PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測試方法與PCIe4.0也是類似,都需要通過CLB或者CBB的測試夾具把被測信號引出接入示波器進行發(fā)送信號質(zhì)量測試,并通過誤碼儀的配合進行LinkEQ和接收端容限的測試。但是具體細節(jié)和要求上又有所區(qū)別,下面將從發(fā)送端和接收端測試方面分別進行描述。 PCIe5.0發(fā)送端信號質(zhì)量及LinkEQ測試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達32Gbps,因此信號邊沿更陡。對于PCIe5.0芯片的信號測試,協(xié)會建議的測試用的示波器帶寬要高達50GHz。對于主板和插卡來說,由于測試點是在連接器的金手指處,信號經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會變緩一...
相應(yīng)地,在CC模式下參考時鐘的 抖動測試中,也會要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下,主板和插卡可以采用不同的參考時鐘,可以為一些特殊的不太方便進行參考 時鐘傳遞的應(yīng)用場景(比如通過Cable連接時)提供便利,但由于收發(fā)端參考時鐘不同源,所 以對于收發(fā)端的設(shè)計難度要大一些(比如Buffer深度以及時鐘頻差調(diào)整機制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時鐘以及PLL的抖動之間做一些折中和平衡,保證*終的發(fā)射機 抖動指標(biāo)即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時鐘時的時鐘架構(gòu),以及不同速率下對于 芯片Refclk抖動的要求。PCI-E的信號測試中否一定要使用一...
對于PCIe來說,由于長鏈路時的損耗很大,因此接收端的裕量很小。為了掌握實際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實際接收到的信號質(zhì)量,在PCIe3.0時代,有些芯片廠商會用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號質(zhì)量,但這個功能不是強制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)范把 接收端的信號質(zhì)量掃描功能作為強制要求,正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進行二維的誤碼率掃描,即通過調(diào)整水平方 向的采樣點時刻以及垂直方向的信號判決閾值,pcie接口定義及知識解析;四川PCI-E測試DDR測試 綜上所述,PCIe4.0的信號測試需要25GHz帶寬的示波器,根據(jù)...
CTLE均衡器可以比較好地補償傳輸通道的線性損耗,但是對于一些非線性因素(比如 由于阻抗不匹配造成的信號反射)的補償還需要借助于DFE的均衡器,而且隨著信號速率的提升,接收端的眼圖裕量越來越小,采用的DFE技術(shù)也相應(yīng)要更加復(fù)雜。在PCle3.0的 規(guī)范中,針對8Gbps的信號,定義了1階的DFE配合CTLE完成信號的均衡;而在PCle4.0 的規(guī)范中,針對16Gbps的信號,定義了更復(fù)雜的2階DFE配合CTLE進行信號的均衡。 圖 4 .5 分別是規(guī)范中針對8Gbps和16Gbps信號接收端定義的DFE均衡器(參考資料: PCI Express@ Base Specificatio...
PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時鐘(Common Refclk,CC)模式以 外,還可以允許芯片支持參考時鐘(Independent Refclk,IR)模式,以提供更多的連接靈 活性。在CC時鐘模式下,主板會給插卡提供一個100MHz的參考時鐘(Refclk),插卡用這 個時鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個參考時鐘可以在主機打開擴頻時鐘 (SSC)時控制收發(fā)端的時鐘偏差,同時由于有一部分數(shù)據(jù)線相對于參考時鐘的抖動可以互 相抵消,所以對于參考時鐘的抖動要求可以稍寬松一些PCI-e 3.0簡介及信號和協(xié)議測試方法;廣西PCI-E測試工廠直銷 雖然在編碼方式和芯片內(nèi)...
(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時鐘模式,還提供了收發(fā)端采用參考時鐘模式的支持。通過各種信號處理技術(shù)的結(jié)合,PCIe組織總算實現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插 件的基礎(chǔ)上,每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時收/發(fā)芯片會變 得更加復(fù)雜,系統(tǒng)設(shè)計的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性, 就成為設(shè)計和測試人員面臨的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎?DDR測試PCI-E測試哪里買在物理層方面,PCIe總線采用多對高速...
在物理層方面,PCIe總線采用多對高速串行的差分信號進行雙向高速傳輸,每對差分 線上的信號速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的 16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電 纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求,其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如 果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率,理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外,2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù),單Lane數(shù)據(jù)速率達到64Gbps的第6代標(biāo) 準(zhǔn)規(guī)范也在討論過程中。列出了PCI...
