[0060]本系統(tǒng)通過MCU模塊控制測量CPLD產(chǎn)生測量信號，測量信號經(jīng)過DDS合成單元合成正弦信號，正弦信號通過濾波電路和差分電路濾除信號的諧波和高頻干擾，由信號測量單元進行同步采集，經(jīng)過處理后的正弦信號終分別傳輸至測量卡和掃描卡中，在測量卡上進行測量，經(jīng)過掃描卡傳輸至產(chǎn)品上，用于驅(qū)動被測元件。[0061]被測元件的反饋信號傳輸至掃描卡中，并且該過程可通過通道切換單元進行測量測通切換，掃描卡的信號經(jīng)過背部連接板進行信號轉(zhuǎn)接，經(jīng)過平衡轉(zhuǎn)換電路進行轉(zhuǎn)換以及增益調(diào)節(jié)電路進行信號調(diào)節(jié)，終傳輸至測量CPLD，測量CPLD進行內(nèi)部分析和計算，將終計算出的不同的電參數(shù)數(shù)據(jù)傳輸至MCU模塊，MCU模塊可通過USB模塊或網(wǎng)絡(luò)通訊單元外界顯示設(shè)備，對該測量結(jié)果進行顯示。多通道LCR 測試機怎么使用。湖北TP觸摸屏功能片多排版測試機公司

一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng)   蘇州茂鼎電子科技有限公司發(fā)明涉及LCR測試技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng),包括與待測產(chǎn)品連接的若干結(jié)構(gòu)相同的的掃描卡、以及與掃描卡相對設(shè)置的測量卡,若干所述掃描卡和測量卡通過背部連接板連接,所述掃描卡用于實現(xiàn)通道切換,所述測量卡用于實現(xiàn)LCR測試,所述背部連接板用于實現(xiàn)信號的轉(zhuǎn)接,所述背部連接板連接有主控板,所述主控板用于實現(xiàn)對測量卡以及掃描卡的信號控制。本系統(tǒng)實現(xiàn)多張測量板同步測量,測量板可以任意對應(yīng)一張掃描板或者對應(yīng)多張掃描板,應(yīng)用靈活。湖北TP觸摸屏功能片多排版測試機公司高精密多通道阻抗測試機。

一種多通道數(shù)字輸出模塊 [0014]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是：[0015]本實用新型的模塊通過主控芯片輸出端連接隔離輸出電路，每一控制信號對應(yīng)一隔離輸出電路，保證了信號一一對應(yīng)的傳輸，減小誤傳概率，且模塊具有良好地電絕緣性和抗干擾性能，信號傳遞穩(wěn)定；同時驅(qū)動電路中的場效應(yīng)管本身特性保證隔離器傳輸?shù)男盘栂鹿ぷ鳎M一步避免了誤傳；同時設(shè)置有保護二極管，保護二極管對場效應(yīng)管進行過壓保護，從而保證信號的持續(xù)穩(wěn)定傳遞。

根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng)，其特征在于，所述信號轉(zhuǎn)換電路包括信號調(diào)制電路以及ADC電路，所述信號調(diào)制電路與所述ADC電路連接，所述信號調(diào)制電路用于對采集的正弦信號調(diào)節(jié)增益，所述ADC電路用于對信號進行轉(zhuǎn)換。7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng)，其特征在于，所述信號測量單元包括四路結(jié)構(gòu)相同的采集電路，所述采集電路包括運算放大器U601，所述運算放大器U601的正極輸入引腳與所述差分電路連接。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多通道高精密LCR測試系統(tǒng)，其特征在于，所述通道切換單元包括若干結(jié)構(gòu)相同的通道切換電路，所述通道切換電路包括與所述通道數(shù)量相對應(yīng)的繼電器，所述繼電器與所述掃描CPLD連接。多路LCR測試系統(tǒng) 測試機。

全自動電容電感測試儀的主要功能有哪些?“防電容器裝置事故的技術(shù)措施”中規(guī)定：對高壓并聯(lián)電容器部分，應(yīng)定期進行電容器組單臺電容器電容量的測量，推薦使用不拆連接線的測量方法，避免因拆裝連接線導(dǎo)致套管受力而發(fā)生套管漏油的故障。專門針對變電站現(xiàn)場測量并聯(lián)電容器組、SCV裝置中的單個電容器電容值時存在的問題而專門研制的，它具有以下功能：*不拆線測量并聯(lián)及式電容器單只電容量或整組電容量。*不拆線測量電抗器、阻波器的電感。*不拆線測量變壓器的入口電容、發(fā)電機入口電容等。*具有并聯(lián)（放電）電阻值測量功能。*能彌補電容表輸出電壓低而導(dǎo)致故障檢出率低的問題。*同步顯示電壓及電流波形和相位，計算被測電容器功率損耗。多路阻抗測試機聯(lián)系方式。湖北TP觸摸屏功能片多排版測試機公司

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自平衡電橋的意思是:當(dāng)DUT(DeviceUnderTest)接入電路時，放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0)，Vr與Rr測得DUT電流Ix，由此可計算Zx。HP4275的測試端Hp,Hc,Lp,Lc(下標(biāo)ccurrent,下標(biāo)pPotentail)，Guard(接地)的配置可導(dǎo)致測試的誤差的差異。提高精度的方法是:1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT;2,減小測試電流Ix的回路面積&磁通量(關(guān)鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable小化回路面積);3,使用Gurard與Cable構(gòu)建地平面中斷信號線間的電場連接，雖然會增加信號線的對地電容(對地電容不影響測試結(jié)果)，但是會減少信號線的互容。Guard與Cable的對地寄生阻抗(Zhg,Zlg)不影響測試結(jié)果，電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。湖北TP觸摸屏功能片多排版測試機公司

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