越來越密，焊點(diǎn)與焊點(diǎn)也越來越...

PCB/PCBA絕緣失效的表征電介質(zhì)長期受到點(diǎn)場(chǎng)、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場(chǎng)的作用下，電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象，這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對(duì)介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。什么是PCB/PCBA絕緣失效？PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗，這種損耗很大時(shí)，原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能，使電介質(zhì)溫度升高，絕緣老化，甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦，終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo)，電介質(zhì)即絕緣材料，是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì)，通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。從而使絕緣體處于離子導(dǎo)...

離子遷移絕緣電阻測(cè)試是一種常用的電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)方法。它通過測(cè)量材料的離子遷移速率和絕緣電阻值，來評(píng)估材料的質(zhì)量和可靠性。離子遷移是指在電場(chǎng)作用下，材料中的離子在電極之間遷移的現(xiàn)象。離子遷移速率是評(píng)估材料質(zhì)量的重要指標(biāo)之一，因?yàn)殡x子遷移會(huì)導(dǎo)致電子產(chǎn)品的故障和損壞。離子遷移速率越高，材料的質(zhì)量越差，對(duì)電子產(chǎn)品的可靠性影響也越大。絕緣電阻是指材料對(duì)電流的阻礙能力。絕緣電阻值越高，材料的絕緣性能越好，對(duì)電子產(chǎn)品的保護(hù)作用也越強(qiáng)。絕緣電阻測(cè)試可以幫助檢測(cè)材料的絕緣性能，從而評(píng)估材料的質(zhì)量和可靠性。通過表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。湖北離子遷移絕緣電阻測(cè)試誠信合作電阻測(cè)試溫度...

定義CAF又稱導(dǎo)電性陽極絲，是指印刷電路板電極間由于吸濕作用，吸附水分后加入電場(chǎng)金屬離子沿玻纖紗從一金屬電極向另一金屬電極移動(dòng)時(shí)，分析出金屬與化合物的現(xiàn)象。CAF現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致絕緣層劣化。背景當(dāng)前，無論是多層板的層數(shù)還是通孔的孔徑，無論是布線寬度還是線距，都趨于細(xì)微化。由于絕緣距離的縮短以及電子設(shè)備便攜化的影響，導(dǎo)致電路板容易發(fā)生吸濕現(xiàn)象，進(jìn)而發(fā)生離子遷移。同時(shí)，當(dāng)電路板發(fā)生離子遷移后，短時(shí)間內(nèi)極易產(chǎn)生故障。待測(cè)PCB其正負(fù)兩極間絕緣距離之規(guī)格分別為：兩通孔銅壁間的距離為(26mil)孔銅壁到內(nèi)層**近銅導(dǎo)體的距離為()孔環(huán)到外層**近導(dǎo)體的距離為()。 從而使絕緣體處于離子導(dǎo)電狀態(tài)。顯...

在選擇智能電阻時(shí)，用戶需要考慮一些關(guān)鍵因素。首先是精度和穩(wěn)定性，用戶需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求選擇適合的精度和穩(wěn)定性要求。其次是測(cè)量范圍和分辨率，用戶需要根據(jù)待測(cè)電阻的范圍選擇合適的智能電阻。此外，用戶還需要考慮智能電阻的接口和通信方式，以便與其他設(shè)備進(jìn)行連接和數(shù)據(jù)傳輸。智能電阻是一種集成了智能化功能的電阻器件，具有高精度、便捷操作和豐富功能的特點(diǎn)。它在電子工程中的應(yīng)用越來越，為電阻測(cè)試提供了更加準(zhǔn)確和便捷的解決方案。在選擇智能電阻時(shí)，用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、測(cè)量范圍和接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。電阻測(cè)試用于測(cè)量電路中的電阻值。廣西電阻測(cè)試系統(tǒng)電阻測(cè)試智能電阻則是一種集成...

AF與ECM/SIR都是一個(gè)電化學(xué)過程；從產(chǎn)生的條件來看（都需要符合下面3個(gè)條件）：電解液環(huán)境，即濕度與離子（Electrolyte–humidityandionicspecies）；施加偏壓（Voltagebias–Forcethatdrivesthereaction）;存在離子遷移的通道意味著玻纖與樹脂的結(jié)合間存在缺陷，或線與線間存在雜物等；（“Pathway”–Awayfortheionstomovefromtheanodetothecathode；Thepathwayisalongtheglassfiberswhentheresinimpregnationtotheglassfiber...

