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記錄和比較測(cè)試結(jié)果：記錄每次讀寫(xiě)操作的結(jié)果，包括讀取的數(shù)據(jù)、寫(xiě)入的數(shù)據(jù)以及相關(guān)的數(shù)據(jù)校驗(yàn)和其他指標(biāo)。對(duì)比每次操作的結(jié)果，以驗(yàn)證讀寫(xiě)一致性。多次重復(fù)測(cè)試：進(jìn)行多次重復(fù)的讀寫(xiě)操作，并觀察結(jié)果的一致性和穩(wěn)定性。這有助于排除偶發(fā)性錯(cuò)誤和異常情況。異常處理和錯(cuò)誤糾正：在...

驗(yàn)證設(shè)備性能和可靠性：通過(guò)電氣測(cè)試可以驗(yàn)證電氣設(shè)備的性能和可靠性，確保其符合設(shè)計(jì)要求和規(guī)范。測(cè)試可以檢測(cè)設(shè)備的電流、電壓、功率等參數(shù)，評(píng)估其工作狀態(tài)和運(yùn)行能力。這有助于發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題、減少設(shè)備故障風(fēng)險(xiǎn)，提高設(shè)備的可靠性和可用性。 提供安全保證：電氣測(cè)試...

常見(jiàn)的信號(hào)質(zhì)量包括閾值電平、Overshoot、Undershoot、Slew Rate> tDVAC等，DDRx 信號(hào)質(zhì)量的每個(gè)參數(shù)JEDEC都給出了明確的規(guī)范。比如DDR3要求Overshoot和Undershoot 分別為0.4V,也就是說(shuō)信號(hào)幅值P...

"DDRx"是一個(gè)通用的術(shù)語(yǔ)，用于表示多種類(lèi)型的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器（DRAM）標(biāo)準(zhǔn)，包括DDR2、DDR3和DDR4等。這里的"x"可以是任意一個(gè)數(shù)字，了不同的DDR代數(shù)。每一代的DDR標(biāo)準(zhǔn)在速度、帶寬、電氣特性等方面都有所不同，以適應(yīng)不斷增長(zhǎng)的計(jì)算需求和技術(shù)...

在接下來(lái)的Setup NG Wizard窗口中選擇要參與仿真的信號(hào)網(wǎng)絡(luò)，為這些信號(hào)網(wǎng)絡(luò)分組并定義單個(gè)或者多個(gè)網(wǎng)絡(luò)組。選擇網(wǎng)絡(luò)DDR1_DMO.3、DDR1_DQO.31、DDR1_DQSO.3、 DDRl_NDQS0-3,并用鼠標(biāo)右鍵單擊Assign in...

那么在下面的仿真分析過(guò)程中，我們是不是可以就以這兩個(gè)圖中的時(shí)序要求作為衡量標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行系統(tǒng)設(shè)計(jì)呢?答案是否定的，因?yàn)殡m然這個(gè)時(shí)序是規(guī)范中定義的標(biāo)準(zhǔn)，但是在系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)中，我們所使用的是Micron的產(chǎn)品，而后面系統(tǒng)是否能夠正常工作要取決干我們對(duì)Micron芯片的時(shí)序...

重復(fù)步驟6至步驟9,設(shè)置Memory器件U101、U102、U103和U104的模型為 memory.ibs模型文件中的Generic器件。 在所要仿真的時(shí)鐘網(wǎng)絡(luò)中含有上拉電阻(R515和R518),在模型賦置界面中找到 這兩個(gè)電阻，其Device ...

MIPI-DSI接口以MIPID-PHY協(xié)議定義的物理傳輸層為基礎(chǔ)，DPHY定義的物理傳輸層多可支持4個(gè)數(shù)據(jù)通道，1個(gè)時(shí)鐘通道，每個(gè)通道在低功耗模式時(shí)以1.2V的低速信號(hào)傳輸，在高速模式時(shí)則采用擺幅為200毫伏的低壓差分信號(hào)傳輸，從而相對(duì)于現(xiàn)有的設(shè)備表現(xiàn)出更高...

另外，信號(hào)響應(yīng)也是電氣完整性的重要因素，這包括時(shí)域響應(yīng)和頻域響應(yīng)。時(shí)域響應(yīng)是指信號(hào)在電子系統(tǒng)中沿著時(shí)間軸的傳播，緩慢信號(hào)和快速信號(hào)的傳播速度不同，需要選擇合適的傳輸線類(lèi)型和參數(shù)來(lái)滿(mǎn)足要求。頻域響應(yīng)則是指信號(hào)傳輸路徑上會(huì)形成濾波器，需要根據(jù)信號(hào)頻譜特性進(jìn)行設(shè)...

交換機(jī)的工作過(guò)程可以概括為“學(xué)習(xí)、記憶、接收、查表、轉(zhuǎn)發(fā)”等幾個(gè)方面：通過(guò)“學(xué)習(xí)”可以了解到每個(gè)端口上所連接設(shè)備的MAC地址；將MAC地址與端口編號(hào)的對(duì)應(yīng)關(guān)系“記憶”在內(nèi)存中，生產(chǎn)MAC地址表；從一個(gè)端口“接收”到數(shù)據(jù)幀后，在MAC地址表中“查找”與幀頭中目的...

