無錫芯軟智控科技有限公司榮獲無錫市專精特新中小企業(yè)榮譽
又一家上市公司“精工科技”選擇芯軟云“
智能排產(chǎn)功能在MES管理系統(tǒng)中有哪些應(yīng)用
心芯相連·共京能年|2024年芯軟智控企業(yè)年會網(wǎng)滿舉行
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又一家上市公司“精工科技“選擇芯軟云!
新誠物業(yè)&芯軟智控:一封表揚信,一面錦旗,是對芯軟智控的滿分
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了解MES生產(chǎn)管理系統(tǒng)的作用及優(yōu)勢?
DDR 規(guī)范的時序要求 在明確了規(guī)范中的 DC 和 AC 特性要求之后,下一步,我們還應(yīng)該了解規(guī)范中對于信號的時序要求。這是我們所設(shè)計的 DDR 系統(tǒng)能夠正常工作的基本條件。 在規(guī)范文件中,有很多時序圖,筆者大致計算了一下,有 40 個左右。作...
DDR5內(nèi)存的時序測試方法通常包括以下步驟和技術(shù): 時序窗口分析:時序窗口是指內(nèi)存模塊接收到信號后進行正確響應(yīng)和處理的時間范圍。在DDR5時序測試中,需要對時序窗口進行分析和優(yōu)化,以確保在規(guī)定的時間窗口內(nèi)準確讀取和寫入數(shù)據(jù)。通過分析內(nèi)存模塊的時序要求...
信號穩(wěn)定性測試:發(fā)射端一致性測試還會對LVDS發(fā)射器的信號穩(wěn)定性進行評估。這包括在一定時間范圍內(nèi)連續(xù)發(fā)送數(shù)據(jù)時,監(jiān)測發(fā)射器輸出信號的穩(wěn)定性和一致性。通過測試信號的抖動、噪聲和失真等指標,可以評估發(fā)射器輸出信號的穩(wěn)定性,并確保在實際應(yīng)用場景中能夠保持數(shù)據(jù)傳輸?shù)目?..
功率因數(shù)的合理值取決于具體的應(yīng)用和要求。通常,功率因數(shù)介于0和1之間,接近1表示電路對電能的利用效率較高,而接近0表示存在較多的無效功率損耗。低功率因數(shù)可能會導(dǎo)致額外的電能損失、電網(wǎng)負荷增加和變制動能力等問題。 通過進行功率因數(shù)測試,可以確定電氣設(shè)備...
電氣測試是對電氣設(shè)備、電路或系統(tǒng)進行各種測試的過程,以評估其性能、功能和安全性。電氣測試涵蓋了多個方面的測試,包括但不限于以下幾類: 電氣安全測試:主要評估設(shè)備在電氣方面的安全性能,例如接地連接、絕緣電阻、電弧和漏電保護等。 電氣性能測試:涉及...
行基本的RJ45測試并不需要專業(yè)知識,但如果要進行更深入的故障排除和網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化,則需要一定的專業(yè)知識。以下是一些常見的RJ45測試任務(wù),它們可能需要一些專業(yè)知識:連通性測試:對于簡單的連通性測試,只需按照說明書或測試儀器提供的指南操作即可。您需要了解如何正確連接...
I/O總線:DDR5內(nèi)存使用并行I/O(Input/Output)總線與其他系統(tǒng)組件進行通信。I/O總線用于傳輸讀取和寫入請求,以及接收和發(fā)送數(shù)據(jù)。 地址和數(shù)據(jù)線:DDR5內(nèi)存使用地址線和數(shù)據(jù)線進行信息傳輸。地址線用于傳遞訪問內(nèi)存的特定位置的地址,而...
讀取測試:通過讀取指令從EMMC設(shè)備中獲取特定的數(shù)據(jù)塊或文件,并記錄讀取操作的時間、結(jié)果和數(shù)據(jù)校驗。讀取測試用于驗證設(shè)備在讀取過程中的一致性和正確性。寫入測試:使用寫入指令將測試數(shù)據(jù)寫入EMMC設(shè)備的特定位置或文件,并記錄寫入操作的時間、結(jié)果和數(shù)據(jù)校驗。寫入測...
Row Cycle Time(tRC):行周期時間是指在兩次同一行之間所需的時間間隔。它表示在進行下一次行操作之前,需要等待多長時間。Row Refresh Time(tRFC):行刷新時間是指在進行一次行刷新操作后,必須等待的時間,以便確保已經(jīng)刷新的行被完全...
為了應(yīng)對這些問題,設(shè)計和制造LPDDR4存儲器時通常會采取一些措施:精確的電氣校準和信號條件:芯片制造商會針對不同環(huán)境下的溫度和工作范圍進行嚴格測試和校準,以確保LPDDR4在低溫下的性能和穩(wěn)定性。這可能包括精確的時鐘和信號條件設(shè)置。溫度傳感器和自適應(yīng)調(diào)節(jié):部...
