設(shè)備軟件：1.中英文軟件界面，三級(jí)操作權(quán)限，各級(jí)操作權(quán)限可自由設(shè)定力值單位Kg、g、N，可根據(jù)測試需要進(jìn)行選擇。2.軟件可實(shí)時(shí)輸出測試結(jié)果的直方圖、力值曲線，測試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)保存與導(dǎo)出功能，測試數(shù)據(jù)并可實(shí)時(shí)連接MES系統(tǒng)軟件可設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)值并直接輸出測試結(jié)果并自動(dòng)對測試結(jié)果進(jìn)行判定。3.SPC數(shù)據(jù)導(dǎo)出自帶當(dāng)前導(dǎo)出數(shù)據(jù)值、較小值、平均值及CPK計(jì)算。傳感器精度：傳感器精度±0.003％；綜合測試精度±0.25％測試傳感器量程自動(dòng)切換。測試精度：多點(diǎn)位線性精度校正，并用標(biāo)準(zhǔn)法碼進(jìn)行重復(fù)性測試，保證傳感器測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。軟件參數(shù)設(shè)置：根據(jù)各級(jí)權(quán)限可對合格力值、剪切高度、測試速度等參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)。測試平臺(tái)：真空360度自由旋轉(zhuǎn)測試平臺(tái)，適應(yīng)于各種材料測試需求，只需要更換相應(yīng)的治具或壓板，即可輕松實(shí)現(xiàn)多種材料的測試需求。芯片測試機(jī)支持多樣化的測試需求，適用不同種類芯片的測試。天津CMOS芯片測試機(jī)行價(jià)

動(dòng)態(tài)測試原理（或者叫功能測試或叫跑pattern方式），使用動(dòng)態(tài)測試法進(jìn)行開短路測試比之前介紹的靜態(tài)測試法更快，成本也更低，適合管腳比較多的芯片，減少測試時(shí)間。使用測試機(jī)動(dòng)態(tài)電流負(fù)載單元為前端偏置的 VDD 保護(hù)二極管提供電流，通過輸出比較電平確定PASS區(qū)域（中間態(tài)或“Z”態(tài)）。兩種測量方法對比：利用功能測試進(jìn)行開短路測試的優(yōu)點(diǎn)是速度相對比較快；不利之處在于datalog所能顯示的結(jié)果信息有限，當(dāng)fail產(chǎn)生，我們無法直接判斷失效的具體所在和產(chǎn)生原因。通常在測試中因?yàn)樾酒_不多，對時(shí)間影響不明顯，大部分選擇靜態(tài)（DC測試）方法.天津CMOS芯片測試機(jī)行價(jià)在芯片測試機(jī)上進(jìn)行的測試可以檢測到芯片的缺陷，如電壓偏移等。

芯片測試座是一種電子元器件，它是用來測試集成電路芯片的設(shè)備，它可以用來測試和檢查電路芯片的性能，以確保其達(dá)到規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)。芯片測試座的基本結(jié)構(gòu)包括主體機(jī)架、測試頭、測試模塊、放大器和控制器等部件組成。 芯片測試座一般用于測試電路芯片的性能，包括電源參數(shù)、噪聲性能、抗干擾性能、靜態(tài)特性和動(dòng)態(tài)特性等。通常，芯片測試座由多個(gè)測試頭組成，每個(gè)測試頭可以提供不同的測試功能。芯片測試座的工作原理是，通過測試頭將測試信號(hào)輸入到芯片，然后將芯片的輸出結(jié)果和規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行對比。

對于光學(xué)IC，還需要對其進(jìn)行給定光照條件下的電氣性能測試。chiptest主要設(shè)備：探針平臺(tái)（包括夾持不同規(guī)格chip的夾具）。chiptest輔助設(shè)備：無塵室及其全套設(shè)備。chiptest能測試的范圍和wafertest是差不多的，由于已經(jīng)經(jīng)過了切割、減薄工序，還可以將切割、減薄工序中損壞的不良品挑出來。但chiptest效率比wafertest要低不少。packagetest是在芯片封裝成成品之后進(jìn)行的測試。由于芯片已經(jīng)封裝，所以不再需要無塵室環(huán)境，測試要求的條件較大程度上降低。芯片測試機(jī)還可以進(jìn)行電壓測試以測試電壓飽和和開路。

晶圓測試是效率Z高的測試，因?yàn)橐粋€(gè)晶圓上常常有幾百個(gè)到幾千個(gè)甚至上萬個(gè)芯片，而這所有芯片可以在測試平臺(tái)上一次性測試。chiptest是在晶圓經(jīng)過切割、減薄工序，成為一片片單獨(dú)的chip之后的測試。其設(shè)備通常是測試廠商自行開發(fā)制造或定制的，一般是將晶圓放在測試平臺(tái)上，用探針探到芯片中事先確定的測試點(diǎn)，探針上可以通過直流電流和交流信號(hào)，可以對其進(jìn)行各種電氣參數(shù)測試。chiptest和wafertest設(shè)備Z主要的區(qū)別是因?yàn)楸粶y目標(biāo)形狀大小不同因而夾具不同。芯片測試機(jī)能夠快速識(shí)別芯片的問題，并提供快速修復(fù)方案。深圳CMOS芯片測試機(jī)定制

芯片測試機(jī)可用于快速排除芯片制造中的錯(cuò)誤。天津CMOS芯片測試機(jī)行價(jià)

伺服電機(jī)43、行星減速機(jī)44均固定于頭一料倉41或第二料倉51的底部，滾珠絲桿45、頭一移動(dòng)底板46、第二移動(dòng)底板47及兩個(gè)導(dǎo)向軸48均固定于頭一料倉41或第二料倉51的內(nèi)部，伺服電機(jī)43的驅(qū)動(dòng)主軸與行星減速機(jī)44相連，行星減速機(jī)44通過聯(lián)軸器與滾珠絲桿45相連。頭一料倉41、第二料倉51的上方設(shè)有絲桿固定板49，滾珠絲桿45的底部通過絲桿固定座451固定于頭一料倉41或第二料倉51的底板上，滾珠絲桿45的頂部通過絲桿固定座451固定于絲桿固定板49上。兩個(gè)導(dǎo)向軸48的底部也固定于頭一料倉41或第二料倉51的底板上，兩個(gè)導(dǎo)向軸48的頂部也固定于絲桿固定板49上。滾珠絲桿45及兩個(gè)導(dǎo)向軸48分別與頭一移動(dòng)底板46相連，頭一移動(dòng)底板46與第二移動(dòng)底板47相連。天津CMOS芯片測試機(jī)行價(jià)