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LPDDR4的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度和電路設(shè)計(jì)要求可以根據(jù)具體的芯片制造商和產(chǎn)品型號(hào)而有所不同。以下是一些常見(jiàn)的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度和電路設(shè)計(jì)要求方面的考慮：驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度：數(shù)據(jù)線(xiàn)驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度：LPDDR4存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)線(xiàn)通常需要具備足夠的驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度，以確保在信號(hào)傳輸過(guò)程中的信號(hào)完整性和穩(wěn)定性。...

進(jìn)行PCIe 3.0 TX（發(fā)送端）測(cè)試的一般指南：確定測(cè)試環(huán)境：建立一個(gè)合適的測(cè)試環(huán)境，包括所需的測(cè)試設(shè)備、軟件工具和測(cè)試設(shè)施。這可能包括波形發(fā)生器、高速示波器、誤碼率測(cè)試儀（BERT）、信號(hào)發(fā)生器等。理解規(guī)范：熟悉PCIe 3.0規(guī)范，并了解其中對(duì)發(fā)送器的...

安裝LPDDR3內(nèi)存時(shí)，可以按照以下步驟進(jìn)行操作：關(guān)閉電源并斷開(kāi)電源插頭：在開(kāi)始安裝之前，確保將電源關(guān)閉，并從插座中拔下電源插頭，以避免觸摸到任何可能會(huì)對(duì)系統(tǒng)產(chǎn)生危險(xiǎn)的電源部件。準(zhǔn)備工具和防靜電措施：戴上接地腕帶（或確保與金屬外殼接觸）以釋放身體靜電，并使用適...

a)USB-IFUSB4ETT軟件下圖是USB-IF新推出的USB4ETT(USB4.0ElectricalTestTool)工具的實(shí)際界面，它可以通過(guò)USB4ElectricalTestTool.exe(GUImodel；手動(dòng)控制)或者USB4Electri...

需要指出的是在TP3(Case2)遠(yuǎn)端校準(zhǔn)時(shí)，除了Type-Ccable外，還需要ISIboards，利用網(wǎng)絡(luò)分析實(shí)測(cè)，保證ISIboards+Type-Ccable+Testfixture整個(gè)測(cè)試鏈路的插入損耗滿(mǎn)足18-19dBat5GHzforGen2(1...

電磁干擾（EMI）條件：電磁干擾是另一個(gè)需要考慮的因素，特別是對(duì)于高速串行數(shù)據(jù)傳輸。為了盡量減小外部電磁干擾對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，測(cè)試環(huán)境可能需要提供良好的屏蔽和抗干擾措施。電源供應(yīng)條件：良好的電源供應(yīng)對(duì)于測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性和可靠性也非常重要。確保供電穩(wěn)定、低噪聲和...

錯(cuò)誤檢測(cè)和糾正（ECC）功能測(cè)試：DDR5內(nèi)存模塊具備錯(cuò)誤檢測(cè)和糾正的功能，可以檢測(cè)并修復(fù)部分位錯(cuò)誤。測(cè)試過(guò)程涉及注入和檢測(cè)位錯(cuò)誤，并驗(yàn)證內(nèi)存模塊的糾錯(cuò)能力和數(shù)據(jù)完整性。 功耗和能效測(cè)試：功耗和能效測(cè)試是評(píng)估DDR5內(nèi)存模塊在不同負(fù)載和工作條件下的功...

DDR5相對(duì)于之前的內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn)（如DDR4）具有以下優(yōu)勢(shì)和重要特點(diǎn)：更高的帶寬和傳輸速度：DDR5采用了雙倍數(shù)據(jù)率技術(shù)，每個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)次數(shù)是DDR4的兩倍，從而實(shí)現(xiàn)更高的數(shù)據(jù)傳輸速度和內(nèi)存帶寬。這使得DDR5能夠提供更快速的數(shù)據(jù)讀寫(xiě)和處理能力，加速計(jì)算...

對(duì)DDR4內(nèi)存模塊進(jìn)行性能測(cè)試是評(píng)估其性能和穩(wěn)定性的關(guān)鍵步驟。以下是一些常見(jiàn)的DDR4內(nèi)存模塊性能測(cè)試和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：帶寬測(cè)試：帶寬測(cè)試是衡量?jī)?nèi)存模塊傳輸數(shù)據(jù)速度的方法之一。通過(guò)測(cè)試數(shù)據(jù)讀取和寫(xiě)入的速度，可以確定內(nèi)存模塊的帶寬（即單位時(shí)間內(nèi)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)量）。主要指標(biāo)...