交換式以太網(wǎng)交換式結(jié)構(gòu):在交換式以太網(wǎng)中,交換機根據(jù)收到的數(shù)據(jù)幀中的MAC地址決定數(shù)據(jù)幀應(yīng)發(fā)向交換機的哪個端口。因為端口間的幀傳輸彼此屏蔽,因此節(jié)點就不擔(dān)心自己發(fā)送的幀在通過交換機時是否會與其他節(jié)點發(fā)送的幀產(chǎn)生沖出。為什么要用交換式網(wǎng)絡(luò)替代共享式網(wǎng)絡(luò):減少沖出...
EMMC測試是否需要涉及文件系統(tǒng)的兼容性?MMC測試中需要考慮文件系統(tǒng)的兼容性。文件系統(tǒng)是指操作系統(tǒng)用于管理和組織存儲設(shè)備上文件和目錄的一種方式。在進行eMMC測試時,考慮文件系統(tǒng)的兼容性是很重要的,因為它直接關(guān)系到eMMC設(shè)備與操作系統(tǒng)之間的數(shù)據(jù)交互和文件管...
控制器(Memory Controller):內(nèi)存在計算機系統(tǒng)中由內(nèi)存控制器負責(zé)管理和控制。DDR4內(nèi)存控制器是與內(nèi)存模塊進行通信的重要組件,負責(zé)發(fā)送讀取和寫入命令,并控制數(shù)據(jù)的傳輸。 數(shù)據(jù)線、地址線和控制線(Data Lines,Address L...
特殊環(huán)境測試:某些設(shè)備需要在特殊環(huán)境條件下進行測試,如高溫、低溫、高濕度、低壓等。在進行特殊環(huán)境測試時,需要選擇適合的測試儀器和設(shè)備,并確保其能夠在所需的環(huán)境條件下正常工作。 復(fù)雜系統(tǒng)測試:某些設(shè)備是由多個復(fù)雜系統(tǒng)組成,例如電力系統(tǒng)或自動化控制系統(tǒng)。...
容量管理一致性測試:測試EMMC設(shè)備的容量管理功能,包括空間分配、塊擦除和重新映射等。確保設(shè)備對容量管理操作的一致性和準確性。性能一致性測試:通過測試EMMC設(shè)備在讀取和寫入操作中的性能表現(xiàn),包括響應(yīng)時間、數(shù)據(jù)傳輸速度和吞吐量等指標,以驗證設(shè)備的性能一致性。異...
性能層面:在性能層面,可以測試eMMC設(shè)備在不同負載、壓力和應(yīng)用場景下的性能表現(xiàn)。測試包括讀寫速度、響應(yīng)時間、隨機訪問速度等指標,以確保設(shè)備在各種條件下的性能一致性。兼容性層面:在兼容性層面,可以測試eMMC設(shè)備與不同操作系統(tǒng)和硬件平臺的兼容性。這包括測試設(shè)備...
時鐘恢復(fù):發(fā)送器需要能夠使用從接收器得到的時鐘信息來恢復(fù)數(shù)據(jù)時鐘。它必須能夠通過鎖定到正確的數(shù)據(jù)時鐘邊沿來確保數(shù)據(jù)的準確和穩(wěn)定傳輸。時鐘恢復(fù)速度:發(fā)送器的時鐘恢復(fù)時間也是一個關(guān)鍵參數(shù)。它應(yīng)該能夠在接收器處發(fā)生時鐘頻率、時鐘相位或其他變化時,盡快進行適應(yīng)和恢復(fù)。...
在EMMC一致性測試中評估eMMC對電壓波動的容忍度,可以考慮以下方法:設(shè)定不同電壓條件:在測試過程中,可以設(shè)定不同的電壓條件,包括額定工作電壓、上限電壓和下限電壓等。通過改變電壓并觀察eMMC設(shè)備的響應(yīng),可以評估其對電壓波動的容忍度。電壓耐受測試:在一定時間...
DDR5簡介長篇文章解讀刪除復(fù)制DDR5(Double Data Rate 5)是新式一代的雙倍數(shù)據(jù)傳輸率內(nèi)存技術(shù)。DDR5作為DDR4的升級版本,為計算機系統(tǒng)帶來了更高的性能和突出的特性。下面是對DDR5的詳細介紹和解讀。 DDR5的引入和發(fā)展DD...
DDR4內(nèi)存模塊的主要時序參數(shù)包括CAS延遲(CL),RAS到CAS延遲(tRCD),行預(yù)充電時間(tRP),行活動周期(tRAS)以及命令速率。以下是對這些時序參數(shù)的解析和說明: CAS延遲(CL,Column Address Strobe Lat...
