智能測試系統(tǒng)，作為先進(jìn)的測量手段，具有以下特點(diǎn)，多功能和多參數(shù)測量:由于由計算機(jī)，因而能計算出很多二次型參數(shù)。高重復(fù)性:由于進(jìn)行的每一次測量都是按同一程序控制進(jìn)行，避免了人為操作的誤差，重復(fù)性一致性高。自適應(yīng)處理能力:測量數(shù)據(jù)經(jīng)過一定的自適應(yīng)算法處理，給出被測系統(tǒng)的控制信號，能實(shí)現(xiàn)對一些過程的自適應(yīng)處理。自校準(zhǔn)和自診斷:一般智能測試系統(tǒng)都有自校準(zhǔn)和自診斷能力。利用標(biāo)準(zhǔn)元器件實(shí)行機(jī)上校準(zhǔn)，自動給出誤差因子修正測量誤差。功能測試系統(tǒng)為產(chǎn)品性能提升提供可靠支持。上海電機(jī)測試系統(tǒng)測試流程

功能測試（FCT）一般專指PCBA上電后的測試，主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識別、聲音識別、溫度測量、壓力測量、運(yùn)動控制、FLASH和EEPROM燒錄等測試項(xiàng)目。自動化FCT測試設(shè)備大都基于開放式硬、軟件體系結(jié)構(gòu)設(shè)計，能夠靈活地擴(kuò)展硬件，快捷方便的建立測試程序；一般可以做到支持多種儀器，可以靈活的按需進(jìn)行配置；而且要具有豐富的基本測試項(xiàng)目，較大可能地為用戶提供通用、靈活、規(guī)范的解決方案。臺州通用功能測試系統(tǒng)設(shè)備功能測試系統(tǒng)普遍用于電子產(chǎn)品的功能性驗(yàn)證。

測試方式選擇（TMS）用來加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測試模式，主要有外測試（EXTEST）、內(nèi)測試（INTEST）、運(yùn)行測試（RUNTEST）；較后提出了邊界掃描語言（Boundary Scan Description Language），BSDL語言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個引腳都和一個串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個移位寄存器鏈，用來控制和檢測器件引腳。其特定的四個管腳用來完成測試任務(wù)。

系統(tǒng)介紹，各類電子產(chǎn)品的實(shí)裝電路板（PCBA）在批量生產(chǎn)過程中，設(shè)備狀態(tài)和人為操作因素都可能引入缺陷，因此要求在生產(chǎn)中加入各種測試設(shè)備和測試工具，以保證所有出廠的實(shí)裝電路板符合設(shè)計的規(guī)格和參數(shù)。因此，對PCBA要求進(jìn)行ICT、AOI、FCT等各種測試和檢測。組成，功能測試系統(tǒng)FCT 是指采用測控計算機(jī)（TCC）實(shí)現(xiàn)自動化測試的系統(tǒng)，通常建立在標(biāo)準(zhǔn)的測控總線或儀器總線如GPIB、PXI 的基礎(chǔ)上，從結(jié)構(gòu)組成來看，F(xiàn)CT自動測試系統(tǒng)一般由測控計算機(jī)、測試軟件、測試電路、測試針床、機(jī)械傳動等部分組成。功能測試系統(tǒng)可提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。

上世紀(jì)80年代前后，日本將美國同類產(chǎn)品加以簡化和小型化，并改成使用氣動壓床式，表示的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的必備檢測設(shè)備，并迅速推廣普及。80年代中國臺灣由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，中國臺灣開始完全仿制TESCON測試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價格更加低廉，迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場，并因中國臺灣電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開始，國內(nèi)即有開發(fā)類似的靜態(tài)測試儀，1993年，中國本土品牌更先進(jìn)日本韓國中國臺灣及香港開發(fā)出全亞洲頭一臺windows版的ICT。時至這里，美國泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌，成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!功能測試與生產(chǎn)過程的融合：將功能測試與生產(chǎn)過程緊密結(jié)合，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量的實(shí)時監(jiān)控。無錫現(xiàn)代測試系統(tǒng)定制

各種功能測試系統(tǒng)：涵蓋各類電子設(shè)備，為不同領(lǐng)域提供專業(yè)測試解決方案。上海電機(jī)測試系統(tǒng)測試流程

其中主要的模塊包括：測量控制部分，由若干的控制主機(jī)、微處理器組成，測量部分的板卡和儀表完成測試過程中各種模擬或者數(shù)字量的采集工作，控制測試流程和狀態(tài)，對測量數(shù)據(jù)和結(jié)果進(jìn)行記錄和判斷，較終得出測試結(jié)果?？刂茍?zhí)行部分，控制執(zhí)行部分是測試過程邏輯動作的感應(yīng)和執(zhí)行機(jī)構(gòu)，主要由I四/O部件組成，F(xiàn)CT通過它來搭建硬件環(huán)境、構(gòu)造人機(jī)交互、協(xié)調(diào)前后道生產(chǎn)線邏輯選析，實(shí)現(xiàn)測試的功能。數(shù)據(jù)采集部分，實(shí)現(xiàn)測試數(shù)據(jù)和結(jié)果的存儲、運(yùn)算、分析、輸出，一般以結(jié)構(gòu)性數(shù)據(jù)庫為載體，測試軟件以之為基礎(chǔ)而實(shí)現(xiàn)對PCBA的流程管理和質(zhì)量控制。上海電機(jī)測試系統(tǒng)測試流程