表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓，經(jīng)過長時(shí)間的試驗(yàn)，觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試可以用來評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì)，通過表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí)，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場(chǎng)和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對(duì)的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)...

PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗，這種損耗很大時(shí)，原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能，使電介質(zhì)溫度升高，絕緣老化，甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦，**終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo)，電介質(zhì)即絕緣材料，是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì)，通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。電介質(zhì)長期受到點(diǎn)場(chǎng)、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場(chǎng)的作用下，電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象，這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對(duì)介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。表面絕緣阻抗(SIR)測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表面清潔度（包括加工、制造過...

PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗，這種損耗很大時(shí)，原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能，使電介質(zhì)溫度升高，絕緣老化，甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦，**終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo)，電介質(zhì)即絕緣材料，是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì)，通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。電介質(zhì)長期受到點(diǎn)場(chǎng)、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場(chǎng)的作用下，電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象，這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對(duì)介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。焊錫青、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評(píng)估。陜西國內(nèi)電阻測(cè)試有哪...

離子遷移（ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從設(shè)計(jì)方面：越小的距離（孔~孔、線~線、層~層、孔~線間）越易造成離子遷移現(xiàn)象；解決方案：結(jié)合制程能力與材料能力，優(yōu)化設(shè)計(jì)方案；（當(dāng)然重點(diǎn)還是必須符合客戶要求）玻纖紗束與孔排列的方向；紗束與孔的方向一致時(shí)，會(huì)造成離子遷移的可能性比較大；解決方案：盡可能避免或減少紗束與孔排列一致的可能性，但此項(xiàng)受客戶產(chǎn)品設(shè)計(jì)的制約；產(chǎn)品的防濕保護(hù)設(shè)計(jì)；解決方案：選擇比較好的防濕設(shè)計(jì)，如涉及海運(yùn)，建議采用PE袋或鋁箔袋包裝方式；很多用戶在使用電阻測(cè)試設(shè)備過程中會(huì)遇到各種問題。廣東多功能電阻測(cè)試服務(wù)電話電阻測(cè)試多功能電阻測(cè)試設(shè)備是一種集成了多種測(cè)試功能的設(shè)備，可...

除雜PCB制程中若出現(xiàn)雜質(zhì)或殘銅，清潔處理不當(dāng)后，將金屬鹽類殘留在板面上。一旦吸潮或分層吸濕，便會(huì)形成CAF問題。因此需調(diào)整參數(shù)避免殘銅，同時(shí)改進(jìn)清洗方法并充分清潔。評(píng)估CAF的方法：離子遷移評(píng)價(jià)通常使用梳型電路板為試料，將成對(duì)的電極交錯(cuò)連接成梳形圖案，在高溫高濕的條件下給予一固定之直流電壓，經(jīng)過長時(shí)間之測(cè)試，并觀察線路是否有瞬間短路之現(xiàn)象。針對(duì)CAF引起的失效現(xiàn)象，一般采用的方法是逐步縮小范圍的方法；失效樣品先測(cè)試電阻》》用顯微鏡觀察，找出大概失效的位置》》退掉表面的綠油》》再觀察具體的位置》》磨切片觀察失效發(fā)生的原因?授權(quán)手機(jī)APP可以遠(yuǎn)程進(jìn)行相關(guān)管理、操作，查看樣品監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)。海南pcb離...

