探針測(cè)試原理：參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件，然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的反應(yīng).從量測(cè)儀器通過電纜線至探針桿，然后通過探針點(diǎn)針測(cè)試點(diǎn)到被測(cè)器件，并后沿原路返回量測(cè)器儀。計(jì)算機(jī)在我們生活中越來越重要。計(jì)算機(jī)的主要部件是**處理器（CPU）和存儲(chǔ)器（RAM），它們是以大規(guī)模集成電路為基礎(chǔ)建造起來的，而這些集成電路都是由半導(dǎo)體材料做成的。那么大家了解什么是半導(dǎo)體嗎？而探針臺(tái)作為檢測(cè)每片晶圓上各個(gè)芯片電信號(hào)，保證半導(dǎo)體產(chǎn)品品質(zhì)的檢測(cè)設(shè)備，其重要性自然不言而喻。圓片移動(dòng)到下一個(gè)芯片的位置，這種方法可以讓圓片上的每一個(gè)芯片都經(jīng)過測(cè)試。山東射頻探針臺(tái)報(bào)價(jià)

探針臺(tái)是用于檢測(cè)每片晶圓上各個(gè)芯片電信號(hào)，保證半導(dǎo)體產(chǎn)品品質(zhì)的重要檢測(cè)設(shè)備。下面我們來了解下利用探針臺(tái)進(jìn)行在片測(cè)試的一些相關(guān)問題，首先為什么需要進(jìn)行在片測(cè)試？因?yàn)槲覀冃枰榔骷嬲男阅埽皇欠庋b以后的，雖然可以去嵌，但還是會(huì)引入一些誤差和不確定性。因?yàn)槲覀冃枰_定哪些芯片是好的芯片來降低封裝的成本并提高產(chǎn)量。因?yàn)橛袝r(shí)我們需要進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，在片進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試成本效益高而且更快。一個(gè)典型的在片測(cè)試系統(tǒng)，主要包括：矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，線纜，探針，探針定位器，探針臺(tái)，校準(zhǔn)設(shè)備及軟件，電源偏置等。山東射頻探針臺(tái)報(bào)價(jià)隨著探針接觸到焊點(diǎn)金屬的亞表層，這些效應(yīng)將增加。

探針臺(tái)的使用：1、將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)將樣品待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。4、顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)中心。待測(cè)點(diǎn)位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測(cè)點(diǎn)的位置旁邊,再使用探針座-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測(cè)點(diǎn),此時(shí)動(dòng)作要小心且緩慢，以防動(dòng)作過大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測(cè)點(diǎn)上空時(shí)，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針，后則使用X軸旋鈕左右滑動(dòng)，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。

如果需要一款高量測(cè)精度的探針臺(tái)，并不是有些廠商單純的認(rèn)為，通過簡(jiǎn)單的機(jī)械加工加上一臺(tái)顯微鏡就可以完成，我們?cè)谔结樑_(tái)設(shè)備的研發(fā)中有著近二十年的經(jīng)驗(yàn)，并有著精細(xì)機(jī)械加工的技術(shù)能力，可以為您提供高準(zhǔn)確的探針臺(tái)電學(xué)檢測(cè)儀器，同時(shí)我們與世界電學(xué)信號(hào)測(cè)試廠家有著多年的合作，可以提供各類電學(xué)測(cè)試解決方案。在對(duì)射頻設(shè)備進(jìn)行原型設(shè)計(jì)和測(cè)試時(shí)，很多情況下，在電路的非端口位置進(jìn)行測(cè)試有助于優(yōu)化設(shè)計(jì)或者故障排除。然而實(shí)際操作中，在較高的頻率下進(jìn)行測(cè)試是一項(xiàng)更大的挑戰(zhàn)。一般，信號(hào)路徑電阻被用來替代接觸電阻，而且它在眾多情況下更加相關(guān)。

探針卡沒焊好：1．探針卡針焊得不到位；2．基板上銅箔剝落，針焊接不牢固，或焊錫沒有焊好而造成針虛焊；3．探針卡布線斷線或短路； 背面有突起物，焊錫線頭針尖磨平：1.針在使用很長(zhǎng)時(shí)間后尖正常損耗；2.操作工用過粗的砂子；3.砂針尖時(shí)用力過猛；4.砂得時(shí)間過長(zhǎng)；針尖如磨平，使針尖偏離壓點(diǎn)，測(cè)試無法通過，針尖接觸面大，而接觸電阻大影響參數(shù)測(cè)試，所以平時(shí)如果在測(cè)片子之前，先拿上卡到顯微鏡下檢查針尖有否磨平，如已磨平應(yīng)及時(shí)換針，操作工在砂針尖時(shí)注意技能，應(yīng)輕輕打磨針尖，而不致于磨平針尖。探針卡虛焊和布線斷線或短路，測(cè)試時(shí)都要測(cè)不穩(wěn)。山東射頻探針臺(tái)報(bào)價(jià)

探針卡沒焊到位，是因?yàn)楹稿a時(shí)針受熱要稍微的收縮，使針尖偏離壓點(diǎn)區(qū)。山東射頻探針臺(tái)報(bào)價(jià)

如何將探針連接至待測(cè)點(diǎn)：(1) 顯微鏡小倍數(shù)物鏡下找到待測(cè)點(diǎn)（或附近的位置），使待測(cè)點(diǎn)成像清晰。(2) 確認(rèn)定位器XYZ三軸均中間行程位置（即各軸導(dǎo)軌端面螺絲對(duì)齊）。Z軸也可略向上錯(cuò)開3mm左右。(3) 安裝并調(diào)節(jié)好探針的高度，側(cè)向平視，觀察探針與樣品臺(tái)（或樣品）間的距離（大概5mm，或略小于5mm）?？赏ㄟ^調(diào)節(jié)探針臂或探針臂適配器的高度進(jìn)行粗調(diào)定位。(4) 移動(dòng)定位器，將所有探針移動(dòng)至顯微鏡光斑下。此時(shí)通過目鏡觀察可看到探針的虛影（探針成像未實(shí)體化）。山東射頻探針臺(tái)報(bào)價(jià)