PCIe4.0的物理層技術(shù)PCIe標(biāo)準(zhǔn)自從推出以來,1代和2代標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)在PC和Server上使用10多年時間,正在逐漸退出市場。出于支持更高總線數(shù)據(jù)吞吐率的目的,PCI-SIG組織分別在2010年和2017年制定了PCIe3.0和PCIe4.0規(guī)范,數(shù)據(jù)速率分別達到8Gbps和16Gbps。目前,PCIe3.0和PCle4.0已經(jīng)在Server及PC上使用,PCIe5.0也在商用過程中。每一代PCIe規(guī)范更新的目的,都是要盡可能在原有PCB板材和接插件的基礎(chǔ)上提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率,同時保持和原有速率的兼容。別看這是一個簡單的目的,但實現(xiàn)起來并不容易。被測件發(fā)不出標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E的...
當(dāng)鏈路速率不斷提升時,給接收端留的信號裕量會越來越小。比如PCIe4.0的規(guī)范中 定義,信號經(jīng)過物理鏈路傳輸?shù)竭_接收端,并經(jīng)均衡器調(diào)整以后的小眼高允許15mV, 小眼寬允許18.75ps,而PCIe5.0規(guī)范中允許的接收端小眼寬更是不到10ps。在這么小 的鏈路裕量下,必須仔細調(diào)整預(yù)加重和均衡器的設(shè)置才能得到比較好的誤碼率結(jié)果。但是,預(yù) 加重和均衡器的組合也越來越多。比如PCIe4.0中發(fā)送端有11種Preset(預(yù)加重的預(yù)設(shè)模 式),而接收端的均衡器允許CTLE在-6~ - 12dB范圍內(nèi)以1dB的分辨率調(diào)整,并且允許 2階DFE分別在±30mV和±20mV范圍內(nèi)調(diào)整。綜合考慮以上...
關(guān)于各測試項目的具體描述如下:·項目2.1Add-inCardTransmitterSignalQuality:驗證插卡發(fā)送信號質(zhì)量,針對2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率?!ろ椖?.2Add-inCardTransmitterPulseWidthJitterTestat16GT/s:驗證插卡發(fā)送信號中的脈沖寬度抖動,針對16Gbps速率?!ろ椖?.3Add-inCardTransmitterPresetTest:驗證插卡發(fā)送信號的Preset值是否正確,針對8Gbps和16Gbps速率?!ろ椖?.4AddinCardTransmitterInitialTXEQTest:...
相應(yīng)地,在CC模式下參考時鐘的 抖動測試中,也會要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下,主板和插卡可以采用不同的參考時鐘,可以為一些特殊的不太方便進行參考 時鐘傳遞的應(yīng)用場景(比如通過Cable連接時)提供便利,但由于收發(fā)端參考時鐘不同源,所 以對于收發(fā)端的設(shè)計難度要大一些(比如Buffer深度以及時鐘頻差調(diào)整機制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時鐘以及PLL的抖動之間做一些折中和平衡,保證*終的發(fā)射機 抖動指標(biāo)即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時鐘時的時鐘架構(gòu),以及不同速率下對于 芯片Refclk抖動的要求。PCIE與負載只有時鐘線和數(shù)據(jù)線,搜...
Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號質(zhì)量的測試,都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下,要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是:在被測件插入測試夾具并且上電以后,可以通過測試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關(guān)時,正常的PCle4.0的被測件依次會輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbpspcie 有幾種類型,哪個速度快?黑龍江PCI-E測試銷售在物理層方面,PCIe總線采用多對...
如前所述,在PCle4.0的主板和插卡測試中,PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測 試夾具進行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測試通道,而對端接收芯片封裝對信號的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進行模擬的。測試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測試軟件把這個S參數(shù)文件的影響加到被測波形上。 PCIe4.0信號質(zhì)量分析可以采用兩種方法: 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動分析,另一種是使用示波器廠商提供的軟件進行自動測試。 PCIE 3.0的發(fā)射機物理層測試;多端口矩陣測試PCI-E測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍...
PCIe4.0的測試項目PCIe相關(guān)設(shè)備的測試項目主要參考PCI-SIG發(fā)布的ComplianceTestGuide(一致性測試指南)。在PCIe3.0的測試指南中,規(guī)定需要進行的測試項目及其目的如下(參考資料:PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測試):用于檢查主板以及插卡發(fā)射機和接收機的電氣性能?!onfigurationTesting(配置測試):用于檢查PCIe設(shè)備的配置空間?!inkProtocolTesting(鏈路協(xié)議測試):用于檢查設(shè)備的鏈路層協(xié)議行為。PCI-E測試信號質(zhì)量測試;重慶PCI-E測試檢查 綜...