電阻測(cè)試種類繁多，包括靜態(tài)電阻測(cè)試、動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試、溫度電阻測(cè)試等。靜態(tài)電阻測(cè)試是常見的電阻測(cè)試方法之一。它通過將待測(cè)電阻與一個(gè)已知電阻串聯(lián)，然后通過測(cè)量電路中的電壓和電流來計(jì)算待測(cè)電阻的阻值。這種測(cè)試方法簡單易行，適用于大多數(shù)電阻測(cè)試場(chǎng)景。在進(jìn)行靜態(tài)電阻測(cè)試時(shí)，需要注意測(cè)試電路的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性，以確保測(cè)試結(jié)果的可靠性。動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試是一種更為精確的電阻測(cè)試方法。它通過在待測(cè)電阻上施加一個(gè)交變電壓或交變電流，然后測(cè)量電路中的相位差和幅度來計(jì)算待測(cè)電阻的阻值。與靜態(tài)電阻測(cè)試相比，動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試可以消除電路中的噪聲和干擾，提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試常用于對(duì)高精度電阻的測(cè)試，例如精密儀器和測(cè)量設(shè)備...

1、電化學(xué)遷移(ECM)電化學(xué)遷移是在直流電壓的影響下發(fā)生的離子運(yùn)動(dòng)。在潮濕條件下,金屬離子會(huì)在陽極形成,并向陰極遷移(見圖6.1),形成枝晶。當(dāng)枝晶連接兩種導(dǎo)體時(shí),便造成了短路,而且枝晶會(huì)因電流驟增而發(fā)生熔斷。2、導(dǎo)電陽極絲(CAF)目前公認(rèn)的CAF成因是銅離子的電化學(xué)遷移隨著銅鹽的沉積。在高溫高濕條件下,PCB內(nèi)部的樹脂和玻纖之間的附力劣化,促成玻纖表面的硅烷偶聯(lián)劑產(chǎn)生水解,樹脂和玻纖分離并形成可供離子遷移的通道。PCB/PCBA絕緣失效失效機(jī)理絕緣電阻是表征PCB絕緣性能的一個(gè)簡單而且容易測(cè)量的指標(biāo)，絕緣失效是指絕緣電阻減小。一般,影響絕緣電阻的因素有溫度、濕度、電場(chǎng)強(qiáng)度以及樣品處理等。...

在進(jìn)行Sir電阻測(cè)試之前，需要準(zhǔn)備一臺(tái)Sir電阻測(cè)試儀。這種儀器通常由一個(gè)發(fā)射器和一個(gè)接收器組成。發(fā)射器會(huì)產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，而接收器會(huì)測(cè)量電磁場(chǎng)的變化。通過測(cè)量電磁場(chǎng)的變化，可以計(jì)算出電路中的電阻值。在進(jìn)行Sir電阻測(cè)試時(shí)，需要將發(fā)射器和接收器分別放置在電路的兩個(gè)不同位置。發(fā)射器會(huì)產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，而接收器會(huì)測(cè)量電磁場(chǎng)的變化。通過測(cè)量電磁場(chǎng)的變化，可以計(jì)算出電路中的電阻值。通常情況下，電阻值越大，電磁場(chǎng)的變化越小。因此，通過測(cè)量電磁場(chǎng)的變化，可以得到電路中的電阻值。電阻測(cè)試是一種常見的電子測(cè)試方法。江蘇電阻測(cè)試廠家供應(yīng)電阻測(cè)試AF與ECM/SIR都是一個(gè)電化學(xué)過程；從產(chǎn)生的條件來看（都需要符合下面...

多功能電阻測(cè)試設(shè)備是一種集成了多種測(cè)試功能的設(shè)備，可以同時(shí)進(jìn)行多種電阻測(cè)試。它可以測(cè)量電阻的值、溫度系數(shù)、電壓系數(shù)等多個(gè)參數(shù)，同時(shí)還可以進(jìn)行電阻的快速測(cè)試、自動(dòng)測(cè)試等。這種設(shè)備的出現(xiàn)，提高了電阻測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性，為電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制提供了有力的支持。多功能電阻測(cè)試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景廣闊。隨著電子產(chǎn)品的不斷更新?lián)Q代，對(duì)電阻測(cè)試設(shè)備的要求也越來越高。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試設(shè)備只能進(jìn)行簡單的電阻測(cè)量，無法滿足復(fù)雜電子產(chǎn)品的測(cè)試需求。而多功能電阻測(cè)試設(shè)備可以滿足不同電子產(chǎn)品的測(cè)試要求，包括手機(jī)、電腦、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域。因此，多功能電阻測(cè)試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景非常廣闊。四線法的基本原理在于通過...