錯(cuò)誤檢測(cè)和糾正（ECC）功能測(cè)試：DDR5內(nèi)存模塊具備錯(cuò)誤檢測(cè)和糾正的功能，可以檢測(cè)并修復(fù)部分位錯(cuò)誤。測(cè)試過(guò)程涉及注入和檢測(cè)位錯(cuò)誤，并驗(yàn)證內(nèi)存模塊的糾錯(cuò)能力和數(shù)據(jù)完整性。 功耗和能效測(cè)試：功耗和能效測(cè)試是評(píng)估DDR5內(nèi)存模塊在不同負(fù)載和工作條件下的功...

低功耗和高能效：DDR5引入了更先進(jìn)的節(jié)能模式，包括Deep Power Down（DPD）和Partial Array Self-Refresh（PASR）等技術(shù)。這些技術(shù)可以在系統(tǒng)閑置或低負(fù)載時(shí)降低功耗，提供更好的能源效率。 強(qiáng)化的信號(hào)完整性：D...

創(chuàng)建工程啟動(dòng)SystemSI工具，單擊左側(cè)Workflow下的LoadaNew/ExistingWorkspace菜單項(xiàng),在彈出的WorkspaceFile對(duì)話(huà)框中選擇Createanewworkspace,單擊OK按鈕。在彈出的SelectModule對(duì)...

那么在下面的仿真分析過(guò)程中，我們是不是可以就以這兩個(gè)圖中的時(shí)序要求作為衡量標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行系統(tǒng)設(shè)計(jì)呢?答案是否定的，因?yàn)殡m然這個(gè)時(shí)序是規(guī)范中定義的標(biāo)準(zhǔn)，但是在系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)中，我們所使用的是Micron的產(chǎn)品，而后面系統(tǒng)是否能夠正常工作要取決干我們對(duì)Micron芯片的時(shí)序...

DDR3（Double Data Rate 3）是一種常見(jiàn)的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器（DRAM）標(biāo)準(zhǔn)，它定義了數(shù)據(jù)傳輸和操作時(shí)的時(shí)序要求。以下是DDR3規(guī)范中常見(jiàn)的時(shí)序要求： 初始時(shí)序（Initialization Timing）tRFC：內(nèi)存行刷新周期，...

電氣完整性（Electrical Integrity）指的是電路或系統(tǒng)在運(yùn)行過(guò)程中保持正常的電學(xué)特性，如電壓、電流、電阻等。電氣完整性的保持對(duì)于電路或系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行非常重要，它能夠保證信號(hào)傳輸?shù)目煽啃浴⒖垢蓴_能力以及減少誤差率和能耗等問(wèn)題。在電子設(shè)備和系統(tǒng)...

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號(hào)傳輸測(cè)試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)?？藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室重心團(tuán)隊(duì)成員從業(yè)測(cè)試領(lǐng)域10年以上。實(shí)驗(yàn)室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀...

單擊Check Stackup,設(shè)置PCB板的疊層信息。比如每層的厚度(Thickness)、介 電常數(shù)(Permittivity (Er))及介質(zhì)損耗(LossTangent)。 單擊 Enable Trace Check Mode,確保 Ena...

走線(xiàn)阻抗/耦合檢查 走線(xiàn)阻抗/耦合檢查流程在PowerSI和SPEED2000中都有，流程也是一樣的。本例通過(guò) Allegro Sigrity SI 啟動(dòng) Trace Impedance/Coupling Check,自動(dòng)調(diào)用 PowerSI 的流程...

· 相關(guān)器件的應(yīng)用手冊(cè)，ApplicationNote：在這個(gè)文檔中，廠(chǎng)家一般會(huì)提出一些設(shè)計(jì)建議，甚至參考設(shè)計(jì)，有時(shí)該文檔也會(huì)作為器件手冊(cè)的一部分出現(xiàn)在器件手冊(cè)文檔中。但是在資料的搜集和準(zhǔn)備中，要注意這些信息是否齊備。 · 參考設(shè)計(jì)，Referenc...

單擊NetCouplingSummary,出現(xiàn)耦合總結(jié)表格，包括網(wǎng)絡(luò)序號(hào)、網(wǎng)絡(luò)名稱(chēng)、比較大干擾源網(wǎng)絡(luò)、比較大耦合系數(shù)、比較大耦合系數(shù)所占走線(xiàn)長(zhǎng)度百分比、耦合系數(shù)大于0.05的走線(xiàn) 長(zhǎng)度百分比、耦合系數(shù)為0.01?0.05的走線(xiàn)長(zhǎng)度百分比、總耦合參考值。 ...

高速DDRx總線(xiàn)系統(tǒng)設(shè)計(jì) 首先簡(jiǎn)要介紹DDRx的發(fā)展歷程，通過(guò)幾代DDR的性能及信號(hào)完整性相關(guān)參數(shù)的 對(duì)比，使我們對(duì)DDRx總線(xiàn)有了比較所有的認(rèn)識(shí)。隨后介紹DDRx接口使用的SSTL電平， 以及新一代DDR4使用的POD電平，這能幫助我們?cè)诮窈蟮脑O(shè)計(jì)...

