錸鎢探針有不同的針尖類型，即不同的尖部形狀，例如，針尖帶平臺，針尖完全尖以及針尖為圓弧；探針直徑為0.05-1.2mm，長度為15-300mm，尖部為0.08-100μm。錸鎢探針主要應用于半導體、LED、LCD等行業(yè)，應用于探針卡、探針臺、芯片測試、晶圓測試和LED芯片測試等領域。錸鎢探針指的是采用含錸3%的錸鎢合金絲打造而成的探針。這種探針的針尖尖部經過特殊工藝加工而成，針錐精度高，具有強度高和彈性模量，產品更耐磨、更耐腐蝕，表面光滑無傷，光潔度可達到Ra0.25以下，幾乎為鏡面。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點。芯片測試

掃描隧道顯微鏡是一種利用具有原子級分辨率的新型探測工具，已在物理、化學、生物學、材料科學以及微電子科學等領域得到了應用。微結構氣體探測器是一種氣體粒子探測器，已在X射線、γ射線以及中子成像、天體物理、固體物理、生物醫(yī)學以及核醫(yī)學等比較多領域得到了的應用。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點。合金探針檢測時無傷原器件，已批量應用于LED芯片檢測領域。其導電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機械穩(wěn)定性可滿足客戶定制要求。GGB硬探針企業(yè)探針具有的優(yōu)點：針錐精度高。

我們所知道的晶圓探測鎢針指的是專門用于集成電路晶圓測試用的探測針。中鎢在線提供優(yōu)良鎢針產品。晶圓測試是對芯片上的每個晶粒進行針測，在檢測頭裝上以鎢材料制成的鎢探針，與晶粒上的接點接觸，測試其電氣特性，不合格的晶粒會被標上記號，而后當芯片依晶粒為單位切割成單獨的晶粒時，標有記號的不合格晶粒會被淘汰，不再進行下一個制程，以免徒增制造成本。這意味著晶圓探測鎢針的好壞將在比較大程度上影響到產出的集成電路的優(yōu)良率和效率。

探針的高頻率測試和使用壽命。彈片微針模組的平均使用壽命可達到20w次以上，在操作、保養(yǎng)、環(huán)境都比較好的情況下能達到50w次，使用壽命長，無需經常更換。在高頻率的測試中，有著較好的應對能力，可保持穩(wěn)定的連接。Pogopin探針模組的使用壽命只在5w次左右，在面對高頻率的測試需求時，需要經常更換和清潔，在時間和物力上的耗費反而會拖慢測試進度，不利于測試的穩(wěn)定性。觸點壓力的定義為探針頂端（測量單位為密耳或微米）施加到接觸區(qū)域的壓力（測量單位為克）。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層，因此產生不可靠的測試結果。在檢測虛焊和斷路的時候，探針卡用戶經常需要為路徑電阻指定一個標稱值。

探針對測試結果的影響：通常，參數測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件（DUT），然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為：從測試儀通過電纜束至測試頭，再通過測試頭至探針卡，然后通過探針至芯片上的焊點，到達被測器件，并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結果不盡如人意，問題可能是由測量儀器或軟件所致，也可能是其它原因造成。通常情況下，測量儀器引進一些噪聲或測量誤差。而更可能導致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件，其中之一可能是，它會受探針參數的影響，如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質、觸點壓力、以及探針臺的平整度。此外，探針尖磨損和污染也會對測試結果造成極大的負面影響。探針具有的優(yōu)點：產品更耐磨。pcb鎢錸探針價格

探針有耐高溫，導電性好等優(yōu)點。芯片測試

錸鎢探針主要用于半導體的較終測試階段。芯片測試工藝屬于半導體產業(yè)的關鍵領域，通俗來說，探測鎢針的存在是為了識別良品和不良品。鎢針通常被安裝在探針卡或探針臺上。半導體測試探針要求材料具有高純度和高精度。上海衡泌綜合運用電化學、機械加工、電鍍工藝，精深加工，確保探針一致性?？筛鶕蠖ㄖ萍獠啃螤?，有鋒利極銳尖、平臺和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級到納米級，針尖曲率半徑Min可控為50納米。我們公司生產的產品質量有保障。芯片測試

    上海衡泌金屬材料有限公司創(chuàng)立于2013年，是一家專業(yè)從事鎢、鉬、鉭等難熔金屬原料及零部件生產、銷售的現(xiàn)代化企業(yè)。專注鎢鉬及其合金的精深加工,為客戶提供鎢鉬鉭零部件解決方案。

     擁有一批難熔金屬零部件生產加工專業(yè)人員,引進精密生產和檢測設備，在鎢鉬原料配方及生產制程、鎢鉬不規(guī)則零件結構的制造方法上，可滿足客戶的定制需求，得到客戶普遍好評。產品已批量應用于機械制造及焊接、電光源與電真空、半導體、醫(yī)療工程、汽車工業(yè)、****、電器制造、真空鍍膜、新能源、環(huán)保等領域。

強調完善的客戶服務理念，保持長期對市場的調研學習，開發(fā)新產品、新應用領域，加工精度控制在0.001mm，可以按照圖紙或樣品設計加工鎢鉬零部件，為客戶提供多樣化的產品與定制服務。