以太網(wǎng)的工作原理以太網(wǎng)采用帶檢測的載波幀聽多路訪問(CSMA/CD)機制。以太網(wǎng)中節(jié)點都可以看到在網(wǎng)絡(luò)中發(fā)送的所有信息,因此,我們說以太網(wǎng)是一種廣播網(wǎng)絡(luò)。以太網(wǎng)的工作過程如下:當以太網(wǎng)中的一臺主機要傳輸數(shù)據(jù)時,它將按如下步驟進行:1、信道上是否有信號在傳輸。如...
延遲(Latency):衡量內(nèi)存模塊響應(yīng)讀取或?qū)懭胝埱笏璧臅r間延遲。可以使用專業(yè)的基準測試軟件,如MemTest86、PassMark等,在測試過程中獲取延遲數(shù)據(jù)。測試時,軟件會發(fā)送讀取或?qū)懭胝埱螅⒂涗洀恼埱蟀l(fā)出到內(nèi)存模塊響應(yīng)的時間。帶寬(Bandwidt...
Row Precharge Time(tRP):行預(yù)充電時間是指在關(guān)閉當前行和打開下一行之間必須等待的時間。較小的tRP值表示更快的切換行地址的能力。Write Recovery Time(tWR):寫恢復(fù)時間是指一個數(shù)據(jù)寫入到另一個緊鄰的數(shù)據(jù)寫入之間必須間隔...
電磁干擾(EMI)條件:電磁干擾是另一個需要考慮的因素,特別是對于高速串行數(shù)據(jù)傳輸。為了盡量減小外部電磁干擾對測試結(jié)果的影響,測試環(huán)境可能需要提供良好的屏蔽和抗干擾措施。電源供應(yīng)條件:良好的電源供應(yīng)對于測試結(jié)果的穩(wěn)定性和可靠性也非常重要。確保供電穩(wěn)定、低噪聲和...
EMMC測試是否需要涉及文件系統(tǒng)的兼容性?MMC測試中需要考慮文件系統(tǒng)的兼容性。文件系統(tǒng)是指操作系統(tǒng)用于管理和組織存儲設(shè)備上文件和目錄的一種方式。在進行eMMC測試時,考慮文件系統(tǒng)的兼容性是很重要的,因為它直接關(guān)系到eMMC設(shè)備與操作系統(tǒng)之間的數(shù)據(jù)交互和文件管...
LPDDR3(LowPowerDDR3)是一種低功耗雙數(shù)據(jù)率3的內(nèi)存技術(shù)。它是DDR3內(nèi)存的變種,專門為移動設(shè)備如智能手機、平板電腦和筆記本電腦等開發(fā)設(shè)計。背景:在移動設(shè)備的發(fā)展中,內(nèi)存對于性能和功耗的影響十分重要。為了滿足移動設(shè)備對內(nèi)存的需求,需要一種能夠提...
第二項測試是發(fā)射機均衡測試,這項測試也與USB4預(yù)置值有關(guān)。這項測試的目標,是確保發(fā)射機均衡落在規(guī)范的極限范圍內(nèi)。新USB4方法要求每個預(yù)置值3個波形,而PCIeGen3/4則要求一個波形?,F(xiàn)在一共需要48個波形,因此耗時很長!USB4中接收機測試和校準變化現(xiàn)...
以太網(wǎng)幀的概述:以太網(wǎng)的幀是數(shù)據(jù)鏈路層的封裝,網(wǎng)絡(luò)層的數(shù)據(jù)包被加上幀頭和幀尾成為可以被數(shù)據(jù)鏈路層識別的數(shù)據(jù)幀(成幀)。雖然幀頭和幀尾所用的字節(jié)數(shù)是固定不變的,但依被封裝的數(shù)據(jù)包大小的不同,以太網(wǎng)的長度也在變化,其范圍是64~1518字節(jié)(不算8字節(jié)的前導(dǎo)字)。...
EMMC一致性測試通常涉及以下幾個方面:兼容性測試:這是確保eMMC設(shè)備與多個操作系統(tǒng)(如Windows、Linux、Android等)和硬件平臺之間的兼容性。測試會驗證eMMC設(shè)備在不同系統(tǒng)環(huán)境下的可識別性、驅(qū)動程序支持、功能兼容性等。功能一致性測試:該測試...
增強的節(jié)能模式:DDR5引入了更高效的節(jié)能模式,包括Deep Power Down(DPD)和Partial Array Self-Refresh(PASR)等技術(shù)。這些技術(shù)可以在系統(tǒng)閑置或低負載時降低功耗,并提供更好的能效。 強化的可靠性和穩(wěn)定性:...