信號(hào)完整性（SignalIntegrity，SI）是指信號(hào)在信號(hào)線(xiàn)上的質(zhì)量，即信號(hào)在電路中以正確的時(shí)序和電壓作出響應(yīng)的能力。如果電路中信號(hào)能夠以要求的時(shí)序、持續(xù)時(shí)間和電壓幅度到達(dá)接收器，則可確定該電路具有較好的信號(hào)完整性。反之，當(dāng)信號(hào)不能正常響應(yīng)時(shí)，就出現(xiàn)...

綜上所述，PCIe4.0的信號(hào)測(cè)試需要25GHz帶寬的示波器，根據(jù)被測(cè)件的不同可能會(huì) 同時(shí)用到2個(gè)或4個(gè)測(cè)試通道。對(duì)于芯片的測(cè)試需要用戶(hù)自己設(shè)計(jì)測(cè)試板；對(duì)于主板或者 插卡的測(cè)試來(lái)說(shuō)，測(cè)試夾具的Trace選擇、測(cè)試碼型的切換都比前代總線(xiàn)變得更加復(fù)雜了； ...

PCB的信號(hào)完整性問(wèn)題主要包括信號(hào)反射、串?dāng)_、信號(hào)延遲和時(shí)序錯(cuò)誤。 1、反射信號(hào)在傳輸線(xiàn)上傳輸時(shí)，當(dāng)高速PCB上傳輸線(xiàn)的特征阻抗與信號(hào)的源端阻抗或負(fù)載阻抗不匹配時(shí)，信號(hào)會(huì)發(fā)生反射，使信號(hào)波形出現(xiàn)過(guò)沖、下沖和由此導(dǎo)致的振鈴現(xiàn)象。過(guò)沖（Overshoot...

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室 高速電路測(cè)試 高速電路測(cè)試是測(cè)試高速信號(hào)的性能和完整性的過(guò)程。它是一項(xiàng)涉及到電路設(shè)計(jì)、信號(hào)傳輸、噪聲衰減等多個(gè)方面的高技術(shù)測(cè)試工作。 1. 理解信號(hào)的傳輸原理：了解信號(hào)的傳輸原理，如信號(hào)傳輸速率、傳輸距離、...

高速電路信號(hào)完整性測(cè)試方法 高速電路信號(hào)完整性測(cè)試是通過(guò)測(cè)量信號(hào)傳輸路徑中的各種特性來(lái)評(píng)估電路傳輸系統(tǒng)的質(zhì)量和可靠性。以下是一些常見(jiàn)的高速電路信號(hào)完整性測(cè)試方法： 1.時(shí)域反射測(cè)試（TimeDomainReflectometry，TDR）：利用...

進(jìn)行串?dāng)_分析和調(diào)整的方法，可以根據(jù)具體情況進(jìn)行選擇，一般可以采取以下幾種方法： 1.EMI擾動(dòng)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試：在現(xiàn)場(chǎng)使用專(zhuān)業(yè)的測(cè)試儀器對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)量，記錄串?dāng)_信號(hào)的種類(lèi)、幅度、波形等參數(shù)，分析出串?dāng)_的來(lái)源和路徑，從而找出合適的解決方法。 2.數(shù)值仿...

眼圖模板 什么是模板（Mask）測(cè)試？ ?模板測(cè)試是一種優(yōu)化的制造級(jí)測(cè)試（Pass/Fail)?在大多數(shù)情況下，模板測(cè)試能代替各種眼圖指標(biāo)的測(cè)試。 ?大部分標(biāo)準(zhǔn)都定義了容易進(jìn)行一致性測(cè)量的模板。 ?模板測(cè)試比眼圖的各種指標(biāo)測(cè)量更容易、更快...

3. 時(shí)鐘分配問(wèn)題 時(shí)鐘分配問(wèn)題會(huì)導(dǎo)致時(shí)鐘信號(hào)變形和漂移，從而導(dǎo)致符號(hào)邊界錯(cuò)誤和時(shí)序問(wèn)題。檢測(cè)時(shí)鐘信號(hào)的完整性，以及時(shí)脈信號(hào)的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性，是確保系統(tǒng)正常工作的必要步驟。 4. 電源完整性問(wèn)題 電源完整性與電路中的信號(hào)完整性密切相關(guān)，它...

信號(hào)完整性是指保證信號(hào)在傳輸路徑中受到少的干擾和失真以及在接收端能夠正確解碼。在高速數(shù)字系統(tǒng)中，信號(hào)完整性是保證系統(tǒng)性能和可靠性的關(guān)鍵因素。本文將介紹信號(hào)完整性的基礎(chǔ)知識(shí)。 1. 信號(hào)完整性相關(guān)參數(shù)： -上升時(shí)間：信號(hào)從低電平變?yōu)楦唠娖剿璧臅r(shí)...