接觸測(cè)量法以三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x為典型**。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度高,對(duì)環(huán)境(如:溫度、濕度、防振等)要求也高。由于測(cè)量時(shí)測(cè)頭在工件上要逐點(diǎn)測(cè)量,所以測(cè)量速度較慢。另外還要求被測(cè)零件的材質(zhì)不能太軟、不能輕易被刮花且不易變形。零件太大,需要工裝夾具或者超過(guò)測(cè)量線程等諸多限制。 非接觸測(cè)量法以影像測(cè)量?jī)x為典型**。該測(cè)量方法一次獲取物體表面的數(shù)據(jù)(點(diǎn)坐標(biāo))多,測(cè)量范圍大,對(duì)被測(cè)量物體的材質(zhì)沒(méi)有要求,特別適合于易刮花且易變形的覆蓋件類零件的測(cè)量。測(cè)量范圍彈性從幾mm到幾米的零件都方便測(cè)量,每筆采集點(diǎn)的數(shù)量根據(jù)測(cè)量頭的決定從幾百萬(wàn)點(diǎn)到幾千萬(wàn)點(diǎn),采集速度快等優(yōu)勢(shì)。 ATOS藍(lán)光掃描設(shè)備,德國(guó)純進(jìn)口藍(lán)光掃描...