信號(hào)的能量大部分集中在信號(hào)帶寬以下，意味著我們?cè)诳紤]這個(gè)信號(hào)的傳輸效應(yīng)時(shí)， 主要關(guān)注比較高頻率可以到信號(hào)的帶寬。 所以，假如在數(shù)字信號(hào)的傳輸過(guò)程中可以保證在信號(hào)的帶寬（0.35億）以下的頻率分量（模 擬信號(hào)）經(jīng)過(guò)互連路徑的質(zhì)量，則我們可以保證接收到比...

通道管理層:包括時(shí)鐘切換模塊和數(shù)據(jù)融合電路，時(shí)鐘切換模塊主要為數(shù)據(jù)處理邏輯提供時(shí)鐘信號(hào)，高速接收時(shí)提供主機(jī)發(fā)送過(guò)來(lái)并進(jìn)行四分頻后的時(shí)鐘，低功耗傳輸時(shí)提供數(shù)據(jù)通道0總線異或而來(lái)的同步時(shí)鐘，TA傳輸時(shí)則提供本地時(shí)鐘作為電路的同步時(shí)鐘。數(shù)據(jù)融合模塊則將物理傳輸層...

信號(hào)完整性是指保證信號(hào)在傳輸路徑中受到少的干擾和失真以及在接收端能夠正確解碼。在高速數(shù)字系統(tǒng)中，信號(hào)完整性是保證系統(tǒng)性能和可靠性的關(guān)鍵因素。本文將介紹信號(hào)完整性的基礎(chǔ)知識(shí)。 1. 信號(hào)完整性相關(guān)參數(shù)： -上升時(shí)間：信號(hào)從低電平變?yōu)楦唠娖剿璧臅r(shí)...

高速電路測(cè)試在現(xiàn)代電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)和制造中起著至關(guān)重要的作用。因?yàn)楦咚匐娐肪哂泻芨叩膫鬏斔俾剩虼艘鬁y(cè)試過(guò)程具有較高的準(zhǔn)確性、精度和穩(wěn)定性，以確保高速電路可以穩(wěn)定并正確地傳輸信號(hào)。 高速電路測(cè)試中需要測(cè)量的參數(shù)包括信號(hào)完整性、信號(hào)失真、串?dāng)_、接口規(guī)范和...

高速電路測(cè)試在現(xiàn)代電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)和制造中起著至關(guān)重要的作用。因?yàn)楦咚匐娐肪哂泻芨叩膫鬏斔俾剩虼艘鬁y(cè)試過(guò)程具有較高的準(zhǔn)確性、精度和穩(wěn)定性，以確保高速電路可以穩(wěn)定并正確地傳輸信號(hào)。 高速電路測(cè)試中需要測(cè)量的參數(shù)包括信號(hào)完整性、信號(hào)失真、串?dāng)_、接口規(guī)范和...

高速電路測(cè)試是一個(gè)非常重要的領(lǐng)域，主要目的是測(cè)試高速電路的電特性、時(shí)序特性、邏輯特性和功耗等多個(gè)方面，以確保高速電路的性能和可靠性。以下是一些與高速電路測(cè)試相關(guān)的問(wèn)題和信息： 1.什么是高速電路測(cè)試？高速電路測(cè)試是指應(yīng)用多種測(cè)試技術(shù)對(duì)高速電路的性能和...

信號(hào)完整性問(wèn)題及解決方法 信號(hào)完整性問(wèn)題的產(chǎn)生原因，影響信號(hào)完整性的各種因素，以及各因素之間的互相作用，辨識(shí)潛在風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)。信號(hào)完整性設(shè)計(jì)中5類(lèi)典型問(wèn)題的處理方法辨析。初步認(rèn)識(shí)系統(tǒng)化設(shè)計(jì)方法。對(duì)信號(hào)完整性問(wèn)題形成宏觀上的認(rèn)識(shí)。 什么是信號(hào)完整性？ ...

4. 時(shí)域反射測(cè)試 時(shí)域反射測(cè)試是一種用于檢測(cè)信號(hào)路徑中高頻電壓反射的測(cè)試方法。測(cè)試時(shí)需要在信號(hào)路徑上插入一個(gè)反射器，通過(guò)記錄各個(gè)位置的信號(hào)反射情況，并在測(cè)試完成后進(jìn)行相關(guān)計(jì)算，以評(píng)估信號(hào)路徑中的電壓反射水平。 5. 串?dāng)_測(cè)試 在高速傳輸...

DDR 規(guī)范的 DC 和 AC 特性 對(duì)于任何一種接口規(guī)范的設(shè)計(jì)，首先要搞清楚系統(tǒng)中傳輸?shù)氖鞘裁礃拥男盘?hào)，也就是驅(qū)動(dòng)器能發(fā)出什么樣的信號(hào)，接收器能接受和判別什么樣的信號(hào)，用術(shù)語(yǔ)講，就是信號(hào)的DC和AC特性要求。 在DDR規(guī)范文件JEDEC79R...