測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬:41.25ps+0/—2ps眼寬:18.75ps+0.5/-0.5ps眼高:46mV+0/-5mV眼高:15mV+1.5/-1.5mV主板RX測試眼寬:45ps+0/-2ps眼寬:18.75ps+0.5/-0.5ps眼高:50mV+0/-5mV眼高:15mV+1.5/-1.5mV 校準(zhǔn)時,信號的參數(shù)分析和調(diào)整需要反復(fù)進行,人工操作非常耗時耗力。為了解決這個 問題,接收端容限測試時也會使用自動測試軟件,這個軟件可以提供設(shè)置和連接向?qū)?、控?誤碼儀和示波器完成自動校準(zhǔn)、發(fā)出訓(xùn)練碼型把被測件設(shè)置成環(huán)回狀態(tài),并自動進行環(huán)回數(shù) 據(jù)的誤碼率統(tǒng)計。圖4...
另外,在PCIe4 .0發(fā)送端的LinkEQ以及接收容限等相關(guān)項目測試中,都還需要用到能 與被測件進行動態(tài)鏈路協(xié)商的高性能誤碼儀。這些誤碼儀要能夠產(chǎn)生高質(zhì)量的16Gbps信 號、能夠支持外部100MHz參考時鐘的輸入、能夠產(chǎn)生PCIe測試需要的不同Preset的預(yù)加 重組合,同時還要能夠?qū)敵龅男盘栠M行抖動和噪聲的調(diào)制,并對接收回來的信號進行均 衡、時鐘恢復(fù)以及相應(yīng)的誤碼判決,在進行測試之前還需要能夠支持完善的鏈路協(xié)商。17是 一 個典型的發(fā)射機LinkEQ測試環(huán)境。由于發(fā)送端與鏈路協(xié)商有關(guān)的測試項目 與下面要介紹的接收容限測試的連接和組網(wǎng)方式比較類似,所以細節(jié)也可以參考下面章節(jié) 內(nèi)容...
PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實際的測試中,為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出,PCI-SIG組織也設(shè)計了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似,也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到對應(yīng)位寬的CLB板;插卡的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到CBB板;而在接收容限測試中,由于要進行全鏈路的校準(zhǔn),整套夾具都可能會使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。高速串行技術(shù)(二)之(PCIe中的基本概念);北京PCI-E測試聯(lián)系方式需要注意的是,每一代CBB和CLB的設(shè)計都不太一樣,特別...
對于PCIe來說,由于長鏈路時的損耗很大,因此接收端的裕量很小。為了掌握實際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實際接收到的信號質(zhì)量,在PCIe3.0時代,有些芯片廠商會用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號質(zhì)量,但這個功能不是強制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)范把 接收端的信號質(zhì)量掃描功能作為強制要求,正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進行二維的誤碼率掃描,即通過調(diào)整水平方 向的采樣點時刻以及垂直方向的信號判決閾值,PCI-E4.0的發(fā)射機質(zhì)量測試?上海信息化PCI-E測試在測試通道數(shù)方面,傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Po...
P5 、8Gbps P6 、8Gbps P7 、8Gbps P8 、8GbpsP9 、8Gbps P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps P2 、16Gbps P3 、16Gbps P4 、16Gbps P5 、16Gbps P6 、16GbpsP7 、16Gbps P8 、16Gbps P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點是,由于在8Gbps和16Gbps下都有11種 Preset值,測試過程中應(yīng)明確當(dāng)前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、...
PCIe4.0的測試夾具和測試碼型要進行PCIe的主板或者插卡信號的一致性測試(即信號電氣質(zhì)量測試),首先需要使用PCIe協(xié)會提供的夾具把被測信號引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售,主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對于發(fā)送端信號質(zhì)量測試來說,CBB用于插卡的測試,CLB用于主板的測試;但是在接收容限測試中,由于需要把誤碼儀輸出的信號通過夾具連接示波器做校準(zhǔn),所以無論是主板還是插卡的測試,CBB和CLB都需要用到。PCI-E測試信號完整性測試解決方案;湖北PCI-E測試檢修要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要...
在物理層方面,PCIe總線采用多對高速串行的差分信號進行雙向高速傳輸,每對差分 線上的信號速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的 16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電 纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求,其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如 果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率,理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外,2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù),單Lane數(shù)據(jù)速率達到64Gbps的第6代標(biāo) 準(zhǔn)規(guī)范也在討論過程中。列出了PCI...
Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號質(zhì)量的測試,都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下,要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是:在被測件插入測試夾具并且上電以后,可以通過測試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關(guān)時,正常的PCle4.0的被測件依次會輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8GbpsPCI-E測試和協(xié)議調(diào)試;測量PCI-E測試代理品牌 如前所述,在PCle4.0的主板和插...