高速電路測(cè)試可以分為多個(gè)類(lèi)型，以下是一些常見(jiàn)的類(lèi)型： 1.時(shí)域測(cè)試（TimeDomainTesting）：這種測(cè)試以時(shí)間為基準(zhǔn)，包括時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)試、峰值間隔測(cè)試、上升時(shí)間測(cè)試等。 2.頻域測(cè)試（FrequencyDomainTesting）：這種...

1、什么是信號(hào)完整性“0”、“1”碼是通過(guò)電壓或電流波形來(lái)傳遞的，盡管信息是數(shù)字的，但承載這些信息的電壓或者電流波形確實(shí)模擬的，噪聲、損耗、供電的不穩(wěn)定等多種因素都會(huì)使電壓或者電流發(fā)生畸變，如果畸變嚴(yán)重到一定程度，接收器就可能錯(cuò)誤判斷發(fā)送器輸出的“0”、“...

USB 3.0測(cè)試解決方案通常包括以下幾個(gè)方面的內(nèi)容： 功能性測(cè)試：USB 3.0設(shè)備的功能性測(cè)試涉及到數(shù)據(jù)傳輸、設(shè)備識(shí)別、兼容性等方面。為了確保設(shè)備在功能上正常運(yùn)作，可以使用測(cè)試軟件或自動(dòng)化測(cè)試工具來(lái)進(jìn)行功能測(cè)試，并根據(jù)USB 3.0規(guī)范要求對(duì)設(shè)備...

USB 3.0測(cè)試的目的和重要性主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面： 確保設(shè)備性能和功能的可靠性：USB 3.0測(cè)試旨在驗(yàn)證設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸速度、數(shù)據(jù)完整性、功耗、兼容性等方面的正常運(yùn)行，確保設(shè)備在實(shí)際使用中的性能和功能可靠。通過(guò)測(cè)試，可以發(fā)現(xiàn)和解決潛在的問(wèn)題，提...

USB 3.0傳輸鏈路測(cè)試涉及到發(fā)送端（TX）和接收端（RX）的測(cè)試，以評(píng)估USB 3.0設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸中的性能和符合USB 3.0規(guī)范的要求。以下是USB 3.0 TX和RX測(cè)試的一般步驟和主要規(guī)范要求： USB 3.0 RX測(cè)試： ...

USB 3.0數(shù)據(jù)生成器/分析器：USB 3.0數(shù)據(jù)生成器/分析器用于生成和捕獲USB 3.0數(shù)據(jù)流，以進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸性能、延遲和穩(wěn)定性測(cè)試。它可以模擬各種數(shù)據(jù)場(chǎng)景和條件，以驗(yàn)證設(shè)備的數(shù)據(jù)處理和傳輸能力。常見(jiàn)的USB 3.0數(shù)據(jù)生成器/分析器有Teledyn...

USB 3.0設(shè)備的電源要求和充電功能是指USB 3.0接口所提供的電源供應(yīng)和充電功能。 電源要求：USB3.0接口可以提供更高功率的電源輸出，比USB2.0更強(qiáng)大。根據(jù)USB3.0規(guī)范，普通的USB3.0端口能夠提供比較高900mA的電流，而符合B...

USB 3.0傳輸鏈路測(cè)試涉及到發(fā)送端（TX）和接收端（RX）的測(cè)試，以評(píng)估USB 3.0設(shè)備在數(shù)據(jù)傳輸中的性能和符合USB 3.0規(guī)范的要求。以下是USB 3.0 TX和RX測(cè)試的一般步驟和主要規(guī)范要求： USB 3.0 RX測(cè)試： ...

功耗：USB 3.0設(shè)備在運(yùn)行時(shí)的功耗也是需要測(cè)試和驗(yàn)證的。使用功耗測(cè)試儀表或?qū)I(yè)的USB功耗測(cè)試軟件，可以測(cè)量設(shè)備在不同操作模式下的功耗消耗情況，以確保設(shè)備的功耗符合預(yù)期并在合理范圍內(nèi)。兼容性：USB 3.0設(shè)備應(yīng)能夠與不同的USB 3.0接口和操作系統(tǒng)進(jìn)行...

USB 3.0傳輸器測(cè)試（USB 3.0 transmitter testing）是對(duì)USB 3.0設(shè)備發(fā)送端的性能和合規(guī)性進(jìn)行評(píng)估的過(guò)程。以下是USB 3.0傳輸器測(cè)試中常見(jiàn)的一些方面和方法： 波形質(zhì)量測(cè)試（Waveform Quality Tes...

眼圖測(cè)試（Eye Diagram Testing）：眼圖測(cè)試用于評(píng)估接收端對(duì)USB 3.0傳輸信號(hào)的衰減和畸變的抵抗能力。該測(cè)試分析接收到的信號(hào)的眼圖形狀，并檢查信號(hào)質(zhì)量、抖動(dòng)和時(shí)鐘恢復(fù)等參數(shù)。通常需要使用眼圖儀或相應(yīng)的測(cè)試設(shè)備來(lái)執(zhí)行。 均衡性能測(cè)試...